CN102890204A - 恒温老化装置 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示一种恒温老化装置,包括:老化架,其一侧设有开门,所述老化架的一面上设有开口,所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽,所述滑槽内插设有插板;温控探头,其设于所述老化架内,检测所述老化架内的环境温度;继电器,其与所述温控探头连接,获取所述温控探头检测到的环境温度,并与一预设温度比较;电磁阀,其与所述继电器连接,受控于所述继电器;汽缸,其与所述电磁阀连接,且受控于所述电磁阀;PTC加热器,其设于所述老化架内靠近底部位置,并与所述继电器连接,当所述所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时,所述PTC加热器启动加热。从而可以提供较为准确的测试环境,且待测物品受热均匀,避免烤坏。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种恒温老化装置,特别是涉及一种待测物品受热均匀的恒温老化装置。
【背景技术】
随着科技的发展进步,电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合。而一些电子产品(如笔记本电脑)在出厂前需要经过老化测试,老化测试的目的是使产品的缺陷在出厂前暴露出来,如焊点连接的可靠性,产品在设计、材料和工艺等方面的各种缺陷,以便提高产品的稳定性,在出厂前发现一些缺陷并进行弥补,减少产品的返修率。
目前的恒温老化装置,包括恒老化架,待测物品放入老化架中,老化架内设有灯泡,通过打开所述灯泡加热使得所述老化架内达到预设温度(例如40℃),所述老化架内还设有温控探头,当所述老化架内的温度超过预设温度后,控制所述灯泡关闭,使得所述老化架内自然降温,或者所述老化架一侧还可以包括风扇,于此同时启动风扇加速降温。
然而,采用以上恒温老化装置,由于采用灯泡对老化架内直接加热,一方面会造成靠近灯泡的待测物品被烤坏的情形;另一方面会导致老化架内温度不均,使得放置在老化架内的各待测物品的环境会存在差异,温控探头只探测到某个点的温度,进而判断进行加热或者降温也不准确,因此会造成测试结果不准确。
PTC(positive temperature coefficient)为正温度系数热敏材料,它具有电阻率随温度升高而增大的特性。PTC材料的理论日趋成熟,应用范围也不断扩大。
有鉴于此,实有必要开发一种恒温老化装置,以解决上述问题。
【发明内容】
因此,本发明的目的在于提供一种恒温老化装置,可以提供较为准确的测试环境,且待测物品受热均匀,避免烤坏。
为了达到上述目的,本发明提供的恒温老化装置,包括:
老化架,其一侧设有开门,所述开门关闭状态,所述老化架内形成封闭空间,所述老化架的一面上设有开口,所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽,所述滑槽内插设有插板,所述插板遮覆所述开口;
温控探头,其设于所述老化架内,检测所述老化架内的环境温度;
继电器,其与所述温控探头连接,获取所述温控探头检测到的环境温度,并与一预设温度比较;
电磁阀,其与所述继电器连接,受控于所述继电器;
汽缸,其与所述电磁阀连接,所述汽缸具有一伸缩杆,所述伸缩杆的一端连接于所述老化架的插板的一端,所述汽缸受控于所述电磁阀;
PTC加热器,其设于所述老化架内靠近底部位置,并与所述继电器连接,当所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时,所述PTC加热器启动加热。
可选的,所述继电器判断所述老化架内的环境温度大于所述预设温度时,所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆收缩,所述插板从所述滑槽内滑出,所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时,所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆伸长,所述插板插入所述滑槽。
可选的,所述老化架内设有若干个隔板,所述隔板上用以承载待测物品。
可选的,所述开口设于所述老化架顶部。
可选的,所述恒温老化装置还包括风扇,其设于所述老化架底部,并于所述PTC加热器的下方。
可选的,所述老化架内部后方还设有一散热腔,所述PTC加热器及所述风扇设于所述散热腔内。
相较于现有技术,利用本发明的恒温老化装置,由于采用PTC加热器进行加热,可以提供较为准确的测试环境。同时,由于采用风扇进行均温以及设置散热腔,可以达到增强上述均温的效果。从而亦可以使得待测物品受热均匀,避免烤坏。
【附图说明】
图1绘示为本发明的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图。
图2绘示为图1的局部放大结构示意图。
图3绘示为图2的第二状态示意图。
图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。
【具体实施方式】
请共同参阅图1、图2、图3、图4,图1绘示为本发明的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图、图2绘示为图1的局部放大结构示意图、图3绘示为图2的第二状态示意图、图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。需要说明的是,各示意图中并未显示各元件间的线路连接。
为了达到上述目的,本发明提供的恒温老化装置,于本实施例,包括:
老化架100,其一侧设有开门101,所述开门101关闭状态,所述老化架100内形成封闭空间,所述老化架100的一面上设有开口102,所述开口102在所述老化架100的外壁上的两侧凸设有滑槽103,所述滑槽103内插设有插板104,所述插板104遮覆所述开口102;
温控探头200,其设于所述老化架100内,检测所述老化架100内的环境温度;
继电器300,其与所述温控探头200连接,获取所述温控探头200检测到的环境温度,并与一预设温度比较;
电磁阀400,其与所述继电器300连接,受控于所述继电器300;
汽缸500,其与所述电磁阀400连接,所述汽缸500具有一伸缩杆501,所述伸缩杆501的一端连接于所述老化架100的插板104的一端,所述汽缸500受控于所述电磁阀400;
PTC加热器600,其设于所述老化架100内靠近底部位置,并与所述继电器300连接,当所述继电器300判断所述老化架100内温度小于所述预设温度时,所述PTC加热器600启动加热。
其中,所述老化架100内设有若干个隔板105,所述隔板105上用以承载待测物品(图未示)。
其中,所述开口102设于所述老化架100顶部,以方便打开后向外散发热量。
其中,较佳的,所述恒温老化装置还包括风扇700,其设于所述老化架100底部,并于所述PTC加热器600的下方。如此可以达到更快更均匀地使所述老化架100内部的环境温度升高。
其中,较佳的,所述老化架100内部后方还设有一散热腔800,所述PTC加热器600及所述风扇700设于所述散热腔内,通过所述散热腔800将所述PTC加热器600所散发出来的热量向前方传导,如此可以达到更好的均温效果。
请再结合参阅图2、图3。其中,所述继电器300判断所述老化架100内温度大于所述预设温度时,所述电磁阀400控制所述汽缸500的伸缩杆501收缩,所述插板104从所述滑槽103内滑出,所述继电器300判断所述老化架100内的环境温度小于所述预设温度时,所述电磁阀400控制所述汽缸500的伸缩杆501伸长,所述插板104插入所述滑槽103。从而可以通过对开口102的关闭与打开,实现保温与散热。
综上,利用本发明的恒温老化装置,由于采用PTC加热器600进行加热,可以提供较为准确的测试环境。同时,由于采用风扇700进行均温以及设置散热腔800,可以达到增强上述均温的效果。从而亦可以使得待测物品受热均匀,避免烤坏。
Claims (6)
1.一种恒温老化装置,其特征在于,包括:
老化架,其一侧设有开门,所述开门关闭状态,所述老化架内形成封闭空间,所述老化架的一面上设有开口,所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽,所述滑槽内插设有插板,所述插板遮覆所述开口;
温控探头,其设于所述老化架内,检测所述老化架内的环境温度;
继电器,其与所述温控探头连接,获取所述温控探头检测到的环境温度,并与一预设温度比较;
电磁阀,其与所述继电器连接,受控于所述继电器;
汽缸,其与所述电磁阀连接,所述汽缸具有一伸缩杆,所述伸缩杆的一端连接于所述老化架的插板的一端,所述汽缸受控于所述电磁阀;
PTC加热器,其设于所述老化架内靠近底部位置,并与所述继电器连接,当所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时,所述PTC加热器启动加热。
2.如权利要求1所述的恒温老化装置,其特征在于,所述继电器判断所述老化架内的环境温度大于所述预设温度时,所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆收缩,所述插板从所述滑槽内滑出,所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时,所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆伸长,所述插板插入所述滑槽。
3.如权利要求1或2所述的恒温老化装置,其特征在于,所述老化架内设有若干个隔板,所述隔板上用以承载待测物品。
4.如权利要求1或2所述的恒温老化装置,其特征在于,所述开口设于所述老化架顶部。
5.如权利要求1或2所述的恒温老化装置,其特征在于,所述恒温老化装置还包括风扇,其设于所述老化架底部,并于所述PTC加热器的下方。
6.如权利要求5所述的恒温老化装置,其特征在于,所述老化架内部后方还设有一散热腔,所述PTC加热器及所述风扇设于所述散热腔内。
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