CN102252615A - 压印痕宽度检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种压印痕宽度检测装置及方法，涉及液晶技术领域，解决了现有技术中压印痕宽度测量准确率低、效率低的问题，本发明所述压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本发明主要应用于液晶面板的制作。
Description
技术领域
本发明涉及液晶技术领域，尤其涉及压印痕(Nip)宽度检测装置及方法。
背景技术
目前液晶显示技术中，液晶面板包括薄膜晶体管(TFT)阵列基板和彩膜基板(Color filter)，在TFT阵列基板和彩膜基板之间滴注有液晶，所述TFT阵列基板和彩膜基板与液晶接触的面上形成有取向膜，所述取向膜上有锯齿状的沟槽。形成所述沟槽的方法，一般是在所述基板表面涂布一层聚酰亚胺(Polyimide，PI)膜，通过摩擦工艺在PI膜上形成一定取向的沟槽。液晶分子沿沟槽排列，使PI表面的液晶分子不再杂乱的分布，而是依照沟槽固定而均一的方式排列，使液晶显示设备能够正常显示。但是由于摩擦布(Rubbing cloth)的不良会导致摩擦产生的沟槽不均匀，从而导致液晶分子排列不均匀，最终产生显示不良。
为了使所述沟槽均匀需要控制摩擦工艺，而控制摩擦工艺的核心就是控制摩擦强度，现有技术中可以通过测量压印痕宽度来控制摩擦强度。但是在实际操作中压印痕宽度测量通常由人用肉眼观测完成。当基板尺寸较大时，比如五代线的基板，为了减少测量的工作量，现有技术中采用肉眼观测的方式测量基板压印痕部分区域的压印痕宽度。这种取部分区域压印痕宽度的样本代表整个基板压印痕宽度的方式准确度不高；如果通过肉眼测量更大区域的压印痕宽度来提高准确度，将造成工作量大，测量效率降低。
发明内容
本发明的实施例提供一种压印痕宽度检测装置及方法，能够提高测量基板上的压印痕宽度的效率和准确度。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
一种压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；
所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
一种压印痕宽度检测方法，利用压印痕宽度检测装置进行检测，所述压印痕宽度检测装置包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构、及测量系统，所述压印痕宽度检测方法包括：
通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像；
通过所述测量系统测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
本发明所述压印痕宽度检测装置及方法，所述支撑移动结构带动所述图像获取装置移动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板上的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，所述测量系统读取所述压印痕图像，并根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。
与现有技术相比，使用本发明实施例所述技术方案，当被测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。所述压印痕图像的获取过程可以由本发明实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，省去了人工的反复操作，提高了测量的效率。在获取了所述压印痕图像后，由所述测量系统根据所述压印痕图像计算所述压印痕图像中的压印痕宽度，进一步提高了测量的效率，同时也提高了测量的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所述优选压印痕宽度检测装置的结构图；
图2为本发明实施例所述改进的压印痕宽度检测装置的左视图；
图3为本发明实施例所述图像获取装置的放大图；
图4为本发明实施例所述压印痕宽度检测装置的俯视图；
图5为本发明实施例所述压印痕宽度检测方法的流程图；
图6为本发明实施例所述改进的压印痕宽度检测方法的流程图；
图7为本发明实施例所述测量压印痕图像中的压印痕宽度的测量示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；
所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
本发明所述压印痕宽度检测装置，所述支撑移动结构带动所述图像获取装置移动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板上的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，所述测量系统读取所述压印痕图像，并根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。
使用本发明实施例所述压印痕宽度检测装置，当待测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。所述压印痕图像的获取过程可以由本发明实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，省去了人工的反复操作，提高了测量的效率。在获取了所述压印痕图像后，由所述测量系统根据所述压印痕图像计算所述压印痕图像中的压印痕宽度，进一步提高了测量的效率，同时也提高了测量的准确度。
如图1所示，本发明实施例提供了一种优选的压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的支撑条1和支撑条2，所述支撑条1和支撑条2上架设有能够沿所述支撑条1和支撑条2移动的杆体3，所述杆体3上设有能够沿所述杆体3移动的图像获取装置4，所述图像获取装置4用于获取所述待测基板上的压印痕图像。
所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
使用时，根据待测基板上压印痕位置，将所述图像获取装置4沿所述杆体3移动，所述杆体3沿所述支撑条1和支撑条2移动，将所述图像获取装置4移动到能够获取所述待测基板上压印痕的位置，所述图像获取装置4获取所述压印痕图像。
在所述图像获取装置4获取到所述压印痕图像后，所述测量系统读取所述图像获取装置4获取到的所述压印痕图像，读出所述压印痕图像后，可以采用手动的方式，获取需要测量的所述压印痕图像部分的两个边界线；也可以通过设定计算机程序的方式，由计算机自动获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线。在获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线后，所述测量系统根据所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线计算出所述压印痕宽度。
根据摩擦工艺对摩擦沟槽的要求，预先设定压印痕宽度参照值，和允许的误差值。在所述压印痕宽度被测量出来后，将测量出的压印痕宽度值同参照值进行比较，当测量出的压印痕宽度值同参照值之间的误差在允许的范围内时，表示被测量部分的压印痕宽度符合摩擦工艺的要求。当测量出的压印痕宽度值同参照值之间的误差超出允许的范围内时，表示被测量部分的压印痕宽度不符合摩擦工艺的要求。当被测量部分的压印痕宽度不符合摩擦工艺的要求时，需要调整摩擦布，如果测量出的压印痕过宽，则把摩擦布对应位置力度调小；如果测量出的压印痕过窄，则把摩擦布对应位置力度调大。重新调整好摩擦布以后，重新制作待测压印痕基板，重新测量。
本实施例所述压印痕宽度检测装置，所述杆体能够沿所述支撑条移动，所述杆体上的图像获取装置可以沿所述杆体运动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。使用本实施例所述压印痕宽度检测装置测量所述压印痕宽度，不受基板大小的限制，当待测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。使用所述压印痕宽度检测装置检测待测基板上的压印痕宽度，省去了人工的重复性操作，并且使用测量系统计算所述压印痕宽度提高了检测效率和准确度。
本实施例所述杆体3沿所述支撑条1和支撑条2移动可以由伺服电机控制。
本实施例所述图像获取装置可以用电荷耦合器件(CCD)实现或者是互补金属氧化物半导体(CMOS)集成电路实现。本实施例优选使用CCD作为所述图像获取装置的实现方式。
如图2所示，作为本实施例的改进，本发明实施例提供另一种压印痕宽度检测装置：
分别设置于待测基板两侧的支撑条8和支撑条9，所述支撑条8和支撑条9上架设有能够沿所述支撑条8和支撑条9移动的杆体5，所述杆体5上设有能够沿所述杆体5移动的图像获取装置7。为了增加所述图像获取装置7的灵活性，在所述杆体5上设置有能够沿所述杆体5移动的安装架6，所述图像获取装置7安装在所述安装架6上，并且所述图像获取装置7能够沿所述安装架6移动。
使用本实施例所述压印痕宽度检测装置测量所述压印痕宽度时，所述图像获取装置不仅能够在杆体和两个支撑条构成的平面上任意移动，还能够在与杆体和两个支撑条构成的平面垂直的方向上移动。能够调整所述图像获取装置与待测基板间的垂直距离，也就是说所述图像获取装置能够在待测基板上方的三维空间内任意移动位置，使所述图像获取装置能够根据需要调整到获取图像的最佳位置。
本实施例所述安装架6沿所述杆体5移动可以由直线电机控制。
如图2所示，本发明实施例提供另一种改进的压印痕宽度检测装置，在所述支撑条8和支撑条9之间设有支撑所述待测基板的支撑脚10，所述支撑脚10用于固定和支撑所述待测基板。
使用时，将所述待测基板放置在所述支撑脚10上，所述图像获取装置沿所述杆体5移动，所述杆体5沿所述支撑条8和支撑条9移动，能够到达所述支撑脚支撑的待测基板的任意部位，获取所述压印痕图像。
使用所述支撑脚时，所述支撑脚会挡住背光的部分光源，在待测基板上形成一定阴影，为了减小阴影对测量效果的影响，所述支撑脚可以使用透明的有机玻璃材料制成。透明的有机玻璃材料有很好的透光性，在所述待测基板上产生的阴影几乎不影响测量。
为了稳固的固定所述待测基板，所述支撑脚数量越多越好，但是，为了节约材料和方便安装所述待测基板在所述支撑脚10上，以五代线的基板尺寸为例，所述支撑脚10优选沿所述待测基板的短边方向排列四组用来固定所述支撑脚的支撑杆11，每组支撑杆11上设有六个支撑脚10，直径15毫米，内部中空，顶部大约是20毫米直径的圆盘，可以进行真空吸附。所述支撑杆11由透明的有机玻璃制成，虽然会挡住背光的部分光源，但是，所述四组支撑杆11的间距已经足够测量用。使用时，由于存在所述四组支撑杆11的间距，机械手可以伸入所述支撑杆11的内部，方便所述待测基板的取放。
本实施例所述支撑条8和支撑条9优选采用和所述待测基板长边平行的方向，平行排列在所述支撑杆11的外侧。
作为本实施例的进一步改进，如图3所示，本发明实施例提供另一种压印痕宽度检测装置：
分别设置于待测基板两侧的两条支撑条，所述两条支撑条上架设有能够沿所述两条支撑条移动的杆体，所述杆体上设有能够沿所述杆体移动的图像获取装置。在所述杆体上设置有能够沿所述杆体移动的安装架，所述图像获取装置安装在所述安装架上，并且所述图像获取装置能够沿所述安装架移动。在所述安装架上设有液晶滴注装置12。
所述液晶滴注装置12内装有液晶，在压力的控制下，将液晶滴注到所述压印痕内，液晶数量可以由压力和滴注的时间控制，适量的液晶铺展到压印痕内后，所述图像获取装置获取所述压印痕图像。在所述压印痕滴注入液晶以后，所述压印痕同待测基板的边界会更加清晰，有利于所述图像获取装置获取到更清晰的压印痕图像，使所述压印痕宽度检测结果更准确。
在实际测量时，可以根据待测基板的大小，在所述杆体上安装两组或者两组以上图像获取装置和液晶滴注装置，分别进行测试，提高测量效率。比如在测量八代线基板上的压印痕时，就可以同时安装四套所述图像获取装置和液晶滴注装置，分别同时获取所述八代线基板上不同位置的压印痕图像，提高获取所述压印痕图像的效率，进而提高测量所述压印痕宽度效率。当待测基板为更大尺寸时，可以根据需要在所述杆体上安装更多所述图像获取装置和液晶滴注装置。
此外，测试用液晶可以使用过期液晶或者是量产时瓶子底部的残留液晶，这样可以降低测量成本。
对于测量使用过的基板，可以将所述基板放入湿法去除取向膜的设备中，经过清洗，表面的取向膜可以被去除，所述基板可以反复使用，进一步降低测量成本。
如图4所示，本发明实施例提供另一种压印痕宽度检测装置：
分别设置于待测基板两侧的支撑条13和支撑条14，所述支撑条13和支撑条14上架设有能够沿所述支撑条13和支撑条14移动的杆体，所述杆体上设有能够沿所述杆体移动的图像获取装置。所述支撑条13和支撑条14之间设有支撑所述待测基板的支撑脚16。
为了使所述压印痕图像边界更清楚，还可以在所述支撑条13和支撑条14之间设有照向待测基板的背光源15。
所述背光源可以是板状背光源，也可以是点状背光源。当所述背光源是板状背光源时，所述支撑脚16可以设置在所述背光源之上；当所述背光源是点状背光源时，所述背光源可以分布在所述支撑脚16之间。
所述照向待测基板的背光源提供了照射光线，有了背光源的照射，可以使所述待测基板上的压印痕边缘更加清晰，有利于所述图像获取装置获取到更清晰的压印痕图像，使所述压印痕宽度检测结果更准确。尤其当所述压印痕宽度检测装置处在较暗的光线环境中时，仍然能够正常使用。
作为本实施例的一种替代方案，也可以在所述图像获取装置上设有照向待测基板的光源17。所述光源17也可以使所述待测基板上的压印痕边缘更加清晰，有利于所述图像获取装置获取到更清晰的压印痕图像，使所述压印痕宽度检测结果更准确。当所述压印痕宽度检测装置处在较暗的光线环境中时，使所述压印痕宽度检测装置仍然能够正常使用。
为了使所述压印痕图像边界更加清楚，还可以在所述板状背光源上面贴一层偏光片18，所述偏光片18的偏光方向应和所述待测基板的上的压印痕取向平行。
偏光片是使不具偏极性的自然光产生偏极化，转变成偏振光，加上液晶分子扭转特性，达到控制光线的通过与否，从而提高透光率和视角范围。本实施例所述偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行，当所述压印痕内滴注入液晶后，所述偏光方向就和所述液晶分子的取向平行，于是，所述偏光的照射能够使液晶分子显得更加明亮，从而使所述压印痕的边界更加的清晰，有利于所述图像获取装置获取到更清晰的压印痕图像，使所述压印痕宽度检测结果更准确。
为了使所述压印痕图像边界更加清楚，还可以在所述图像获取装置获取图像的光路上加装可旋转的偏光滤镜19。
需要时在所述图像获取装置获取图像的光路上加载所述偏光滤镜，并根据要求将所述偏光滤镜旋转到合适的方向。所述偏光滤镜能够有效地排除和滤除光束中的散射光线，有选择地让某个方向振动的光线通过，使光线能于正轨之透光轴投入眼睛视觉影像，使视野清晰自然；同时能够消除或减弱非金属表面的强反光，从而消除或减轻光斑。当所述偏光滤镜旋转到一定的位置，所述背光源可以视为起偏振方向，所述图像获取装置可以视为检偏振方向，两者相互作用可以获得更清楚的压印痕图像边界效果，有利于提高测量结果的准确性。
本发明实施例提供了一种压印痕宽度检测方法，利用压印痕宽度检测装置进行检测，所述压印痕宽度检测装置包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，和测量系统，如图5所示，所述压印痕宽度检测方法包括：
501、根据待测基板上压印痕位置，所述支撑移动结构将带动图像获取装置移动，将所述图像获取装置移动到能够获取所述待测基板上压印痕的位置，所述图像获取装置获取所述压印痕图像。
502、所述测量系统根据所述压印痕图像测量所述压印痕图像中的需要测量的部分的压印痕宽度。
本实施例所述压印痕宽度检测方法，所述支撑移动结构带动所述图像获取装置移动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，所述测量系统根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。
作为本实施例所述压印痕宽度检测方法的优选实施方式，所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的两条支撑条；所述两条支撑条上架设有沿所述两条支撑条移动的杆体，所述图像获取装置沿所述杆体移动。
测量时，根据待测基板上压印痕位置，将所述图像获取装置沿所述杆体移动，所述杆体沿所述两条支撑条移动，将所述图像获取装置移动到能够获取所述待测基板上压印痕的位置，所述图像获取装置获取所述压印痕图像。
在获取到所述压印痕图像后，所述测量系统读取所述图像获取装置获取到的所述压印痕图像，读出所述压印痕图像后，可以采用手动的方式，获取需要测量的所述压印痕图像部分的两个边界线；也可以通过设定计算机程序的方式，由计算机自动获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线。在获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线后，所述测量系统根据所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线计算出所述压印痕宽度。
采用本实施例所述压印痕宽度检测方法测量压印痕宽度时，所述杆体能够沿所述支撑条移动，所述杆体上的图像获取装置可以沿所述杆体运动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。使用本实施例所述压印痕宽度检测方法测量所述压印痕宽度，不受基板大小的限制，当待测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。使用所述压印痕宽度检测装置检测待测基板上的压印痕宽度，省去了人工的重复性操作，并且使用测量系统计算所述压印痕宽度提高了检测效率和准确度。
作为本实施例所述压印痕宽度检测方法的一种优选的实施方式，在所述压印痕宽度检测装置上的杆体上设置有沿所述杆体移动的安装架，所述图像获取装置安装在所述安装架上，并且所述图像获取装置沿所述安装架移动，在通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像之前，所述方法还包括：
沿所述支撑条移动所述杆体，沿所述杆体移动所述图像获取装置，沿所述安装架移动所述图像获取装置，将所述图像获取装置移动到能够获取清晰的压印痕图像的位置。
采用本实施例所述图像获取方法，所述图像获取装置不仅能够在杆体和两个支撑条构成的平面上任意移动，还能够在与杆体和两个支撑条构成的平面垂直的方向上移动。能够调整所述图像获取装置与待测基板间的垂直距离，也就是说所述图像获取装置能够在待测基板上方的三维空间内任意移动位置，使所述图像获取装置能够根据需要调整到获取图像的最佳位置。
本发明实施例提供另外一种优选的压印痕宽度检测方法的实施例，所述压印痕宽度检测装置设有液晶滴注装置和板状背光源，且所述板状背光源上面贴有一层偏光片，所述偏光片偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行，在通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像之前，所述方法还包括：
通过所述液晶滴注装置向待测压印痕中滴注液晶，所述偏光方向和所述液晶分子的取向平行。
偏光片是使不具偏极性的自然光产生偏极化，转变成偏振光，加上液晶分子扭转特性，达到控制光线的通过与否，从而提高透光率和视角范围。本实施例所述偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行，当所述压印痕内滴注入液晶后，所述偏光方向就和所述液晶分子的取向平行，于是，所述偏光的照射能够使液晶分子显得更加明亮，从而使所述压印痕的边界更加的清晰，有利于所述图像获取装置获取到更清晰的压印痕图像，使所述压印痕宽度检测结果更准确。
本发明实施例提供另外一种优选的压印痕宽度检测方法的实施例，所述压印痕宽度检测装置在所述图像获取装置获取图像的光路上加装可旋转的偏光滤镜，在通过所述液晶滴注装置向待测压印痕中滴注液晶之前，所述方法还包括：
旋转所述偏光滤镜，使背光是起偏振方向，使所述图像获取装置是检偏振方向。
采用本实施例所述压印痕宽度检测方法，根据要求旋转所述偏光滤镜，使背光是起偏振方向，使所述图像获取装置是检偏振方向。所述偏光滤镜能够有效地排除和滤除光束中的散射光线，有选择地让某个方向振动的光线通过，使光线能于正轨之透光轴投入眼睛视觉影像，使视野清晰自然；同时能够消除或减弱非金属表面的强反光，从而消除或减轻光斑。当所述偏光滤镜旋转到一定的位置，所述背光源可以视为起偏振方向，所述图像获取装置可以视为检偏振方向，两者相互作用可以获得更清楚的压印痕图像边界效果，有利于提高测量结果的准确性。
本实施例所述压印痕宽度检测方法，测量所述压印痕宽度，不受基板大小的限制，当被测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确；所述压印痕图像的获取过程可以由本发明实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，提高了测量的效率。在获取了所述压印痕图像后，由所述测量系统根据所述压印痕图像计算所述压印痕图像中的压印痕宽度，进一步提高了测量的效率，同时也提高了测量的准确度。
本发明实施例提供一种上述压印痕宽度检测方法的改进的实施方式，如图6所示，包括：
601、根据待测基板上压印痕位置，将所述图像获取装置沿所述杆体移动，所述杆体沿所述两条支撑条移动，将所述图像获取装置移动到能够获取所述待测基板上压印痕的位置，所述图像获取装置获取所述压印痕图像。
602、获取所述压印痕图像需测量部分的两个边界线。
603、计算所述需测量部分的两个边界线之间的距离，得到所述压印痕图像中的压印痕宽度。
在所述图像获取装置获取到所述压印痕图像后，通过测量系统读取所述图像获取装置获取到的所述压印痕图像，读出所述压印痕图像后，本实施例所述获取所述压印痕图像需测量部分的两个边界线，可以是以手动的方式根据测量需要获取，也可以是计算机系统按照设定好的方式自动获取。
实际测量时，首先规定边界的选取办法。可以规定所述边界为被选取测量部分的压印痕的最宽位置，也可以规定所述边界为被选取测量部分的压印痕的最窄位置，或者规定所述边界为被选取测量部分的压印痕的最宽和最窄位置间任意选取的位置。
如图7所示，通常，规定所述边界为被选取测量部分的压印痕的最宽位置。所述边界线20的长度可以根据需要任意设定，当需要很精确的测量结果时，可以将所述边界线20的长度设置短些，则所述边界线20测量范围内覆盖的摩擦沟槽数量就少，则测量结果越接近每个摩擦沟槽的宽度值，测量结果也就越准确。当所述测量结果准确度要求不高时，可以将所述边界线20的长度设置长些，能够提高测量的效率。
本实施例所述压印痕宽度检测方法，所述杆体能够沿所述支撑条移动，所述杆体上的图像获取装置可以沿所述杆体运动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。使用本实施例所述压印痕宽度检测装置测量所述压印痕宽度，不受基板大小的限制，当被测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确；所述压印痕图像的获取过程可以由本发明实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，提高了测量的效率。同时，使用测量系统计算所述压印痕宽度也提高了检测效率。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (17)
1.一种压印痕宽度检测装置，其特征在于，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；
所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
2.根据权利要求1所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的两条支撑条；所述两条支撑条上架设有沿所述两条支撑条移动的杆体，所述杆体上设有沿所述杆体移动的图像获取装置。
3.根据权利要求2所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述杆体上设置有沿所述杆体移动的安装架，所述图像获取装置安装在所述安装架上，并且所述图像获取装置沿所述安装架移动。
4.根据权利要求3所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述安装架上还设有液晶滴注装置。
5.根据权利要求2、3或4所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述两个支撑条之间设有支撑所述待测基板的支撑脚。
6.根据权利要求5所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述支撑脚使用透明的有机玻璃材料制成。
7.根据权利要求5所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述两个支撑条之间设有照向所述待测基板的板状背光源，所述支撑脚设置在背光源之上；或者所述两个支撑条之间设有照向所述待测基板的点状背光源，所述点状背光源分布在所述支撑脚之间。
8.根据权利要求7所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述板状背光源上面贴有一层偏光片，所述偏光片偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行。
9.根据权利要求8所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，在所述图像获取装置获取图像的光路上加装可旋转的偏光滤镜。
10.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述图像获取装置上设有照向所述待测基板的光源。
11.一种压印痕宽度检测方法，利用压印痕宽度检测装置进行检测，其特征在于，所述压印痕宽度检测装置包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构、及测量系统，所述压印痕宽度检测方法包括：
通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像；
通过所述测量系统测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
12.根据权利要求11所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的两条支撑条；所述两条支撑条上架设有沿所述两条支撑条移动的杆体，所述图像获取装置沿所述杆体移动。
13.根据权利要求12所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述杆体上设置有沿所述杆体移动的安装架，所述图像获取装置安装在所述安装架上，并且所述图像获取装置沿所述安装架移动；在通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像之前，所述方法还包括：
沿所述支撑条移动所述杆体，沿所述杆体移动所述图像获取装置，沿所述安装架移动所述图像获取装置，将所述图像获取装置移动到能够获取清晰的压印痕图像的位置。
14.根据权利要求11至13任一权利要求所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述测量所述压印痕图像中的压印痕宽度包括：
获取所述压印痕图像需测量部分的两个边界线；
计算所述需测量部分的两个边界线之间的距离，得到所述压印痕图像中的压印痕宽度。
15.根据权利要求14所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述压印痕宽度检测装置设有液晶滴注装置和板状背光源，且所述板状背光源上面贴有一层偏光片，所述偏光片偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行，在通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像之前，所述方法还包括：
通过所述液晶滴注装置向待测压印痕中滴注液晶，所述偏光方向和所述液晶分子的取向平行。
16.根据权利要求11至13中任一权利要求所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述压印痕宽度检测装置设有液晶滴注装置和板状背光源，且所述板状背光源上面贴有一层偏光片，所述偏光片偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行；在通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像之前，所述方法还包括：
通过所述液晶滴注装置向待测压印痕中滴注液晶，所述偏光方向和所述液晶分子的取向平行。
17.根据权利要求15所述的压印痕宽度检测方法，其特征在于，所述压印痕宽度检测装置在所述图像获取装置获取图像的光路上加装可旋转的偏光滤镜；在通过所述液晶滴注装置向待测压印痕中滴注液晶之前，所述方法还包括：
旋转所述偏光滤镜，使所述背光源提供的背光是起偏振方向，使所述图像获取装置是检偏振方向。
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