CN102750210A - 调试装置 - Google Patents

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杨富森
罗奇艳
陈鹏
白云
童松林
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/28—Supervision thereof, e.g. detecting power-supply failure by out of limits supervision

Abstract

本发明涉及一种用于调试CPU供电电路Loadline的调试装置。该调试装置包括控制器，直流电子负载仪，电压跟随器，可调电阻器，及输出装置。该可调电阻器根据该控制器发出的数字信号改变其阻值。该控制器通过控制该直流电子负载仪改变该CPU供电电路的输出电流大小。该电压跟随器用于将该CPU供电电路的输出电压反馈给该控制器。该输出装置用于输出使CPU供电电路的Loadline达到理想值所需的电阻的阻值。该控制器根据该CPU供电电路的输出电流和输出电压计算该CPU供电电路的Loadline，判断该CPU供电电路的Loadline是否达到预设的理想值，并相应调节该可调电阻器的电阻，直至该CPU供电电路的Loadline达到理想值，该控制器将此时该可调电阻器的阻值传输到该输出装置，并通过该输出装置输出。

Description

调试装置
技术领域
本发明涉及一种用于调试电脑主板中CPU供电电路的Loadline的调试装置。
背景技术
Loadline描述的是CPU供电电路的输出电压与输出电流之间的关系，随着电流的增加，输出电压会降低；它表示每增加一安培的电流，对应的输出电压变化的值，即Loadline=△V/△I。
在电脑主板测试中，通常需要对CPU供电电路的Loadline进行测试。如果Loadline没有达到理想值，那么CPU供电电路的输出电压要么大于要么小于CPU的工作电压。输出电压大于CPU的工作电压可能会烧坏CPU，输出电压小于CPU的工作电压可能会导致无法开机。
CPU供电电路包括一个电阻，通过改变这个电阻的阻值可以改变CPU供电电路的Loadline。在现有的调试中，需要人工更换不同阻值的电阻，测试CPU供电电路的Loadline，直到CPU供电电路的Loadline达到理想值。然而，这种调试方法需要多次接入不同电阻，效率较低，且操作不便。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种操作方便且高效的用于调试CPU供电电路Loadline的调试装置。
本发明涉及一种用于调试CPU供电电路Loadline的调试装置。该调试装置包括控制器，直流电子负载仪，电压跟随器，可调电阻器，及输出装置。该可调电阻器的输入端与该控制器连接，该可调电阻器的输出端与该CPU供电电路连接。该直流电子负载仪的一端与控制器连接，该直流电子负载仪的另一端与该CPU供电电路连接。该电压跟随器的输入端与该CPU供电电路相连，该电压跟随器的输出端与该控制器连接。该输出装置的输入端与该控制器连接。该可调电阻器根据该控制器发出的数字信号改变其阻值，以改变该CPU供电电路的Loadline。该控制器通过控制该直流电子负载仪改变该CPU供电电路的输出电流大小。该电压跟随器用于将该CPU供电电路的输出电压反馈给该控制器。该输出装置用于输出使CPU供电电路的Loadline达到理想值所需的电阻的阻值。该控制器根据该CPU供电电路的输出电流和输出电压计算该CPU供电电路的Loadline，判断该CPU供电电路的Loadline是否达到预设的理想值，并相应调节该可调电阻器的电阻，直至该CPU供电电路的Loadline达到理想值，该控制器将此时该可调电阻器的阻值传输到该输出装置，并通过该输出装置输出给使用者。
相对于现有技术，在本发明的调试装置中，控制器通过计算和判断该CPU供电电路的Loadline是否达到预设的理想值自动调节该可调电阻器的电阻，直至该CPU供电电路的Loadline达到理想值。本发明的调试装置不需要人工更换不同阻值的电阻，操作方便且高效。
附图说明
图1是本发明较佳实施方式的调试装置的功能模块图。
主要元件符号说明
调试装置 10
CPU供电电路 20
控制器 100
可调电阻器 102
直流电子负载仪 104
电压跟随器 106
输出装置 108
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合附图及实施方式对本发明作进一步详细说明。
如图1所示，本发明的调试装置10包括控制器100，直流电子负载仪104，电压跟随器106，可调电阻器102，及输出装置108。调试装置10用于调试CPU供电电路20的Loadline。
CPU供电电路20设置在电脑主板上，用于向CPU供电。CPU供电电路20包括一个电阻（图未示），通过改变该电阻阻值可以改变CPU供电电路20的Loadline。调试装置用于测定该电阻的合适阻值，以使得CPU供电电路20的Loadline达到理想值。在测试前，需要先将该电阻从CPU供电电路20中移除，原与该电阻连接的两个连接端分别与可调电阻器102的输出端连接。
控制器100用于控制直流电子负载仪104，可调电阻器102，及输出装置108。控制器100可以是单片机等。在本实施方式中，控制器100为PIC16F73型号的单片机。控制器100预设有CPU供电电路20的理想值。该理想值可以通过矩阵键盘等方式输入到控制器100。
可调电阻器102的输入端与控制器100连接。可调电阻器102根据控制器100发出的数字信号改变其阻值。可调电阻器102的输出端与该CPU供电电路20连接。在本实施方式中，可调电阻器102为数字电位器。
直流电子负载仪104的一端与控制器100连接，直流电子负载仪104的另一端与CPU供电电路20连接。控制器100通过控制直流电子负载仪104改变CPU供电电路20的输出电流大小。
电压跟随器106的输入端与CPU供电电路20相连，电压跟随器106的输出端与控制器100连接。电压跟随器106用于将CPU供电电路20的输出电压反馈给控制器100。
输出装置108的输入端与控制器100连接，用于输出CPU供电电路20当前的Loadline大小以及使CPU供电电路20的Loadline达到理想值所需的电阻的阻值。输出装置108可以是显示器，扬声器等。在本实施方式中，输出装置108为显示器，显示器显示CPU供电电路20当前的Loadline大小以及使CPU供电电路20的Loadline达到理想值所需的电阻的阻值。
以下将对调试装置的调试过程进行说明。
在调试中，控制器100控制直流电子负载仪104改变CPU供电电路20的输出电流大小，电压跟随器106将此时对应的CPU供电电路20的输出电压反馈给控制器100。控制器100根据CPU供电电路20的输出电流和输出电压计算此时CPU供电电路20的Loadline值，并与预设的理想值比较，从而判断CPU供电电路20的Loadline是否满足设计要求。若此时的Loadline值不满足设计要求，控制器100控制可调电阻器102改变其电阻值大小，重复上述步骤，直到CPU供电电路20的Loadline值满足设计要求。最后，控制器100将此时的Loadline和此时该可调电阻器的阻值（即，所需电阻的阻值）传送至输出装置108，通过输出装置108输出给使用者。
相对于现有技术，在本发明的调试装置中，控制器调节该可调电阻器的电阻，直至该CPU供电电路的Loadline达到理想值。本发明的调试装置通过控制器自动调节该可调电阻器的电阻，不需要人工更换不同阻值的电阻，因此，上述调试装置操作方便且高效。
另外，本领域技术人员还可以在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (5)

1.一种用于调试CPU供电电路Loadline的调试装置，该调试装置包括控制器，直流电子负载仪，电压跟随器，可调电阻器，及输出装置；该可调电阻器的输入端与该控制器连接，该可调电阻器的输出端与该CPU供电电路连接；该直流电子负载仪的一端与控制器连接，该直流电子负载仪的另一端与该CPU供电电路连接；该电压跟随器的输入端与该CPU供电电路相连，该电压跟随器的输出端与该控制器连接；该输出装置的输入端与该控制器连接；该可调电阻器根据该控制器发出的数字信号改变其阻值，以改变该CPU供电电路的Loadline；该控制器通过控制该直流电子负载仪改变该CPU供电电路的输出电流大小；该电压跟随器用于将该CPU供电电路的输出电压反馈给该控制器；该输出装置用于输出使CPU供电电路的Loadline达到理想值所需的电阻的阻值；该控制器根据该CPU供电电路的输出电流和输出电压计算该CPU供电电路的Loadline，判断该CPU供电电路的Loadline是否达到预设的理想值，并相应调节该可调电阻器的电阻，直至该CPU供电电路的Loadline达到理想值，该控制器将此时该可调电阻器的阻值传输到该输出装置，并通过该输出装置输出给使用者。
2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，该控制器为单片机。
3.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于，控制器为PIC16F73型号的单片机。
4.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，该输出装置为显示装置或者扬声器。
5.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，该可调电阻器为数字电位器。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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