CN103076144B - 一种用于继电器的密封检漏方法及其装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，该方法是先用标定来得到第一时刻到达时空治具腔体内压力值P0和已知大泄漏继电器在治具腔体内压力值P2，第二时刻到达时空治具腔体内压力值P1和已知大泄漏继电器在治具腔体内压力值P3，并得到两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；实测中，分别得到待测继电器在治具腔体内第一时刻到达时治具腔体内压力值P6和第二时刻到达时治具腔体内压力值P7，并得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；然后再根据压力值P6，比较值△P3/△P1，来判定待测继电器是否存在泄漏，以及泄漏的情况。从而消除了采用人工检测所带来的弊端，具有检测速度快，测试准确度高，以及不会造成继电器直接报废的优点。

Description

一种用于继电器的密封检漏方法及其装置

技术领域

本发明涉及一种密封型继电器的检测，特别是涉及一种用于继电器的密封检漏方法及其装置。

背景技术

继电器是一种电子控制器件，它具有控制系统（又称输入回路）和被控制系统（又称输出回路），通常应用于自动控制电路中，它实际上是用较小的电流去控制较大电流的一种“自动开关”。故在电路中起着自动调节、安全保护、转换电路等作用。

传统密封检测采用水检，图1即为现有技术的用于继电器的密封检漏装置的俯视图，图2为沿图1中A—A线的剖视图，该检测装置包括一个恒温水箱100，水箱100内部设有一继电器托板200用于放置继电器300，在水箱100内部装满一定的水或酒精，水温或酒精温度为70到80℃之间，水或酒精的液面高度为继电器托板200的高度的2倍或3倍。检测时，由操作工将整排的继电器300放入水箱100内部继电器托板200上，且继电器300的引脚朝上，继电器300放置大约1分钟时间，由操作工检查恒温水箱100内是否有气泡冒出，没有冒出，表明该批继电器密封性能良好；若有气泡冒出，表明该批继电器中有密封不良的继电器，并且从冒气泡的位置找出密封不良的继电器301。

现有技术的这种密封检测方法，主要存在如下弊端：

1、要由人工放入，人工用眼睛在1分钟内要盯住水箱，完全靠人力完成，且对操作工的眼睛有很大的损害；

2、检测时间需要1分钟，检测效率很慢，一条线要配置多个水箱及多名操作工，费时费力；

3、对于密封不良的继电器，有气泡冒出，此时水或酒精已经跑入到继电器内部，造成密封不良的继电器直接报废。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术之不足，提供一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，能够实现自动化检测，消除了采用人工检测所带来的弊端，具有检测速度快，测试准确度高，以及不会造成继电器直接报废的优点。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于继电器的密封检漏方法，包括标定过程和实测过程；

在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P3；

在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；

当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

进一步的，当所述压力值P6小于或等于压力值（1＋10%）P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值（1＋10%）P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

一种用于继电器的密封检漏装置，包括一下模体、一上模体、多个真空阀、多个真空压力变送器、一抽真空装置、多个三通接头、一压力数据采集模块和一计算机处理系统；所述下模体设有多个第一凹槽；所述上模体设有多个与下模体的第一凹槽相对应的第二凹槽，当上模体与下模体合模时，相对应的第一凹槽和第二凹槽分别围成能够容纳继电器的腔体；每个真空阀分别连接一个由对应的第一凹槽和第二凹槽所围成的腔体；各个三通接头的第一端分别连接一个对应的真空阀，各个三通接头的第二端分别连接至抽真空装置，各个三通接头的第三端分别连接一个对应的真空压力变送器；各个真空压力变送器分别连接至压力数据采集模块；压力数据采集模块连接至计算机处理系统。

所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第一凹槽的槽沿处。

所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第二凹槽的槽沿处。

所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到下模体的对应的第一凹槽中。

所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到上模体的对应的第二凹槽中。

本发明的一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，是采用真空检测工装，工装下模设有多个凹槽用于置放继电器，工装上模也设有与下模一样的凹槽，工装上模或工装下模的侧边设有一真空气路，用于治具内腔与真空检测装置对接。同时上模凹槽表面边上或下模凹槽表面边上设有一密封结构，上下模合并时，被检继电器刚好密封与该上下凹槽内。真空检测工装上模或工装下模的真空气路连接于真空阀，真空阀为三通电磁阀，平常状态下真空工装的气路直接通过真空阀的泄气口排出。真空阀的另一接口通过一个三通接头，分别连接于真空发生装置和高精度真空压力变送器。高精度真空变送器直接与压力变送器-采集模块相连接。采集模块设有多路信号输入，采集模块的输出分别接计算机处理系统比如单片机（MCU）或工控机（PC）等，单片机（MCU）或工控机（PC）接收到采集模块过来的信号可以计算得到的压力曲线并判断是否存在泄漏。

待检测的继电器置于真空工装内，抽真空装置抽取真空，使继电器的内外气压产生压差，通过时间-压力之间的变化关系，即可分辨出来。当继电器密封良好时，继电器的气压没有外泄，第一时刻采集的真空值就比较高(相对应的负压力值就比较大)且第一时刻和第二时刻之间采集的真空压差值与空治具时采集的真空压差值的比小于预设的阈值时，表明无小泄露，证明该继电器为良品。当继电器的密封出现大泄露时，第一时刻采集的真空值就比较低（相对应的负压力值就比较小），立马可以判为不良品。当继电器的密封出现微小泄露时，第一时刻采集的真空值相对较高，但是第一时刻和第二时刻之间采集的真空压差值与空治具时采集的真空压差值的比大于或等于预设的阈值时，证明该继电器为小泄露，也属于密封不良的产品。为了避免信号干扰及提高可靠性，根据经验真空压差值一般都设置在空治具检测的真空压差值的1.05~1.3倍之间，则预设的阈值通常取1.05~1.3，当然，实际使用过程中，该参数为可设定值。

本发明的有益效果是，由于采用了标定过程和实测过程来作为用于继电器的密封检漏方法，且在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P3，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P2＝P2－P3；而在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P2/△P1的值，当△P2/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P2/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。该方法能够实现自动化检测，消除了采用人工检测所带来的弊端，具有检测速度快，测试准确度高，以及不会造成继电器直接报废的优点。采用该方法检测时间在4秒以内可以完成，一次可以同时做多只继电器，测试效率极高；该检测方法不会将不良的继电器直接报废，而且可以分出是大泄漏与小泄漏；该方法完全可以不用人工，机器实现自动化运作。

以下结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明；但本发明的一种用于继电器的密封检漏方法及其装置不局限于实施例。

附图说明

图1是现有技术的用于继电器的密封检漏装置的俯视图；

图2是沿图1中A—A线的剖视图；

图3是本发明的密封检漏装置的构造示意图；

图4是本发明的上模体和下模体的俯视图；

图5是沿图4中B—B线的剖视图；

图6是沿图4中C—C线的剖视图；

图7是各条压力曲线的示意图。

具体实施方式

实施例，参见图3至图7所示，本发明的一种用于继电器的密封检漏装置，包括一下模体1、一上模体2、多个真空阀3、多个真空压力变送器4、一抽真空装置5、多个三通接头6、一压力数据采集模块7和一计算机处理系统8（图3中仅示出表示一路的一个真空阀、一个真空压力变送器、一个三通接头的示意图）；所述下模体1设有多个第一凹槽11；所述上模体2设有多个与下模体的第一凹槽相对应的第二凹槽21，当上模体2与下模体1合模时，相对应的第一凹槽11和第二凹槽21分别围成能够容纳继电器10的腔体；每个真空阀3分别连接一个由对应的第一凹槽11和第二凹槽21所围成的腔体；各个三通接头6的第一端分别连接一个对应的真空阀3，各个三通接头6的第二端分别连接至抽真空装置5，各个三通接头6的第三端分别连接一个对应的真空压力变送器4；各个真空压力变送器4分别连接至压力数据采集模块7；压力数据采集模块7连接至计算机处理系统8。

所述第二凹槽21和对应的第一凹槽11之间还设有密封结构9，本实施例中，所述密封结构9设在第二凹槽21的槽沿处，即密封结构9设在上模体2处。当然，所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间设有的密封结构，也可以设在第一凹槽的槽沿处。

所述的每个真空阀3分别通过一条真空气路30连接到上模体的对应的第二凹槽21中。当然，所述的每个真空阀也可以分别通过一条真空气路连接到下模体的对应的第一凹槽中。

本发明的一种用于继电器的密封检漏方法，包括标定过程和实测过程；

在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻t1到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻t2到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1，压力数据采集模块7开始采集的时间为t0，通过在不同的时间点采集空治具腔体内压力值，可以得到一条空治具腔体内压力曲线M1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻t1到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻t2到达时检测出治具腔体内压力值P3，通过在不同的时间点采集治具腔体内压力值，可以得到一条对应于大泄漏继电器的治具腔体内压力曲线M2；还可以把已知的微泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻t1到达时检测出治具腔体内压力值P4，在所述第二时刻t2到达时检测出治具腔体内压力值P5，通过在不同的时间点采集治具腔体内压力值，可以得到一条对应于微泄漏继电器的治具腔体内压力曲线M3；

在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻t1到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻t2到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；

当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

对应于合格产品，通过在不同的时间点采集治具腔体内压力值，可以得到一条对应于合格继电器的治具腔体内压力曲线M4。

进一步的，当所述压力值P6小于或等于压力值（1＋10%）P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值（1＋10%）P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

本发明的一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，是采用真空检测工装，工装下模设有多个凹槽11用于置放继电器10，工装上模也设有与下模一样的凹槽21，工装上模的侧边设有一真空气路，用于治具内腔与真空检测装置对接。同时上模凹槽21表面边上设有一密封结构9，上下模合并时，被检继电器10刚好密封与该上下凹槽内。真空检测工装上模的真空气路连接于真空阀3，真空阀3为三通电磁阀，平常状态下真空工装的气路直接通过真空阀3的泄气口排出。真空阀3的另一接口通过一个三通接头6，分别连接于真空发生装置5和高精度真空压力变送器4。高精度真空变送器4直接与压力变送器-采集模块7相连接。采集模块7设有多路信号输入，采集模块7的输出分别接计算机处理系统8比如单片机（MCU）或工控机（PC）等，单片机（MCU）或工控机（PC）接收到采集模块过来的信号可以计算得到的压力曲线并判断是否存在泄漏。

待检测的继电器10置于真空工装内，检测工装合并密封，真空阀3导通将检测工装气路与抽真空装置5、高精度压力变送器4相连，抽真空装置5开始动作抽真空，高精度压力变送器4通过采集模块7开始采集该时间为t0，在t1时刻读出压力变送器采集模块7检测出压力值P0，设定合理的P0值即可直接判断继电器是否有大泄露；当检测时间到达t2时，读出高精度压力变送器采集模块7检测出压力值P1，在t1与t2时间段检测的压力差值即P0-P1=△P1，设定一合理的△P1值，即可直接反映出继电器的微泄露值进而反正出继电器是否存在微泄楼。根据真空工装内压力曲线变化情况，判断继电器的良品与不良品。t1、t2的时间可以独立设定。检测完成后，真空阀3泄气，检测工装上下分离；检测工装分离后，真空阀3导通，抽真空复位，将抽真空的腔体内的负压经过真空阀-检测上工装将负压排出，最后真空阀关闭，将上工装的气路与真空阀的泄气口相通。

抽真空装置抽取真空时，使继电器的内外气压产生压差，通过时间-压力之间的变化关系，即可分辨出来。当继电器密封良好时，继电器的气压没有外泄，第一时刻t1采集的真空值就比较高(相对应的负压力值就比较大)且第一时刻t1和第二时刻t2之间采集的真空压差值△P3与空治具时采集的真空压差值△P1的比小于预设的阈值时，表明无小泄露，证明该继电器为良品。当继电器的密封出现大泄露时，第一时刻t1采集的真空值就比较低（相对应的负压力值就比较小），立马可以判为不良品。当继电器的密封出现微小泄露时，第一时刻t1采集的真空值相对较高，但是第一时刻t1和第二时刻t2之间采集的真空压差值△P3与空治具时采集的真空压差值△P1的比大于或等于预设的阈值时，证明该继电器为小泄露，也属于密封不良的产品。为了避免信号干扰及提高可靠性，根据经验真空压差值一般都设置在空治具检测的真空压差值的1.05~1.3倍之间，则预设的阈值通常取1.05~1.3，当然，实际使用过程中，该参数为可设定值。

上述实施例仅用来进一步说明本发明的一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，但本发明并不局限于实施例，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均落入本发明技术方案的保护范围内。

Claims (7)

1.一种用于继电器的密封检漏方法，其特征在于：包括标定过程和实测过程；

在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P3；

在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；

当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

2.根据权利要求1所述的用于继电器的密封检漏方法，其特征在于：进一步的，当所述压力值P6小于或等于压力值(1+10％)P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值(1+10％)P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

3.一种用于实现如权利要求1所述继电器的密封检漏方法的密封检漏装置，其特征在于：包括一下模体、一上模体、多个真空阀、多个真空压力变送器、一抽真空装置、多个三通接头、一压力数据采集模块和一计算机处理系统；所述下模体设有多个第一凹槽；所述上模体设有多个与下模体的第一凹槽相对应的第二凹槽，当上模体与下模体合模时，相对应的第一凹槽和第二凹槽分别围成能够容纳继电器的腔体；每个真空阀分别连接一个由对应的第一凹槽和第二凹槽所围成的腔体；各个三通接头的第一端分别连接一个对应的真空阀，各个三通接头的第二端分别连接至抽真空装置，各个三通接头的第三端分别连接一个对应的真空压力变送器；各个真空压力变送器分别连接至压力数据采集模块；压力数据采集模块连接至计算机处理系统。

4.根据权利要求3所述的密封检漏装置，其特征在于：所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第一凹槽的槽沿处。

5.根据权利要求3所述的密封检漏装置，其特征在于：所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第二凹槽的槽沿处。

6.根据权利要求3所述的密封检漏装置，其特征在于：所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到下模体的对应的第一凹槽中。

7.根据权利要求3所述的密封检漏装置，其特征在于：所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到上模体的对应的第二凹槽中。