CN102541676A - 一种nand flash的状态检测及映射方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，具体包括如下步骤：10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表，所述映射表包括：表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元；20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块，并将坏块的信息在映射表中标记出来；30、对映射表进行备份，创立备份表，用户在向存储器写入数据的时候，根据映射表的信息，再进行操作；40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控，如发现坏块，则对映射表进行更新。本发明方法简单易行，灵活实用，在保证稳定性的基础上，将检测出的各种状态体现在映射表中，然后根据映射表进行合理的各种操作。

Description

一种NAND FLASH的状态检测及映射方法
【技术领域】
本发明涉及一种NAND FLASH器件的领域。
【背景技术】
EEPROM(电可擦写可编程只读存储器)的市场应用范围很广泛，但是其缺点也很明显，写入速度慢，至少10ms的写等待时间，而且写操作次数有限制，并且总体存储容量有限。
NAND FLASH及NOR FLASH是现在市场上两种主要的非易失闪存技术。NOR FLASH存储器存储容量大，但其存储特性又导致在使用过程中存在存取不灵活的特点。
NAND FLASH是嵌入式领域较为常用的固态大容量存储器，具有掉电后不丢失数据，容量较大，改写速度快，价格低廉等优点。但是NAND FLASH中存在随机分布的坏块缺陷，对NAND FLASH的介质检测及映射标记就是一个需要解决的问题。在使用NAND FLASH时，必须先写入驱动程序，才能继续执行其他操作，向NAND FLASH写入信息需要相当的技巧，因为不能向坏块写入，这就意味着在NAND FLASH上自始至终都必须进行虚拟映射，NAND FLASH中的坏块是随机分布的，对可靠性有一定的影响。
【发明内容】
本发明要解决的技术问题，在于提供一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，它能够根据NAND FLASH存储器的特性，进行处理，以确保使用的可靠性。
本发明是这样实现的：一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，具体包括如下步骤：
步骤10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表，所述映射表包括：表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元；
步骤20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块，并将坏块的信息在映射表中标记出来；
步骤30、对映射表进行备份，创立备份表，用户在向存储器写入数据的时候，根据映射表的信息，再进行操作；
步骤40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控，如发现坏块，则对映射表进行更新。
进一步的，所述表标识单元为对每一映射表起标识作用的固定字符。
进一步的，所述表信息单元包括了存储器版本号、存储器容量、块数量、块大小、页大小。
进一步的，所述数据校验单元用于存储采用32Bit的CRC校验方法获得的用于校验的校验值，该校验值是从映射表表头的表标识单元开始，对整个映射表的数据结构除最后的数据校验单元外，使用CRC校验方法对每个字节做循环校验运算计算出的校验值。
所述步骤30进一步包括：首先判断映射表是否有效，若有效则直接根据映射表的信息进行操作，若无效则搜索备份表，并判断备份表是否有效，若备份表有效，则根据该备份表更新映射表，并根据映射表的信息进行操作，若备份表无效，则扫描存储介质创建映射表，创立备份表，再根据映射表的信息进行操作。
本发明具有如下优点：
本发明提出一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，根据NANDFLASH存储器的特性，通过软件的方法进行处理，以确保使用的可靠性，本发明方法简单易行，灵活实用，在保证稳定性的基础上，将检测出的各种状态体现在映射表中，然后根据映射表，进行合理的各种操作。
【附图说明】
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。
图1为本发明的映射表结构示意图。
图2为本发明在向存储器中写数据的流程示意图。
【具体实施方式】
本发明具体包括如下步骤：
步骤10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表，如图1，所述映射表包括：表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元；所述表标识单元为对每一映射表起标识作用的固定字符。所述表信息单元包括了存储器版本号、存储器容量、块数量、块大小、页大小。所述数据校验单元为采用32Bit的CRC校验方法获得的用于校验的校验值。该校验值是从映射表表头的表标识单元开始，对整个映射表的数据结构除最后的数据校验单元外，使用循环校验算法(CRC)对每个字节做循环校验运算，计算出的校验值存储在映射表的数据结构最后4字节的数据校验单元(即CRC存储字段)。
步骤20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块，并将坏块的信息在映射表中标记出来；
步骤30、对映射表进行备份，创立备份表，目的是为了防止在更新的过程中意外中断照成映射表数据无法恢复的情况，因此可以创建多个备份表以防止数据丢失，实际使用中映射表1个、备份表3个，为“1+3”，结合图2，用户在向存储器写入数据的时候，根据映射表的信息，再进行操作。首先判断映射表是否有效，若有效则直接根据映射表的信息进行操作，若无效则搜索备份表，并判断备份表是否有效，若备份表有效，则根据该备份表更新映射表，并根据映射表的信息进行操作，若备份表无效，则扫描存储介质创建映射表，创立备份表，再根据映射表的信息进行操作。
系统读取映射表的信息，再进行相应的操作。例如存储器某个地址有坏块，映射表中会将该具体的状态做出标识，而当存储数据需要用到该数据块时，系统在读取映射表时，就会根据映射表上的具体状态做出相对应的skip(跳过)处理的操作，在跳转程序、计算地址的时候也需要对具体状态做出相应操作。
步骤40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控，如发现坏块，则对映射表进行更新；每次映射表更新，都需要需要进行备份，使用过程中使用ECC(Error Correcting Code)校验算法来监控。
以上所述，仅为本发明较佳实施例而已，故不能依此限定本发明实施的范围，即依本发明专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本发明涵盖的范围内。

Claims (5)

1.一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，其特征在于：具体包括如下步骤：
步骤10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表，所述映射表包括：表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元；
步骤20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块，并将坏块的信息在映射表中标记出来；
步骤30、对映射表进行备份，创立备份表，用户在向存储器写入数据的时候，根据映射表的信息，再进行相应的操作；
步骤40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控，如发现坏块，则对映射表进行更新。
2.根据权利要求1所述的一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，其特征在于：所述表标识单元为对每一映射表起标识作用的固定字符。
3.根据权利要求1所述的一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，其特征在于：所述表信息单元包括了存储器版本号、存储器容量、块数量、块大小、页大小。
4.根据权利要求1所述的一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，其特征在于：所述数据校验单元用于存储采用32Bit的CRC校验方法获得的用于校验的校验值，该校验值是从映射表表头的表标识单元开始，对整个映射表的数据结构除最后的数据校验单元外，使用CRC校验方法对每个字节做循环校验运算计算出的校验值。
5.根据权利要求1所述的一种NAND FLASH的状态检测及映射方法，其特征在于：所述步骤30进一步包括：首先判断映射表是否有效，若有效则直接根据映射表的信息进行操作，若无效则搜索备份表，并判断备份表是否有效，若备份表有效，则根据该备份表更新映射表，并根据映射表的信息进行操作，若备份表无效，则扫描存储介质创建映射表，创立备份表，再根据映射表的信息进行操作。
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