CN102739306A - 无源光网络中光链路自动测试的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种无源光网络中光链路自动测试的方法,涉及无源光网络领域,包括以下步骤:设置光链路OTDR测试参数,获取并设定光链路的基准OTDR测试曲线和基准OTDR曲线参考点,建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系;获得光链路的OTDR测试曲线;比对测试曲线和基准测试曲线;检查光链路状态,若存在异常参考点,根据参考点和光链路的对应关系找到异常光链路,利用无源光网络的拓扑结构,对异常光链路进行“主干-分支”故障判断,删除误报的异常分支光链路,结合曲线上新增事件点找到光链路故障点,上报光链路测试结果。本发明避免了光链路检测中人工参与和判断,能提高无源光网络的运维效率,降低运维成本。
Description
技术领域
本发明涉及无源光网络领域,特别是涉及一种无源光网络中光链路自动测试的方法。
背景技术
PON(Passive Optical Network,无源光网络)技术是一种具有容量大、传输距离长、成本较低、全业务支持等优势的宽带接入技术。无源光网络中最主要的三部分包括位于局端的OLT(Optical LineTerminal,光线路终端设备)、位于终端的ONU(Optical Network Unit,光网络单元)、以及连接OLT和ONU的ODN(Optical DistributionNetwork,光分配网)。“无源光网络”中的“无源”是指ODN全部由光分路器(Splitter)等无源器件组成,不含有任何电子器件及电源。
OTDR(Optical Time Domain Reflectometer,光时域反射仪)是目前光链路检测最常用的设备。OTDR基于瑞利散射和菲涅尔反射的原理进行工作,测试时OTDR向光纤射入测试光,光脉冲在光纤内传输过程中产生散射和反射,遇到连接器、接合点、弯曲或其它事件散射和反射会更加显著。这些散射和反射被OTDR的探测器接收,并绘制成OTDR测试曲线,OTDR测试曲线能反映被测光纤的长度、损耗、反射或非反射事件及相关信息等一系列光链路的特征。
随着近些年通信运营商不断加大无源光网络建设,无源光网络的运维显得越发重要,运维的难度也越来越大。通信运营商需要准确、迅速地定位无源光网络中光链路故障的所在位置,但目前无源光网络的光链路自动测试效果不太理想,主要存在以下困难:
1、传统OTDR曲线分析方法运用到自动测试中,准确率不高。采用OTDR测试是光链路检测最常用的方法,对OTDR测试结果,传统的分析方法是:分析OTDR测试曲线中各类链路事件,例如:反射面、熔接头、宏弯,甚至鬼影等,这种分析方法归纳成算法难度很高,运用到自动测试中,准确率不理想。
2、无源光网络是点对多点的拓扑结构,主干光链路发生异常时,会影响到分支光链路在OTDR测试曲线中的显示,容易引起光链路故障误判。
3、每次光链路OTDR测试都需要人工干预,对测试结果进行主观判断分析,导致无源光网络的运维效率地下,且网络运维成本高。
发明内容
本发明的目的是为了克服上述背景技术的不足,提供一种无源光网络中光链路自动测试的方法,避免了光链路检测中人工参与和判断,能提高无源光网络的运维效率,降低运维成本。
本发明提供的无源光网络中光链路自动测试的方法,包括以下步骤:S1、开始光链路自动测试,获得光链路的OTDR测试曲线;S2、用OTDR曲线参考点逐个比较的方式,来比对OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线;S3、检查是否存在异常的OTDR曲线参考点;S4、若存在异常的OTDR曲线参考点,根据OTDR曲线参考点和光链路的对应关系,找到这些异常光链路;利用无源光网络的拓扑结构对异常光链路进行“主干-分支”故障判断,将误报的异常分支光链路删除;S5、根据OTDR测试曲线上新增的OTDR曲线事件点,找到光链路故障点;S6、反馈OTDR测试曲线测试结果,如果光链路存在异常,则报告发生异常的光链路和链路故障点。
在上述技术方案中,步骤S1之前还包括以下准备步骤:设置光链路OTDR测试参数,生成基准OTDR测试曲线,并设定基准OTDR曲线参考点,建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系。
在上述技术方案中,所述光链路OTDR测试参数包括测试波长、测试量程、测试脉宽、采样时间和光纤折射率。
在上述技术方案中,所述“设置光链路OTDR测试参数”与“生成基准OTDR测试曲线”之间还包括以下步骤:检查与光分路器相连的光纤长度,通过增加光纤尾纤的方法调节光纤长度,保证无源光网络中各光链路远端位置不同,以便各光链路末端事件能在OTDR测试曲线上区分出来;对比OTDR测试曲线和该无源光网络的施工验收资料,检验两者是否符合,如果不符合,检修无源光网络的实际链路,或更正该无源光网络的施工验收资料,使无源光网络施工验收资料和OTDR测试曲线反映的链路情况保持一致。
在上述技术方案中,所述设定基准OTDR曲线参考点的过程中,选择基准OTDR测试曲线中的波峰、拐点和曲线线性部分的中点作为基准OTDR曲线参考点。
在上述技术方案中,所述“建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系”的过程如下:根据基准OTDR曲线参考点的横坐标,以及无源光网络中各光链路的远端位置,将无源光网络中各光链路和对应的基准OTDR曲线参考点关联起来,保存到OLT设备中,每个光链路有且只有一个基准OTDR曲线参考点对应其远端位置;同时将无源光网络的树型光链路拓扑结构也存到OLT设备中,作为OTDR测试后光链路告警的依据。
在上述技术方案中,所述“建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系”之后还包括以下步骤:按照各光链路远端位置、光链路衰减系数和分光器的分光比,计算出各基准OTDR曲线参考点处OTDR曲线比对时允许的误差门限;设置OLT设备各PON口的无源光网络的自动检测周期。
在上述技术方案中,步骤S2包括以下步骤:遍历基准OTDR曲线参考点;将当前的基准OTDR曲线参考带点的横坐标代入到光链路自动测试获得的OTDR测试曲线中,获得对应横坐标的纵坐标,得到OTDR曲线参考点;比较基准OTDR曲线参考点和得到的OTDR曲线参考点,判断两点的纵坐标之差是否在前面设定的误差门限之内,直至完成全部参照点的比较;如果两点的纵坐标之差超过误差门限,则将进行比较的基准OTDR曲线参考点记录下来;然后检查基准OTDR曲线参考点是否遍历完成;如果遍历完成,则反馈OTDR测试曲线比对结果,否则返回步骤“遍历基准OTDR曲线参考点”。
在上述技术方案中,所述“基准OTDR曲线参考带点的横坐标”为该参考点相对于OLT设备侧PON口的光纤长度,所述“对应横坐标的纵坐标”为测试光反射回的光功率。
在上述技术方案中,步骤S4中“利用无源光网络的拓扑结构对异常光链路进行“主干-分支”故障判断”的过程如下:步骤401、遍历OTDR曲线对比后上报的异常光链路;步骤402、找到当前异常光链路在无源光网络光链路拓扑中的对应光链路对象;步骤403、根据步骤402中找到的光链路对象,在无源光网络的光链路拓扑中,找到对应链路对象,将状态置为异常,并将其父链路对象的子链路计数器+1;步骤404、检查异常光链路遍历是否完成,如果遍历未完成,则返回步骤401;如果遍历已完成,则转到步骤405;步骤405、遍历无源光网络的树形光链路拓扑对象;步骤406、检查当前光链路对象的状态是否正常,如果状态异常,则转到步骤407;如果状态正常,则转到步骤410;步骤407、检查当前光链路对象的子链路计数器的值是否等于子链路总数,如果相等,则转到步骤408;否则转到步骤409;步骤408、删除当前光链路对象的全部子链路对象,转到步骤409;步骤409、将当前光链路对象放入异常光链路记录集,转到步骤410;步骤410、检查无源光网络的光链路拓扑是否遍历完成,如果遍历完成,则转到步骤411,否则返回步骤405;步骤411、返回异常光链路记录集。
在上述技术方案中,步骤S5中“根据OTDR测试曲线上新增的OTDR曲线事件点,找到光链路故障点”的过程如下:步骤501、比对OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线;步骤502、检查OTDR测试曲线上是否存在基准OTDR曲线参考点所没有包含的OTDR曲线事件点;若存在新增的OTDR曲线事件点,则转到步骤503,否则转到步骤505;步骤503、找到确认异常的光链路的链路末端在OTDR测试曲线上对应的OTDR曲线参考点,若OTDR曲线参考点不止一个,找横坐标最大的那个;步骤504、比较找到的OTDR曲线参考点和新增的OTDR曲线事件点的横坐标,横坐标小于OTDR曲线参考点的OTDR曲线事件点就是光链路可能的故障点;步骤505、返回光链路可能的故障点。
在上述技术方案中,步骤S502中所述OTDR曲线事件点为OTDR测试曲线中的波峰或拐点。
与现有技术相比,本发明的优点如下:
本发明以光链路正常时获取的OTDR测试曲线上的参照点作为曲线比对的基准,来检验每次OTDR链路自动测试所获得的OTDR测试曲线是否正常。通过光链路远端位置,将实际光链路和OTDR测试曲线中OTDR曲线参考点对应起来;通过对比光链路基准OTDR测试曲线和每次光链路自动测试获得的OTDR测试曲线中OTDR曲线参考点,以及事先计算的误差门限,判断光链路是否正常。当OTDR测试曲线存在异常点时,利用无源光网络的拓扑结构,进行光链路“主干-分支”错误归并分析,删除误报的光链路信息,对状态异常的光链路进行过滤,屏蔽误报链路,再检查OTDR测试曲线中新增的OTDR测试曲线事件点,找到光链路中可能的故障点,最后上报光链路测试结果。从而避免每次光链路OTDR测试都需要人工干预、对测试结果进行主观判断分析,提高了无源光网络的运维效率,降低了网络运维成本。
附图说明
图1为基于OTDR的无源光网络的拓扑结构示意图。
图2为集成OTDR检测卡的OLT设备的结构示意图。
图3为本发明实施例中光链路自动测试的准备工作的流程图。
图4为本发明实施例中光链路自动测试的流程图。
图5为本发明实施例中OTDR测试曲线比对的流程图。
图6为本发明实施例中光链路“主干-分支”错误归并分析的流程图。
图7为本发明实施例中找到光链路可能的故障点的流程图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
参见图1所示,在无源光网络的拓扑结构中,局端设备OLT通过光链路远端A(ODN)分别与光链路远端B(ODN)、光链路远端D(ONU b1、b2…bn)相连,光链路远端B(ODN)又与光链路远端C(ONU a1、a2…an)相连,n为大于2的整数。其中,局端设备OLT中集成有OTDR检测卡,参见图2所示,在集成OTDR检测卡的OLT设备中,光纤从OLT的业务线卡的PON口引出,进入OTDR板卡的输入口,再从OTDR板卡对应的输出口引出,连接到接入网络上。
本发明实施例的原理是通过光链路正常时测试得到的基准OTDR测试曲线和定期光链路OTDR测试获取的测试曲线进行比较,分析当前无源光网络光链路是否存在异常。如果存在异常光链路,将基于无源光网络拓扑结构核对异常的光链路,去除那些误报的异常光链路,再根据新增的OTDR曲线事件点找到光链路可能的故障点。
首先介绍本发明实施例中的相关概念。
1、光链路远端位置:无源光网络中,光纤和OLT设备PON口相反方向的一端,参见图1中光链路远端A、B、C和D到该PON口的光纤长度。
2、OTDR测试曲线:光链路OTDR测试后的测试结果曲线,能反映测试光纤的长度、光纤损耗、反射或非反射事件及相关信息等一系列光链路的特征。
3、基准OTDR测试曲线:反映光链路正常状态的OTDR测试曲线,在光链路正常时测试获得,其正确性由用户确认。基准OTDR测试曲线作为后期光链路OTDR测试结果自动比对的依据。
4、基准OTDR曲线参考点:基准OTDR测试曲线上的特征点,通常取曲线的峰值、拐点或者曲线线性区的中点。OTDR测试曲线的比对,实际上是基准OTDR曲线参考点和定期测试的OTDR曲线参考点的比对。
5、OTDR曲线参考点:将基准OTDR曲线参考点的横坐标(光纤上某点到OLT设备PON口的光纤长度)代入待比较的OTDR测试曲线,获得相应的纵坐标(测试光在光纤中返回的光功率),得到OTDR曲线参考点。基准OTDR曲线参考点和OTDR曲线参考点的比对实际上是这两点纵坐标的比较;
6、OTDR曲线事件点:光链路物理特性(如熔接头,链路末端或断点等)在OTDR测试曲线上的反映,表现为OTDR曲线波峰或拐点。基准OTDR曲线参考点包含若干OTDR曲线事件点。
7、光链路和基准OTDR测试曲线对应:因为无源光网络是点对多点的树状拓扑结构,同时OTDR测试曲线的横坐标是无源光网络的光链路的长度,所以无源光网络中各光链路和基准OTDR测试曲线通过光链路远端位置进行关联,建立对应关系。
8、“主干-分支”故障判断:主干光链路是指处于OLT设备PON口和一级分光器之间的光链路,分支光链路是指从网络侧方向看,处于一级分光器之后的光链路。无源光网络是树型拓扑结构,当主干光链路发生故障时,其下全部分支的光链路在OTDR测试结果中都是异常状态。因此当主干光链路和其下全部分支光链路都显示异常时,通常认为是主干光链路发生了故障,而分支光链路是正常的;如果主干光链路是正常的,而其下分支光链路都显示异常,则是分支光链路发生异常。
9、可能的光链路故障点判断:在OTDR测试中,OTDR曲线参考点发生变化是因为光链路产生变化。通常情况下,光链路的变化使OTDR测试曲线上产生新的事件点(相对于基准OTDR测试曲线)。由于无源光网络点对多点的拓扑特性,当一个以上的分支链路同时产生故障时,根据OTDR测试曲线无法将新增的OTDR曲线事件点和故障光链路一一对应。因此,对每一条故障光链路而言,所有的曲线事件点都是实际故障可能出现的位置。
本发明实施例提供的无源光网络中光链路自动测试的方法,包括测试前的准备工作和自动测试阶段的步骤。
参见图3所示,测试前准备工作的流程如下:
步骤001、设置OLT设备中被监控PON口光链路的OTDR测试参数,包括测试波长、测试量程、测试脉宽、采样时间、光纤折射率等。
步骤002、检查与光分路器相连的光纤长度,通过增加光纤尾纤的方法调节光纤长度,保证无源光网络中各光链路远端位置不同,以便各光链路末端事件能在OTDR测试曲线上区分出来。对指定光链路进行OTDR测试,如果存在不同分支光链路远端位置相近,在OTDR测试曲线中难以区分,可采用在分光器接头处增加不同长度的光纤尾纤的方法,确保各分支光链路的远端位置在OTDR测试曲线中清晰显示。
步骤003、对比OTDR测试曲线和该无源光网络的施工验收资料。
步骤004、检验两者是否符合,如果不符合,则转到步骤005;如果相符,则转到步骤006。
步骤005、检修无源光网络的实际链路,或更正该无源光网络的施工验收资料,使无源光网络施工验收资料和OTDR测试曲线反映的链路情况保持一致,再转到步骤006。
步骤006、生成基准OTDR测试曲线:根据无源光网络验收资料,考察OTDR测试曲线及OTDR曲线参考点,如基本吻合,确认OTDR测试曲线为该无源光网络的基准OTDR测试曲线。确认OTDR测试曲线反映了无源光网络中各链路的正常状况,将其设置为基准OTDR测试曲线,作为以后自动测试后测试结果比对的基准。
步骤007、选择基准OTDR测试曲线中的波峰、拐点和曲线线性部分的中点作为基准OTDR曲线参考点。
步骤008、根据基准OTDR曲线参考点的横坐标,以及无源光网络中各光链路的远端位置,将无源光网络中各光链路和对应的基准OTDR曲线参考点关联起来,保存到OLT设备中,每个光链路有且只有一个基准OTDR曲线参考点对应其远端位置;同时将无源光网络的树型光链路拓扑结构也存到OLT设备中,作为OTDR测试后光链路告警的依据。
步骤009、按照各光链路远端位置、光链路衰减系数和分光器的分光比,计算出各基准OTDR曲线参考点处OTDR曲线比对时允许的误差门限。
步骤010、设置OLT设备各PON口的无源光网络的自动检测周期。
当无源光网络的链路拓扑或者链路长度发生改变,执行步骤002~009,保证无源光网络的拓扑图、基准OTDR测试曲线以及两者的对应关系是准确的。至此,测试前准备工作全部完成。
参见图4所示,自动测试阶段的流程如下:
步骤S1、OLT设备指定PON口的无源光网络检测时间到了后,对该PON口进行OTDR测试,并获得OTDR测试曲线。
步骤S2、执行OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线的对比,记录基准OTDR曲线参考点的对比结果。
步骤S3、判断是否存在异常的OTDR曲线参考点,若存在异常的OTDR曲线参考点,则转到步骤S4;若不存在异常的OTDR曲线参考点,则转到步骤S5。
步骤S4、若存在异常的OTDR曲线参考点(即存在不相符的基准OTDR曲线参考点),根据OTDR曲线参考点和光链路的对应关系,找到这些异常光链路,然后利用无源光网络的拓扑结构,对这些异常光链路进行“主干-分支”故障判断,将误报的异常分支光链路删除。
步骤S5、检查OTDR测试曲线上的新增OTDR曲线事件点,结合实际的故障链路末端在OTDR曲线事件点,找到可能的光链路故障点。
步骤S6、反馈OTDR测试曲线测试结果,如果光链路存在异常,则报告发生异常的光链路和可能的链路故障点。
参见图5所示,步骤S2中基准OTDR测试曲线和光链路自动测试获得的OTDR测试曲线的比对流程如下:
步骤201、遍历基准OTDR曲线参考点。
步骤202、将当前的基准OTDR曲线参考带点的横坐标(即该参考点的相对于OLT设备侧PON口的光纤长度)代入到光链路自动测试获得的OTDR测试曲线中,获得对应横坐标的纵坐标(测试光反射回的光功率),得到OTDR曲线参考点。
步骤203、比较基准OTDR曲线参考点和得到的OTDR曲线参考点,根据误差门限检查对应的两个参照点是否相符,判断两点的纵坐标之差是否在前面设定的误差门限之内,直至完成全部参照点的比较。如果两点的纵坐标之差超过误差门限,则两个参考点不相符,转到步骤204;如果两点的纵坐标之差没有超过误差门限,则两个参考点相符,转到步骤205。
步骤204、如果两个参考点不相符,将步骤203中进行比较的基准OTDR曲线参考点记录下来,再转到步骤205。
步骤205、检查基准OTDR曲线参考点是否遍历完成;如果遍历完成,转到步骤206;否则返回步骤201。
步骤206、将OTDR测试曲线比对结果(即两条曲线上的参考点是否相符,不相符的基准OTDR曲线参考点有哪些)反馈给下一步处理流程(即步骤S3),结束OTDR测试曲线的比对流程。
参见图6所示,步骤S4中对OTDR曲线比对后,利用无源光网络的拓扑结构对异常光链路进行“主干-分支”故障判断的流程如下:
步骤401、遍历OTDR曲线对比后上报的异常光链路。
步骤402、找到当前异常光链路在无源光网络光链路拓扑中的对应光链路对象。
步骤403、根据步骤402中找到的光链路对象,在无源光网络的光链路拓扑中,找到对应链路对象,将状态置为异常,并将其父链路对象的子链路计数器+1。
步骤404、检查异常光链路遍历是否完成,如果异常光链路遍历未完成,则返回步骤401;如果异常光链路遍历已完成,则转到步骤405。
步骤405、遍历无源光网络的树形光链路拓扑对象。
步骤406、检查当前光链路对象的状态是否正常,如果状态异常,则转到步骤407;如果状态正常,则转到步骤410。
步骤407、检查当前光链路对象的子链路计数器的值是否等于子链路总数,如果相等,则转到步骤408;否则转到步骤409。
步骤408、将当前光链路对象的全部子链路对象删除,再转到步骤409。
步骤409、将当前光链路对象放入异常光链路记录集,再转到步骤410。
步骤410、检查无源光网络的光链路拓扑是否遍历完成,如果遍历完成,则转到步骤411,否则返回步骤405。
步骤411、返回异常光链路记录集。
参见图7所示,步骤S5中“根据OTDR测试曲线上新增的OTDR曲线事件点,找到光链路可能的故障点”的过程如下:
步骤501、比对OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线。
步骤502、检查OTDR测试曲线上是否存在基准OTDR曲线参考点所没有包含的OTDR曲线事件点,即OTDR测试曲线中的波峰或拐点;若存在新增的OTDR曲线事件点,转到下一步503,否则转到步骤505。
步骤503、找到确认异常的光链路的链路末端在OTDR测试曲线上对应的OTDR曲线参考点,若OTDR曲线参考点不止一个(即异常光链路有多条),找横坐标最大的那个。
步骤504、比较上一步找到的OTDR曲线参考点和新增的OTDR曲线事件点的横坐标,那些横坐标小于OTDR曲线参考点的OTDR曲线事件点就是光链路可能的故障点。
步骤505、返回光链路可能的故障点。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明包含这些改动和变型在内。本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (12)
1.一种无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于包括以下步骤:
S1、开始光链路自动测试,获得光链路的OTDR测试曲线;
S2、用OTDR曲线参考点逐个比较的方式,来比对OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线;
S3、检查是否存在异常的OTDR曲线参考点;
S4、若存在异常的OTDR曲线参考点,根据OTDR曲线参考点和光链路的对应关系,找到这些异常光链路;利用无源光网络的拓扑结构对异常光链路进行“主干-分支”故障判断,将误报的异常分支光链路删除;
S5、根据OTDR测试曲线上新增的OTDR曲线事件点,找到光链路故障点;
S6、反馈OTDR测试曲线测试结果,如果光链路存在异常,则报告发生异常的光链路和链路故障点。
2.如权利要求1所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:步骤S1之前还包括以下准备步骤:设置光链路OTDR测试参数,生成基准OTDR测试曲线,并设定基准OTDR曲线参考点,建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系。
3.如权利要求2所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述光链路OTDR测试参数包括测试波长、测试量程、测试脉宽、采样时间和光纤折射率。
4.如权利要求2所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述“设置光链路OTDR测试参数”与“生成基准OTDR测试曲线”之间还包括以下步骤:检查与光分路器相连的光纤长度,通过增加光纤尾纤的方法调节光纤长度,保证无源光网络中各光链路远端位置不同,以便各光链路末端事件能在OTDR测试曲线上区分出来;对比OTDR测试曲线和该无源光网络的施工验收资料,检验两者是否符合,如果不符合,检修无源光网络的实际链路,或更正该无源光网络的施工验收资料,使无源光网络施工验收资料和OTDR测试曲线反映的链路情况保持一致。
5.如权利要求2所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述设定基准OTDR曲线参考点的过程中,选择基准OTDR测试曲线中的波峰、拐点和曲线线性部分的中点作为基准OTDR曲线参考点。
6.如权利要求2所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述“建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系”的过程如下:根据基准OTDR曲线参考点的横坐标,以及无源光网络中各光链路的远端位置,将无源光网络中各光链路和对应的基准OTDR曲线参考点关联起来,保存到OLT设备中,每个光链路有且只有一个基准OTDR曲线参考点对应其远端位置;同时将无源光网络的树型光链路拓扑结构也存到OLT设备中,作为OTDR测试后光链路告警的依据。
7.如权利要求2所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述“建立实际光链路和基准OTDR曲线参考点的联系”之后还包括以下步骤:按照各光链路远端位置、光链路衰减系数和分光器的分光比,计算出各基准OTDR曲线参考点处OTDR曲线比对时允许的误差门限;设置OLT设备各PON口的无源光网络的自动检测周期。
8.如权利要求1所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:步骤S2包括以下步骤:遍历基准OTDR曲线参考点;将当前的基准OTDR曲线参考带点的横坐标代入到光链路自动测试获得的OTDR测试曲线中,获得对应横坐标的纵坐标,得到OTDR曲线参考点;比较基准OTDR曲线参考点和得到的OTDR曲线参考点,判断两点的纵坐标之差是否在前面设定的误差门限之内,直至完成全部参照点的比较;如果两点的纵坐标之差超过误差门限,则将进行比较的基准OTDR曲线参考点记录下来;然后检查基准OTDR曲线参考点是否遍历完成;如果遍历完成,则反馈OTDR测试曲线比对结果,否则返回步骤“遍历基准OTDR曲线参考点”。
9.如权利要求8所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:所述“基准OTDR曲线参考带点的横坐标”为该参考点相对于OLT设备侧PON口的光纤长度,所述“对应横坐标的纵坐标”为测试光反射回的光功率。
10.如权利要求1至9中任一项所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:步骤S4中“利用无源光网络的拓扑结构对异常光链路进行“主干-分支”故障判断”的过程如下:
步骤401、遍历OTDR曲线对比后上报的异常光链路;
步骤402、找到当前异常光链路在无源光网络光链路拓扑中的对应光链路对象;
步骤403、根据步骤402中找到的光链路对象,在无源光网络的光链路拓扑中,找到对应链路对象,将状态置为异常,并将其父链路对象的子链路计数器+1;
步骤404、检查异常光链路遍历是否完成,如果遍历未完成,则返回步骤401;如果遍历已完成,则转到步骤405;
步骤405、遍历无源光网络的树形光链路拓扑对象;
步骤406、检查当前光链路对象的状态是否正常,如果状态异常,则转到步骤407;如果状态正常,则转到步骤410;
步骤407、检查当前光链路对象的子链路计数器的值是否等于子链路总数,如果相等,则转到步骤408;否则转到步骤409;
步骤408、删除当前光链路对象的全部子链路对象,转到步骤409;
步骤409、将当前光链路对象放入异常光链路记录集,转到步骤410;
步骤410、检查无源光网络的光链路拓扑是否遍历完成,如果遍历完成,则转到步骤411,否则返回步骤405;
步骤411、返回异常光链路记录集。
11.如权利要求10所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:步骤S5中“根据OTDR测试曲线上新增的OTDR曲线事件点,找到光链路故障点”的过程如下:
步骤501、比对OTDR测试曲线和基准OTDR测试曲线;
步骤502、检查OTDR测试曲线上是否存在基准OTDR曲线参考点所没有包含的OTDR曲线事件点;若存在新增的OTDR曲线事件点,则转到步骤503,否则转到步骤505;
步骤503、找到确认异常的光链路的链路末端在OTDR测试曲线上对应的OTDR曲线参考点,若OTDR曲线参考点不止一个,找横坐标最大的那个;
步骤504、比较找到的OTDR曲线参考点和新增的OTDR曲线事件点的横坐标,横坐标小于OTDR曲线参考点的OTDR曲线事件点就是光链路可能的故障点;
步骤505、返回光链路可能的故障点。
12.如权利要求11所述的无源光网络中光链路自动测试的方法,其特征在于:步骤S502中所述OTDR曲线事件点为OTDR测试曲线中的波峰或拐点。
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