CN102880524A - 一种校正信息载入方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种校正信息载入方法，用于载入存储器的校正信息，包括如下步骤：于编程或擦除信号来到时，先读取该存储器的信息进行校验；若校验通过，则载入校正信息；以及进行常规功能操作，通过本发明，可实现对嵌入式系统中的存储器储存的数据进行校正，以保证数据的正确性的目的。
Description
技术领域
本发明涉及一种校正信息载入方法，特别是涉及一种可用于嵌入式系统的存储器的校正信息载入方法。
背景技术
数码相机、手机与MP3这几年来的成长十分迅速，使得消费者对储存媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器(rewritablenon-volatilememory)具有数据易失性、省电、体积小与无机械结构等的特性，适合可便携式应用，最适合适用于这类可便携式由电池供电的产品上。由于可复写式非易失性存储器体积小容量大，所以已广泛用于个人重要数据的储存。近年来，可复写式非易失性存储器产业成为电子产业中相当热门的一环。
由于存储在存储器中的数据可能会因各种因素(例如存储单元的漏电、程序化失败、损毁等)而产生错误的位元，因此，不管对于何种存储器，一般都需要载入校正信息为储存的数据进行校正以保证数据的正确性。图1为现有技术中一种校正信息载入方式的示意图。如图1所示，这种校正信息载入的方法是：电源电压VDD上电后，马上进入开机校验步骤，然后进行校正信息载入和奇偶校验步骤，完成后开始常规功能操作，这种方法的缺点是由于需要对电源电压的稳定性作判断，功能复杂不适合嵌入式系统。图2为现有技术中另一种校正信息载入方式的示意图。如图2所示，这种校正信息载入的方式是：在需要编程或擦除时即编程或擦除信号来到时才将编程和擦除相关的校正信息载入，完成后开始执行编程或擦除操作，这种方法的缺点是：当客户用没有校正过的晶圆(Wafer)进行测试时，由于载入错误的校正信息可能会出现功能异常问题。
发明内容
为克服上述现有技术存在的不足，本发明之目的在于提供一种校正信息载入方法，其可用于嵌入式系统中，对嵌入式系统中的存储器储存的数据进行校正，以保证数据的正确性。
为达上述及其它目的，本发明提供一种校正信息载入方法，用于载入存储器的校正信息，包括如下步骤：
于编程或擦除信号来到时，先读取该存储器的信息进行校验；
若校验通过，则载入校正信息并存入寄存器中；以及
进行常规功能操作。
进一步地，若校验未能通过，则不允许载入校正信息，使用寄存器的默认复位值。
进一步地，该存储器为非易失存储器。
进一步地，该方法用于载入嵌入式系统的存储器的校正信息。
与现有技术相比，本发明一种校正信息载入方法，通过在编程或擦除信号来到时，先读取非易失存储器的信息并进行校验，以于校验通过时，再载入校正信息，由于进行编程和擦除操作时，电源已经稳定，可以忽略电源电压判断的过程，简化了校正信息的载入方式，可适用于潜入式系统的存储器的校正信息的载入，可提高存储器数据的正确性。
附图说明
图1为现有技术中一种校正信息载入方式的示意图；
图2为现有技术中另一种校正信息载入方式的示意图；
图3为本发明一种校正信息载入方法的步骤流程图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图3为本发明一种校正信息载入方法的步骤流程图。如图3所示，本发明一种校正信息载入方法，用于嵌入式系统中存储器的校正信息载入，包括如下步骤：
步骤301，在需要编程或擦除时即编程或擦除信号来到时，先读取存储器如：非易失存储器(NVR2)的信息并进行校验；因为如果是经过测试时已经将校正信息写入非易失存储器(NVR2)字段，那么一定会在合适的存储空间记录了特定序列的校验码，故读取取非易失存储器(NVR2)的信息并进行校验可以知道是否进行过校验信息写入。
步骤302，若非易失存储器(NVR2)的信息校验通过，则载入校正信息；如果该片未进行过校验信息写入则执行其他操作，如不允许进行编程或擦除等操作。
步骤303，进行常规功能操作。
可见，本发明一种校正信息载入方法，通过在编程或擦除信号来到时，先读取非易失存储器的信息并进行校验，以于校验通过时，再载入校正信息，简化了校正信息的载入方式，可适用于潜入式系统的存储器的校正信息的载入，可提高存储器数据的正确性。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰与改变。因此，本发明的权利保护范围，应如权利要求书所列。
Claims (4)
1.一种校正信息载入方法，用于载入存储器的校正信息，包括如下步骤：
于编程或擦除信号来到时，先读取该存储器的信息进行校验；
若校验通过，则载入校正信息，并存储至寄存器中；以及
进行常规功能操作。
2.如权利要求1所述的校正信息载入方法，其特征在于：若校验未能通过，则不允许载入校正信息，使用寄存器的默认复位值。
3.如权利要求1所述的校正信息载入方法，其特征在于：该存储器为非易失存储器。
4.如权利要求1所述的校正信息载入方法，其特征在于：该方法用于载入嵌入式系统的存储器的校正信息。
Priority Applications (1)
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| CN201210366867XA CN102880524A (zh) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 一种校正信息载入方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201210366867XA CN102880524A (zh) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 一种校正信息载入方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN102880524A true CN102880524A (zh) | 2013-01-16 |
Family
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Family Applications (1)
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| CN201210366867XA Pending CN102880524A (zh) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 一种校正信息载入方法 |
Country Status (1)
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- 2012-09-27 CN CN201210366867XA patent/CN102880524A/zh active Pending
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| PB01 | Publication | ||
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