CN103115638A - 一种用于接线板的插孔质检测试插头 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于接线板的插孔质检测试插头,包括测试插头安装底座(1),所述测试插头安装底座(1)上设有多个安装孔(2),所述安装孔(2)为腰形孔,所述测试插头安装底座(1)的下部设有测试插针组件(3)。本发明具有测试快捷高效、使用方便、安装牢固可靠、结构简单、成本低廉的优点。
Description
技术领域
本发明涉及接线板生产测试领域,具体涉及一种用于接线板的插孔质检测试插头。
背景技术
接线板在生产完毕以后,需要对插孔进行质检。现有技术接线板的插孔质检都是通过手工实现的,但是这种方法依次只能检测一个插座孔,测试效率非常低下。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种测试快捷高效、使用方便、安装牢固可靠、结构简单、成本低廉的用于接线板的插孔质检测试插头。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种用于接线板的插孔质检测试插头,包括测试插头安装底座,所述测试插头安装底座上设有多个安装孔,所述安装孔为腰形孔,所述测试插头安装底座的下部设有测试插针组件。
作为上述技术方案的进一步改进:
所述测试插针组件包括两个插针片,所述两个插针片相互平行布置,且所述两个插针片的端部均设有通孔。
所述测试插头安装底座上设有定位孔,所述定位孔设于所述两个插针片的根部之间。
本发明具有下述优点:本发明在使用时,使用螺栓穿过安装孔将测试插头安装底座安装在测试机械臂上,然后开启测试机械臂即可通过测试插针组件替代传统的手工对接线板上的插座孔进行插入测试,具有测试快捷高效、使用方便、安装牢固可靠、结构简单、成本低廉的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的立体结构示意图。
图2为本发明实施例的侧视结构示意图。
图例说明:1、测试插头安装底座;2、安装孔;3、测试插针组件;31、插针片;32、通孔;4、定位孔。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
如图1和图2所示,本实施例用于接线板的插孔质检测试插头包括测试插头安装底座1,测试插头安装底座1上设有多个安装孔2,安装孔2为腰形孔,测试插头安装底座1的下部设有测试插针组件3。本实施例在使用时,使用螺栓穿过安装孔2将测试插头安装底座1安装在测试机械臂上,然后开启测试机械臂即可通过测试插针组件3替代传统的手工对接线板上的插座孔进行插入测试,具有测试快捷高效、使用方便、安装牢固可靠、结构简单、成本低廉的优点。
本实施例中,测试插针组件3包括两个插针片31,两个插针片31相互平行布置,且两个插针片31的端部均设有通孔32,测试插针组件3的上述结构能够实现对两孔插座的快速测试;此外,测试插针组件3也可以采用三个插针片31用于实现对三孔插座的快速测试。
本实施例中,测试插头安装底座1上设有定位孔4,定位孔4设于两个插针片31的根部之间,安装时更方便快捷。
以上所述仅为本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅限于上述实施方式,凡是属于本发明原理的技术方案均属于本发明的保护范围。对于本领域的技术人员而言,在不脱离本发明的原理的前提下进行的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种用于接线板的插孔质检测试插头,其特征在于:包括测试插头安装底座(1),所述测试插头安装底座(1)上设有多个安装孔(2),所述安装孔(2)为腰形孔,所述测试插头安装底座(1)的下部设有测试插针组件(3)。
2.根据权利要求1所述的用于接线板的插孔质检测试插头,其特征在于:所述测试插针组件(3)包括两个插针片(31),所述两个插针片(31)相互平行布置,且所述两个插针片(31)的端部均设有通孔(32)。
3.根据权利要求2所述的用于接线板的插孔质检测试插头,其特征在于:所述测试插头安装底座(1)上设有定位孔(4),所述定位孔(4)设于所述两个插针片(31)的根部之间。
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CN2013100536669A CN103115638A (zh) | 2013-02-19 | 2013-02-19 | 一种用于接线板的插孔质检测试插头 |
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2013
- 2013-02-19 CN CN2013100536669A patent/CN103115638A/zh active Pending
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Legal Events
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130522 |