CN203443767U - 用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。辅助定位装置包括：底座；移动台，移动台与底座可移动地连接；连接部，连接部用于固定待安装物，连接部设置在移动台上。使用本实用新型中的辅助定位装置时，待安装物（例如用于检测综合验光仪的光学检测装置）通过连接部固定在移动台上，当移动台在底座上移动时，会带动光学检测装置随移动台运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。

Description

用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统

技术领域

本实用新型涉及综合验光仪检测技术领域，更具体地，涉及一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。

背景技术

综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有：球镜顶焦度，柱镜顶焦度，棱镜度，柱镜轴位等。

综合验光仪在生产、组装、使用的过程中，其性能指标有可能发生变化，这样就会导致验光不准，从而影响验光师的判断。此时，需要采用用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置，对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。

在使用光学检测装置时，由于需要对综合验光仪的左右镜片分别进行检测，因而需要在一定范围内来回移动光学检测装置。

目前工作人员只能凭借经验通过改变光学检测装置的位置，使光学检测装置对准综合验光仪的左镜片或右镜片。这样改变光学检测装置的位置的方法存在以下问题：

1.由于仅凭经验改变光学检测装置的位置，光学检测装置定位精度差，容易导致光学检测装置与综合验光仪对准精度低，影响了光学检测装置的检测精度。

2.由于仅凭经验改变光学检测装置的位置，增加了调整光学检测装置的位置的时间、降低了工作效率、增加了工作人员的劳动强度。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统，以解决现有技术中光学检测装置定位精度差的问题。

为解决上述技术问题，根据本实用新型的一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置，包括：底座；移动台，移动台与底座可移动地连接；连接部，连接部用于固定待安装物，连接部设置在移动台上。

进一步地，底座包括：盒体，移动台滑动设置在盒体内；顶盖，顶盖包覆在移动台上，顶盖具有避让孔，连接部具有伸出部，伸出部通过避让孔从顶盖上伸出，顶盖遮盖盒体的顶部的一部分。

进一步地，移动台与顶盖之间具有容纳空间；底座还包括保护盖，保护盖与盒体连接、并位于盒体的顶部所在的一端，保护盖的至少一部分位于容纳空间内。

进一步地，辅助定位装置还包括用于限制移动台行程的限位部，限位部设置在盒体内并与移动台抵接或分离。

进一步地，限位部包括限位环，限位环设置在盒体内、并位于移动台的下方；移动台包括本体和限位挡片，限位挡片的个数为两个，两个限位挡片沿移动台的运动方向分别设置在本体的两端，限位挡片与限位环抵接或分离。

进一步地，限位部包括限位挡板，限位挡板为两个，两个限位挡板沿移动台的运动方向设置在盒体内，移动台位于两个限位挡板之间。

进一步地，辅助定位装置还包括导向部，导向部设置在盒体内，移动台沿导向部滑动设置。

进一步地，导向部为导向滑轨，移动台与导向滑轨滑动连接。

进一步地，移动台包括本体和滚轮，滚轮为多个，多个滚轮可枢转地设置在本体的两侧；导向部为具有导向槽的导轨，滚轮可滚动地设置在导向槽内。

根据本实用新型的另一个方面，提供了一种光学检测系统，包括光学检测装置，光学检测系统还包括上述的用于检测综合验光仪的辅助定位装置，光学检测装置与用于检测综合验光仪的辅助定位装置的连接部连接。

本实用新型中的移动台可移动地设置在底座上，用于固定待安装物的连接部设置在移动台上。使用本实用新型中的辅助定位装置时，待安装物（例如用于检测综合验光仪的光学检测装置）通过连接部固定在移动台上，当移动台在底座上移动时，会带动光学检测装置随移动台运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。同时，本实用新型中的辅助定位装置具有结构简单、制造成本低的特点。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示意性示出了本实用新型中的辅助定位装置的结构示意图；

图2示意性示出了本实用新型中的辅助定位装置的内部结构示意图；

图3示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的一个局部结构示意图；

图4示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的另一个局部结构示意图；以及

图5示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的剖视图。

图中附图标记：10、底座；11、盒体；12、顶盖；12a、避让孔；13、保护盖；20、移动台；21、本体；22、限位挡片；23、滚轮；30、连接部；40、限位部；41、限位环；42、限位挡板；50、导向部；51、导向槽；100、基座；200、光学系统；210、调焦元件；220、第一物镜；230、第一反光元件；240、分光元件；250、第二物镜；260、成像元件；270、第二反光元件；280、光阑；300、发光装置；310、分划板；320、光源；400、测量单元；500、平行光管；510、透光孔；600、导向管；610、限位槽；700、导杆；710、第二旋钮。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

作为本实用新型的第一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置。如图1和图2所示，辅助定位装置包括：底座10；移动台20，移动台20与底座10可移动地连接；连接部30，连接部30用于固定待安装物，连接部30设置在移动台20上。使用本实用新型中的辅助定位装置时，待安装物（例如用于检测综合验光仪的光学检测装置）通过连接部30固定在移动台20上，当移动台20在底座10上移动时，会带动光学检测装置随移动台20运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。同时，本实用新型中的辅助定位装置具有结构简单、制造成本低的特点。

如图1和图2所示的实施例中，底座10包括：盒体11，移动台20滑动设置在盒体11内；顶盖12，顶盖12包覆在移动台20上，顶盖12具有避让孔12a，连接部30具有伸出部，伸出部通过避让孔12a从顶盖12上伸出，顶盖12遮盖盒体11的顶部的一部分。由于移动台20滑动设置在盒体11内，因而移动台20的运动行程被限定在盒体11的空间内，从而保证了移动台20的运行稳定性和使用可靠性。由于顶盖12包覆在移动台20上，因而移动台20位于顶盖12与盒体11之间的容纳腔中，从而保证移动台20不会受到外界异物的撞击而损毁，延长了移动台20的使用寿命，并提高了移动台20的运行稳定性。由于顶盖12具有避让孔12a，因而连接部30可以穿过避让孔12a从顶盖12内伸出，从而方便工作人员将光学检测装置与连接部30连接、提高了辅助定位装置的使用可靠性。

如图1和图2所示的实施例中，移动台20与顶盖12之间具有容纳空间；底座10还包括保护盖13，保护盖13与盒体11连接、并位于盒体11的顶部所在的一端，保护盖13的一部分位于容纳空间内。由于保护盖13的至少一部分位于容纳空间内，因而移动台20带动顶盖12运动时，保护盖13不会阻碍移动台20的运动，从而保证了移动台20的运行稳定性。由于设置有保护盖13，因而当辅助定位装置不使用时，工作人员可将顶盖12推放至盒体11的顶部的上述一端相对的一端，从而使顶盖12与保护盖13将盒体11的顶部覆盖，从而防止外界异物进入盒体11的容纳腔中，进而避免移动台20运动受阻、提高了移动台20的运行稳定性。

本实用新型中的辅助定位装置还包括用于限制移动台20行程的限位部40，限位部40设置在盒体11内、并与移动台20抵接或分离（请参考图2）。由于设置有限位部40，因而当移动台20与限位部40抵接时，移动台20停止运动，从而防止移动台20撞到盒体11的侧壁，进而延长了底座10的使用寿命。由于工作人员可以通过改变限位部40的位置来控制移动台20的运动行程，因而提高了辅助定位装置的使用可靠性。

如图2所示的实施例中，限位部40包括限位环41，限位环41设置在盒体11内、并位于移动台20的下方；移动台20包括本体21和限位挡片22，限位挡片22的个数为两个，两个限位挡片22沿移动台20的运动方向分别设置在本体21的两端，限位挡片22与限位环41抵接或分离。优选地，限位环41设置在盒体11的中部、且位于两个限位挡片22之间。由于移动台20的本体21的两端均设置有限位挡片22，因而当移动台20运动时，当限位挡片22与限位环41抵接时，移动台20停止运动，从而限制了移动台20的运动行程。工作人员通过改变限位环41的直径大小可以改变移动台20的运动行程，从而扩大了辅助定位装置的使用范围。

如图2所示的实施例中，限位部40包括限位挡板42，限位挡板42为两个，两个限位挡板42沿移动台20的运动方向设置在盒体11内，移动台20位于两个限位挡板42之间。由于移动台20位于两个限位挡板42之间，且当移动台20抵靠在限位挡板42上时会立即停止运动，因而通过改变限位挡板42之间的距离，可以改变移动台20的运动行程。

本实用新型中的辅助定位装置还包括导向部50，导向部50设置在盒体11内，移动台20沿导向部50滑动设置（请参考图2）。由于移动台20沿导向部50滑动设置，因而提高了移动台20的运行稳定性，从而保证了辅助定位装置的使用可靠性。

在一未图示的实施例中，导向部50为导向滑轨，移动台20与导向滑轨滑动连接。由于移动台20与导向滑轨滑动连接，因而移动台20沿导向滑轨的延伸方向运动，保证了移动台20的运行稳定性，从而保证了光学检测装置的定位可靠性、保证了检测精度。

如图2所示的实施例中，移动台20包括本体21和滚轮23，滚轮23为多个，多个滚轮23可枢转地设置在本体21的两侧；导向部50为具有导向槽51的导轨，滚轮23可滚动地设置在导向槽51内。由于导轨具有导向槽51，因而移动台20沿导向槽51运动时，不会出现脱轨的问题，从而提高了移动台20的运行稳定性。由于本体21通过滚轮23与导轨可滚动地设置，因而减小了移动台20与导向部50的摩擦力、减小了运行阻力，从而提高了移动台20的运行稳定性，进而提高了辅助定位装置的使用可靠性。

作为本实用新型的第二个方面，提供了一种光学检测系统。光学检测系统包括光学检测装置，光学检测系统还包括上述的用于检测综合验光仪的辅助定位装置，光学检测装置与用于检测综合验光仪的辅助定位装置的连接部30连接。

在使用本实用新型中的光学检测系统时，由于需要对综合验光仪的左右镜片分别进行检测，因而需要在一定范围内来回移动光学检测装置。优选地，可以将辅助定位装置的移动台20的运动行程设定的与综合验光仪的左右镜之间的距离相等。工作人员通过将光学检测装置安装在辅助系统上，通过改变辅助定位装置的移动台20的位置，可以改变光学检测装置的位置，从而使光学检测装置与综合验光仪的左镜片或右镜片对准，进而提高了光学检测装置的定位精度、保证了光学检测装置的检测精度、减少了光学检测装置的位置调整时间、提高了工作人员的工作效率。

如图3至图5所示，本实用新型中的光学检测装置包括：基座100；光学系统200，光学系统200设置在基座100上，光学系统200包括调焦元件210；发光装置300，发光装置300为上述的发光装置，发光装置300的设置在基座100上，且发光装置300朝向光学系统200的入射光口设置；测量单元400，用于检测光学系统200的调焦元件210的移动距离。由于设置有基座100，因而工作人员在测试待检测设备时，可以通过调节基座100，以使光学检测装置水平放置，从而保证检测精度。

本实用新型中的基座100的底部设置有连接孔，该连接孔与辅助定位装置的连接部30连接。优选地，连接部30为螺纹柱，连接孔具有与螺纹柱配合的内螺纹。由于辅助定位装置与光学检测装置螺纹连接，因而辅助定位装置与光学检测装置具有连接可靠性高、定位精准的特点。

优选地，连接部30为套设有橡胶圈的定位柱，定位柱卡设在基座100的连接孔内。由于辅助定位装置与光学检测装置卡接，且定位柱套设有橡胶圈，因而定位柱卡在连接孔内后会因为橡胶圈而胀紧，从而保证了辅助定位装置与光学检测装置的连接可靠性。

如图3至图5所示的实施例中，光学系统200包括：分光元件240、第一物镜220、第一反光元件230、调焦元件210、第二物镜250、成像元件260、第二反光元件270和光阑280。其中，第一反光元件230设置在分光元件240和第一物镜220之间，且分光元件240和第一物镜220均位于第一反光元件230的反射光路中；发光装置300的分划板310上具有基准图案，分划板310位于分光元件240的反射光路中，且分划板310设置于第一物镜220的物方焦点上；第一物镜220设置在调焦元件210和第一反光元件230之间；，第二物镜250设置在调焦元件210和第一物镜220之间，调焦元件210与第二物镜250之间的距离可调节；光阑280设置在第一物镜220和第二物镜250之间；第二反光元件270设置在调焦元件210与第二物镜250之间，且调焦元件210与第二物镜250位于第二反光元件270的反射光路中；成像元件260，位于分光元件240的出射光路中。当在光路中不放入待检测设备时，分划板310被照明后，光线经过分光元件240、第一反光元件230进入第一物镜220后成像于无穷远，再经过第二物镜250，成像于可移动的调焦元件210上，此时，光线被调焦元件210反射，经过第二物镜250、第一物镜220、第一反光元件230、分光元件240后成像于成像元件260上。

采用本实用新型中的光学系统200对待检测设备进行检测（待检测的综合验光仪的被测顶焦度部位0m^-1）时，首先需要将待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜220与第二物镜250之间（应注意：待检测设备的参考面应与第二物镜250的前焦平面相重合），通过调节调焦元件210与第二物镜250之间的距离，使光路准直，从而可以使分划板310上基准图案清晰的呈现在成像元件260上，根据调节调焦元件210与第二物镜250之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，进而对待检测设备进行量化的判断。同时，本实用新型中的光学系统200具有结构简单的特点。

优选地，第二物镜250是聚焦物镜。进一步地，第二物镜250是双高斯镜头。由于增加了折转光路，因而采用聚焦物镜能使分划板310的基准图案在较短的光路中被反射到成像元件260上，并显示出来。

优选地，成像元件260是电荷耦合元件（也就是CCD）。当然，成像元件260还可以是目镜。如果采用目镜观察并判断分划板310的基准图案的清晰度，需要工作人员用人眼进行识别，这样不仅容易造成人眼疲劳，还存在判断误差。而采用电荷耦合元件接收分划板310的基准图案，是将光转化为电信号并输出给外部设备，而后经过处理使电信号转换为图像呈现在计算机上上，工作人员通过计算机辅助设备，可以进行精确的判断，因而采用电荷耦合元件使本实用新型中的光学系统200具有检测精度高的特点。

优选地，发光装置300还包括光源320，光源320与分划板310同轴设置。

优选地，分光元件240是分光棱镜。

优选地，第一物镜220是望远物镜。

优选地，第一反光元件230和/或第二反光元件270是反射镜。

优选地，调焦元件210是凹面镜。

在图3至图5所示的实施例中，测量单元400是电位器或光栅。进一步地，电位器是精密电位器，光栅是小型精密光栅。

本实用新型中的光学检测装置还包括：平行光管500和导向管600，平行光管500垂直设置在基座100上，平行光管500具有透光孔510，光学系统200的分光元件240设置在平行光管500内，分划板310、透光孔510和分光元件240同轴设置，光学系统200的第一反光元件230和第一物镜220设置在平行光管500的上端，成像元件260设置在平行光管500的下端；导向管600的第一端与基座100连接，光学系统200的第二物镜250设置在导向管600的第二端，第一物镜220与第二物镜250对向且同轴设置，光学系统200的调焦元件210滑动设置在导向管600内。由于设置有平行光管500和导向管600，因而光线沿平行光管500和导向管600传播，从而起到导向的作用，且减少了光的溢散，提高了光线的利用率。光线从光源320发出后，经过分划板310、从透光孔510进入平行光管500内。

在图5所示的实施例中，光学系统200的第二反光元件270设置在导向管600的第二端。进一步地，第一反光元件230通过柔性铰链活动设置在平行光管500内，和/或第二反光元件270柔性铰链活动设置在导向管600内。由于第一反光元件230和/或第二反光元件270活动设置，因而工作人员可以根据测试情况，调节第一反光元件230和/或第二反光元件270的角度，从而满足测试要求。本实用新型中的光学检测装置具有使用可靠性高的特点。

本实用新型中的光学检测装置还包括导杆700，导杆700的至少一部分设置在导向管600内，且导杆700的第一端与调焦元件210连接（请参考图5）。由于设置有导杆700，因而方便调整调焦元件210在导向管600内的位置，从而提高了检测效率。优选地，光学检测装置还包括第二旋钮710，第二旋钮710与导杆700的第二端连接。工作人员通过操动第二旋钮710，可以对导杆700进行控制。

在图5所示的实施例中，导向管600的侧壁上具有限位槽610，限位槽610沿导向管600的长度方向设置。进一步地，导杆700包括位置可调节的第一导杆和第二导杆，第一导杆的第一端与调焦元件210连接，第一导杆的第二端与第二导杆的第一端螺纹连接，第二导杆的第二端与第二旋钮710连接，且插销的一端滑动设置在限位槽610内，插销的另一端与第一导杆连接。由于第一导杆通过插销与导向管600滑动连接，因而第一导杆仅会沿导向管600的长度方向移动，但不会相对于导向管600转动，工作人员转动第二旋钮710时，第二导杆会随着第二旋钮710旋转，从而使第一导杆沿导向管600上下移动。

优选地，采用电荷耦合元件接收到的图像，还可以采用DSP实现清晰度的判定算法的设计，从而实现后清晰度判定，进而实现精密定焦。

优选地，光学检测装置还包括显示单元，以显示成像元件260获取的图像。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置，其特征在于，包括：

底座（10）；

移动台（20），所述移动台（20）与所述底座（10）可移动地连接；

连接部（30），所述连接部（30）用于固定待安装物，所述连接部（30）设置在所述移动台（20）上。

2.根据权利要求1所述的辅助定位装置，其特征在于，所述底座（10）包括：

盒体（11），所述移动台（20）滑动设置在所述盒体（11）内；

顶盖（12），所述顶盖（12）包覆在所述移动台（20）上，所述顶盖（12）具有避让孔（12a），所述连接部（30）具有伸出部，所述伸出部通过所述避让孔（12a）从所述顶盖（12）上伸出，所述顶盖（12）遮盖所述盒体（11）的顶部的一部分。

3.根据权利要求2所述的辅助定位装置，其特征在于，所述移动台（20）与所述顶盖（12）之间具有容纳空间；所述底座（10）还包括保护盖（13），所述保护盖（13）与所述盒体（11）连接、并位于所述盒体（11）的所述顶部所在的一端，所述保护盖（13）的至少一部分位于所述容纳空间内。

4.根据权利要求2所述的辅助定位装置，其特征在于，所述辅助定位装置还包括用于限制所述移动台（20）行程的限位部（40），所述限位部（40）设置在所述盒体（11）内并与所述移动台（20）抵接或分离。

5.根据权利要求4所述的辅助定位装置，其特征在于，

所述限位部（40）包括限位环（41），所述限位环（41）设置在所述盒体（11）内、并位于所述移动台（20）的下方；

所述移动台（20）包括本体（21）和限位挡片（22），所述限位挡片（22）的个数为两个，两个所述限位挡片（22）沿所述移动台（20）的运动方向分别设置在所述本体（21）的两端，所述限位挡片（22）与所述限位环（41）抵接或分离。

6.根据权利要求4所述的辅助定位装置，其特征在于，所述限位部（40）包括限位挡板（42），所述限位挡板（42）为两个，两个所述限位挡板（42）沿所述移动台（20）的运动方向设置在所述盒体（11）内，所述移动台（20）位于两个所述限位挡板（42）之间。

7.根据权利要求2所述的辅助定位装置，其特征在于，所述辅助定位装置还包括导向部（50），所述导向部（50）设置在所述盒体（11）内，所述移动台（20）沿所述导向部（50）滑动设置。

8.根据权利要求7所述的辅助定位装置，其特征在于，所述导向部（50）为导向滑轨，所述移动台（20）与所述导向滑轨滑动连接。

9.根据权利要求7所述的辅助定位装置，其特征在于，

所述移动台（20）包括本体（21）和滚轮（23），所述滚轮（23）为多个，多个所述滚轮（23）可枢转地设置在所述本体（21）的两侧；

所述导向部（50）为具有导向槽（51）的导轨，所述滚轮（23）可滚动地设置在所述导向槽（51）内。

10.一种光学检测系统，包括光学检测装置，其特征在于，所述光学检测系统还包括权利要求1至9中任一项所述的用于检测综合验光仪的辅助定位装置，所述光学检测装置与所述用于检测综合验光仪的辅助定位装置的连接部（30）连接。

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