CN102410973A - 一种悬浮颗粒计数分析装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种悬浮颗粒计数分析装置,包括样品台、光源、设置在样品台上部的放大物镜、与放大物镜相连接的成像装置和固定放大物镜与成像装置的调焦装置。光源的灯珠发出的光线穿过透镜后可以形成一个平行的光路,从而保证成像装置获取的图像不会出现中心亮四周黑的问题;样品台的移动台可以通过滑块在底座上的滑道上滑动,所以在检测完载玻片的一个测量槽后,可以调整移动台检测载玻片的另一个测量槽,而不需要反复的更换载玻片,提高了工作效率;调焦装置的支架和固定部通过调节板和螺栓连接在一起,工作人员使用工具对螺栓进行调整,一旦调试好以后,工作人员就不能够自行进行调整,从而保证了调试后可以长期稳定的保持焦距结构不变。

Description

一种悬浮颗粒计数分析装置
技术领域
本发明涉及悬浮颗粒计数领域,更具体的说,涉及悬浮颗粒计数分析装置。
背景技术
悬浮颗粒计数分析仪是用于对悬浮颗粒进行计数和分析的装置,该装置主要包括光源、样品台、放大物镜、成像装置和识别技术系统。其中,样品台用于盛放具有多个测量槽的载玻片;光源设置在样品台的下部,给样品台提供必备的光线;放大物镜设置在样品台的上方,用于放大样品台上的样品;成像装置与放大物镜相连接,用于获取经过放大物镜放大后的影像资料;识别技术系统与成像装置连接,用于识别成像装置获取到的影像资料,并按照识别技术系统内预设的软件进行相应的分析和计算。
在实验过程中,工作人员需要将样品放在样品台上,然后打开光源,使光源的光线照射至样品台上;通过调整放大物镜的高度来调整焦距,然后通过成像装置获取样品的图像,以使识别技术系统对该图像进行识别。
在对现有技术的研究和实践过程中,本发明的发明人发现现有技术存在以下问题:
首先,由于光源的结构通常采用凹面镜反射式光源,所以成像装置在获取图像时,会出现中心亮四周黑的成像质量不一致的情况,从而会影响后续图像分析的结果。
其次,现有的样品台通常为非移动式的,工作人员在测量完样品台上面载玻片的一个测量槽后,需要将该载玻片卸下,然后移动该载玻片,使该载玻片的另一个测量槽对准放大物镜,并将该载玻片再次固定在样品台上后,才能对该载玻片的另一个测量槽进行测量。所以要实现对具有多个测量槽的载玻片进行多次测量,则需要工作人员多次拆卸和安装载玻片,从而给工作人员带来不便。
再次,现有的成像装置与放大物镜为可实现上下移动的一体结构,工作人员通过手轮调焦装置来提升或降低放大物镜和成像装置的高度,以实现人工手动调焦。但因个人的视力不同或所测试颗粒的光学性能不同等原因,每次调焦的随意性太大,实验数据的可对比性差,精确度低。
因此,如何解决上述悬浮颗粒计数分析装置的缺点,成为目前最需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的设计目的在于,提供一种悬浮颗粒计数分析装置,以使光源提供的亮度分布均匀,避免工作人员需要多次更换样品,以及提高实验数据的精确度。
本发明实施例是这样实现的:
一种悬浮颗粒计数分析装置,包括样品台、设置在所述样品台底部的光源、设置在所述样品台上部的放大物镜、与所述放大物镜相连接的成像装置和固定所述放大物镜与成像装置的调焦装置;
所述光源包括灯珠、透镜、镜架和灯架,其中,所述灯珠和镜架设置在所述灯架内部的安装孔中,所述透镜固定在所述镜架的中心,所述镜架可相对于所述灯架移动;
所述样品台包括移动台和底座,所述底座上设置有滑道,所述移动台的下部设置有与所述滑道相适配的滑块;
所述调焦装置包括支架和固定部,所述固定部上设置有固定所述放大物镜和成像装置的夹持部,所述支架上设置有调节板,所述固定部与所述调节板通过所述螺栓连接。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述镜架和灯架通过螺纹相互移动。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述镜架的外表面设置有弹性套圈或锁紧螺母,所述弹性套圈或锁紧螺母的外径大于所述灯架内安装孔的内径。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述样品台的移动台上设置有齿条;
所述底座上设置有齿轮轴套,所述齿轮轴套中装有齿轮;
所述齿轮的一端与手轮相连接,另一端与所述齿条相啮合。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述底座包括底板、设置在所述底板上的两个导轨支板、设置在所述导轨支板上的导轨和设置在所述导轨支板上的定位销;
所述移动台上设置有多个与所述定位销相适配的卡槽。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述底座还包括导轨拉紧块;
所述导轨拉紧块的两端分别与所述两个导轨支板相连接。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述移动台上设置有压板;
所述压板通过螺栓与所述移动台相连接。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述支架设置在所述样品台的底座上,且所述支架设置有导轨;
所述固定部上设置有与所述导轨相适配的滑块。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述固定部与所述调节板之间设置有弹簧。
优选地,在上述的悬浮颗粒计数分析装置中,所述螺栓依次穿过所述调节板和所述弹簧后与所述固定部相连接。
与现有技术相比,本发明实施例提供的技术方案具有以下优点和特点:
首先,光源的灯珠发出的光线穿过透镜后可以形成一个平行的光路,所以经过透镜的光线打在样品台上,光线的分布是均匀的,从而保证成像装置获取的图像不会出现中心亮四周黑的问题;
其次,样品台的移动台可以通过滑块在底座上的滑道上滑动。实验人员可以将需要测量的样品同时加注在同一载玻片的不同测量槽中,在检测完一个测量槽中的样品后,可以调整移动台检测该载玻片的另一个测量槽中的样品,而不需要反复的拆卸和安装载玻片,从而提高了工作效率;
再次,调焦装置的支架和固定部通过调节板和螺栓连接在一起,在初始安装时,工作人员可以使用工具对螺栓进行调整,以进行初始焦距测试的调试。由于没有手动调节装置,所以一旦调试好以后,工作人员就不能够自行进行调整,从而保证了调试后可以长期稳定的保持焦距结构不变。这样就使初始调试后的所有实验数据都是基于同一的成像焦距基础,消除了人工调焦误差对实验数据对比性的影响。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明所提供的悬浮颗粒计数分析装置的示意图;
图2为本发明所提供的光源的拆分示意图;
图3为本发明所提供的光源的组合示意图;
图4为本发明所提供的样品台的拆分示意图;
图5为本发明所提供的样品台的组合示意图;
图6为本发明所提供的调焦装置的拆分示意图;
图7为本发明所提供的调焦装置的组合示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种悬浮颗粒计数分析装置,该装置包括样品台、设置在所述样品台底部的光源、设置在所述样品台上部的放大物镜、与所述放大物镜相连接的成像装置和固定所述放大物镜与成像装置的调焦装置。
由于上述悬浮颗粒计数分析装置的具体实现存在多种方式,下面通过具体实施例进行详细说明:
请参见图1至图7所示,图1所示的为本发明提供的一种悬浮颗粒计数分析装置,包括样品台2、设置在所述样品台2底部的光源1、设置在所述样品台2上部的放大物镜3、与所述放大物镜3相连接的成像装置4和固定所述放大物镜3与成像装置4的调焦装置5;其中,所述光源1包括灯珠11、透镜14、镜架13和灯架12,其中,所述灯珠11和镜架13设置在所述灯架12内部的安装孔中,所述透镜14固定在所述镜架13的中心,所述镜架13可相对于所述灯架12移动;所述样品台2包括移动台21和底座22,所述底座22上设置有滑道221,所述移动台21的下部设置有与所述滑道221相适配的滑块211;所述调焦装置5包括支架51和固定部52,所述固定部52上设置有固定所述放大物镜3和成像装置4的夹持部521,所述支架51上设置有调节板511,所述固定部52与所述调节板511通过所述螺栓53连接。
在图1至图7所示的实施例中,首先,光源1的灯珠11发出的光线穿过透镜14后可以形成一个平行的光路,所以经过透镜14的光线照在样品台2上放置的测量载玻片上,光线的分布是均匀的,从而保证成像装置4获取的图像不会出现中心亮四周黑的问题;其次,样品台2的移动台21可以通过滑块211在底座上的滑道221上滑动,从而工作人员可以在样品台2上放置具有多个测量槽的载玻片,在检测完载玻片的一个测量槽中的样品后,可以调整移动台21检测该载玻片的另一个测量槽中的样品,而不需要反复的拆卸和安装载玻片,从而提高了工作效率;再次,调焦装置5的支架51和固定部52通过调节板511和螺栓53连接在一起,在初始安装时,工作人员可以使用工具对螺栓53进行调整,以进行初始焦距测试的调试。由于没有手动调节装置,所以一旦调试好以后,工作人员就不能够自行进行调整,从而保证了调试后可以长期稳定的保持焦距结构不变。这样就使初始调试后的所有实验数据都是基于同一的成像焦距基础,消除了人工调焦误差对实验数据对比性的影响。
请参见图2和图3所示,镜架13相对于灯架12移动的方式有很多种。本发明提供了一种具体的方式,即在镜架13的外表面设置有弹性套圈15,该弹性套圈15的外径大于灯架12内安装孔的内径。由于套圈15是具有弹性的,所以工作人员可以将套圈15设置在镜架13的不同位置上,以便于套圈15卡在灯架12上,从而实现了镜架13的位置调节,而且镜架13在固定以后不会变动。其中,还可以将套圈15替换成锁紧螺母,同样可以实现。当然,也可以在光源1的镜架13的外表面设置螺纹,并且在灯架12的安装孔的内表面设置螺纹,使镜架13和灯架12通过螺纹相互移动。上述两种具体的实现方案仅仅是本发明提供的优选实施例,只要能够实现镜架13和灯架12相互移动的结构均属于本发明的保护范围。
请参见图4和图5所示,图4和图5所示的为样品台2,为了使样品台2的移动台21在底座22上移动的更加便于工作人员掌握,可以通过齿轮的方式进行调整。其中,可以在样品台2的移动台21上设置齿条212,并在底座22上设置齿轮轴套222,所述齿轮轴套222中装有齿轮223;所述齿轮223的一端与手轮224相连接,另一端与所述齿条212相啮合。这样,工作人员就可以通过转动手轮224来调整移动台21,使移动台21向前或向后移动。
在图4和图5所示的实施例中,所述底座22包括底板225、设置在所述底板225上的两个导轨支板226、设置在所述导轨支板226上的导轨221和设置在所述导轨支板226上的定位销227,而且所述移动台21上设置有多个与所述定位销227相适配的卡槽,卡槽在图中没有示出。其中,定位销227是有弹性的,移动台21在前后移动时,定位销227可起定位的作用,通过将定位销227插入移动台21的卡槽中来实现定位功能。移动台21上设置的卡槽的位置一般与采用的载玻片上测量槽的位置相对应。在移动台21滑动至某一个测量槽对应放大物镜3的位置时,定位销227弹出卡入至移动台21上设置的卡槽中,以使移动台21受到定位销227摩擦力增大的影响而难以相对移动。待工作人员检测完以后,工作人员加大力量转动手轮224以移动移动台21,此时,定位销227从卡槽中缩回,使移动台21脱离定位销227的影响,从而使移动台21可再次移动到下一定位槽。
在图4和图5所示的实施例中,底座22还包括导轨拉紧块228,其中,所述导轨拉紧块228的两端分别与所述两个导轨支板226相连接,该导轨拉紧块228起到固定两个导轨支板226的作用,因为导轨支板226在使用过程中可能会存在一定的倾斜或斜度,所以通过导轨拉紧块228加以固定,避免出现由于斜度或倾斜而引起的测量误差。关于导轨拉紧块228的数量可以根据具体的实际情况而定,在此不作具体的限定。
在图4和图5所示的实施例中,移动台21上还设置有压板213,其中,压板213通过螺栓与移动台21相连接。压板213用于压住具有样品的载玻片。
请参见图4、图6和图7所示,支架51设置在所述样品台2的底座22上。为了保证调焦装置5的固定部52在支架51上平稳的移动,可以利用导轨和滑块的方式使二者相对移动,从而保证了调焦装置5的精确性。具体的结构请参见图6所示,所述支架51设置有导轨512,所述固定部52上设置有与所述导轨512相适配的滑块522。
在图6和图7所示的实施例中,在调整螺栓53时,为了使下降的速度更慢,调节的精度更高,所以可以在固定部52与所述调节板511之间设置弹簧513,这样下降的阻力会增加,以便于调节螺栓53时的速度更慢,以达到调节更精确的效果。为了使弹簧513在被压缩时,不会处于扭曲状态,所以可以使螺栓53依次穿过所述调节板511和所述弹簧513后再与所述固定部52相连接。
需要说明的是,图1至图7所示的实施例只是本发明所介绍的优选实施例,本领域技术人员在此基础上,完全可以设计出更多的实施例,因此不在此处赘述。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,包括样品台、设置在所述样品台底部的光源、设置在所述样品台上部的放大物镜、与所述放大物镜相连接的成像装置和固定所述放大物镜与成像装置的调焦装置;
所述光源包括灯珠、透镜、镜架和灯架,其中,所述灯珠和镜架设置在所述灯架内部的安装孔中,所述透镜固定在所述镜架的中心,所述镜架可相对于所述灯架移动;
所述样品台包括移动台和底座,所述底座上设置有滑道,所述移动台的下部设置有与所述滑道相适配的滑块;
所述调焦装置包括支架和固定部,所述固定部上设置有固定所述放大物镜和成像装置的夹持部,所述支架上设置有调节板,所述固定部与所述调节板通过所述螺栓连接。
2.根据权利要求1所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述镜架和灯架通过螺纹相互移动。
3.根据权利要求1所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述镜架的外表面设置有弹性套圈或锁紧螺母,所述弹性套圈或锁紧螺母的外径大于所述灯架内安装孔的内径。
4.根据权利要求1所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述样品台的移动台上设置有齿条;
所述底座上设置有齿轮轴套,所述齿轮轴套中装有齿轮;
所述齿轮的一端与手轮相连接,另一端与所述齿条相啮合。
5.根据权利要求4所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述底座包括底板、设置在所述底板上的两个导轨支板、设置在所述导轨支板上的导轨和设置在所述导轨支板上的定位销;
所述移动台上设置有多个与所述定位销相适配的卡槽。
6.根据权利要求5所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述底座还包括导轨拉紧块;
所述导轨拉紧块的两端分别与所述两个导轨支板相连接。
7.根据权利要求6所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述移动台上设置有压板;
所述压板通过螺栓与所述移动台相连接。
8.根据权利要求1所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述支架设置在所述样品台的底座上,且所述支架设置有导轨;
所述固定部上设置有与所述导轨相适配的滑块。
9.根据权利要求8所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述固定部与所述调节板之间设置有弹簧。
10.根据权利要求9所述的悬浮颗粒计数分析装置,其特征在于,所述螺栓依次穿过所述调节板和所述弹簧后与所述固定部相连接。
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