CN102413015A - 一种电路仿真业务测试方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电路仿真业务测试方法，根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值N，被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式；被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口，其中，M不大于N，M和N为整数；误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。基于同样的发明构思还提出一种系统，能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源。

Description

一种电路仿真业务测试方法及系统
技术领域
本发明涉及通信技术领域，特别涉及一种电路仿真业务测试方法及系统。
背景技术
通道化ETH接口在测试时，一般都是通过测试通道化ETH接口的N路E1/T1中的某一路E1/T1业务口实现接口误码性能测试的，但由于物理走线、时钟发送等不同，通道化ETH接口的N路E1/T1业务口的每路E1/T1都有各自的特性，只测试其中一路或几路并不能代表通道化ETH接口的N路E1/T1M路通路的误码性能，不能表示通道化ETH接口的N路E1/T1业务口M路通路都可以正常收发包，所以在严格测试要求下应该是通道化ETH接口的N路E1/T1业务口都测试。
参见图1，图1为现有技术中电路仿真业务测试系统结构示意图。图1中被测设备101每路E1/T1业务口都连接一个误码测试仪102分别进行测试。
现有实现中每路测试一般要求24小时不丢包，N路E1/T1业务口都测完需要大量的时间，这就需要大量的人力和物力。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种电路仿真业务测试方法及系统。能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案是这样实现的：
一种电路仿真业务测试方法，根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值N，所述方法包括：
被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式，其中，M不大于N，M和N为整数；
被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；
误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
其中，所述根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数N的方法：
根据链路中的时延不大于链路最大时延确定第一串联路数N1，根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定第二串联路数N2，E1/T1业务口串联路数N不大于N1和N2中的较小值，N1和N2为整数。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
一种电路仿真业务测试系统，所述系统包括：被测设备和误码测试仪；
所述被测设备，用于将被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式；将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；其中，M不大于N，N为根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值，N和M为整数；
所述误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
其中，所述E1/T1业务口串联路数N不大于第一串联路数N1和第二串联路数N2中的较小值，其中，第一串联路数N1根据链路中的时延不大于链路最大时延确定，第二串联路数N2根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定，N1和N2为整数。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
综上所述，本发明通过链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口最大串联路数N，并对ETH接口上不大于N路EI/TI口进行串联，能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源。
附图说明
图1为现有技术中电路仿真业务测试系统结构示意图；
图2为本发明实施例中电路仿真业务测试流程示意图；
图3为本发明具体实施例中当M＝N时第一种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；
图4为本发明具体实施例中当M＝N时第二种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；
图5为本发明具体实施例中当M＝N时第三种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；
图6为本发明具体实施例中当M＜N时第一种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；
图7为本发明具体实施例中电路仿真业务测试系统结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明所述方案作进一步地详细说明。
参见图2，图2为本发明实施例中电路仿真业务测试流程示意图。具体步骤为：
步骤201，根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值N，N为整数。
步骤202，将被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式，其中，M不大于N，M为整数。
本步骤中的封包格式如SAToP、CESoP、TDMoIP等。
步骤203，将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪。
步骤204，将被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口。
步骤205，误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
步骤201中根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数N的方法：
根据链路中的时延不大于链路最大时延确定第一串联路数N1，根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定第二串联路数N2，E1/T1业务口串联路数N不大于N1和N2中的较小值。
下面举具体实施例描述N的确定方法，以TDM格式为E1，封装格式为SAToP封装为例。
据误码性能可知，链路中的时延不得大于50ms，否则链路中会报误码。因此N1计算方法如下：
N 1 = D A * ( L + B )
D为链路中最大时延；B为jitter buffer的最小值，jitter buffer的取值范围为[0.05ms，250ms]，A值取决于链路连接的单双向，若单向取值为1，双向取值为2；L为每个时隙的时长。
计算N2的方法如下：
BW = T * ( E + 50 ) E Kbit / s , 其中，BW为接口带宽，E为净荷封装字节数，T为E1基群速率，50指以太网帧中的开销字节。
BW*N2的值应不大于上联ETH带宽，如100M。
N 2 = BW 1 BW , 其中，BW1为上联ETH带宽。
E1/T1业务口串联路数N不大于N1和N2中的较小值。
步骤202中被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联有如下几种方式：
第一种，被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
第二种，被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
第三种，被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
下面参见附图，对这三种串联方式进行详细描述。在实际测试时，被测设备可以是两台DUT，也可以是多台DUT，根据具体使用环境进行确定，DUT之间通过PSN网络传输E1/T1业务，下面以两台DUT进行测试举例。
参见图3，图3为本发明具体实施例中当M＝N时第一种串联方式电路仿真业务测试结构示意图。
图3中将被测设备301的被测线路侧的ETH接口上的每个E1/T1业务口与被测设备支路侧的M路E1/T1业务口建立一一对应关系，采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪301，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备的ETH接口。
误码测试仪302通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。在测试时E1/T1业务流向如图3，E1/T1业务从与测试误码仪302相连的第1路发并通过PSN网络传输，第2路通过PSN网络接，然后第2路发通过PSN网络传输，第3路通过PSN网络接，直到第M-1路发并通过PSN网络传输，第M路通过PSN网络接，第M路发通过PSN网络传输，与误码测试仪相连的第1路通过PSN网络接，完成该次测试。在PSN网络中E1/T1业务传输时采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。
参见图4，图4为本发明具体实施例中当M＝N时第二种串联方式电路仿真业务测试结构示意图。
图4中，将被测设备401的被测设备线路侧的ETH接口上的每个E1/T1业务口与设备支路侧的M路E1/T1业务口建立一一对应关系，采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪402，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备的ETH接口。
误码测试仪402通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。在测试时E1/T1业务流向如图4，E1/T1业务从与测试误码仪402相连的第1路发并通过PSN网络传输，第2路通过PSN网络接，然后第2路发并通过PSN网络传输，第3路通过PSN网络接，直到第M-1路发并通过PSN网络传输，第M路通过PSN网络接，第M路发并通过PSN网络传输，与误码测试仪相连的第1路通过PSN网络接，完成该次测试。在PSN网络中E1/T1业务传输时采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。
第1路发，第2路接，然后第2路发第3路接，直到第M-1路发第M路接，第M路发与误码测试仪相连的第1路接，完成该次测试。
参见图5，图5为本发明具体实施例中当M＝N时第三种串联方式电路仿真业务测试结构示意图。
图5中将被测设备501的被测设备线路侧的ETH接口上的每个E1/T1业务口与设备支路侧的M路E1/T1业务口建立一一对应关系，采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单方向串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪502，设备线路侧的ETH接口对接被测设备的ETH接口。
误码测试仪502通过M路E1/T1业务口单方向串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。在测试时E1/T1业务方向如图5，E1/T1业务从与测试误码仪502相连的第1路发并通过PSN网络传输，第2路通过PSN网络接，然后第2路发并通过PSN网络传输，第3路通过PSN网络接，直到第M-1路发并通过PSN网络传输，第M路通过PSN网络接，第M路发并通过PSN网络传输，与误码测试仪相连的第1路通过PSN网络接，完成该次测试。在PSN网络中E1/T1业务传输时采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。
参见图6，图6为本发明具体实施例中当M＜N时第一种串联方式电路仿真业务测试结构示意图。
根据边界值方法，将被测设备601的被测设备线路侧的ETH接口上选取的M个E1/T1业务口与被测设备支路侧的M路E1/T1业务口建立一一对应关系，采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备的ETH接口。
误码测试仪602通过M路E1/T1业务口单方向串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
如图6中M值取6，根据具体实际应用，可以随机取小于N的M，即随机选几路E1/T1业务口进行串联并测试，在该实施例中假设N大于6。在测试时E1/T1业务方向如图6，E1/T1业务从与测试误码仪602相连的第1路发并通过PSN网络传输，第2路通过PSN网络接，然后第2路发并通过PSN网络传输，第3路通过PSN网络接，直到第6路发并通过PSN网络传输与误码测试仪相连的第1路通过PSN网络接，完成该次测试。在PSN网络中E1/T1业务传输时采用一致的封包格式，如SAToP、CESoP、TDMoIP。
本发明具体实施例中误码测试仪进行测试后输出的业务时延，与链路中理论时延比较，确定测试结果等同现有实现一致，这里不再赘述。
参见图7，图7为本发明具体实施例中电路仿真业务测试系统结构示意图，该系统包括：被测设备701和误码测试仪702。
被测设备701，用于将被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式；将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪702，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；其中，M不大于N，N为根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数，N和M为整数；
误码测试仪702，用于通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
较佳地，
E1/T1业务口串联路数N不大于第一串联路数N1和第二串联路数N2中的较小值，其中，第一串联路数N1根据链路中的时延不大于链路最大时延确定，第二串联路数N2根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定，N1和N2为整数。
较佳地，
被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
较佳地，
被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
较佳地，
被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
上述实施例的单元可以集成于一体，也可以分离部署；可以合并为一个单元，也可以进一步拆分成多个子单元。
综上所述，本发明通过链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口最大串联路数N，并对ETH接口上不大于N路EI/TI口进行串联，能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源，测试覆盖度全面。使用边界值方法快速验证链路中的误码性能。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电路仿真业务测试方法，其特征在于，根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值N，所述方法包括：
被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式，其中，M不大于N，M和N为整数；
被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；
误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数N的方法：
根据链路中的时延不大于链路最大时延确定第一串联路数N1，根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定第二串联路数N2，E1/T1业务口串联路数N不大于N1和N2中的较小值，N1和N2为整数。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
6.一种电路仿真业务测试系统，其特征在于，所述系统包括：被测设备和误码测试仪；
所述被测设备，用于将被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式；将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；其中，M不大于N，N为根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值，N和M为整数；
所述误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，
所述E1/T1业务口串联路数N不大于第一串联路数N1和第二串联路数N2中的较小值，其中，第一串联路数N1根据链路中的时延不大于链路最大时延确定，第二串联路数N2根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定，N1和N2为整数。
8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。
9.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。
10.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，
所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。
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