一种CR/DR综合检测模体
技术领域
本发明涉及X射线摄影系统的检测用模体,特别是集空间分辨力、低密度分辨力、射野与光野一致性以及均匀性检测的医用X射线摄影系统的检测模体。
背景技术
目前,医用计算机X射线摄影系统(CR系统)、数字X射线摄影系统(DR系统)的性能检测所采用的CR/DR模体是由多组测试卡组成,进行CR/DR检测时需要曝光几次甚至多次才能得到CR/DR系统的低密度分辨力、射野与光野一致性以及均匀性检测等性能指标,操作繁琐,而且材料易损,携带也极其不便。原来的CR/DR模体主要存在以下问题:
1、检测效率低,CR/DR需要曝光至少4数次才能才能完成空间分辨力、低密度分辨力、射野与光野一致性以及均匀性的检测;
2、由5块铝模体分别完成空间分辨力、低密度分辨力、射野与光野一致性(3块铝板)以及均匀性检测,质量大,携带使用不便;
3、单块铝模体功能单一,制作消耗材料多,成本高。
发明内容
本发明的目的是提供一种集成射野光野一致性测试卡、低对比度测试卡以及20mm厚衰减模体和影像均匀性测试点的CR/DR综合检测模体。
本发明的目的是这样实现的:一种CR/DR综合检测模体,厚度为20mm、边长大于430mm的正方形纯铝板的表面上沿该正方形的两条中线方向设置有横向测量标尺和纵向测量标尺;正方形纯铝板的表面上设置有三组影像均匀性测试点,每组测试点由五个相同的方框区域组成:
第一组由位于正方形中点的第一方框区域以及设置在对应于测量野350mm×350mm正方形四个顶点位置上的第二、第三、第四、第五方框区域组成;
第二组由位于正方形中点的第一方框区域以及设置在对应于测量野430mm×430mm正方形四个顶点位置上的第六、第七、第八、第九方框区域组成;
第三组由位于正方形中点的第一方框区域以及设置在对应于测量野430mm×350mm正方形四个顶点位置上的第十、第十一、第十二、第十三方框区域组成;
正方形纯铝板的表面上设置有作为低对比度测试卡的16个直径相同、深度不同的孔:该16个孔均分为四组,并以正方形纯铝板的两条中线上、下对称以及左、右对称设置,且每组四个孔位于一个区域正方形的四个顶点上,每组四个孔均从右边一个孔起按顺时针方向进行依次累计编号,其中,位于右上方的第一组中的第1、2、3、4孔,位于右下方的第二组中的第5、6、7、8孔,位于左下方的第三组中的第9、10、11、12孔以及位于左上方的第四组中的第13、14、15、16孔的孔的深度依次减小;或者,
正方形纯铝板的表面上设置有作为低对比度测试卡的19个直径相同、深度不同的孔:该19个孔分为四组,每组的孔均设置在一个区域正方形内,且四组的孔所在的四个区域正方形以正方形纯铝板的两条中线上、下对称以及左、右对称设置;位于右上方的第一组孔数为5个,位于右下方的第二组的孔数为4个,位于左下方的第三组的孔数为5个,位于左上方的第四组的孔数5个,第二组的4个孔分别位于对应区域正方形的四个顶点上,第一、三、四组的5个孔分别位于对应区域正方形的四个顶点以及对应区域正方形的中点上;按第一、二、三、四组的顺序对孔进行累计编号:第二组的四个孔从右方一个孔起按顺时针方向进行编号,第一、三、四组的孔均从位于该区域正方形中点的孔起,按着从该区域正方形右边一个孔开始并按顺时针方向对其余的孔进行编号,第一组的第1、2、3、4、5孔、第二组的第6、7、8、9孔、第三组的第10、11、12、13、14孔以及第四组的第15、16、17、18、19孔的孔的深度依次减小。
上述正方形纯铝板的表面上设置的16个孔中从第1孔至第16孔以mm计的深度分别为:2.9、2.5、2.14、1.76、1.48、1.36、1.06、0.88、0.52、0.44、0.36、0.32、0.26、0.22、0.19、0.15。
上述正方形纯铝板的表面上设置的19个孔中从第1孔至第19孔以mm计的深度分别为:3.2、2.9、2.5、2.14、1.76、1.48、1.36、1.06、0.88、0.52、0.44、0.36、0.32、0.26、0.22、0.19、0.15、0.11、0.07。
上述横向测量标尺和纵向测量标尺均为每个刻度2mm(中间是每个刻度1cm)。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明CR/DR综合检测模体集成了射野光野一致性测试卡(野大小为430mm×430mm、430mm×350mm和350mm×350mm)、低对比度测试卡、20mm厚衰减模体和影像均匀性测试点。CR/DR一次曝光就可以得到射野与光野一致性、低对比度分辨率、空间分辨率和图像均匀性等性能指标,检测效率高,操作简单,使用方便。
一种CR/DR综合检测模体材料采用纯铝制作,使用灵活,为计量部门、医院、CR/DR机制造厂和医疗器械检测机构提供了更好的计量检测或质量控制工具,为进一步提高计量和医疗服务的质量提供了技术保障。
附图说明
图1是本发明一个实施例模体的主视图。
图2是本发明另一个实施例模体的主视图。
具体实施方式
图1与图2的区别仅在于:纯铝板模体上作为低对比度测试卡的孔数不同。
参见图1(纯铝板上有16个孔)本CR/DR综合检测模体,厚度为20mm、边长大于430mm的正方形纯铝板100的表面上沿该正方形的两条中线方向设置有横向测量标尺和纵向测量标尺;正方形纯铝板100的表面上设置有三组影像均匀性测试点,每组测试点由五个相同的方框区域组成,实现了一次成像,就可完成对CR\DR系统空间分辨力、低对比度分辨力、均匀性、射野与光野一致性的检测。第一组由位于正方形中点的第一方框区域301以及设置在对应于测量野350mm×350mm正方形四个顶点位置上的第二、第三、第四、第五方框区域302、303、304、305组成;第二组由位于正方形中点的第一方框区域301以及设置在对应于测量野430mm×430mm正方形四个顶点位置上的第六、第七、第八、第九方框区域306、307、308、309组成;第三组由位于正方形中点的第一方框区域301以及设置在对应于测量野430mm×350mm正方形四个顶点位置上的第十、第十一、第十二、第十三方框区域310、311、312、313组成。
图1中,正方形纯铝板100的表面上设置有作为低对比度测试卡的16个直径相同、深度不同的孔:该16个孔均分为四组,并以正方形纯铝板的两条中线上、下对称以及左、右对称设置,且每组四个孔位于一个区域正方形的四个顶点上,每组四个孔均从右边一个孔起按顺时针方向进行依次累计编号,其中,位于右上方的第一组中的第1、2、3、4孔1、2、3、4,位于右下方的第二组中的第5、6、7、8孔5、6、7、8,位于左下方的第三组中的第9、10、11、12孔9、10、11、12以及位于左上方的第四组中的第13、14、15、16孔13、14、15、16的孔的深度依次减小。
图2中,正方形纯铝板100的表面上设置有作为低对比度测试卡的19个直径相同、深度不同的孔:该19个孔分为四组,每组的孔均设置在一个区域正方形内,且四组的孔所在的四个区域正方形以正方形纯铝板的两条中线上、下对称以及左、右对称设置;位于右上方的第一组孔数为5个,位于右下方的第二组的孔数为4个,位于左下方的第三组的孔数为5个,位于左上方的第四组的孔数5个,第二组的4个孔分别位于对应区域正方形的四个顶点上,第一、三、四组的5个孔分别位于对应区域正方形的四个顶点以及对应区域正方形的中点上;按第一、二、三、四组的顺序对孔进行累计编号:第二组的四个孔从右方一个孔起按顺时针方向进行编号,第一、三、四组的孔均从位于该区域正方形中点的孔起,按着从该区域正方形右边一个孔开始并按顺时针方向对其余的孔进行编号,第一组的第1、2、3、4、5孔101、102、103、104、105、第二组的第6、7、8、9孔106、107、108、109、第三组的第10、11、12、13、14孔110、111、112、113、114以及第四组的第15、16、17、18、19孔115、116、117、118、119的孔的深度依次减小(参见图2,纯铝板上有19个孔)。
正方形的顶点也称角点。正方形的中点即正方形的两条中线的交点。孔在正方形的顶点上,是指孔的圆心在正方形的顶点上。方框区域设置在正方形顶点位置上,是指代表方框区域的小正方形的一个顶点与该正方形顶点重合,且小正方形位于该正方形范围内。
CR/DR综合检测模体采用纯铝制成,厚度值为20mm,由低对比度测试卡(图1中16个直径相同、深度不同的孔;图2中19个直径相同、深度不同的孔)、影像均匀性测试点(13个方框区域,代表13个均匀性测试点,测量时,根据测量视野大小,中心及视野边界每5个均匀性测试点组成一组,分别可测量430mm×430mm、430mm×350mm和350mm×350mm三组射野的影像均匀性)、射野光野一致性测试卡(测量野大小430mm×430mm、430mm×350mm和350mm×350mm的标尺,上有10mm和2mm的刻度若干)和衰减体(纯铝)等组成;CR/DR系统曝光一次,通过该模体能够得到低对比度分辨率、影像均匀性、射野与光野一致性和空间分辨率(此项指标搭配分辨率测试卡进行)等指标。
技术效果:
通过上述方案设计的CR/DR综合检测模体的主要技术指标如下:
1、材料:99.5%以上的纯铝;
2、厚度:20mm±0.1mm;
3、孔径:10mm;
4、低对比度分辨力测量范围:0.8%至14.5%(低对比度测试卡A型)或标准标注的测量范围:0.7%至16%(低对比度测试卡B型);
5、外尺寸:440mm×440mm;
6、视野标识:430mm×430mm,430mm×350mm,350mm×350mm;
7、低对比度测试卡。
低对比度测试卡A型(参见图1):
序号 |
对比度 |
孔深(mm) |
序号 |
对比度 |
孔深(mm) |
1 |
0.145 |
2.9 |
9 |
0.026 |
0.52 |
2 |
0.125 |
2.5 |
10 |
0.022 |
0.44 |
3 |
0.107 |
2.14 |
11 |
0.018 |
0.36 |
4 |
0.088 |
1.76 |
12 |
0.016 |
0.32 |
5 |
0.074 |
1.48 |
13 |
0.013 |
0.26 |
6 |
0.068 |
1.36 |
14 |
0.011 |
0.22 |
7 |
0.053 |
1.06 |
15 |
0.0095 |
0.19 |
8 |
0.044 |
0.88 |
16 |
0.0075 |
0.15 |
低对比度测试卡B型(参见图2):
序号 |
对比度 |
孔深(mm) |
序号 |
对比度 |
孔深(mm) |
1 |
0.16 |
3.2 |
11 |
0.022 |
0.44 |
2 |
0.145 |
2.9 |
12 |
0.018 |
0.36 |
3 |
0.125 |
2.5 |
13 |
0.016 |
0.32 |
4 |
0.107 |
2.14 |
14 |
0.013 |
0.26 |
5 |
0.088 |
1.76 |
15 |
0.011 |
0.22 |
6 |
0.074 |
1.48 |
16 |
0.0095 |
0.19 |
7 |
0.068 |
1.36 |
17 |
0.0075 |
0.15 |
8 |
0.053 |
1.06 |
18 |
0.0055 |
0.11 |
9 |
0.044 |
0.88 |
19 |
0.0035 |
0.07 |
10 |
0.026 |
0.52 |
|
|
|