CN102141598B - 一种电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电路测试装置，包括测试装置本体、测试孔连线及与所述测试孔相连的多路电路，还包括刀盘及位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。利用实施例，操作者在进行电路测试时无需反复插拔表笔，提高工作效率且降低了出错概率。

Description

一种电路测试装置

技术领域

本发明涉及电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种电路测试装置。

背景技术

现有的测试仪表面板上会对应测试要求设置相应的测试档位，每个测试档位有相应的测试孔，操作者进行电路测试时，需要对测试孔进行判断，确定测试孔后再将电笔插入测试，当测试孔数量较多时就难免出现插错现象。

为解决上述问题，现有技术提供了一种技术方案，该方案在用户选择不同的测试档时采用凸轮片遮挡其他测试孔而保留相应的测试孔，从而实现了避免表笔误插的目的。

但是，发明人在实施本发明创造过程中，发现上述方案虽然能够防止表笔误插，但至少存在以下缺陷：

测试仪表上仍然需要保留对应不同测试档位的多个测试孔，使用者在执行测试操作时，需要反复插拔表笔来实现换挡（更换测试档位），操作程序比较繁琐。

发明内容

本发明实施例提供了一种电路测试装置，以解决现有技术由于需要有多个测试孔而导致操作程序繁琐的问题。

本发明实施例提供的技术方案如下：

一种电路测试装置，包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔连线及设置在所述本体内部的多路电路，

所述测试孔与所述多路电路相连接，所述测试装置还包括设置在所述测试本体内的刀盘和设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：

所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；

各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；

所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体，以实现与所述对应的圆弧状导体的内导体和外导体相连接的电路与所述测试孔的连接，从而实现测试档位的切换。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片设置在旋钮朝向所述刀盘一侧的圆盘上。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片具有两个触脚，能够分别与圆弧状导体的内导体和外导体相接触。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片成倒V字形或倒U字形，开口朝向所述刀盘。

优选的，上述电路测试装置中，所述刀盘呈圆环状。

优选的，上述电路测试装置中，所述多路电路包括：直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路。

与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：

本发明实施例提供的电路测试装置预先将测试孔与各路电路连通，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。

附图说明

通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1为本发明实施例提供的一种电路测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种电路测试装置中电路和测试孔之间的结构示意图1；

图3为本发明实施例提供的一种电路测试装置中连接片与刀盘接触的示意图；

图4为本发明实施例提供的一种电路测试装置中刀盘的结构示意图；

图5-图7为本发明实施例提供的一种电路测试装置的工作示意图；

图8为本发明实施例提供的另一种电路测试装置的刀盘结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不以一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

针对现有技术存在的由于存在多个测试孔，测试人员需要反复插拔表笔，测试步骤繁琐费时的问题，本发明提供了一种解决方案，其基本思想是通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，以切换测试档位。

本实施例提供了一种电路测试装置，其一种结构如图1所示，包括测试装置本体（图中未示出）、测试孔11、设置在所述本体内部的多路电路12、刀盘13和旋钮（图中未示出），其中：

所述测试孔11与各路电路12相连接，如图2所示；

所述刀盘13设置于所述测试本体内，作为切换开关置于所述测试孔与各路电路12之间，由多段圆弧状导体131组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体132和一个半径较大的外导体133组成，所述内导体132和外导体133圆心相同，互不相连。

各路电路12的两极（正负极）分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体。

可以这么认为，刀盘只是对于PCB板上某种布线方式的一个行业内的通常称谓，对于本文所提出的方案来说，就是一个连接一个断路的正负极的导同心圆弧段。

所述旋钮设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘13外侧，其朝向所述刀盘13的一侧设置有接触片14，所述接触片14随着旋钮同步转动，并同时与所述刀盘13上与所述接触片14位置对应的圆弧状导体的内导体132和外导体133相接触或相分离，当相接触时，相应电路被导通，当相分离时，相应电路被断开。

所述接触片14的形状可以是平面片状，也可以是其他任意形状，只要是能够接通内导体132和外导体133即可。

优选的，所述接触片14可以是倒u状或者倒v状，如图3所示，开口朝向所述刀盘13，在与刀盘13接触时，其两个支脚分别与刀盘13某圆弧状导体的内导体132和外导体133相接触，并在具有一定压力时能够产生一定弹性形变，从而能保证接触片14和刀盘13某圆弧状导体的内导体132和外导体133之间的接触良好。

所述接触片14可以通过固定部固定于所述旋钮朝向所述刀盘13的一侧上，优选的，所述固定部可以是圆盘，该圆盘套装在旋钮的内轴（图中未示出），位于所述旋钮和所述刀盘13之间，且能够随着旋钮的同步转动。

所述刀盘13可以呈如图1所示的圆环状，也可以是圆环段，如图4所示，一般情况下，如果测试档位不多，则所述刀盘13可以是圆环段。

所述多路电路可以包括直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路中的任意两路或任意多路。

本发明提供的上述机械式测试装置，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。

为了更清楚地表述本实施例的技术方案，下面以接触片14为平面片，测试档位包括对应直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路的档位，刀盘13呈圆环状为例，结合图5～图7，介绍本实施例的工作过程：

假设初始位置时，接触片14位于电阻电路测试档位（R），同时接触外导体133和内导体132，导通电阻电路，此时，测试者将电笔插进测试孔和接地孔，即可进行电阻电路测量。

当需要切换到直流电压电路测试档位（V）时，旋转旋钮带动接触片14同步转动，直至接触片14脱离所述外导体133和内导体132，并与外导体135和内导体134相接触，即完成从电阻电路测试档位到直流电压测试档位的切换，如图5所示。

当需要切换交流电压电路测试档位（V～）时，旋转旋钮带动接触片14同步转动，直至接触片14脱离所述外导体135和内导体134，并与外导体137和内导体136相接触，即完成从直流电压电路测试档位到交流电压测试档位的切换，如图8所示。

同理，旋转旋钮带动接触片14同步转动即可完成洛仑兹力（F）、交流电流电路（A～）、直流电流电路（A）测试档位的测量，在此过程中无需反复插拔表笔，即插一次表笔即可完成所有测试档位的测量。

另外，为了实现精细化测量，可以将每个测试档位按照圆弧状导体的长度不同细分为不同档位，例如电阻电路测试档位即可细分为200、2K、……200M，直流电压电路测试档位即可细分为200m、2、……、1000，等等，如图7所示。

可以看出，本发明实施例提供的电路测试装置预先将测试孔与各路电路连通，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (6)

1.一种电路测试装置，包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔及设置在所述本体内部的多路电路，其特征在于，所述测试孔与所述多路电路相连接，所述测试装置还包括设置在所述本体内的刀盘和设置在所述本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：

所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个内导体和一个外导体组成，所述内导体的半径小于所述外导体的半径，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；

各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；

所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体，以实现与所述对应的圆弧状导体的内导体和外导体相连接的电路与所述测试孔的连接，从而实现测试档位的切换。

2.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，所述接触片设置在旋钮靠近所述刀盘一侧的圆盘上。

3.根据权利要求1或2所述的电路测试装置，其特征在于，所述接触片具有两个触脚，能够分别与圆弧状导体的内导体和外导体相接触。

4.根据权利要求3所述的电路测试装置，其特征在于，所述接触片成倒V字形或倒U字形，开口朝向所述刀盘。

5.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，所述刀盘呈圆环状。

6.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，所述多路电路包括：直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路。

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