CN102467430A - 通用串行总线测试装置与方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种通用串行总线测试装置与方法，实施于一USB装置主机。通用串行总线测试装置包括USB接口、开关以及控制电路。其中在USB接口、开关与控制电路之间的信号传送为第一路径，在USB接口与控制电路之间的信号传送为第二路径。此方法首先由控制电路发出高电平的控制信号，以使开关导通；接着，USB装置主机优先通过第一路径与通用串行总线测试装置进行传输测试；接着，USB装置主机发出一命令信号，此命令信号通过第一路径而使控制电路改变控制信号的电压电平，进而使开关断开；最后，USB装置主机通过第二路径与通用串行总线测试装置进行传输测试。本发明可以进行USB 3.0规格与USB 2.0规格的传输测试，解决现有测试技术需要两个夹具才能测试的缺点。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置与方法，特别是一种通用串行总线(UniversalSerial Bus，USB)测试装置与方法。
背景技术
通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)是由数家生产计算机的主要厂商，针对现有计算机系统与接口设备在安装与扩充上所面临的复杂问题，所提出的一种总线接口。
USB 2.0是我们现在常用的计算机连接端口规格。基于人们对于画质的讲究，开始要求更高画质、更细腻的照片或更清晰的影片，相对地所使用到硬盘、存储器模块的容量也越用越大。似乎，当前USB 2.0传输速度已经无办法满足需求。
最近业界推出了USB 3.0新规格，最大差异是传输速度提升了十倍。为了适应计算机或接口设备在将来进行USB 3.0的规格测试，相关夹具与测试方法也必须设计。目前对于测试USB 3.0的规格与USB 2.0的规格需要两种USB测试夹具，因此需重复插拔USB测试夹具才能完成这两种USB规格的传输测试。
如何实现只用一种测试夹具而可以完成两种USB规格的传输测试，以方便测试人员做测试，这是一个有待克服的课题。
发明内容
为了克服上述缺陷，本发明提出一种通用串行总线测试装置，实施于一USB装置主机。通用串行总线测试装置包括一USB接口、一开关、以及一控制电路。所述USB接口用以耦接所述USB装置主机。所述开关耦接所述USB接口。所述控制电路耦接所述开关与所述USB接口，所述控制电路发出一控制信号以控制所述开关。其中在所述USB接口、所述开关与所述控制电路之间的信号传送为一第一路径，在所述USB接口与所述控制电路之间的信号传送为一第二路径，所述第一路径的信号传送速度高于所述第二路径的信号传送速度。
本发明再提出一种通用串行总线测试方法，实施于一通用串行总线测试装置与一USB装置主机之间。所述通用串行总线测试装置包括：一USB接口，用以耦接所述USB装置主机；一开关，耦接所述USB接口；以及一控制电路，耦接所述开关与所述USB接口，其中在所述USB接口、所述开关与所述控制电路之间的信号传送为一第一路径，在所述USB接口与所述控制电路之间的信号传送为一第二路径。
所述通用串行总线测试方法包括：所述控制电路发出一控制信号，所述控制信号为高电平的信号，以使所述开关导通；所述USB装置主机优先通过所述第一路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试；所述USB装置主机发出一命令信号，所述命令信号通过所述第一路径而使所述控制电路改变所述控制信号的电压电平，进而使所述开关断开；以及所述USB装置主机通过所述第二路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
在本发明的一实施例中，所述第一路径为USB 3.0规格的信号传输路径。
在本发明的一实施例中，所述第二路径为USB 2.0规格的信号传输路径。
在本发明的一实施例中，所述控制电路于上电后，所发出的控制信号的电压电平为高电平，以使所述开关导通。
在本发明的一实施例中，所述开关的状态为导通状态时，所述USB装置主机优先通过所述第一路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
在本发明的一实施例中，所述USB装置主机发出一命令信号，所述命令信号通过所述第一路径而使所述控制电路改变所述控制信号的电压电平，进而使所述开关断开。
在本发明的一实施例中，所述开关的状态为断开状态时，所述USB装置主机通过所述第二路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
在本发明的一实施例中，所述控制电路还耦接一硬盘，所述USB装置主机通过所述第一路径或所述第二路径对所述硬盘进行传输测试。
在本发明的一实施例中，所述控制电路还耦接一存储器模块，所述USB装置主机通过所述第一路径或所述第二路径对所述硬盘进行传输测试。
本发明的通用串行总线测试装置与方法因采用具有两种传送速度的USB规格的测试装置，因此USB装置主机可以分别检测出USB 3.0与USB 2.0的传输状况，不需重复插拔USB测试夹具，可以节省许多人工并提高生产线的测试效率。
附图说明
为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：
图1是依照本发明实施例的通用串行总线测试装置的电路方块图。
图2是依照本发明实施例的通用串行总线测试方法的流程图。
主要元件符号说明：
100：通用串行总线测试装置
110：控制电路
120：开关
130：USB接口
140：USB装置主机
D+、D-：USB 2.0的信号
GPIO：控制信号
SSRX+、SSRX-、SSTX+、SSTX-：USB 3.0的信号
S210～S240：步骤
具体实施方式
现在请参照图示，其中的展示只为了说明本发明的优选实施例，而非局限了其范畴。
图1是依照本发明实施例的通用串行总线测试装置的电路方块图。本实施例在解决先前技术所述及的问题。请参照图1，此通用串行总线测试装置100可以与USB装置主机140一起搭配使用，来进行USB装置主机140的传输规格测试。其中，USB装置主机140可以是一般计算机或笔记型计算机。
此通用串行总线测试装置100可以包括控制电路110、开关120以及USB接口130。USB接口130用以耦接USB装置主机140。开关120耦接USB接口130。控制电路110耦接开关120与USB接口130。控制电路110发出一控制信号GPIO以控制开关120的导通或断开。
请注意，此通用串行总线测试装置100存在两条传送路径。在USB接口130、开关120与控制电路110之间的信号传送为第一路径，而在USB接口130与控制电路110之间的信号传送为第二路径。
控制电路110于上电后，所发出的控制信号GPIO的电压电平为高电平，例如逻辑电平状态为HI，以使开关120导通。USB装置主机140可以优先通过第一路径与通用串行总线测试装置100进行传输测试。
值得一提的是，开关120导通时，第一路径为USB 3.0规格的信号传输路径，可以用来传送USB 3.0的信号SSRX+、SSRX-、SSTX+、SSTX-。第二路径为USB 2.0规格的信号传输路径，可以用来传送USB 2.0的信号D+、D-。其中USB 3.0的传输速度相对于USB 2.0可以提高十倍，因此第一路径的信号传送速度可以远快于第二路径的信号传送速度。
当USB装置主机140经由第一路径测试完USB 3.0的传输之后，USB装置主机140可以接着发出一命令信号(未示出)，此命令信号可以通过第一路径而使控制电路110改变控制信号GPIO的电压电平，例如逻辑电平状态由HI变为LOW，进而使开关120断开。接着，USB装置主机140通过第二路径与通用串行总线测试装置100进行传输测试。因此，在不需重复插拔USB测试装置100的情况下，可以分别进行USB 3.0的传输速度试测与USB 2.0的传输速度试测。
在一实施例中，控制电路110还可以耦接一硬盘(未示出)，因此USB装置主机140可以通过第一路径或第二路径对硬盘进行USB 3.0或USB 2.0的传输测试。
本领域具通常知识者可以依其需求，而以任何形式实现上述诸实施例。在另一实施例中，控制电路110还可以耦接一存储器模块(未示出)，因此USB装置主机140可以通过第一路径或第二路径对存储器模块进行USB 3.0或USB2.0的传输测试。
图2是依照本发明实施例的通用串行总线测试方法的流程图。此方法可以实施于如图1的通用串行总线测试装置100与USB装置主机140之间。请图1和图2一起参照。
所示流程图中，在步骤S210，控制电路110可以发出一控制信号GPIO，此控制信号GPIO为高电平的信号，以使开关120导通。其次，在步骤S420，USB装置主机140优先通过第一路径与通用串行总线测试装置100进行传输测试。接着，在步骤S430，USB装置主机140发出一命令信号，此命令信号通过第一路径而使控制电路110改变控制信号GPIO的电压电平，此时控制信号GPIO为低电平的信号，进而使开关120断开。最后，在步骤S440，USB装置主机140通过第二路径与通用串行总线测试装置100进行传输测试。
依照本发明实施例的上文描述，上述通用串行总线测试装置与方法至少具有如下的优点：USB装置主机可以利用此通用串行总线测试装置分别检测出USB 3.0与USB 2.0的实际传输状况，如此一来，不需重复插拔USB测试夹具，可以节省许多人工并提高生产线的测试效率。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。
Claims (11)
1.一种通用串行总线测试装置，实施于一USB装置主机，包括：
一USB接口，用以耦接所述USB装置主机；
一开关，耦接所述USB接口；以及
一控制电路，耦接所述开关与所述USB接口，所述控制电路发出一控制信号以控制所述开关，
其中在所述USB接口、所述开关与所述控制电路之间的信号传送为一第一路径，在所述USB接口与所述控制电路之间的信号传送为一第二路径，所述第一路径的信号传送速度高于所述第二路径的信号传送速度。
2.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述第一路径为USB 3.0规格的信号传输路径。
3.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述第二路径为USB 2.0规格的信号传输路径。
4.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述控制电路于上电后，所发出的控制信号的电压电平为高电平，以使所述开关导通。
5.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述开关的状态为导通状态时，所述USB装置主机优先通过所述第一路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
6.根据权利要求4所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述USB装置主机发出一命令信号，所述命令信号通过所述第一路径而使所述控制电路改变所述控制信号的电压电平，进而使所述开关断开。
7.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述开关的状态为断开状态时，所述USB装置主机通过所述第二路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
8.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述控制电路还耦接一硬盘，所述USB装置主机通过所述第一路径或所述第二路径对所述硬盘进行传输测试。
9.根据权利要求1所述的通用串行总线测试装置，其特征是，所述控制电路还耦接一存储器模块，所述USB装置主机通过所述第一路径或所述第二路径对所述硬盘进行传输测试。
10.一种通用串行总线测试方法，实施于一通用串行总线测试装置与一USB装置主机之间；所述通用串行总线测试装置包括：一USB接口，用以耦接所述USB装置主机；一开关，耦接所述USB接口；以及一控制电路，耦接所述开关与所述USB接口，其中在所述USB接口、所述开关与所述控制电路之间的信号传送为一第一路径，在所述USB接口与所述控制电路之间的信号传送为一第二路径；
所述通用串行总线测试方法包括：
所述控制电路发出一控制信号，所述控制信号为高电平的信号，以使所述开关导通；
所述USB装置主机优先通过所述第一路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试；
所述USB装置主机发出一命令信号，所述命令信号通过所述第一路径而使所述控制电路改变所述控制信号的电压电平，进而使所述开关断开；以及
所述USB装置主机通过所述第二路径与所述通用串行总线测试装置进行传输测试。
11.根据权利要求10所述的通用串行总线测试方法，其特征是，所述第一路径的信号传送速度高于所述第二路径的信号传送速度。
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120523 |