CN103018648A - 一种加速的pid测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种加速的PID测试方法,步骤为:(1)清洁组件表面;(2)在组件表面撒上少量的液体;(3)把导电薄膜覆盖在组件表面,保证导电薄膜与组件良好接触;(4)把组件放入环境实验箱内,将组件正负极短路,并从导电薄膜与组件接线端引出导线到环境实验箱外,通过环境实验箱把组件温度升高到60℃以上;(5)将导电薄膜接地,在组件接线端加上负电压,电压大于-600V,然后进行PID测试。本发明通过改进测试条件,大大降低PID测试时间,从几天缩短到几个小时,缩短实验周期,提高实验效率。
Description
技术领域
本发明涉及晶体硅太阳能电池领域,特别涉及一种太阳能电池组件可靠性测试的方法。
背景技术
在光伏系统中,出于安全考虑,组件的铝边框通常是接地的,这样,电池端就会处于一个负压的状态。在这个负压的驱动下,电流从接地端通过铝边框,玻璃和EVA流向电池,在这个过程中,大量的正电荷会积累在电池表面,导致电池失效,这就是组件在高压下的衰减(potential induced degradation),简称PID。随着光伏技术的发展,在大型光伏系统串联在一起的电池板数量越来越多,在工作状态下,部分组件就会处于高压状态,通常能到达600到1000V,这样,PID问题就变得越来越重要。对于电池板的PID测试,目前业界使用的方法通常在高湿度下进行,利用组件表面的水膜导电以在组件表面形成等电势面,但是由于水膜的导电性较差,测试需要较长的时间。这不利于缩短实验周期,提高实验效率;而且造成环境试验箱以及人力等资源的浪费。
发明内容
发明目的:是针对现有技术存在的不足,提供一种加速的PID测试方法。
技术方案:为实现上述目的,本发明提供了一种加速的PID测试方法,该方法的具体步骤如下:
(1)把组件平放清洁组件表面,去掉组件表面的灰尘等颗粒;
(2)在组件表面撒上少量的液体,并用无尘布把液体擦拭均匀;
(3)把导电薄膜覆盖在组件表面,通过这种液体的吸附使导电薄膜与组件表面形成良好的接触,排除导电薄膜与组件之间的气泡,以保证导电薄膜与组件良好接触;
(4)把组件放入环境实验箱内,将组件正负极短路,并从导电薄膜与组件接线端引出导线到环境实验箱外,通过环境实验箱把组件温度升高到60℃以上;
(5)将导电薄膜接地,在组件接线端加上负电压,电压大于-600V,然后进行PID测试。
由于组件PID与积累在电池表面的电荷量成正比,本发明所述方法中使用环境实验箱把组件的温度升高,由于玻璃和EVA的电导率随着温度升高而升高,使得在一定电压下从铝边框流向电池的电流大大增加;再则,使用导电薄膜覆盖组件表面取代传统测试中的水膜,由于导电薄膜的电导率远远大于水膜的电导率,这也使得在一定电压下从铝边框流向电池的电流大大增加,电池表面在短时间内积累大量电荷,进而已达到了加速PID测试的目的。
本发明中为保证组件与导电薄膜的良好接触,所述导电薄膜厚度为5μm-200μm。本发明中导电薄膜优选采用铝箔。
本发明中所述步骤(2)中液体优选为水。
有益效果:本发明所述的一种加速的PID测试方法,与现有技术相比,具有以下优点:
本发明通过改进测试条件,大大降低PID测试时间,从几天缩短到几个小时,缩短实验周期,提高实验效率。
具体实施方式
下面结合具体实施例,进一步阐明本发明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
实施例
一种加速的PID测试方法,具体步骤如下:
(1)清洁组件表面,去掉组件表面的灰尘等颗粒;
(2)在组件表面撒上少量的水,并用无尘布把水擦拭均匀;
(3)用铝箔覆盖在组件表面,排除铝箔与组件之间的气泡,以保证铝箔与组件良好接触,为保证组件与铝箔的良好接触,铝箔厚度为150μm;
(4)把组件搬到环境实验箱内,把组件正负极短路,并从铝箔与组件接线端引出导线到环境实验箱外,通过环境实验箱把组件温度升高,为获得较大的漏电流,把组件温度升高到65℃;
(5)将铝箔接地,在组件接线端加上负电压,负电压为-400V,然后开始PID测试。
本实施例所述方法大大缩短了PID测试周期,由常规PID测试的48-168小时缩短到半小时,本实施例所述方法可以达到同等测试效果,提高了实验效率,降低测试中人力物力的消耗。
Claims (4)
1.一种加速的PID测试方法,其特征在于:该方法的具体步骤如下:
(1)把组件平放清洁组件表面,去掉组件表面的灰尘等颗粒;
(2)在组件表面撒上少量的液体,并用无尘布把液体擦拭均匀;
(3)用导电薄膜覆盖在组件表面,通过这种液体的吸附使导电薄膜与组件表面形成良好的接触,排除导电薄膜与组件之间的气泡,以保证导电薄膜与组件良好接触;
(4)把组件放入环境实验箱内,将组件正负极短路,并从导电薄膜与组件接线端引出导线到环境实验箱外,通过环境实验箱把组件温度升高到60℃以上;
(5)将导电薄膜接地,在组件接线端加上负电压,电压大于-600V,然后进行PID测试。
2.根据权利要求1所述的一种加速的PID测试方法,其特征在于:所述导电薄膜厚度为5μm-200μm。
3.根据权利要求1所述的一种加速的PID测试方法,其特征在于:所述导电薄膜为铝箔。
4.根据权利要求1所述的一种加速的PID测试方法,其特征在于:所述步骤(2)中液体为水。
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