CN103063971B - 一种钻孔检测电路及采用该钻孔检测电路的检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开可一种钻孔检测电路及采用该钻孔检测电路的检测设备。该检测电路包括：检测模块、显示模块和电源模块。其中，检测模块用于检测发送数据线路和接收数据线路钻孔前后，发送数据线路和接收数据线路的接入阻抗是否发生变化；显示模块，与检测模块连接，用于显示发送数据线路和接收数据线路是否被钻断；电源模块，用于给检测模块和显示模块提供电源。通过上述方式，本发明的钻孔检测电路无需借助万用表即可自动检测发送数据线路和接收数据线路是否被钻断，并通过显示模块将发送数据线路和接收数据线路是否被钻断的状态直观地反馈给检测人员，可以大大提高检测效率和检测质量。
Description
技术领域
本发明涉及检测领域，特别涉及一种钻孔检测电路及采用该钻孔检测电路的检测设备。
背景技术
安全锁（SecurityLock）是一种安全机制，主要用于保护软件不被破解，其可用于保护手机中的软件不被破解。在实际应用中，SecurityLock包括基于锁定用户识别卡（SIMcard）的安全机制和基于限制软件升级的安全机制。
在限制软件升级的安全机制中，可以通过从硬件上切断手机的印刷电路板中串行通信（UART）的发送数据/接收数据（TXD/RXD）线路，使手机的升级通路被破坏，从而达到防破解的目的。
传统的方法用钻孔来切断UART的TXD/RXD线路，然后用万用电表来对UART的TXD/RXD线路是否被切断进行检测，这种检测方法不仅效率低下而且不防呆。因此，有必要开发一种钻孔检测电路以及使用该检测电路的检测设备，可以对UART的TXD/RXD线路是否被切断进行自动检测，从而提高检测效率和检测质量。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种检测效率高、检测质量好的钻孔检测电路以及使用该检测电路的检测设备。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种钻孔检测电路，该电路包括：检测模块，用于检测发送数据线路和接收数据线路钻孔前后，发送数据线路和接收数据线路的接入阻抗是否发生变化；显示模块，与检测模块连接，用于显示发送数据线路和接收数据线路是否被钻断；电源模块，用于给检测模块和显示模块提供电源。
其中，检测模块包括第一检测模块和第二检测模块，第一检测模块用于检测发送数据线路钻孔前后，发送数据线路的接入阻抗是否发生变化，第二检测模块用于检测接收数据线路钻孔前后，接收数据线路的接入阻抗是否发生变化。
其中，第一检测模块包括运算放大单元U2、电阻R6和滑动变阻器R5，运算放大单元U2的反相输入端分别与发送数据线路和电阻R6的一端连接，电阻R6的另一端与电压Vdd连接，运算放大单元U2的同相输入端与滑动变阻器R5的滑动触头连接，滑动变阻器R5的一端与电压Vdd连接，滑动变阻器R5的另一端接地，运算放大单元U2的输出端与显示模块连接。
其中，第一检测模块还包括第一驱动单元，第一驱动单元包括电阻R12和三极管Q2，三极管Q2的基极分别与电阻R12的一端和运算放大单元U2的输出端连接，电阻R12的另一端与电压Vdd连接，三极管Q2的发射极接地，三极管Q2的集电极与显示模块连接。
其中，第二检测模块包括运算放大单元U3、电阻R9和滑动变阻器R8，运算放大单元U3的反相输入端分别与接收数据线路和电阻R9的一端连接，电阻R9的另一端与电压Vdd连接，运算放大单元U3的同相输入端与滑动变阻器R8的滑动触头连接，滑动变阻器R8的一端与电压Vdd连接，滑动变阻器R8的另一端接地，运算放大单元U3的输出端与显示模块连接。
其中，第二检测模块还包括第二驱动单元，第二驱动单元包括电阻R11和三极管Q1，三极管Q1的基极分别与电阻R11的一端和运算放大器U3的输出端连接，电阻R11的另一端与电压Vdd连接，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的集电极与显示模块连接。
其中，显示模块包括电阻R7、发光二极管D3、继电器K1和继电器K2，电阻R7的一端与电压Vcc连接，电阻R7的另一端与继电器K1的公共端连接，发光二极管D3的阳极与继电器K2的公共端连接，发光二极管D3的阴极接地，继电器K1的常闭脚和继电器K2的常闭脚连接，当发送数据线路和接收数据线路同时被钻断时，发光二极管D3被点亮，当发送数据线路和接收数据线路中的任意一条线路没有被钻断时，发光二极管D3熄灭。
其中，电源模块包括电源管理芯片U1、电阻R2和电阻R3，电源管理芯片U1的输入管脚与电压Vcc连接，电源管理芯片U1的输出管脚与电压Vdd连接，电源管理芯片U1的调压管脚分别与电阻R3和电阻R2的一端连接，电阻R3的另一端接地，电阻R2的另一端与电压Vdd连接。
其中，电源模块进一步包括电阻R1、发光二极管D1、电阻R4和发光二极管D2，电阻R1的一端与电压Vcc连接，电阻R1的另一端与发光二极管D1的正极连接，发光二极管D1的负极接地，电阻R4的一端与电压Vdd连接，电阻R4的另一端与发光二极管D2的正极连接，发光二极管D2的负极接地，当电压Vdd正常时。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种钻孔检测设备，该设备包括启动开关和上述钻孔检测电路，启动开关用于启动钻孔检测电路以检测发送数据线路和接收数据线路是否被钻断。
本发明的有益效果是：与现有技术相比，本发明的钻孔检测电路包括：检测模块、显示模块和电源模块。其中，检测模块用于检测发送数据线路和接收数据线路钻孔前后，发送数据线路和接收数据线路的接入阻抗是否发生变化；显示模块，与检测模块连接，用于显示发送数据线路和接收数据线路是否被钻断；电源模块，用于给检测模块和显示模块提供电源。通过上述方式，本发明的钻孔检测电路无需借助万用表即可自动检测发送数据线路和接收数据线路是否被钻断，并通过显示模块将发送数据线路和接收数据线路是否被钻断的状态直观地反馈给检测人员，可以大大提高检测效率和检测质量。
附图说明
图1是本发明钻孔检测设备的结构示意图；
图2是图1所示的钻孔检测电路的结构示意图；
图3是图2所示的电源模块的电路原理图；
图4是图2所示的检测模块的电路原理图；
图5是图2所示的显示模块的电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
图1是本发明钻孔检测设备的结构示意图。如图1所示，钻孔检测设备1包括启动开关2和钻孔检测电路3。启动开关2用于启动钻孔检测电路3以检测TXD线路和RXD线路是否被钻断。
图2是图1所示的钻孔检测电路的结构示意图。如图2所示，钻孔检测电路3包括电源模块31、检测模块32和显示模块33。
电源模块31，与检测模块32和显示模块33连接，用于给检测模块32和显示模块33提供电源。
检测模块32用于检测TXD线路和RXD线路钻孔前后，TXD线路和RXD线路的接入阻抗是否发生变化，如果TXD线路和RXD线路的接入阻抗从几兆欧减少为接近零，则表示TXD线路和RXD线路被钻断。
显示模块33与检测模块32连接，用于显示TXD线路和RXD线路是否被钻断。如果TXD线路和RXD线路同时被钻断，显示模块33被点亮，如果TXD线路和RXD线路中的任意一条线路没有被钻断，显示模块33熄灭。
图3是图2所示的电源模块的电路原理图。如图3所示，电源模块31至少包括电源管理芯片U1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、发光二极管D1和发光二极管D2。
电源管理芯片U1的输入管脚Vin与电压Vcc连接，电源管理芯片U1的输出管脚Vout与电压Vdd连接，电源管理芯片U1的调压管脚ADJ分别与电阻R3和电阻R2的一端连接，电阻R3的另一端接地，电阻R2的另一端与电压Vdd连接，电阻R1的一端与电压Vcc连接，电阻R1的另一端与发光二极管D1的正极连接，发光二极管D1的负极接地，电阻R4的一端与电压Vdd连接，电阻R4的另一端与发光二极管D2的正极连接，发光二极管D2的负极接地。
优选地，在电源管理芯片U1的输出管脚2和地之间串联一电容C1，其电容值为10微法，用以对电源管理芯片U1输出的电压Vdd进行滤波。
在本实施例中，电源管理芯片U1为芯片LM350，电阻R2的阻值为240欧，电阻R3的阻值为300欧，电阻R1的阻值为10千欧，电阻R4的阻值为100欧，电压Vcc的电压值为12伏，电压Vdd的电压值为3伏。
在本实施例中，电源管理芯片U1用于将电压Vcc转换为电压Vdd，进一步，当电压Vcc正常时，发光二极管D1被点亮，当电压Vdd正常时，发光二极管D2被点亮。
在本实施例中，电阻R1为限流电阻，用于减少流经发光二极管D1的电流，防止损坏发光二极管D1，其中，发光二极管D1发红光。电阻R4为限流电阻，用于减少流经发光二极管D2的电流，防止损坏发光二极管D2，其中，发光二极管D2发黄光。发光二极管D1和发光二极管D2为发不同颜色光的发光二极管，以将钻孔检测电路3的供电电源Vcc和Vdd是否正常有区分地反馈给检测者，提高检测的效率。
图4是图2所示的检测模块的电路原理图。如图4所示，检测模块32包括第一检测模块321和第二检测模块322，第一检测模块321用于检测TXD线路钻孔前后，TXD线路的接入阻抗是否发生变化，第二检测模块322用于检测RXD线路钻孔前后，RXD线路的接入阻抗是否发生变化。
第一检测模块321包括运算放大单元U2、电阻R6和滑动变阻器R5和第一驱动单元3211。其中，第一驱动单元3211包括电阻R12和三极管Q2。
在本实施例中，电压Vdd与图3中所示的电压Vdd连接，运算放大单元U2的反相输入端分别与TXD线路和电阻R6的一端连接，电阻R6的另一端与电压Vdd连接，运算放大单元U2的同相输入端与滑动变阻器R5的滑动触头连接，滑动变阻器R5的一端与电压Vdd连接，滑动变阻器R5的另一端接地，三极管Q2的基极分别与电阻R12的一端和运算放大单元U2的输出端连接，电阻R12的另一端与电压Vdd连接，三极管Q2的发射极接地，三极管Q2的集电极与显示模块33连接。
优选地，在电阻R12和三极管Q2的基极之间串接一电阻R13，其阻值为3.3千欧，用以控制三极管Q2的基极电流，防止三极管Q2被损坏。
在本实施例中，电阻R6的阻值为1兆欧，电阻R12的阻值为6.8千欧，滑动变阻器R5的阻值为100千欧，Q2为PNP型三极管。
在本实施例中，调节滑动变阻器R5的滑动触头以对电压Vdd进行分压，得到运算放大单元U2的同相输入端的参考电压值为2伏。TXD线路被钻断前的输入阻抗约为2.5兆欧，其与电阻R6串联对电压Vdd进行分压，得到运算放大单元U2的反相输入端的电压值为2.5/(2.5+1)*3伏，也即2.14伏。TXD线路被钻断后的输入阻抗为零，则运算放大单元U2的反相输入端的电压值为0伏。
TXD线路被钻断前，运算放大单元U2的反相输入端的电压2.14伏高于同相输入端的参考电压2伏，运算放大单元U2的输出端相当于接低电平，三极管Q2的基极钳位在低电平，三极管Q2作为开关二极管截止，三极管Q2的集电极输出高电平。
TXD线路被钻断后，运算放大单元U2的反相输入端的电压0伏低于同相输入端的参考电压2伏，运算放大单元U2的输出端相当于开路，三极管Q2的基极在电阻R12的作用下钳位在高电平，三极管Q2作为开关二极管导通，三极管Q2的集电极输出低电平。
第二检测模块322包括运算放大单元U3、电阻R9、滑动变阻器R8和第二驱动单元3221。其中，第二驱动单元3221包括电阻R11、三极管Q1。
在本实施例中，运算放大单元U3的反相输入端分别与RXD线路和电阻R9的一端连接，电阻R9的另一端与电压Vdd连接，运算放大单元U3的同相输入端与滑动变阻器R8的滑动触头连接，滑动变阻器R8的一端与电压Vdd连接，滑动变阻器R8的另一端接地，三极管Q1的基极分别与电阻R11的一端和运算放大器U3的输出端连接，电阻R11的另一端与电压Vdd连接，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的集电极与显示模块33连接。
优选地，在电阻R11和三极管Q1的基极之间串接一电阻R10，其阻值为3.3千欧，用以控制三极管Q1的基极电流，防止三极管Q1被损坏。
在本实施例中，电阻R9的阻值为1兆欧，电阻R11的阻值为6.8千欧，滑动变阻器R8的阻值为100千欧，Q1为PNP型三极管，RXD线路被钻断前的输入阻抗约为2.5兆欧，RXD线路被钻断后的输入阻抗为零。
在本实施例中，第二检测模块和第一检测模块的电路相同，其工作原理相同，在此不再赘述。
图5是图2所示的显示模块的电路原理图，如图4所示，显示模块33包括电阻R7、发光二极管D3、继电器K1和继电器K2。
在本实施例中，电压Vcc与图3中所示的电压Vcc连接，电阻R7的一端与电压Vcc连接，电阻R7的另一端与继电器K1的公共端2连接，发光二极管D3的阳极与继电器K2的公共端2连接，发光二极管D3的阴极接地，继电器K1的常闭脚3和继电器K2的常闭脚3连接，继电器K1的控制端1与图4中所示的三极管Q2的集电极连接，继电器K2的控制端1与图4中所示的三极管Q1的集电极连接。
在本实施例中，电阻R7的阻值为3千欧，电阻R7为限流电阻，用于减少流经发光二极管D3的电流，防止损坏发光二极管D3，其中，发光二极管D3发绿光。继电器K1和继电器K2是单刀双掷继电器，相当于单刀双掷开关，用以切断/导通电压Vcc至发光二极管D3的通路。
承接前述，TXD线路被钻断前，三极管Q2的集电极输出高电平，进而继电器K1的控制端1也钳位在高电平。当继电器K1的控制端1为高电平时，继电器K1断开，也即继电器K1的常开脚4与继电器K1的公共端2连通，电压Vcc至发光二极管D3的通路被切断，发光二极管D3熄灭。在本实施例中，RXD线路被钻断前的工作原理与TXD线路被钻断前的工作原理相同，在此不再赘述。
TXD线路和RXD线同时被钻断后，三极管Q2和三极管Q1的集电极输出低电平，进而继电器K1和继电器K2的控制端1钳位在低电平。当继电器K1和K2控制端1为低电平时，继电器K1和K2导通，也即继电器K1的常闭脚3与继电器K1的公共端2连通，电压Vcc至发光二极管D3的通路被导通，进而电压Vcc通过电阻R7给发光二极管D3供电，发光二极管D3发绿光。
本发明的有益效果是：与现有技术相比，本发明的钻孔检测电路包括：检测模块、显示模块和电源模块。其中，检测模块用于检测发送数据线路和接收数据线路钻孔前后，发送数据线路和接收数据线路的接入阻抗是否发生变化；显示模块，与检测模块连接，用于显示发送数据线路和接收数据线路是否被钻断；电源模块，用于给检测模块和显示模块提供电源。本发明的钻孔检测电路无需借助万用表即可自动检测发送数据线路和接收数据线路是否被钻断，并通过显示模块将发送数据线路和接收数据线路是否被钻断的状态直观地反馈给检测人员，可以大大提高检测效率和检测质量。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种钻孔检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：
检测模块，用于检测串行通信的发送数据线路和接收数据线路钻孔前后，所述发送数据线路和所述接收数据线路的接入阻抗是否发生变化，所述检测模块包括第一检测模块，所述第一检测模块用于检测所述发送数据线路钻孔前后，所述发送数据线路的接入阻抗是否发生变化，所述第一检测模块包括运算放大单元U2、电阻R6和滑动变阻器R5，所述运算放大单元U2的反相输入端分别与所述发送数据线路和所述电阻R6的一端连接，所述电阻R6的另一端与电压Vdd连接，所述运算放大单元U2的同相输入端与所述滑动变阻器R5的滑动触头连接，所述滑动变阻器R5的一端与所述电压Vdd连接，所述滑动变阻器R5的另一端接地，所述运算放大单元U2的输出端与所述显示模块连接，所述第一检测模块还包括第一驱动单元，所述第一驱动单元包括电阻R12和三极管Q2，所述三极管Q2的基极分别与所述电阻R12的一端和所述运算放大单元U2的输出端连接，所述电阻R12的另一端与所述电压Vdd连接，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的集电极与所述显示模块连接；
显示模块，与所述检测模块连接，用于显示所述发送数据线路和所述接收数据线路是否被钻断；
电源模块，用于给所述检测模块和所述显示模块提供电源。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测模块包括第二检测模块，所述第二检测模块用于检测所述接收数据线路钻孔前后，所述接收数据线路的接入阻抗是否发生变化。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第二检测模块包括运算放大单元U3、电阻R9和滑动变阻器R8，所述运算放大单元U3的反相输入端分别与所述接收数据线路和所述电阻R9的一端连接，所述电阻R9的另一端与所述电压Vdd连接，所述运算放大单元U3的同相输入端与所述滑动变阻器R8的滑动触头连接，所述滑动变阻器R8的一端与所述电压Vdd连接，所述滑动变阻器R8的另一端接地，所述运算放大单元U3的输出端与所述显示模块连接。
4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第二检测模块还包括第二驱动单元，所述第二驱动单元包括电阻R11和三极管Q1，所述三极管Q1的基极分别与所述电阻R11的一端和所述运算放大器U3的输出端连接，所述电阻R11的另一端与所述电压Vdd连接，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极与所述显示模块连接。
5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述显示模块包括电阻R7、发光二极管D3、继电器K1和继电器K2，所述电阻R7的一端与电压Vcc连接，所述电阻R7的另一端与所述继电器K1的公共端连接，所述发光二极管D3的阳极与所述继电器K2的公共端连接，所述发光二极管D3的阴极接地，所述继电器K1的常闭脚和所述继电器K2的常闭脚连接，当所述发送数据线路和所述接收数据线路同时被钻断时，所述发光二极管D3被点亮，当所述发送数据线路和所述接收数据线路中的任意一条线路没有被钻断时，所述发光二极管D3熄灭。
6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述电源模块包括电源管理芯片U1、电阻R2和电阻R3，所述电源管理芯片U1的输入管脚与所述电压Vcc连接，所述电源管理芯片U1的输出管脚与所述电压Vdd连接，所述电源管理芯片U1的调压管脚分别与所述电阻R3和所述电阻R2的一端连接，所述电阻R3的另一端接地，所述电阻R2的另一端与所述电压Vdd连接。
7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述电源模块进一步包括电阻R1、发光二极管D1、电阻R4和发光二极管D2，所述电阻R1的一端与所述电压Vcc连接，所述电阻R1的另一端与所述发光二极管D1的正极连接，所述发光二极管D1的负极接地，所述电阻R4的一端与所述电压Vdd连接，所述电阻R4的另一端与所述发光二极管D2的正极连接，所述发光二极管D2的负极接地。
8.一种钻孔检测设备，其特征在于，所述设备包括启动开关和权利要求1-7任意一项所述的钻孔检测电路，所述启动开关用于启动所述钻孔检测电路以检测所述发送数据线路和所述接收数据线路是否被钻断。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20151125 |