具体实施方式
图1为本发明的显示面板的示意图。如图所示,显示面板100包括一驱动模块110以及多个像素P11~Pmn。驱动模块110用以提供像素P11~Pmn所需的信号。在本实施例中,驱动模块110包括,一扫描驱动器111、一数据驱动器113以及一控制驱动器115。
扫描驱动器111提供多个扫描信号S1~Sn予像素P11~Pmn。数据驱动器113提供多个数据信号D1~Dm予像素P11~Pmn。像素P11~Pmn根据扫描信号S1~Sn,接收数据信号D1~Dm,然后再根据数据信号D1~Dm,呈现相对应的亮度。控制驱动器115提供一放电信号SDIS、一发光信号SEM、参考电压SREF1、SREF2以及操作电压PVDD及PVEE予像素P11~Pmn,使得像素P11~Pmn内的驱动晶体管所产生的驱动电流不受到本身的临界电压的影响。
图2A为本发明的像素的一可能结构示意图。由于像素P11~Pmn的电路结构均相同,因此图2A是以像素P11为例,说明其内部电路结构。如图所示,像素P11包括,开关晶体管TSW1-、TSW2、一设定单元20、一电容Cst、一驱动晶体管TDR以及一发光元件24。
开关晶体管TSW1根据扫描信号S1,将数据信号D1传送至节点A。本发明并不限定开关晶体管TSW1的种类。在本实施例中,开关晶体管TSW1为一N型晶体管,其栅极接收扫描信号S1,其漏极接收数据信号D1,其源极耦接节点A。
电容Cst耦接于节点A及B之间。驱动晶体管TDR具有一临界电压(Vt(DR))。本发明并不限定驱动晶体管TDR的种类。在本实施例中,驱动晶体管TDR为一P型晶体管,其栅极耦接节点B,其源极接收操作电压PVDD,其漏极耦接设定单元20及开关晶体管TSW2。
开关晶体管TSW2根据一点亮信号SEM,将驱动晶体管TDR所产生的一驱动电流IDP传送至发光元件24。本发明并不限定开关晶体管TSW2的种类。在本实施例中,驱动晶体管TDR为一N型晶体管,其栅极接收点亮信号SEM、其漏极耦接驱动晶体管TDR,其源极耦接发光元件24。
发光元件24与驱动晶体管TDR及开关晶体管TSW2串联于操作电压PVDD及PVEE之间。本发明并不限定发光元件24的种类。只要是能够根据一驱动电流而发光的元件,均可作为发光元件24。在一可能实施例中,发光元件24为一有机发光二极管(OLED)。
设定单元20及开关晶体管TSW1根据扫描信号S1及放电信号SDIS,控制节点A及B的电位。本发明并不限定设定单元20的电路架构,只要能够依照以下方式,设定节点A及B的电位的电路,均可作为设定单元20。
在一第一期间,设定单元20令节点A及B的电压分别等于参考电压SREF1及SREF2,其中参考电压SREF1不同于参考电压SREF2。在本实施例中,参考电压SREF1大于参考电压SREF2。在另一可能实施例中,参考电压SREF1为正值,而参考电压SREF2为负值。在其它实施例中,参考电压SREF1与SREF2之间的差值大于驱动晶体管TDR的临界电压。
在一第二期间,开关晶体管TSW1将数据信号D1传送至节点A,并且设定单元20令节点B的电压等于一差值,其中,此差值为操作电压PVDD与驱动晶体管TDR的临界电压的差值(即PVDD-Vt(DR))。
由于在第一期间,节点A及B的电压电位并不相同,故在第二期间,节点A的电压等于数据信号D1时,可确保节点B的电压为操作电压PVDD与驱动晶体管TDR的临界电压的差值。
在一第三期间,设定单元20令节点A的电压等于参考电压SREF1,并浮接(floating)节点B。此时,节点B的电压VB=PVDD-Vt(DR)-(D1-SREF1)。
在第三期间,驱动晶体管TDR依据式(1),产生驱动电流IDP,其中式(1)如下所示:
IDP=KP*(Vsg-Vt(DR))2……………………………(1)
其中,KP为驱动晶体管TDR的参数,为一预设值;Vsg为驱动晶体管TDR的源极与栅极压差;Vt(DR)为驱动晶体管TDR的临界电压。
将第三期间的驱动晶体管TDR的源极电压Vs与栅极电压Vg之间的压差(Vs-Vg)代入式(1)后,便可得到下式:
IDP=KP*{PVDD-[PVDD-Vt(DR)-(D1-SREF1)]-Vt(DR)}2…(2)
化简式(2)后,可得到下式:
IDP=KP*(D1-SREF1)2………………………………(3)
由式(3)可知,驱动电流IDP不受驱动晶体管TDR的临界电压Vt(DR)所影响。因此,就算不同的驱动晶体管具有不同的临界电压,在相同数据信号的情况下,仍可产生相同的驱动电流。
本发明并不限定设定单元20的电路架构。只要能够达到上述各期间的节点A及B的电压电位设定的电路架构,均可作为设定单元20。在本实施例中,设定单元20具有设定晶体管T21~T23。
设定晶体管T21根据扫描信号S1,将参考电压SREF1传送至节点A。设定晶体管T22根据扫描信号S1,令驱动晶体管TDR的栅极与漏极耦接在一起。因此,驱动晶体管TDR便可提供一二极管连接(diode connection)。设定晶体管T23根据放电信号SDIS,将参考电压SREF2传送至节点B。
本发明并不限定设定晶体管T21~T23的种类。在本实施例中,设定晶体管T21为P型晶体管,设定晶体管T22及T23为N型晶体管,但并非用以限制本发明。在其它实施例中,设定晶体管T21~T23可均为P型、均为N型、部分为N型或是部分为P型。由于P型及N型晶体管的转换为本领域技术人员所深知,故不再赘述。以下仅针对第2A图,说明设定晶体管T21~T23的连接方式。
如图所示,设定晶体管T21的栅极接收扫描信号S1,其源极接收参考电压SREF1,其漏极耦接节点A。设定晶体管T22的栅极接收扫描信号S1,其漏极与源极分别耦接节点B及驱动晶体管TDR的漏极。设定晶体管T23的栅极接收放电信号SDIS,其漏极接收参考电压SREF2,其源极耦接节点B。
图2B为本发明的控制时序图。如图所示,在第一期间St1,扫描信号S-1为低电位,故可导通设定晶体管T21。因此,节点A的电压等于参考电压SREF1。此时,放电信号SDIS为高电位,故可导通设定晶体管T23。因此,节点B的电压等于参考电压SREF2。
在第二期间St2,扫描信号S-1为高电位,故可导通开关晶体管TSW1及设定晶体管T22。因此,节点A的电压等于数据信号D1,并且驱动晶体管TDR的栅极与漏极耦接在一起。由于驱动晶体管TDR为一二极管连接,故节点B的电压为操作电压PVDD与临界电压Vt(DR)之间的差值(即PVDD-Vt(DR))。
在第三期间St3,扫描信号S-1为低电位,故再次导通设定晶体管T21。因此,节点A的电压再次等于参考电压SREF1。由于扫描信号S-1为低电位,故不导通设定晶体管T22及T23,因此,节点B为浮接状态。在本实施例中,节点B的电压等于PVDD-Vt(DR)-(D1-SREF1)。当发光信号SEM为高电位时,便可导通开关晶体管TSW2,用以将驱动电流IDP传送至发光元件24,用以点亮发光元件24。此时的驱动电流IDP如式(3)所示。
由于在第一期间St1,节点B的电压小于节点A的电压,故当节点A的电压等于数据信号D1(第二期间St2)时,借由电容Cst的耦合效应,可确保驱动晶体管TDR与设定晶体管T22正常动作,也就是确保节点B的电压等于PVDD-Vt(DR)。因此,驱动晶体管TDR可形成一二极管连接。再者,数据信号D1的最大灰度值可达操作电压PVDD。由于数据信号D1的最大灰度值并不会被限制在PVDD-Vt(DR),故可增加灰度值范围,换句话说,也可维持既有灰度值范围,借由降低操作电压PVDD,以达到降低整体功率(Power)的消耗。
图3为本发明的像素的另一可能结构示意图。图3相似于图2A,不同之处在于,设定单元30的设定晶体管T33为P型晶体管。由于设定晶体管T31及T32的连接方式与第2A图的设定晶体管T21及T22的连接方式相同,故不再赘述。
在本实施例中,设定晶体管T33为一二极管架构,其栅极与源极均接收放电信号SDIS,其漏极耦接节点B。当放电信号SDIS为低电位时,节点B的电压将等于一总和,其中此总和为操作电压PVEE与设定晶体管T33的临界电压的加总结果。在一可能实施例中,放电信号SDIS9等于操作电压PVEE。
图4为本发明的像素的另一可能结构示意图。图4相似图4,不同之处在于,设定单元40的设定晶体管T43为N型晶体管。由于设定晶体管T41及T42的连接方式与第2A图的设定晶体管T21及T22的连接方式相同,故不再赘述。
在本实施例中,设定晶体管T43为一二极管架构,其栅极与源极均耦接节点B,其漏极接收放电信号SDIS。当放电信号SDIS与节点B的电位足以导通设定晶体管T43时,则节点B的电压将等于一总和,其中此总和为操作电压PVEE与设定晶体管T43的临界电压的加总结果。在一可能实施例中,放电信号SDIS等于操作电压PVEE。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的修改和完善,因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。