CN102981290A

CN102981290A - 一种用于液晶显示模组的膜片检测治具

Info

Publication number: CN102981290A
Application number: CN 201210501111
Authority: CN
Inventors: 孙赓楠; 卢仁生
Original assignee: AU Optronics Xiamen Corp; AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Xiamen Corp; AU Optronics Corp
Priority date: 2012-11-29
Filing date: 2012-11-29
Publication date: 2013-03-20

Abstract

本发明提供了一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，包括：第一侧边，其内壁具有多个第一凸起，相邻的第一凸起之间包括第一缝隙；第二侧边，平行于第一侧边，其内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括第二缝隙，藉由第一和第二缝隙放置一个或多个待验证的光学膜片；以及多个通孔，每一通孔位于第一缝隙与第一侧边的内壁之间，用以插设一热源条。采用本发明，藉由第一凸起的第一缝隙以及第二凸起的第二缝隙对应放置一光学膜片，然后将热源条插入第一缝隙旁边的通孔内，从而达到膜片材料的环测验证目的。相比于现有技术，本发明可同时对不同材质的多种光学膜片进行对比实验，节约了成本，减小了材料损耗，并提升了验证效率。

Description

一种用于液晶显示模组的膜片检测治具

技术领域

本发明涉及一种液晶显示模组，尤其涉及该液晶显示模组的膜片检测治具。

背景技术

目前，液晶显示设备如液晶电视、液晶显示器等，由于具有机身薄、辐射小、高清晰显示等诸多优点，因而取得了广泛的应用。但是液晶显示设备中的液晶面板自身无法发光，通常需要使用背光源作为照明电源。而且为了取得良好的显示效果，从背光源到液晶面板之间需要设置多种光学膜片，例如，扩散板、扩散片、增光膜等，这些光学膜片能够对背光源发出的光线进行透射扩散，以提高光线的亮度、均匀性和色度等指标。

在现有技术中，对于同一尺寸的液晶显示设备，根据不同的应用需求需要开发出多种类型，例如低功耗型、高亮类型、超薄类型等。在开发这些类型时，必须对液晶显示设备的光学指标进行评价，这就要求进行多次试验和检测，以通过改变各光学膜片的材质或它们之间的搭配组合来获得理想的光学指标。

然而，在传统液晶显示设备的内部结构中，更换各光学膜片时，每次都需要拆掉前框、中框和液晶面板，更换完成后再重新安装液晶面板、中框和前框，操作繁琐，整个更换过程需要的时间较长。另一方面，若将光学膜片的环测项目的验证载体使用液晶面板成品，由于成品内的各个材料之间的间隙受其本身裁切尺寸及组装的影响，通常无法真实体现设计值。并且，验证后的材料不能重复使用，加剧了材料损耗，增加了验证成本。

发明内容

针对现有技术中的膜片检测治具所存在的上述缺陷，本发明提供了一种新颖的、用于液晶显示模组的膜片检测治具。

依据本发明的一个方面，提供了一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，包括：

一第一侧边，其内壁具有多个第一凸起，相邻的第一凸起之间包括一第一缝隙；

一第二侧边，平行于所述第一侧边，其内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括一第二缝隙，其中，所述第二缝隙与相应的第一缝隙位于同一高度，藉由所述第一缝隙和所述第二缝隙放置一个或多个待验证的光学膜片；以及

多个通孔，每一通孔位于所述第一缝隙与所述第一侧边的内壁之间，用以插设一热源条，其中，所述膜片检测治具放置于一预设的环测环境中。

优选地，位于第一高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第一光学膜片，位于第二高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第二光学膜片，其中，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的材质不同。更优选地，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的尺寸大小相同。

优选地，所述膜片检测治具还包括一连接边，用以连接所述第一侧边和第二侧边，其中，当所述光学膜片朝向所述连接边插入治具时，所述光学膜片与所述连接边保留一间隙。

优选地，光学膜片与所述连接边的所述间隙是可调节的，用以模拟所述光学膜片与胶框的间隔距离，藉由调节所述间隙从而确定所述光学膜片的极限温度条件和最佳温度条件。

优选地，每一通孔具有一开口，所述热源条具有一端部，所述热源条的端部与所述通孔的开口形状相同。

优选地，所述热源条上的热源温度是可调节的。

优选地，所述通孔与相应的所述第一缝隙相连通，且所述第一缝隙的高度小于所述通孔的高度。

采用本发明的用于液晶显示模组的膜片检测治具，其第一侧边的相邻第一凸起之间具有第一缝隙，其第二侧边的相邻第二凸起之间具有第二缝隙，藉由处在同一高度的第一缝隙和第二缝隙来对应放置一光学膜片，然后通过将热源条插入第一缝隙旁边的通孔内，从而达到膜片材料的环测验证目的。相比于现有技术，本发明的膜片检测治具还可同时对不同材质的多种光学膜片进行对比实验，进而直观地了解材料的好坏。此外，通过调整热源条上的热源温度，以及光学膜片与治具之间的间隙大小来测试其在最佳温度条件和极限温度条件下的状态，由于该治具仅需验证光学膜片本身而无需整个液晶面板成品，节约了成本，减小了材料损耗，并提升了验证效率。

附图说明

读者在参照附图阅读了本发明的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本发明的各个方面。其中，

图1示出现有技术的液晶显示模组中，对膜片进行环测验证时的结构示意图；以及

图2示出依据本发明的一实施方式，用于液晶显示模组的膜片检测治具的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请所揭示的技术内容更加详尽与完备，可参照附图以及本发明的下述各种具体实施例，附图中相同的标记代表相同或相似的组件。然而，本领域的普通技术人员应当理解，下文中所提供的实施例并非用来限制本发明所涵盖的范围。此外，附图仅仅用于示意性地加以说明，并未依照其原尺寸进行绘制。

图1示出现有技术的液晶显示模组中，对膜片进行环测验证时的结构示意图。

如前所述，根据不同的应用需求开发不同类型（诸如低功耗型、高亮度型、超薄型等等）的液晶显示设备时，必须对其光学指标进行评价，尤其是对液晶显示设备中的光学膜片进行多次试验和检测，以通过改变各光学膜片的材质或它们之间的搭配组合来获得满足要求的光学指标。

现有的光学膜片环测项目的验证载体往往采用液晶面板成品。参照图1，该液晶显示模组包括胶框101、位于胶框101下方的多功能薄膜103、扩散片105、扩散片107、位于扩散片107下方的导光板109、反射片111以及背板（back bezel）113。此外，还需设置一灯条（诸如LED灯条）115和一散热垫117，以提供温度测试时的热源。在环测过程中，由于胶框101、扩散片105、扩散片107、导光板109、反射片111之间的间隙受其本身裁切尺寸及组装的影响，并不能真实体现设计值。并且，验证后的材料不能重复使用，加剧了材料损耗，增加了验证成本。

此外，即使不同的液晶面板机种包含相同材质的光学膜片，由于验证载体为液晶面板成品本身，仍然需要进行重复测试。虽然该测试数据直观可见，但是各材料间的间隙、灯条115的温度条件等较固定，因而环测效率相对较低。

图2示出依据本发明的一实施方式，用于液晶显示模组的膜片检测治具的结构示意图。参照图2，本发明的膜片检测治具2包括一第一侧边21、一第二侧边23以及多个通孔（诸如通孔214和通孔216）。

具体地，第一侧边21的内壁具有多个第一凸起。相邻的第一凸起之间包括一第一缝隙（标记为212或218），亦即，第一侧边21的第一缝隙将其上方的一第一凸起与其下方的另一第一凸起隔离开来。

第二侧边23平行于第一侧边21。第二侧边23的内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括一第二缝隙232，亦即，第二侧边23的第二缝隙232将其上方的一第二凸起与其下方的另一第二凸起隔离开来。第二缝隙232与相应的第一缝隙可设置位于同一高度，如此一来，该膜片检测治具2可藉由同一高度处的该第一缝隙和该第二缝隙放置一光学膜片40。此外，由于第一侧边21和第二侧边23分别包括多个第一缝隙和多个第二缝隙，因此该膜片检测治具可同时插入多个光学膜片进行环测验证。

多个通孔中的每一通孔位于第一缝隙与第一侧边21的内壁之间，用以插设一热源条30。在图2中，通孔214对应于第一缝隙212，通孔216对应于第一缝隙218，通孔214与通孔216位于不同的高度。以通孔214为例，该通孔214与相应的第一缝隙212相连通，且该第一缝隙212的高度小于通孔214的高度。此外，该热源条30包括多个热源304，例如，每一热源304为一LED（LightEmitting Diode，发光二极管）。

应当指出，在本发明的膜片检测治具中，热源条30与通孔之间的连接为插拔方式，因而可根据环测验证的实际需求，插入适合的热源条30或取出并更换合适的热源条30。在一实施例中，每一通孔具有一开口，该热源条30具有一端部302，热源条30的端部302与通孔的开口形状相同。如此一来，当热源条30插入该通孔后，其端部302与通孔的开口相匹配，进而可完全模拟液晶面板的温度分布不均匀现象。例如，热源条30上的热源模拟入光侧的温度条件，以验证背光模组中的光学膜片的性能。在一些实施例中，该膜片检测治具可包括一个或多个热源条30。当存在多个热源条30时，每一热源条30可以分别插入到不同的通孔中。

在一实施例中，位于第一高度处的第一缝隙（如缝隙212）和第二缝隙232对应放置一第一光学膜片（未示出），位于第二高度处的第一缝隙（如缝隙218）和第二缝隙232对应放置一第二光学膜片（未示出）。该第一光学膜片与该第二光学膜片的材质不同。也就是说，可将不同类型、不同材质的光学膜片同时放入该膜片检测治具中，以便进行膜片环测验证。此外，为了提供精确的验证数据，设置第一光学膜片与第二光学膜片的尺寸大小相同。

在一实施例中，该膜片检测治具还包括一连接边22，用以连接该第一侧边21和该第二侧边23。当光学膜片40朝向连接边22插入治具2时，该光学膜片40与连接边22保留一间隙（gap）。较佳地，该光学膜片40与连接边22的间隙是可调节的。该间隙用以模拟光学膜片40与胶框的间隔距离，并且藉由调节该间隙确定光学膜片40的极限温度条件和最佳温度条件。

上文中，参照附图描述了本发明的具体实施方式。但是，本领域中的普通技术人员能够理解，在不偏离本发明的精神和范围的情况下，还可以对本发明的具体实施方式作各种变更和替换。这些变更和替换都落在本发明权利要求书所限定的范围内。

Claims

1.一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，其特征在于，所述膜片检测治具包括：

2.根据权利要求1所述的膜片检测治具，其特征在于，位于第一高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第一光学膜片，位于第二高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第二光学膜片，其中，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的材质不同。

3.根据权利要求2所述的膜片检测治具，其特征在于，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的尺寸大小相同。

4.根据权利要求1所述的膜片检测治具，其特征在于，所述膜片检测治具还包括一连接边，用以连接所述第一侧边和第二侧边，其中，当所述光学膜片朝向所述连接边插入治具时，所述光学膜片与所述连接边保留一间隙。

5.根据权利要求4所述的膜片检测治具，其特征在于，所述光学膜片与所述连接边的所述间隙是可调节的，用以模拟所述光学膜片与胶框的间隔距离，藉由调节所述间隙从而确定所述光学膜片的极限温度条件和最佳温度条件。

6.根据权利要求4所述的膜片检测治具，其特征在于，每一通孔具有一开口，所述热源条具有一端部，所述热源条的端部与所述通孔的开口形状相同。

7.根据权利要求1所述的膜片检测治具，其特征在于，所述热源条上的热源温度是可调节的。

8.根据权利要求1所述的膜片检测治具，其特征在于，所述通孔与相应的所述第一缝隙相连通，且所述第一缝隙的高度小于所述通孔的高度。