CN102252587A - 一种联轴器键槽对称度检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种联轴器键槽对称度检测方法,其能有效避免以往人工检测受检测平台本体精度影响而导致的检测精度低的问题,并有效减少人为检测的影响,测量准确、效率高。其包括以下检测步骤:⑴将待检测联轴器放置于V型铁上,V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;⑵用千分表校对对称度测量块上端面水平度,通过五面体加工机床数控程序检测对称度测量块上端面至检测基准的高度值H1并记录;⑶将待检测联轴器连同插装于键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对对称度测量块下端面水平度,通过五面体加工机床数控程序自动检测对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;⑷根据所测量的H1与H2值,进行对称度值的计算;⑸将L形对称度测量块插入到待检测联轴器的另一端键槽内,重复步骤⑵~步骤⑷,测得另一端键槽对称度值。
Description
技术领域
本发明涉及联轴器加工的检测技术领域,具体为一种联轴器键槽对称度检测方法。
背景技术
对于联轴器内的通长键槽,一般需要检测键槽宽度两边相对于中心线的对称度,以往的检测多是将待检测联轴器放置于检测平台上,人工用千分尺进行测量,其缺点在于:受检测平台本体基准精度低的影响,其检测精度低,同时人工用千分尺进行测量易受人为因素影响,导致其测量不准确,检测效率低。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种联轴器键槽对称度检测方法,其能有效避免以往人工检测受检测平台本体精度影响而导致的检测精度低的问题,并有效减少人为检测的影响,测量准确、效率高。
其技术方案是这样的,其特征在于:
其包括以下检测步骤:
1、将待检测联轴器放置于V型铁上,所述的V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在所述待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;
2、用千分表校对所述对称度测量块上端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值H1并记录;
3、将所述待检测联轴器连同插装于所述键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对所述对称度测量块下端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;
4、根据所测量的H1与H2值,进行对称度值的计算;
5、将所述L形对称度测量块插入到所述待检测联轴器的另一端键槽内,重复步骤2~步骤4,测得另一端键槽对称度值。
其进一步特征在于:所述L形对称度测量块的上端面与下端面平行;所述L形对称度测量块的厚度与所述待检测联轴器的键槽宽度相同;所述L形对称度测量块插入所述键槽时,所述L形对称度测量块与所述键槽之间的间隙不大于0.01mm;所述对称度值=(H1-H2)×h/(d+h),其中h为所述键槽的深度,d为所述联轴器的内孔径。
本发明的联轴器键槽对称度检测方法,其采用五面体加工机床工作台作为检测的平台,由于五面体加工机床与与横梁平行精度高,其能有效避免以往普通检测平台本体精度对检测的影响,同时,其通过五面体加工机床数控程度自动检测,避免了人为检测误差,提高了检测精度,同时提高了检测效率。
附图说明
图1为本发明的联轴器键槽对称度检测示意图;
图2为本发明方法中L形对称度测量块结构示意图;
图3为图2的右视结构示意图;
图4为本发明方法中待检测联轴器截面示意图。
具体实施方式
见图1,本发明方法包括以下检测步骤:
1、将待检测联轴器1放置于V型铁2上,V型铁2放置于五面体加工机床的工作台3,在待检测联轴器1的一端键槽内插入L形对称度测量块4;
2、用千分表8校对对称度测量块4上端面5水平度,当千分表8跳动不大于0.005mm时,通过五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值H1并记录;
3、将待检测联轴器1连同插装于键槽内的对称度测量块4一起翻转180度,用千分表8校对对称度测量块4下端面6水平度,当千分表8跳动不大于0.005mm时,通过五面体加工机床数控程序自动检测对称度测量块4下端面至检测基准的高度值H2并记录;
4、根据所测量的H1与H2值,进行对称度值的计算;
5、将L形对称度测量块4插入到待检测联轴器1的另一端键槽内,重复步骤2~步骤4,测得另一端键槽对称度值。
见图2、图3,L形对称度测量块4的上端面5与下端面6平行;L形对称度测量块4的厚度与待检测联轴器1的键槽宽度c相同;L形对称度测量块4与键槽间隙不大于0.01mm;所述对称度值=(H1-H2)×h/(d+h),其中h为所述键槽的深度,d为所述联轴器的内孔径,见图4。图1中,7为五面体加工机床横梁。
Claims (5)
1.一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:其包括以下检测步骤:
⑴将待检测联轴器放置于V型铁上,所述的V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在所述待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;
⑵用千分表校对所述对称度测量块上端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值H1并记录;
⑶将所述待检测联轴器连同插装于所述键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对所述对称度测量块下端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;
⑷根据所测量的H1与H2值,进行对称度值的计算;
⑸将所述L形对称度测量块插入到所述待检测联轴器的另一端键槽内,重复步骤⑵~步骤⑷,测得另一端键槽对称度值。
2.根据权利要求1所述的一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:所述L形对称度测量块的上端面与下端面平行。
3.根据权利要求2所述的一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:所述L形对称度测量块的厚度与所述待检测联轴器的键槽宽度相同。
4.根据权利要求3所述的一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:所述L形对称度测量块插入所述键槽时,所述L形对称度测量块与所述键槽之间的间隙不大于0.01mm。
5.根据权利要求1所述的一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:所述对称度值=(H1-H2)×h/(d+h),其中h为所述键槽的深度,d为所述联轴器的内孔径。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011101819577A CN102252587A (zh) | 2011-06-30 | 2011-06-30 | 一种联轴器键槽对称度检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011101819577A CN102252587A (zh) | 2011-06-30 | 2011-06-30 | 一种联轴器键槽对称度检测方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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CN102252587A true CN102252587A (zh) | 2011-11-23 |
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ID=44980015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2011101819577A Pending CN102252587A (zh) | 2011-06-30 | 2011-06-30 | 一种联轴器键槽对称度检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102252587A (zh) |
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---|---|---|---|---|
CN102997822A (zh) * | 2012-11-29 | 2013-03-27 | 苏州博德自动化科技有限公司 | 一种电机转子轴跳动检测机的转子轴跳动测量装置 |
CN103196354A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-07-10 | 莱芜钢铁集团有限公司 | 一种通水轴贯穿孔对称度的测量装置及测量方法 |
CN106338231A (zh) * | 2016-09-18 | 2017-01-18 | 广州科技职业技术学院 | 用于发电机组楔形箱盖的检具 |
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PB01 | Publication | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20111123 |