CN102235997A - 一种奥氏体管内氧化物检测探头 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种奥氏体管内氧化物检测探头，包括纯铁磁轭支架、永磁体、线圈；所述纯铁磁轭支架呈“U”形；其上端用来放置被测奥氏体不锈钢管；所述永磁体设置在纯铁磁轭支架的中部；所述线圈设置在纯铁磁轭支架上，所述线圈至少为一个；于本发明的奥氏体管内氧化物检测探头具有高灵敏、快捷、安全无损检测性。
Description
技术领域
本发明涉及一种探头，特别是一种奥氏体管内氧化物检测探头，属于检测技术领域。
背景技术
电厂锅炉中的奥氏体不锈钢管道在运行过程中内壁会产生氧化，由于氧化产物与钢管之间热膨胀系数的差别较大，在管道温度变化时，氧化皮会因此产生的热应力而脱离管道内壁，并在管道下弯头附近沉积下来。为了保证锅炉的正常运行，需要一种确定锅炉管道内氧化物的无损探测装置。
目前比较普遍采用γ射线探伤装置对锅炉管道内沉积的氧化物进行无损探测，其缺点是使用γ射线存在危险性、并且检测费用昂贵。将这种具有多用途的方法用于检测锅炉管道内氧化物时，其灵敏度低，对于数量较少的沉积氧化物难于从图像上辨认确定，尤其当管壁厚度增大时问题更突出，容易发生漏检。同时，受到使用γ射线放射源的危害性限制，γ射线探伤检测装置影响锅炉中的其他检修工作，不利于缩短锅炉检修工期，影响电厂经济效益。
发明内容
针对上述存在的技术问题，本发明的目的是：提出了一种奥氏体管内氧化物检测探头，利用奥氏体不锈钢管外部稳恒磁场对管内氧化物的磁化来完成对奥氏体不锈钢管道内氧化物的高灵敏、快捷、安全无损检测，并且不影响其他检修工作的进行。
本发明的技术解决方案是这样实现的：一种奥氏体管内氧化物检测探头，包括纯铁磁轭支架、永磁体、线圈；所述纯铁磁轭支架呈“U”形，其上端用来放置被测奥氏体不锈钢管；所述永磁体设置在纯铁磁轭支架的中部；所述线圈设置在纯铁磁轭支架上，所述线圈至少为一个。
优选的，所述线圈为2个，分别设置在纯铁磁轭支架的“I”形段上；所述线圈分别与磁通计相连。
由于本发明的奥氏体管内氧化物检测探头，纯铁磁轭支架、永磁体与不导磁的奥氏体不锈钢管组成磁路，在磁路中合适的位置放置线圈，以不损害不锈钢管和方便操作为原则。当管内有氧化物堆积时，导磁的氧化物会使整个磁路的磁阻发生变化，从而使线圈中的磁通量发生变化。将线圈连接到模拟式或数字式的磁通计，就可得到磁通量的读数，从而推断出奥氏体不锈钢管内氧化物量的多少；本方案的奥氏体管内氧化物检测探头高灵敏、快捷、安全无损检测，并且不影响其他检修工作的进行。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明：
图1为本发明的奥氏体管内氧化物检测探头的剖视图；其中：1、纯铁磁轭支架；2、永磁体；3、第一线圈；4、第二线圈；5、被测奥氏体不锈钢管；6、氧化物。
具体实施方式
如图1所示为本发明所述的一种奥氏体管内氧化物检测探头，包括纯铁磁轭支架1、永磁体2、第一线圈3、第二线圈4；所述纯铁磁轭支架1呈“U”形，其上端用来放置被测奥氏体不锈钢管5；所述永磁体2设置在纯铁磁轭支架1的中部；所述第一线圈3、第二线圈4分别设置在纯铁磁轭支架的“I”形段上；所述第一线圈3、第二线圈4分别与磁通计(未示出)相连；所述磁通计(未示出)为是模拟式磁通计，当然所述磁通计也可以是数字式的磁通计。
由于本发明的奥氏体管内氧化物检测探头，纯铁磁轭支架、永磁体与不导磁的奥氏体不锈钢管组成磁路，在磁路中合适的位置放置线圈，以不损害不锈钢管和方便操作为原则。当管内有氧化物堆积时，导磁的氧化物会使整个磁路的磁阻发生变化，从而使线圈中的磁通量发生变化。将线圈连接到模拟式或数字式的磁通计，就可得到磁通量的读数，从而推断出奥氏体不锈钢管内氧化物量的多少；本方案的奥氏体管内氧化物检测探头高灵敏、快捷、安全无损检测，并且不影响其他检修工作的进行。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围，凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (2)
1.一种奥氏体管内氧化物检测探头，其特征在于：包括纯铁磁轭支架、永磁体、线圈；所述纯铁磁轭支架呈“U”形，其上端用来放置被测奥氏体不锈钢管；所述永磁体设置在纯铁磁轭支架的中部；所述线圈设置在纯铁磁轭支架上，所述线圈至少为一个。
2.根据权利要求1所述的奥氏体管内氧化物检测探头，其特征在于：所述线圈为2个，分别设置在纯铁磁轭支架的“I”形段上；述线圈分别与磁通计相连。
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2010
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| PB01 | Publication | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20111109 |