CN102368076B - 一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备 - Google Patents

一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备，所述刷卡速度测试方法包括以下步骤：S1：采集外置磁卡信号，对所述磁卡信号进行处理后送入CPU，触发CPU产生中断，其中所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；S2：获取中断时间数据；S3：解析统计所述中断时间数据得到对应阶段的平均基准脉宽时间；S4：根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间；S5：计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度；S6：统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。采用本发明，就能够方便的测试出磁卡的运行速度，在实际使用中，使刷卡用户能够掌握准确的刷卡速度，提高刷卡成功率。

Description

一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备
技术领域
本发明涉及一种速度识别领域，尤其涉及一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备。
背景技术
现在，越来越多的人使用磁卡消费、缴费等，这给人们的生活带来了极大的方便，但是有时候，我们会遇到刷卡失败的情况，这大多数是由于刷卡的速度与读卡器的读取效率不匹配的原因，由于刷卡速度是有人工刷卡主观感觉判断的，无法直观的准确获取到，这导致会多次刷卡才能够成功，这在一定程度上也损坏了磁卡。若是能够测试刷卡速度，就能够及时提醒刷卡用户掌握正确的刷卡速度，就能够提高刷卡的准确性，给人们生活带来方便。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备，能够解决目前磁卡刷卡速度不能测试的问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种刷卡速度测试方法，包括以下步骤：
S1：采集外置磁卡信号，对所述磁卡信号进行处理后送入CPU，触发CPU产生中断，其中所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；
S2：获取中断时间数据；
S3：解析所述中断时间数据得到对应阶段的平均基准脉宽时间；
S4：根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间；
S5：计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度；
S6：统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。
其中，所述磁卡信号为磁头刷卡信号。
其中，所述步骤S1中对磁卡信号进行处理具体为对磁卡信号进行滤波、放大和整形，得到F2F编码信号。
其中，所述步骤S2中获取中断时间数据的方法是由预先配置在CPU中的计数定时器记录每次中断的时间点。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：包括磁卡解码模块和CPU处理模块，所述磁卡解码模块与外置磁头相连接，并与所述CPU处理模块相连接；所述磁卡解码模块用于通过外置磁头采集外置磁卡信号，并对所述磁卡信号进行处理，并将处理后的信号传送至所述CPU处理模块；所述CPU处理模块包括中断处理单元、计数定时器和计算单元，所述中断处理单元与所述计数定时器相连接，所述计数定时器与所述计算单元相连接，其中，所述中断处理单元用于响应CPU中断；所述计数定时器用于记录每次中断的时间数据；所述计算单元用于获取所述中断时间数据进行解析，计算得到并输出磁卡平均运行速度。
其中，所述磁卡解码模块包括相连接的放大滤波电路和整形电路，所述放大滤波电路与外置磁头相连接，所述整形电路与所述CPU处理模块相连接。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的磁卡刷卡速度不能自动测试的问题，本发明提供的刷卡速度测试方法，针对F2F编码信号电平跳变特点，将CPU中断方式设置为双边沿触发中断方式，使得数据在高电平跳变为低电平，或者低电平跳变为高电平的时候，都能触发CPU中断，同时计数定时器对中断的时间进行记录，通过计算前后两次中断发生时候的时间间隔，并多次统计磁卡刷卡初始的前导0数据对应的这种时间间隔，得到初始平均基准脉宽时间。利用以上得到的平均基准脉宽时间作为磁道下一个字符数据的F2F编码信号解析的周期参考，随后磁道的每个字符数据F2F编码信号解析过程中，都统计更新对应磁道字符数据阶段的基准脉宽时间，供对应磁道下一个字符数据阶段F2F编码信号解析使用，解析得到该字符二进制数据每个数据位所耗费的脉宽时间。由于每个F2F编码数据位对应一个阶段的基准脉宽时间，每个数据位的物理长度预先确定的，因此，只要使用公式：单位速度＝物理长度/脉宽时间，就能计算出每个数据位的单位速度，再对这个单位速度，进行统计平均，就能得到平均速度，也就是磁条卡的平均运行速度。通过以上的方法，就能够方便的测试出磁卡的运行速度，在实际使用中，就能够通过测试该速度，从而提醒刷卡用户掌握准确的刷卡速度。
附图说明
图1是本发明提供的刷卡速度测试方法的流程图；
图2是本发明提供的刷卡速度测试设备的结构图；
图3是本发明提供的CPU处理模块的结构图；
标号说明：
1、磁卡解码模块  2、CPU处理模块  11、放大滤波电路
12、整形电路  21、中断处理单元 22、计数定时器  23、计算单元
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
请参阅图1至图3，本发明提供一种刷卡速度测试方法，包括以下步骤：
S1：采集外置磁卡信号，对所述磁卡信号进行处理后送入CPU，触发CPU产生中断，其中所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；
S2：获取中断时间数据；
S3：解析所述中断时间数据得到对应阶段的平均基准脉宽时间；
S4：根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间；
S5：计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度；
S6：统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。
其中，所述磁卡信号为F2F信号，F2F为一种标准的磁卡编码方式，即双向编码，所谓双向编码即在一个数据周期内，如果磁条上记录的信息没有变化，则代表此处记录的数据为0，如果信息在一个数据周期内有高低电平的跳变，则代表该磁条上记录的数据为1。
其中，在步骤S1中对磁卡信号进行处理具体为对磁卡信号进行滤波、放大和整形，从而使磁头读取到的微弱的信号得到放大，使CPU能对该磁卡信号进行处理。在步骤S2中，获取中断时间数据的方法是记录每次中断的时间点，这个记录是由CPU的计数定时器22完成的，作为优选的，所述计数定时器22采用高精度的计数定时器22。其具体方式是：首先，将CPU的中断方式设置为双边沿触发中断，因此磁卡信息的每个数据的脉宽边缘跳变时候，例如高电平跳变为低电平时候，或低电平转换成高电平的时候，都会触发CPU产生中断，而每次中断的时间都被高精度的计数定时器22记录下来。
在步骤S3中，CPU的中断处理程序获取计数定时器22中的前后两次中断的时间并记录下来，CPU对这些中断的时间数据进行实时计算，例如：第一次中断的时间为T(i)，第二次中断的时间点为T(j)，则这两次中断的平均脉宽时间ΔT＝T(j)-T(i)。在这个步骤中，CPU并不是只是截取两次中断时间计算，而是实时计算平均脉宽时间ΔT，即在一定的数据周期内，累积多个中断时间点，计算出对应阶段的平均基准脉宽时间。利用磁卡数据初始为前导0数据的特点，即可按以上方法解析计算得到该初始阶段的平均基准脉宽时间，供下述步骤使用。
在步骤S4中，利用以上得到的平均基准脉宽时间作为磁道下一个字符数据的F2F编码信号解析的周期参考，随后磁道的每个字符数据F2F编码信号解析过程中，都统计更新对应磁道字符数据阶段的基准脉宽时间，供对应磁道下一个字符数据阶段F2F编码信号解析使用，解析得到该字符二进制数据每个数据位所耗费的脉宽时间。作为优选的，在步骤S4中，还包括解析得到对应的二进制编码数据。在步骤S5中，由于磁条上对应的每个二进制编码数据占用的物理长度是确定的，这个物理长度是个已知的长度，且是本领域的技术人员可以清楚知道的，这里不做限定。因此，只要得到步骤S4中的每个数据位所耗费的脉宽时间，再可以依照公式：速度＝物理长度/脉宽时间，就能够计算对应每个二进制编码数据期间的速度。
当然，单个二进制编码数据的速度并不能表示磁卡速度，因此在S6中，还对每个数据的单位速度进行统计平均，得到的这个速度就是磁卡的速度。
请参与图2，本发明还提供一种刷卡速度测试设备，包括磁卡解码模块1和CPU处理模块2，所述磁卡解码模块1与外置磁头相连接，并与所述CPU处理模块2相连接；所述磁卡解码模块1用于通过外置磁头接收外置磁卡信号，并对所述磁卡信号进行处理，主要是将磁卡信号转换成同步的F2F编码信号，送至所述CPU处理模块2；所述磁卡解码模块1包括放大滤波电路11和整形电路12，所述放大滤波电路11与外置磁头相连接，所述整形电路12与所述CPU处理模块2相连接。
所述CPU处理模块2包括中断处理单元21、计数定时器22和计算单元23，所述中断处理单元21与所述计数定时器22相连接，所述计数定时器22与所述计算单元23相连接，所述中断处理单元21用于响应CPU中断，所述计数定时器22用于记录每次中断的时间数据，所述计算单元23用于获取所述中断时间数据进行处理，并输出磁卡平均运行速度；
计算单元23对中断时间数据的处理采用的是上述的磁卡速度测试方法，首先计算出前导0阶段的平均基准脉冲时间，以此继续统计和解析后续磁道每个字符数据阶段的基准脉宽时间，再利用该时间解析得到每个二进制数据位耗费的脉宽时间，再得出单个二进制数据的物理长度与对应脉宽时间的比值，再统计计算这个比值(即单位运行速度)，得出平均运行速度再输出，从而完成磁卡速度的测试。
CPU输出的计算得出的磁卡速度信号，可以通过连接到显示屏，或者连接到信号灯显示出来，其显示方式有多种，这里不做赘述。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种刷卡速度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1:采集外置磁卡信号，对所述磁卡信号进行处理后送入CPU，触发CPU产生中断，其中所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；
S2：获取中断时间数据；
S3：解析所述中断时间数据得到对应阶段的平均基准脉宽时间；
S4：根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间；
S5：计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度；
S6：统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。
2.根据权利要求1所述的刷卡速度测试方法，其特征在于：所述磁卡信号为磁头刷卡信号。
3.根据权利要求1所述的刷卡速度测试方法，其特征在于：所述步骤S1中对磁卡信号进行处理，具体为对磁卡信号进行滤波、放大和整形，得到F2F编码信号。
4.根据权利要求1所述的刷卡速度测试方法，其特征在于：所述步骤S2中获取中断时间数据的方法是由预先配置在CPU中的计数定时器记录每次中断的时间点。
5.一种刷卡速度测试设备，其特征在于：包括磁卡解码模块和CPU处理模块，所述磁卡解码模块与外置磁头相连接，并与所述CPU处理模块相连接；
所述磁卡解码模块用于通过外置磁头采集外置磁卡信号，并对所述磁卡信号进行处理，并将处理后的信号传送至所述CPU处理模块；
所述CPU处理模块包括中断处理单元、计数定时器和计算单元，所述中断处理单元与所述计数定时器相连接，所述计数定时器与所述计算单元相连接，
其中，所述中断处理单元用于响应CPU中断,所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；
所述计数定时器用于记录每次中断的时间数据；
所述计算单元用于获取所述中断时间数据，解析所述中断时间数据得到对应 阶段的平均基准脉宽时间,根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间,计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度,统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。
6.根据权利要求5所述的刷卡速度测试设备，其特征在于：所述磁卡解码模块包括相连接的放大滤波电路和整形电路，所述放大滤波电路与外置磁头相连接，所述整形电路与所述CPU处理模块相连接。
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