CN102788641B - 一种光强检测电路 - Google Patents

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Abstract

一种光强检测电路,其包括将被测光信号转换成电流信号的光电转换器件、将光电转换器件产生的电流信号转换成电压信号的电流-电压信号转换模块、将电流-电压信号转换模块产生的电压信号进行放大的电压信号放大模块和抑制温度变化对输出信号产生漂移影响的温度补偿模块,所述光电转换器件与电流-电压信号转换模块的输入端相连,所述电流-电压信号转换模块的输出端与电压信号放大模块的输入端相连,所述电压信号放大模块的输出端与温度补偿模块的输入端相连。本发明操作简单方便,光强检测电路的输出信号便于后续处理,同时抑制了温度变化导致的光电检测电路的输出信号漂移。

Description

一种光强检测电路
技术领域
本发明涉及一种测量装置,具体涉及一种光强检测电路,属于电子技术领域。
背景技术
光电检测技术是光学与电子学相结合而产生的一门新兴检测技术,它主要利用电子技术对光学信号进行检测。光电检测技术通过光学系统把待检测的非电量信息转变成为便于接受的光学信息,然后利用光电探测器件将光学信息变成电量,并进一步经过电路放大处理,达到以电信号输出的目的。
目前的光强电检测实现方案有两大类:一类是采用光电二极管检测光信号后产生电流,通过电流比较方式来检测光强;另一类是采用光电二极管检测光信号后产生电流,通过电流流过电阻转换为电压的方式来检测光强。
但对于微弱的光信号,光电二极管输出的信号容易被埋在噪声中,直接采用电流比较的方法检测光强比较困难,而采用检测电压信号的方法会使检测更为容易。然而为使光强检测电路产生的电压信号能被后续处理,就需要光强检测电路能够使电压信号具有合适的输出幅度,此外,光电二极管及电子元器件受温度的影响后,会使光电检测电路的输出信号产生漂移的现象。
发明内容
本发明所要解决的问题是,提供一种光强检测电路,使光强检测电路的输出信号便于后续处理,同时抑制温度变化导致的光电检测电路输出信号的漂移,达到检测简单方便的目的。
本发明采取如下技术方案实现以上目的:
一种光强检测电路,其包括将被测光信号转换成电流信号的光电转换器件、将光电转换器件产生的电流信号转换成电压信号的电流-电压信号转换模块、将电流-电压信号转换模块产生的电压信号进行放大的电压信号放大模块和抑制温度变化对输出信号产生漂移影响的温度补偿模块,所述光电转换器件与电流-电压信号转换模块的输入端相连,所述电流-电压信号转换模块的输出端与电压信号放大模块的输入端相连,所述电压信号放大模块的输出端与温度补偿模块的输入端相连。
所述的光电转换器件为硅光电二极管,在电路中处于反偏置工作模式。
所述的光电转换器件为滨松S7686硅光电二极管。
所述电流-电压信号转换模块与电压信号放大模块之间接有旁路电容C0,所述电压信号放大模块与温度补偿模块之间接有旁路电容C1
所述电流-电压信号转换模块包括运算放大器OP07、电阻Rf、电阻Rc和电容Cf,运算放大器OP07的反向输入端与所述硅光电二极管相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻Rc相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接电阻Rf和电容Cf,电阻Rf与电容Cf并联,电阻Rf与电阻Rc的阻值相同。
所述电压信号放大模块包括运算放大器OP07、电阻R、电阻R’和电阻Rf’,运算放大器OP07的反向输入端与电阻R相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻R’相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接有电阻Rf’,电阻R’的阻值为电阻R和电阻Rf’的并联值。
所述温度补偿模块包括晶体管T、热敏电阻PTC、电阻Ra、电阻Rb和电阻RL,晶体管T的基极共同连接电阻Ra和电阻Rb的一端,电阻Ra的另一端与热敏电阻PTC的一端相连,热敏电阻PTC的另一端连接晶体管T的发射极,电阻Rb的另一端与电阻RL的一端相连,电阻RL的另一端连接晶体管T的集电极。
与现有技术相比,本发明操作简单方便,光强检测电路的输出信号便于后续处理,同时抑制了温度变化导致的光电检测电路的输出信号漂移。
附图说明
图1为本发明的原理框图。
图2为本发明的电路图。
图3为本发明中电流-电压信号转换模块的电路图。
图4为本发明中电压信号放大模块的电路图。
图5为本发明中温度补偿模块的电路图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明的技术方案作详细说明。
如图1所示,本发明所述的光强检测电路包括光电转换器件、电流-电压信号转换模块、电压信号放大模块和温度补偿模块。所述光电转换器件能够将被测光信号转换成电流信号,所述电流-电压信号转换模块能够将光电转换器件产生的电流信号转换成电压信号,所述电压信号放大模块能够将电流-电压信号转换模块产生的电压信号进行放大,所述温度补偿模块能够抑制温度变化对输出信号产生的漂移影响。所述光电转换器件与电流-电压信号转换模块的输入端相连,所述电流-电压信号转换模块的输出端与电压信号放大模块的输入端相连,所述电压信号放大模块的输出端与温度补偿模块的输入端相连。
以下为一本发明实施例的具体结构,本实施例以本发明技术方案为前提给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
请参阅图2,图示光强检测电路包括光电转换器件、电流-电压信号转换模块、电压信号放大模块和温度补偿模块。所述的光电转换器件为硅光电二极管,具体型号为滨松S7686硅光电二极管,在电路中处于反偏置工作模式,即处于2V的方向偏置中。该硅光电二极管与电流-电压信号转换模块的反向输入端相连,电流-电压信号转换模块的输出端与电压信号放大模块的输入端相连,电流-电压信号转换模块输出端与电压信号放大模块的输入端相连,它们之间接有旁路电容C0,电压信号放大模块的输出端与温度补偿模块的输入端相连,电压信号放大模块与温度补偿模块之间接有旁路电容C1
请参阅图3电流-电压信号转换模块的具体电路图。所述电流-电压信号转换模块包括运算放大器OP07、电阻Rf、电阻Rc和电容Cf;运算放大器OP07的反向输入端与所述硅光电二极管相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻Rc相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接电阻Rf和电容Cf,电阻Rf与电容Cf并联,电阻Rf与电阻Rc的阻值相同。
请参阅图4电压信号放大模块的具体电路图。所述电压信号放大模块包括运算放大器OP07、电阻R、电阻R’和电阻Rf’,运算放大器OP07的反向输入端与电阻R相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻R’相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接有电阻Rf’,电阻R’的阻值为电阻R和电阻Rf’的并联值。
请参阅图5温度补偿模块的具体电路图。所述温度补偿模块包括晶体管T、热敏电阻PTC、电阻Ra、电阻Rb和电阻RL,晶体管T的基极共同连接电阻Ra和电阻Rb的一端,电阻Ra的另一端与热敏电阻PTC的一端相连,热敏电阻PTC的另一端连接晶体管T的发射极,电阻Rb的另一端与电阻RL的一端相连,电阻RL的另一端连接晶体管T的集电极。
本发明所述光强检测电路的工作过程说明如下:首先光电转换器件收到光照产生光电流信号,接着电流-电压信号转换模块将电流信号转换成电压信号,通过电压信号放大模块将电压信号进行放大,再通过温度补偿模块输出电压信号。

Claims (4)

1.一种光强检测电路,其特征在于,包括将被测光信号转换成电流信号的光电转换器件、将光电转换器件产生的电流信号转换成电压信号的电流-电压信号转换模块、将电流-电压信号转换模块产生的电压信号进行放大的电压信号放大模块和抑制温度变化对输出信号产生漂移影响的温度补偿模块,所述光电转换器件与电流-电压信号转换模块的输入端相连,所述电流-电压信号转换模块的输出端与电压信号放大模块的输入端相连,所述电压信号放大模块的输出端与温度补偿模块的输入端相连;所述的光电转换器件为硅光电二极管,在电路中处于反偏置工作模式;所述电流-电压信号转换模块与电压信号放大模块之间接有旁路电容C0,所述电压信号放大模块与温度补偿模块之间接有旁路电容C1;所述温度补偿模块包括晶体管T、热敏电阻PTC、电阻Ra、电阻Rb和电阻RL,晶体管T的基极共同连接电阻Ra和电阻Rb的一端,电阻Ra的另一端与热敏电阻PTC的一端相连,热敏电阻PTC的另一端连接晶体管T的发射极,电阻Rb的另一端与电阻RL的一端相连,电阻RL的另一端连接晶体管T的集电极。
2.根据权利要求1所述的光强检测电路,其特征在于,所述的光电转换器件为滨松S7686硅光电二极管。
3.根据权利要求1所述的光强检测电路,其特征在于,所述电流-电压信号转换模块包括运算放大器OP07、电阻Rf、电阻Rc和电容Cf,运算放大器OP07的反向输入端与所述硅光电二极管相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻Rc相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接电阻Rf和电容Cf,电阻Rf与电容Cf并联,电阻Rf与电阻Rc的阻值相同。
4.根据权利要求1所述的光强检测电路,其特征在于,所述电压信号放大模块包括运算放大器OP07、电阻R、电阻R’和电阻Rf’,运算放大器OP07的反向输入端与电阻R相连,运算放大器OP07的同向输入端与电阻R’相连,运算放大器OP07的反向输入端和输出端之间连接有电阻Rf’,电阻R’的阻值为电阻R和电阻Rf’的并联值。
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