CN102387231A - 手机键盘自动测试设备以及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种手机键盘自动测试设备，该设备包括治具以及待测试的手机，其特征在于，该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚，手机具有由成x行y列排布的按键组成的键盘，控制芯片的若干管脚中的x个连接到键盘的x行，若干管脚中的y个连接到键盘的y列。本发明另提供一种利用上述设备的手机键盘自动测试方法。利用本发明，测试效率得到提升，出错率得到减少。

Description

手机键盘自动测试设备以及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试方法以及测试设备，尤其涉及一种手机键盘的自动测试方法以及实现这种方法的测试设备。
背景技术
虽然越来越多的手机采用无物理键盘的设计模式，但是，仍然有很多手机厂商设计的多种型号手机保留着物理机械键盘，原因就是物理键盘的使用会比虚拟键盘更加直观、更加精准、更加高效。
既然具有物理键盘，那在出售给最终消费者之前，就需要进行测试，目前的测试是由人工进行的，即让操作人员拿导电笔在仅有镀铜的主板上进行按键测试，效率非常低下。或者一些自动测试软件干脆跳过此项测试，对键盘的使用有效性不能确认。
一般地，是由操作员首先进入工厂模式自动测试按键界面，然后操作员利用按键笔对主板上的各个按键进行点击动作，按键测试界面上的各个按键在点击动作下被消除，完成后测试通过。缺点在于按键笔的导通性会随着使用而磨损，从而影响点击的有效性，另人工点击动作的时间比较长，影响测试效率。
本发明则提供一种新的方式用以改善或解决上述的问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于提供一种效率高且测试准确的手机键盘测试方法以及实现该方法的测试设备。
本发明通过这样的技术方案解决上述的技术问题：
提供一种手机键盘自动测试设备，该设备包括治具以及待测试的手机该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚，手机具有由成x行y列排布的按键组成的键盘，控制芯片的若干管脚中的x个连接到键盘的x行，若干管脚中的y个连接到键盘的y列。
作为一种改进，控制芯片为模拟开关芯片。
作为一种改进，键盘包括5行4列20个按键。
本发明另提供一种使用如上所述手机键盘自动测试设备的手机键盘自动测试方法，该方法包括如下步骤：提供治具，该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚；提供待测试的手机，该手机具有成x行y列的按键组成的键盘；连接控制芯片的x个管脚至键盘的x行，即，每行对应一个管脚；连接控制芯片的y个管脚趾键盘的y列，即，每列对应一个管脚；导通或者断开控制芯片的x个管脚中的一个以及y个管脚中的一个测试对应按键；重复上述动作，直到所有按键被测试通过。
与现有技术相比较，本发明具有以下优点：利用控制芯片进行检测，可提高效率，减少出错率。
附图说明
图1是本发明手机键盘自动测试设备的原理架构图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的具体实施方式。
请参图1，本发明手机键盘自动测试设备10包括测试治具11以及待测试的手机12。其中测试治具11内置控制芯片110，手机12具有键盘120，键盘120是由成行(x)成列(y)的按键组成，每个按键定义为按键120(m，n)，即位于键盘120中第m行第n列的按键。
控制芯片110具有若干管脚，分别连接到上述成行成列的按键上。
于本实施方式中，键盘120为5行4列共20个案件，控制芯片110的管脚则有5个管脚110a～110e控制5行，另有4个管脚110f～110i控制4列，如图中所示。
进行测试时，先让手机12进入工厂模式下自动测试按键测试界面，然后对控制芯片110发出指令，依次导通和断开某一行和某一列，这样就可以测试位于该行该列的按键的导通或者断开，如果能够正常断开或者导通，则测试界面上对应的虚拟按键消失，如此执行其他行其它列，直到所有虚拟按键消失，测试过程完毕。利用这种设备，可快速进行测试，大大提升测试效率，且出错几率极小。于本实施方式中，控制芯片为模拟开关芯片。
为本发明手机键盘自动测试方法的具体步骤，步骤如下：
提供治具，该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚；
提供待测试的手机，该手机具有成x行y列的按键组成的键盘；
连接控制芯片的x个管脚至键盘的x行，即，每行对应一个管脚；
连接控制芯片的y个管脚趾键盘的y列，即，每列对应一个管脚；
导通或者断开控制芯片的x个管脚中的一个以及y个管脚中的一个测试对应按键；
重复上述动作，直到所有按键被测试通过。
利用本发明，提升测试效率，减小测试出错率。
以上所述仅为本发明的较佳实施方式，本发明的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本发明所揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。

Claims (6)

1.一种手机键盘自动测试设备，该设备包括治具以及待测试的手机，其特征在于，该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚，手机具有由成x行y列排布的按键组成的键盘，控制芯片的若干管脚中的x个连接到键盘的x行，若干管脚中的y个连接到键盘的y列。
2.根据权利要求1所述的手机键盘自动测试设备，其特征在于：控制芯片为模拟开关芯片。
3.根据权利要求1或2所述的手机键盘自动测试设备，其特征在于：键盘包括5行4列20个按键。
4.一种使用如权利要求1所述手机键盘自动测试设备的手机键盘自动测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
提供治具，该治具设有控制芯片，控制芯片具有若干管脚；
提供待测试的手机，该手机具有成x行y列的按键组成的键盘；
连接控制芯片的x个管脚至键盘的x行，即，每行对应一个管脚；
连接控制芯片的y个管脚趾键盘的y列，即，每列对应一个管脚；
导通或者断开控制芯片的x个管脚中的一个以及y个管脚中的一个测试对应按键；
重复上述动作，直到所有按键被测试通过。
5.根据权利要求4所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于：控制芯片为模拟开关芯片。
6.根据权利要求4所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于：键盘包括5行4列20个按键。
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