CN103062205A - 薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，该吸盘包括一体成型的固定部分和吸附部分，所述吸附部分为中间凹陷的矩形盘结构，所述固定部分上设置有连通吸附部分的中间凹陷处的抽气孔。本发明提供的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，能够增大键帽在进行拉拔力测试时的被吸附表面积，同时能够提高键帽测试的真实性。

Description

薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘
技术领域
本发明涉及薄型键盘的键帽拉拔力测试装置，尤其涉及一种用于吸附键帽的吸盘。
背景技术
薄型键盘包括键板和键帽，在键板上设置有电路结构及按键，键帽通常通过四角的卡扣结构卡合在键板上、并位于相应的按键上方；由于薄型键盘的结构限制，卡扣结构较为微小，因此容易出现卡扣不良，比如未卡合上、卡扣力度不足等，反应在键盘的整体结构上即键帽不齐平、键帽脱落、按键不顺滑等。为了降低甚至避免键帽的卡扣不良，需要在键帽安装在键板上后，对键帽进行拉拔力测试，即使用一定大小的垂直于键板的力向外拉键帽，键帽四角的卡扣结构卡依然卡扣良好则表示键帽卡扣良好。
现在对键帽进行拉拔力测试主要有两种方式：一是通过人工使用手指一个一个地拽拉键帽对键帽进行拉拔力测试，由于是人工检测，而键盘上的键帽数量较多，因此容易出现漏检情况，另外人工也难以保证对每个键帽施加的力恒定；二是通过真空泵配合吸盘吸附键帽表面对键帽施加一定的拉力进行拉拔力测试，这种检测方式使用电气化控制能够避免漏检的情况，另外对键帽施加的力也能够保持很定，但是现在使用的吸盘均为圆形吸盘，而键帽为方形结构，因此键帽被吸附的表面就十分有限（最大范围为以键帽短边长度为外径的圆环形区域），并且键帽的测试力着力范围在键帽表面被圆形吸盘吸附的圆环形区域，而键帽的卡扣点却在其四角，因此键帽的测试就不够真实。
发明内容
发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，能够增大键帽在进行拉拔力测试时的被吸附表面积，同时能够提高键帽测试的真实性。
技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，该吸盘包括一体成型的固定部分和吸附部分，所述吸附部分为中间凹陷的矩形盘结构，所述固定部分上设置有连通吸附部分的中间凹陷处的抽气孔。
上述结构的吸盘，使用方法与一般的吸盘相同，首先将吸盘罩在键帽的表面上，然后通过抽气孔抽取掉吸附部分中间凹陷处的空气，这样由于大气压强的作用，使得吸附部分与键帽吸合，拉拔吸盘就相当于拉拔键帽，这样就可以进行键帽进行拉拔力测试。与现有的圆形吸盘不同的是，当本案的吸盘吸附在键帽上时，键帽被吸附的表面近似为一个矩形环，一方面，由于键帽的表面也为矩形，因此通过设计吸盘吸附部分的长度和宽度就可以实现增大键帽被吸附表面的目的，另一方面，键帽的测试力着力范围在键帽表面被吸附的矩形环区域，而键帽的卡扣点在其四角，因此能够更真实地对键帽进行拉拔力测试。
该吸盘也可以用于进行薄型键盘的键帽弹力测试。
优选的，所述吸附部分的边缘四个角部采用圆角过渡，这样能够更有利于吸附的快速密闭性。
所述吸附部分可以为适配正方形键帽的正方形盘结构，以最大限度地增加键帽被吸附的表面，一般键盘的字母键、数字键使用的键帽为正方形键帽，我们称该类吸盘为正方形结构吸盘。
所述吸附部分可以为适配长方形键帽的长方形盘结构，以最大限度地增加键帽被吸附的表面，一般键盘的功能键使用的键帽为长方形键帽，我们称该类吸盘为长方形结构吸盘。
优选的，所述吸附部分的边缘一周向内1mm处的肉厚为0.2~0.3mm，实验证明这对吸附的密闭性更有利。
优选的，所述抽气孔为倒扣的梯形结构，以方便金属件的安装，比如同时对吸附施加拉拔力的抽气头的安装等。
有益效果：本发明提供的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，能够增大键帽在进行拉拔力测试时的被吸附表面积，同时能够提高键帽测试的真实性。
附图说明
图1为正方形结构吸盘的立体结构示意图；
图2为正方形结构吸盘的俯视结构示意图；
图3为正方形结构吸盘的侧视结构示意图；
图4为正方形结构吸盘的正视结构示意图；
图5为长方形结构吸盘的立体结构示意图；
图6为长方形结构吸盘的俯视结构示意图；
图7为长方形结构吸盘的A-A向剖视图；
图8为长方形结构吸盘的侧视结构示意图；
图9为长方形结构吸盘的正视结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作更进一步的说明。
薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，该吸盘包括一体成型的固定部分1和吸附部分2，所述吸附部分2为中间凹陷的矩形盘结构，所述固定部分1上设置有连通吸附部分2的中间凹陷处的抽气孔3，所述抽气孔3为倒扣的梯形结构；所述吸附部分2的边缘四个角部采用圆角过渡，且吸附部分2的边缘一周向内1mm处的肉厚为0.2~0.3mm；为保证吸附均匀，最好设计该吸盘结构为在任一横截面均匀前后对称且左右对称的结构。
如图1到图4所示为正方形结构吸盘的示意图，所述吸附部分2为适配正方形键帽的正方形盘结构，如图所示，该案的固定部分1为正方形，抽气孔3可以为圆柱形，也可以为方形。
如图5到图9所示为正方形结构吸盘的示意图，所述吸附部分2为适配长方形键帽的长方形盘结构，如图所示，该案的固定部分1近似为长方形，为了增大抽气孔3内的容积，使得配件能够插入到抽气孔3内并正常工作，设计固定部分1的宽度方向增加了凸起。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：该吸盘包括一体成型的固定部分（1）和吸附部分（2），所述吸附部分（2）为中间凹陷的矩形盘结构，所述固定部分（1）上设置有连通吸附部分（2）的中间凹陷处的抽气孔（3）。
2.根据权利要求1所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：所述吸附部分（2）的边缘四个角部采用圆角过渡。
3.根据权利要求1或2所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：所述吸附部分（2）为适配正方形键帽的正方形盘结构。
4.根据权利要求1或2所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：所述吸附部分（2）为适配长方形键帽的长方形盘结构。
5.根据权利要求1或2所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：所述吸附部分（2）的边缘一周向内1mm处的肉厚为0.2~0.3mm。
6.根据权利要求1或2所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘，其特征在于：所述抽气孔（3）为倒扣的梯形结构。
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