CN102819475A - 电子装置的触摸屏校准系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种电子装置的触摸屏校准系统，包括：提示模块，用于当用户启动校准程序对触摸屏进行校准时，提示用户将一个校准治具覆盖在触摸屏上，并提示用户使用触控笔沿着该校准治具的滑轨滑动，其中，在触摸屏上位于该滑轨正下方的区域设置有多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标；获取模块，用于获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置的存储系统中；校准模块，用于根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置的系统配置文件中，完成对触摸屏的校准。本发明还提供一种电子装置的触摸屏校准方法。本发明用于快速、准确地校准电子装置的触摸屏。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子装置的触摸屏校准系统及方法。
背景技术
触摸屏作为一种输入装置，它以其易于使用、坚固耐用、反应速度快、节省空间等优点成为目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。电阻式触摸屏的优点是屏幕和控制系统都比较便宜、反应灵敏度高、工作环境对外界完全隔离以及不易受到灰尘、水汽及辐射等的影响，可适应各种恶劣的环境。电阻式触摸屏可以使用任何物体来实现触摸操作，稳定性能较好，因此得到了广泛的应用。目前，许多的手机、移动互联网设备（MID）以及平板电脑等都采用电阻式触摸屏。
使用电阻式触摸屏的电子装置在出厂时都必须要经过屏幕校准才可正常使用。在屏幕校准时一般都是运行一个屏幕校准程序并在显示屏上显示多个触摸点，然后由测试人员依次点击所有的点来取得在触摸屏上的物理坐标，最后由校准程序根据校准算法计算出校准参数来实现触摸屏的校准。这种手动校准的方法过于笨拙，例如，有的触摸屏厂商提供的校准程序需要使用者依次点击接近20次才能达到完全校准。若测试人员在进行校准操作时点错一次，会出现校准失败或校准错误，必须重新进行校准，从而导致时间的浪费，以及校准效率的降低，在大批量生产时很难达到快速出货的要求。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种电子装置的触摸屏校准系统，该系统包括：提示模块，用于当用户启动校准程序对触摸屏进行校准时，提示用户将一个校准治具覆盖在触摸屏上，并提示用户使用触控笔沿着该校准治具的滑轨滑动，其中，在触摸屏上位于该滑轨正下方的区域设置有多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标；获取模块，用于获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置的存储系统中；校准模块，用于根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置的系统配置文件中，以完成对触摸屏的校准。
还有必要提供一种电子装置的触摸屏校准方法，该方法包括：提示步骤，当用户启动校准程序对触摸屏进行校准时，提示用户将一个校准治具覆盖在触摸屏上，并提示用户使用触控笔沿着该校准治具的滑轨滑动，其中，在触摸屏上位于该滑轨正下方的区域设置有多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标；获取步骤，获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置的存储系统中；及校准步骤，根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置的系统配置文件中，以完成对触摸屏的校准。
相较于现有技术，所述电子装置的触摸屏校准系统及方法，配合使用一种特定的校准治具对电阻式触摸屏进行校准，可对电阻式触摸屏进行快速校准，方便操作且具备防呆功能，可提高生产时对触摸屏进行校准的效率。
附图说明
图1是本发明电子装置的触摸屏校准系统较佳实施例的应用环境示意图。
图2是本发明较佳实施例中对触摸屏进行校准时所使用的校准治具的示意图。
图3和图4是用户使用触控笔在校准治具的滑轨上滑动的示意图。
图5是本发明电子装置的触摸屏校准方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
| 电子装置 | 1 |
| 校准系统 | 10 |
| 提示模块 | 101 |
| 获取模块 | 102 |
| 校准模块 | 103 |
| 触摸屏 | 11 |
| 存储器 | 12 |
| 处理器 | 13 |
| 校准治具 | 100 |
| 滑轨 | M0 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示，是本发明电子装置的触摸屏校准系统较佳实施例的应用环境示意图。该电子装置的触摸屏校准系统10（以下简称为“校准系统10”）应用在电子装置1中。该电子装置1包括触摸屏11、存储器12以及处理器13。在本实施例中，所述触摸屏11为电阻式触摸屏。该电子装置1可以是，但不限于，手机、个人数字助理（PDA）以及移动互联网设备（MID）等采用所述触摸屏11的便携式移动电子设备。
所述校准系统10包括提示模块101、获取模块102以及校准模块103。该校准系统10可存储在存储器12中，由处理器13控制该校准系统10的执行。在本实施例中，该校准系统10配合使用一个校准治具100来实现对所述触摸屏11的快速校准。
如图2所示，是所述校准治具100的示意图。该校准治具100包括一个中空的滑轨M0，该滑轨M0呈矩形。在对所述触摸屏11进行校准之前，该校准治具100被覆盖在该触摸屏11上，使得用户可使用触控笔从滑轨M0中的一个起始位置沿该滑轨滑动，进而辅助实现对该触摸屏11的校准。为方便用户的使用，该校准治具100可使用透明材质的材料制成，并形成一板状体。
如图5所示，是本发明电子装置的触摸屏校准方法的流程图。下面结合图5，针对所述校准系统10配合使用所述校准治具100对触摸屏11进行校准的方法进行详细说明。
步骤S01，当用户启动校准程序对触摸屏11进行校准时，所述提示模块101提示用户将校准治具100覆盖在触摸屏11上。
步骤S02，当校准治具100被覆盖在触摸屏11上时，提示模块101提示用户使用触控笔沿着所述滑轨M0滑动。本实施例中，在触摸屏11上位于所述滑轨M0正下方的区域设置多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标。该逻辑坐标是指每个采样点在触摸屏11上的理论坐标，与用户点击该采样点所得到的实际物理坐标会存在偏差，校准触摸屏11的目的即是为了确定这种实际操作与理论上的偏差，进而使得用户对触摸屏11的点击操作更为精确。
用户可使用触控笔从滑轨M0上的一个起始位置（如图3中的A0）开始沿着该滑轨M0滑动，最后再回到该起始位置，以完成一次滑动操作，该滑动的方式如图3所示。此外，用户也可使用两只触控笔从所述起始位置A0沿着所述滑轨M0分别朝同一个终点位置滑动，来完成所述滑动操作。例如图4所示，用户可使用两只触控笔分别从A0位置开始，第一触控笔沿顺时针方向朝所述A1位置滑动，第二触控笔沿逆时针方向，也朝所述A1位置滑动，当两只触控笔均滑动到所述位置A1处时，则完成一次滑动操作。
步骤S03，所述获取模块102获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置1的存储系统中。此处，该获取模块102可通过调用触摸屏11的驱动程序来获取触控笔滑过每个采样点的物理坐标。
步骤S04，所述校准模块103根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置1的系统配置文件中，以完成对触摸屏11的校准。
具体地，每个采样点的逻辑坐标以及校准参数的计算算法均被保存在电子装置1的存储系统中，校准算法一般采用待定系数法。下面举例对该校准参数的计算方法进行说明。
例如，所述校准模块103可通过以下公式来计算所述校准参数：XLn = XTn×A+B，YLn = YTn×C+D，其中，（XLn，YLn）表示第n个采样点的逻辑坐标，（XTn，YTn）表示触控笔划过第n个采样点时所获取的物理坐标，系数A、B、C、D即为所述校准参数。从以上公式可以看出，取两个采样点所对应的逻辑坐标和物理坐标即可确定一组校准参数。因此，在本实施例中，可将所述多个采样点按顺序以两个为一组进行分组，得到多组采样点；然后将每组采样点所对应的逻辑坐标和物理坐标代入上述公式中计算出一组校准参数，从而得到多组校准参数；最后再对该多组校准参数取平均值，并将该平均值作为最终的校准参数保存在所述系统配置文件中。在其他实施例中，也可随机取出任意两个采样点所对应的逻辑坐标以及物理坐标代入上述公式中计算出所述校准参数，然后将该计算出的校准参数保存在所述系统配置文件中。
所应说明的是，校准模块103所使用的校准算法并不限于以上两种方式，在其他实施例中，也可采用其它校准算法并采用上述获取的多个采样点的物理坐标来实现触摸屏11的校准，例如采用五点校准算法等，本领域技术人员应当容易理解，此处不在一一赘述。
本发明所使用的校准治具100的滑轨能保证在取点时不会出现较大偏差，同时可支持采用两个触控笔同时滑动进行取点，可以对支持多点触控的触摸屏进行校准。因此实施本发明可快速准确地对触摸屏11进行校准。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种电子装置的触摸屏校准方法，其特征在于，该方法包括：
提示步骤，当用户启动校准程序对触摸屏进行校准时，提示用户将一个校准治具覆盖在触摸屏上，并提示用户使用触控笔沿着该校准治具的滑轨滑动，其中，在触摸屏上位于该滑轨正下方的区域设置有多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标；
获取步骤，获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置的存储系统中；及
校准步骤，根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置的系统配置文件中，以完成对触摸屏的校准。
2.如权利要求1所述的电子装置的触摸屏校准方法，其特征在于，计算所述校准参数的公式为：XLn = XTn×A+B，YLn = YTn×C+D，其中，（XLn，YLn）表示第n个采样点的逻辑坐标，（XTn，YTn）表示触控笔划过第n个采样点时所获取的物理坐标，系数A、B、C、D即为所述校准参数。
3.如权利要求2所述的电子装置的触摸屏校准方法，其特征在于，所述校准步骤包括：
将所述多个采样点按顺序以两个为一组进行分组，得到多组采样点；
将每组采样点所对应的逻辑坐标和物理坐标代入上述公式中计算出一组校准参数，以得到多组校准参数；及
对该多组校准参数取平均值，并将该平均值作为最终的校准参数保存在所述系统配置文件中。
4.如权利要求2所述的电子装置的触摸屏校准方法，其特征在于，所述校准步骤包括：
随机取出任意两个采样点所对应的逻辑坐标以及物理坐标代入上述公式中计算出所述校准参数，并将该计算出的校准参数保存在所述系统配置文件中。
5.如权利要求1所述的电子装置的触摸屏校准方法，其特征在于，所述校准治具为使用透明材质的材料制成的板状体，且该校准治具的滑轨为一个中空的矩形。
6.一种电子装置的触摸屏校准系统，其特征在于，该系统包括：
提示模块，用于当用户启动校准程序对触摸屏进行校准时，提示用户将一个校准治具覆盖在触摸屏上，并提示用户使用触控笔沿着该校准治具的滑轨滑动，其中，在触摸屏上位于该滑轨正下方的区域设置有多个采样点，每个采样点对应一个确定的逻辑坐标；
获取模块，用于获取所述触控笔滑过每个采样点所得到的物理坐标，并将获取的物理坐标暂存于电子装置的存储系统中；及
校准模块，用于根据记录的物理坐标以及每个采样点对应的逻辑坐标计算出一个校准参数，然后将该校准参数保存在电子装置的系统配置文件中，以完成对触摸屏的校准。
7.如权利要求6所述的电子装置的触摸屏校准系统，其特征在于，计算所述校准参数的公式为：XLn = XTn×A+B，YLn = YTn×C+D，其中，（XLn，YLn）表示第n个采样点的逻辑坐标，（XTn，YTn）表示触控笔划过第n个采样点时所获取的物理坐标，系数A、B、C、D即为所述校准参数。
8.如权利要求7所述的电子装置的触摸屏校准系统，其特征在于，所述校准模块通过以下步骤计算所述校准参数：
将所述多个采样点按顺序以两个为一组进行分组，得到多组采样点；
将每组采样点所对应的逻辑坐标和物理坐标代入上述公式中计算出一组校准参数，以得到多组校准参数；及
对该多组校准参数取平均值，并将该平均值作为最终的校准参数保存在所述系统配置文件中。
9.如权利要求7所述的电子装置的触摸屏校准系统，其特征在于，所述校准模块通过以下步骤计算所述校准参数：
随机取出任意两个采样点所对应的逻辑坐标以及物理坐标代入上述公式中计算出所述校准参数，并将该计算出的校准参数保存在所述系统配置文件中。
10.如权利要求6所述的电子装置的触摸屏校准系统，其特征在于，所述校准治具为使用透明材质的材料制成的板状体，且该校准治具的滑轨为一个中空的矩形。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20121212 |