CN102261883B - 一种测量两平行平面间距离尺寸的检具 - Google Patents

Abstract

本发明所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，其结构为整体套筒式，在外表面设有人体抓握手柄(7)，其内部为三台阶孔结构，中部为测量基准孔(1)，右端为稳定孔(5)，左端为工艺孔(6)，测量基准孔(1)的左端面为基准孔端面(4)，在工艺孔右端面设有两个各占圆周的台阶端面，最外一个

端面为上极限测量平面(2)，另一个

端面为下极限测量平面(3)。基准孔端面(4)距上极限测量平面(2)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸P_max，距离下极限测量平面距离尺寸的为被测距离尺寸P的下极限尺寸P_min，测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与被测零件上被测截面处的φd的直值相等。

Description

一种测量两平行平面间距离尺寸的检具

技术领域

本发明涉及一种距离尺寸的检具，特别涉及一种测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面距离垂直于该轴线另一平面之间的距离尺寸P的检具。

背景技术

目前对距离尺寸的检测方法有采用如游标卡尺、高度尺等通用量具进行直接测量、投影仪上投影测量法测量、三坐标计量仪上坐标计量法测量。①通用量具直接测量法：当要求测量零件曲面上某一截面距另一平行平面之间的距离尺寸时，确定测量基准困难，测量误差很大。②投影测量法和三坐标计量仪计量法：当需要测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面距离垂直于该轴线另一平面A之间的距离尺寸P时，如测量图3所示的零件的距离尺寸P时，两者虽然所用量具精度较高，但均是采用间接的方面来确定曲面上的被测截面，有一定的误差，而且无法满足在生产现场在线测量的需求，当需100％检测时，效率较低、成本较高。

发明内容

本发明的目的是：根据以上问题，提供一种能定性判断出垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面距离垂直于该轴线另一平面之间的距离尺寸P是否合格的检具。

本发明是通过下述技术方案实现的：采用极限控制理论即控制被测距离尺寸的上限、下限，从而保证零件的P值，检测时使用一种专用检具即距离尺寸极限量规，对被测零件进行测量。

本发明所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，其结构为整体套筒式，外表面可以是圆柱体式，也可以是诸如六边形等的任意多边形棱柱体，在外表面设有人体抓握手柄，其内部为三台阶孔结构，中部为测量基准孔，右端为稳定孔，左端为工艺孔，测量基准孔的左端面为基准孔端面，在稳定孔右端面设有两个各占

圆周的台阶端面，最外一个端面为上极限测量平面，另一个

端面为下极限测量平面。基准孔端面到上极限测量平面的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸P_max，基准孔端面到下极限测量平面距离尺寸的为被测距离尺寸P的下极限尺寸P_min；测量基准孔的孔径尺寸φD的取值与被测零件上被测截面处的φd的直径值相等，测量时用基准孔直接在回转曲面上确定测量基准。工艺孔的孔径值φD2根据被测零件的曲面形状来确定，只要保证其内表面不与曲面接触而发生干涉即可。稳定孔的孔径值φD1要确保与被测零件上的外圆φd1形成小间隙配合。

本发明所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，一般情况下制成如图1a、1b所示结构，可用于检测结构如图3a或图3b所示的距离尺寸P。

当用该极限量规测量如图3a所示的距离尺寸P时，手持手柄部位让极限量规的工艺孔一端在前，由右向左套入被测零件，使测量基准孔与被测零件的曲面接触，从而确定测量基准，同时让被测零件上的外圆部份进入极限量规的稳定孔之中，起到稳定测量准确性的目的。此时观察零件上被测端平面A相对于极限量规上、下极限测量平面的位置：若被测端平面A高于上极限测量平面，如图4所示，则判定被测距离尺寸P超长；若低于下极限测量平面，如图5所示，则判定被测距离尺寸P超短；若处于上、下极限测量平面之间，如图6所示，则判定被测距离尺寸P合格。

该检测工具是用极限量规上的基准孔在零件回转曲面上直接确定测量基准，从而减少了测量误差，且检具易于制造、成本低，操作简单，特别适用于在生产现场在线检测和进行100％检测时使用。

附图说明

图1a是圆柱整体式极限量规结构示意图；

图1b是图1a的左视图；

图2a是多边棱柱整体式极限量规结构示意图。

图2b是图2a的左视图；

图3a是被测零件测量部位为圆锥形结构的示意图；

图3b是被测零件测量部位为球形结构的示意图；

图4是被测端平面A高于上极限测量平面示意图；

图5是被测端平面A低于下极限测量平面示意图；

图6是被测端平面A处于上、下极限测量平面之间示意图；

图7是被测管套零件示意图；

图8是测量图7所示管套零件的检具结构示意图；

图9是被测球形堵头零件示意图；

图10是测量图9所示球形堵头零件的检具结构示意图。

图中标记：1-测量基准孔，2-上极限测量端平面，3-下极限测量端平面，4-基准孔端面，5-稳定孔，6-工艺孔，7-手柄，P-被测距离尺寸，P_min.-被测距离尺寸下极限尺寸，P_max-被测距离尺寸上极限尺寸，φD-基准孔孔径尺寸，φd.-垂直于轴线的某一截面与曲面回转体相截的截圆直径，φD1-稳定孔直径，φD2-工艺孔直径，φd1-外圆直径，SR-被测零件上的曲面半径，A-被测零件上的被测端平面。

具体实施方式

实施例1：

以检查如图7所示的管套零件上垂直于轴线并包含以按

为半径曲线绕轴线回转所得回转曲面相截所形成的截圆直径为φ7.44的圆的截面距被测端平面A的距离尺寸

为例。

本发明所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具即极限量规设计制成如图8所示的结构：检具外部为圆柱体式结构，右端为台阶端面，两个台阶面各占约圆周，最外一个

圆周的端面为上极限测量平面2，另一个

圆周的端面为下极限测量平面3；内部为三台阶孔，中部为测量基准孔1，其孔径值

右端为稳定孔5，其孔径值φD1＝φ6.55H6，左端为工艺孔6，其孔径值φD2＝φ9H8；测量基准孔1的左端面为基准孔端面4，该端面距上极限测量平面2的轴向距离P_max为被测尺寸

的上极限其距下极限测量平面3的轴向距离P_min为被测尺寸

的下极限

外形圆柱表面为手柄7。上、下极限测量平面2、3及基准孔端面4相对于基准孔

的轴线垂直度要求为φ0.008；检具的其他技术要求按量规的常规要求设计。

检测的实施：握住手柄7，使工艺孔在前，由右向左将检具套入被测零件，让检具上的测量基准孔与零件曲面接触而确定测量基准面，同时稳定孔已套入零件上直径为φ6.55h6的外圆，从而起到稳定测量准确性的目的。此时观察零件被测端平面A所处位置，若被测端平面A高于上极限测量平面2，如图4所示，则判定被测距离尺寸超长；若被测端平面A低于下极限测量平面3，如图5所示，则判定被测距离尺寸超短；若被测端平面A处于上、下极限测量平面2、3之间，如图6所示，则判定被测距离尺寸合格。

实施例2：

以检查如图9所示的球面堵头零件上垂直于轴线并包含以按

为半径的球体相截所形成的截圆直径为φ9.55的圆的截面距离被测端平面A的距离尺寸

为例。

检测如图9所示的距离尺寸等于时，检具设计制成如图10所示的结构。检具外部为圆柱体式结构，其结构与实施例1的检具相同。在此，测量基准孔孔径值φD为

稳定孔5的孔径值φD1为φ6H6；工艺孔6的孔径值φD2为φ16H8；基准孔端面4距上极限测量平面2的轴向距离P_max为被测尺寸的上极限

其距下极限测量平面(3)的轴向距离P_min为被测尺寸

的下极限

上、下极限测量平面2、3及基准孔端面4相对于基准孔

轴线垂直度要求为φ0.008。极限量规的其他技术要求按量规的常规要求设计。

检测的实施：通过手柄7工艺孔在前由右向左使检具套入被测零件，让检具上的测量基准孔与被测零件曲面接触而确定测量基准面，同时稳定孔已套入零件上直径为φ6h7的外圆，从而起到稳定测量准确性的目的。此时观察零件被测端平面A所处位置，如被测端平面A高于上极限测量平面2，则判定被测距离尺寸超长；如被测端平面A低于下极限测量平面3，则判定被测距离尺寸超短；如被测端平面A处于上、下极限测量平面2、3之间，则判定被测距离尺寸合格。

Claims (4)

1.测量两平行平面间距离尺寸的检具，其特征在于：所述检具的结构为整体套筒式，在外表面设有人体抓握手柄(7)，其内部为三台阶孔结构，中部为测量基准孔(1)，右端为稳定孔(5)，左端为工艺孔(6)，测量基准孔(1)的左端面为基准孔端面(4)，在稳定孔右端面设有两个各占

圆周的台阶端面，最外一个端面为上极限测量平面(2)，另一个

端面为下极限测量平面(3)。

2.根据权利要求1所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，其特征在于：基准孔端面到上极限测量平面的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸P_max。

3.根据权利要求1所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，其特征在于：基准孔端面到下极限测量平面的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸P_min。

4.根据权利要求1所述的测量两平行平面间距离尺寸的检具，其特征在于：测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与被测零件上被测截面处的φd的直径值相等。

Images