CN102541701A - 硬盘测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种硬盘测试装置，包括第一连接器与电脑主机板的第二连接器配合，所述第二连接器连接所述电脑主机板的存储控制器；控制电路接收存储控制器输出的电压信号并转换为硬盘电源信号后输出给侦测电路；侦测电路包括与门、第一至第四电阻，与门的第一输入端经第一电阻接地及经第二电阻连接控制电路，第二输入端经第三电阻接地及经第四电阻连接控制电路，输出端连接第一连接器的测量引脚，与门根据硬盘电源信号输出硬盘电源状态信号至第一连接器的相应引脚，通过测量设备捕获第一连接器测量引脚的硬盘电源状态信号进行测试，以解决硬盘测试时由于反复插拔硬盘而造成硬盘损坏的问题。

Description

硬盘测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种硬盘测试装置。
背景技术
通常，硬盘模块发出硬盘电源状态(PWG)信号以指示硬盘是否工作正常。因此，在存储产品研发阶段，需要对PWG信号进行信号完整性测试，以确保存储产品的品质符合设计要求。然而，目前的测试方式是利用插拔硬盘的方式来触发PWG信号，由于反复的插拔硬盘容易造成硬盘损坏，而增加测试成本。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种硬盘测试装置，以解决硬盘测试时由于反复插拔硬盘而造成硬盘损坏的问题。
一种硬盘测试装置，包括：
一第一连接器，用于与一电脑主机板上的第二连接器配合，所述第二连接器连接所述电脑主机板的一存储控制器；
一控制电路，用于通过所述第一连接器及第二连接器接收所述存储控制器输出的电压信号并将所述电压信号转换为硬盘电源信号后输出给一侦测电路；及
所述侦测电路包括一与门、第一至第四电阻，所述与门的第一输入端经所述第一电阻接地及经所述第二电阻连接所述控制电路，所述与门的第二输入端经所述第三电阻接地及经所述第四电阻连接所述控制电路，所述与门的输出端连接所述第一连接器的测量引脚，所述与门的第一及第二输入端接收所述控制电路输出的硬盘电源信号并输出一硬盘电源状态信号至所述第一连接器的相应引脚，通过一测量设备捕获所述第一连接器引脚的硬盘电源状态信号进行测试。
相较现有技术，所述硬盘测试装置通过所述控制电路将所述存储控制器输出的电压转换为硬盘电源信号并提供给所述侦测电路以使所述侦测电路根据侦测到的硬盘电源信号输出硬盘电源状态信号，并通过测量设备捕获此时的硬盘电源状态信号以此来检测硬盘的电源状态信号的信号完整性。所述硬盘测试装置可以模拟一硬盘，以解决硬盘测试时由于反复插拔硬盘而造成硬盘损坏的问题。
附图说明
下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
图1为本发明硬盘测试装置通过一第二连接器连接一存储控制器的示意图。
图2至图4为本发明硬盘测试装置的较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
硬盘测试装置  100
第一连接器    J1
第二连接器    200
存储控制器    300
控制电路      10
电压转换电路  20
侦测电路      30
电源交换控制器U1
与门          U2
硅管          Z1
电阻          R0-R17
电容          C1-C14
场效应管      Q1、Q2
具体实施方式
请参照图1至图4，本发明硬盘测试装置100用于模拟一硬盘发出电源状态(PWG)信号以用来测试硬盘工作状态。所述硬盘测试装置100的较佳实施方式包括一第一连接器J1、一控制电路10、一电压转换电路20及一侦测电路30。所述第一连接器J1、控制电路10、电压转换电路20及侦测电路30均设置在一电路板(图未示)上。所述第一连接器J1用于与一电脑主机板400上的第二连接器200配合连接，所述第二连接器200与所述电脑主机板400上的一存储控制器300(如硬盘存储控制器)连接。所述控制电路10用于通过所述第一连接器J1及第二连接器200接收所述电脑主机板400上存储控制器300输出的电压信号并将所述电压信号转换为硬盘电源信号输出给所述侦测电路30。所述电压转换电路20用于将通过所述第一连接器J1及第二连接器200接收到的5V电压转换为一3.3V电压并提供给所述侦测电路30。所述侦测电路30用于接收所述电压转换电路20输出的3.3V转换电压及接收所述控制电路10输出的硬盘电源信号并根据接收到的硬盘电源信号输出一PWG信号至所述第一连接器J1，通过一测量设备(如示波器)捕获所述第一连接器J1上的PWG信号以此来检测硬盘的电源状态信号的信号完整性。
所述第一连接器J1的接地引脚SGND_1-SGND_6及GND_2-GND_5均接地，其测量引脚V33_3连接所述侦测电路30，其控制引脚RSV连接所述控制电路10，所述第一连接器J1的接地引脚GND_1经一电阻R0接地，其电压引脚V5_1经一电阻R1所述控制电路10，电压引脚V5_2及V5_3均连接所述控制电路10，其电压引脚12V_1经所述电阻R2连接所述控制电路10，电压引脚12V_2及12V_3均连接所述控制电路10。在本实施方式中，第一连接器J1的型号FCI-10034524-001LF。
所述控制电路10包括电容C1-C12、电阻R3-R9、电源交换控制器U1及场效应管Q1及Q2。所述电源交换控制器U1的使能引脚ENABLE连接所述第一连接器J1的控制引脚RSV，其转换引脚ISET1经所述电阻R4连接转换引脚IN1并连接至所述第一连接器J1的电压引脚V5_1，所述电源交换控制器U1的转换引脚ISET2经所述电阻R5连接转换引脚IN2并连接至所述第一连接器J1的电压引脚V12_1。所述电容C7串接在所述电源交换控制器U1的转换引脚IN2与地之间，所述电容C8串接在所述电源交换控制器U1的转换引脚IN1与地之间。所述电源交换控制器U1的电压引脚DISCH1连接所述侦测电路30、经所述电容C1接地及连接所述场效应管Q1的源极，所述电容C2及C3与所述电容C1并联，所述场效应管Q1的栅极经所述电容C12接地及经所述电阻R8连接所述电源交换控制器U1的控制引脚GATE1，其漏极连接所述电源交换控制器U1的感应引脚ISENSE1及经所述电阻R7连接所述电源交换控制器U1的转换引脚IN1。所述电源交换控制器U1的电压引脚DISCH2连接所述侦测电路30、经所述电容C4接地及连接所述场效应管Q2的源极，所述电容C5及C6与所述电容C4并联，所述场效应管Q2的栅极经所述电容C11接地及经所述电阻R9连接所述电源交换控制器U1的控制引脚GATE2，其漏极连接所述电源交换控制器U1的感应引脚ISENSE2及经所述电阻R6连接所述电源交换控制器U1的转换引脚IN2。所述电阻R3串接在所述电源交换控制器U1的数值引脚FAULT与电压引脚DISCH2之间。所述电源交换控制器U1的接地引脚DGND及AGND均接地，所述电容C9串接在所述电源交换控制器U1的时钟引脚TIMER与地之间，所述电容C10串接在所述电源交换控制器U1的寄存引脚VREG与地之间。在本实施方式中，所述电源交换控制器的型号为TPS2320IPWR。
所述电压转换电路20包括一硅管Z1、电阻R15-R17及电容C14。所述硅管Z1的阳极接地，其阴极连接所述侦测电路30及经所述电阻R15连接所述第一连接器J1的电压引脚V5_1，所述电阻R17串接在所述硅管Z1的控制极与阳极之间，所述电阻R16串接在所述硅管Z1的控制极与阴极之间，所述电容C14串接在所述硅管Z1的阴极与地之间。
所述侦测电路30包括一与门U2、电阻R10-R14及电容C13。所述与门U2的第一输入端经所述电阻R13接地及经所述电阻R12连接所述电源交换控制器U1的电压引脚DISCH1，所述与门U2的第二输入端经所述电阻R11接地及经所述电阻R10连接所述电源交换控制器U1的电压引脚DISCH2，所述与门U2的电压端连接所述硅管Z1的阴极及经所述电容C13接地，其接地端接地，所述与门U2的输出端经所述电阻R14连接所述第一连接器J1的测量引脚V33_3。
使用时，通过所述第一连接器J1将所述硬盘测试装置100与电脑主机板的第二连接器200连接，开启电脑主机板，所述存储控制器300识别到所述硬盘测试装置100连接至所述电脑主机板，则所述存储控制器300通过所述第二连接器200及第一连接器J1输出一低电平信号给所述电源交换控制器U1的使能引脚ENABLE以使所述电源交换控制器U1工作及输出5V及12V电压给所述电源交换控制器U1的转换引脚ISET1、ISET2、IN1及IN2，同时，所述电源交换控制器U1的控制引脚GATE1及GATE2分别输出高电平信号，此时，所述场效应管Q1、Q2导通，所述电源交换控制器U1的电压引脚DISCH1及DISCH2分别输出高电平电压控制信号给所述侦测电路30的与门U2的第一及第二输入端，所述与门U2的输出端输出一高电平的PWG信号至所述第一连接器J1的测量引脚V33_3，通过所述示波器捕获所述第一连接器J1的测量引脚V33_3的信号以此来检测所述电源状态信号的信号完整性。
所述硬盘测试装置100通过所述控制电路10将所述存储控制器300输出的电压信号转换为电压控制信号并提供给所述侦测电路30以使所述侦测电路30根据侦测到的电压控制信号输出PWG信号，并通过测量设备捕获此时的PWG信号以此来检测电源状态信号的信号完整性。所述硬盘测试装置100可模拟一硬盘，以解决硬盘测试时由于反复插拔硬盘而造成硬盘损坏的问题。

Claims (4)

1.一种硬盘测试装置，包括：
一第一连接器，用于与一电脑主机板上的第二连接器配合，所述第二连接器连接所述电脑主机板的一存储控制器；
一控制电路，用于通过所述第一连接器及第二连接器接收所述存储控制器输出的电压信号并将所述电压信号转换为硬盘电源信号后输出给一侦测电路；及
所述侦测电路包括一与门、第一至第四电阻，所述与门的第一输入端经所述第一电阻接地及经所述第二电阻连接所述控制电路，所述与门的第二输入端经所述第三电阻接地及经所述第四电阻连接所述控制电路，所述与门的输出端连接所述第一连接器的测量引脚，所述与门的第一及第二输入端接收所述控制电路输出的硬盘电源信号并输出一硬盘电源状态信号至所述第一连接器的相应引脚，通过一测量设备捕获所述第一连接器引脚的硬盘电源状态信号进行测试。
2.如权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于：所述侦测电路还包括一第五电阻及一第一电容，所述第五电阻串接在所述与门的输出端与所述第一连接器的测量引脚之间，所述第一电容串接在所述与门的电压端与地之间。
3.如权利要求2所述的硬盘测试装置，其特征在于：所述控制电路包括第二至第十三电容、第六至第十二电阻、一电源交换控制器及第一及第二场效应管，所述电源交换控制器的使能引脚连接所述第一连接器的控制引脚，所述电源交换控制器的第一转换引脚经所述第六电阻连接第二转换引脚并连接至所述第一连接器的第一电压引脚，所述电源交换控制器的第三转换引脚经所述第七电阻连接第四转换引脚并连接至所述第一连接器的第二电压引脚，所述第二电容串接在所述电源交换控制器的第四转换引脚与地之间，所述第三电容串接在所述电源交换控制器的第二转换引脚与地之间，所述电源交换控制器的电压引脚连接所述侦测电路、经所述第四电容接地及连接所述第一场效应管的源极，所述第五及第六电容与所述第八电容并联，所述第一场效应管的栅极经所述第七电容接地及经所述第八电阻连接所述电源交换控制器的第一控制引脚，所述第一场效应管的漏极连接所述电源交换控制器的第一感应引脚及经所述第九电阻连接所述电源交换控制器的第二转换引脚，所述电源交换控制器的第二电压引脚连接所述侦测电路、经所述第八电容接地及连接所述第二场效应管的源极，所述第九及第十电容与所述第八电容并联，所述第二场效应管的栅极经所述第十一电容接地及经所述第十电阻连接所述电源交换控制器的第二控制引脚，所述第二场效应管的漏极连接所述电源交换控制器的第二感应引脚及经所述第十一电阻连接所述电源交换控制器的第四转换引脚，所述第十二电阻串接在所述电源交换控制器的数值引脚与第二电压引脚之间，所述第十二电容串接在所述电源交换控制器的时钟引脚与地之间，所述第十三电容串接在所述电源交换控制器的寄存引脚与地之间。
4.如权利要求3所述的硬盘测试装置，其特征在于：所述硬盘测试装置还包括一电压转换电路，所述电压转换电路包括一硅管、第十三至第十五电阻及第十四电容，所述硅管的阳极接地，所述硅管的阴极连接所述侦测电路与门的电压端及经所述第十三电阻连接所述第一连接器的第一电压引脚，所述第十四电阻串接在所述硅管的控制极与阳极之间，所述第十五电阻串接在所述硅管的控制极与阴极之间，所述第十四电容串接在所述硅管的阴极与地之间。
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