CN102135408A - 一种打印机零件平面度的测量方法 - Google Patents

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张泰�
张小勇
磨小翠
肖臻锋
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Abstract

本发明涉及一种打印机零件平面度的测量方法。所述打印机零件平面度的测量方法，包括：(1)将四个等高铁块垂直放在大理石平台上；(2)把打印机零件骨位面四角轻放在四个等高铁块上；(3)在打印机零件外观面取十四个点作为测量位置；(4)将高度规探头放在打印机零件外观面右上角的测量位置，使其刻度为“0”；(5)用高度规确认打印机零件外观面的左上角、左下角、右下角的三处测量位置与右上角测量位置在同一面上，并进行测量；(6)用高度规分别测量打印机零件外观面的其它十处测量位置的值；(7)把所测数据标在测点分布图上，找出最大、最小偏差值，再计算出平面度。该发明有效地解决了采用高度规对平面度进行测量的技术问题，操作简单、成本低、数据准确。

Description

一种打印机零件平面度的测量方法
技术领域
本发明涉及一种打印机零件平面度的测量方法。
背景技术
一般塑胶产品的平行度、变形度、平面度、同轴度是所有图纸规格中最难以测量的寸法。其中，平面度一般采用平面扫描仪配合望远镜、三坐标测量仪、激光测量仪、平晶测量仪等工具进行测量，目前已经公布两种平面度测量的技术报道：“平台平面度测量方法(专利号：200410020742.7)”利用平面扫描仪配合望远镜对产品平面度进行测量，工具昂贵、方法繁琐、不易操作；而“一种对慢走丝切割钨及钨合金器件的平面度测量方法(专利号：200910180108.2)”利用非接触式激光平面度测量仪对产品平面度进行测量，工具非常昂贵、方法繁琐、操作复杂。但是这些测量工具都很昂贵，测量成本高，不适合中小企业，而且方法繁琐、操作复杂。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种在大理石平台上采用高度规对长389mm、宽184.2mm的平板状打印机外观塑胶制品的平面度0.2mm进行测量，操作简单、测量成本低、数据准确的打印机零件平面度的测量方法。
为了解决上述技术问题，本发明提出的打印机零件平面度的测量方法的特殊之处在于：
1、将四个等高的圆柱铁块垂直且均匀地放在大理石平台上；
2、把打印机零件骨位面的四角轻放在四个等高圆柱铁块上；
3、在打印机零件外观面平行且均匀地取十四个点作为测量位置；
4、将高度规探头放在打印机零件外观面右上角的测量位置，刻度为“0”；
5、用高度规确认打印机零件外观面的左上角、左下角、右下角的三处测量位置与右上角测量位置必须在同一面上，并进行测量；
6、再用高度规分别测量打印机零件外观面的其它十处测量位置的值；
7、把所测数据标在测点分布图上，找出最大、最小偏差值，再计算出平面度：Δ＝最大偏差值-最小偏差值。
本发明与传统技术相比具有以下优点：对长389mm、宽184.2mm的平板状打印机外观塑胶制品的平面度0.2mm在大理石平台上采用高度规就可以进行测量，工具普通、操作简单、测量成本低、数据准确。
附图说明
图1是本发明的等高块位置图。
图2是本发明的测量点位置图。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明做进一步详述：
请参阅图所示，所述打印机零件平面度的测量方法，包括：(1).将四个等高的圆柱铁块垂直且均匀地放在大理石平台上；(2).把打印机零件骨位面1的四角11、12、13、14在轻放在四个等高的圆柱铁块上；(3).在打印机零件外观面2平行且均匀地取21、22、23、24、25、26、27、28、29、210、211、212、213、214作为测量位置；(4).将高度规探头放在打印机零件外观面2的右上角测量位置23，刻度为“0”；(5).用高度规确认打印机零件外观面2的左上角21、左下角212、右下角214的三处测量位置与右上角测量位置23必须在同一面上，并进行测量；(6).再用高度规分别测量打印机零件外观面2的其它十处测量位置22、24、25、26、27、28、29、210、211、213的值；(7).把所测数据标在测点分布图上，找出最大、最小偏差值，再计算出平面度：Δ＝最大偏差值-最小偏差值。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明权利要求的涵盖范围。

Claims (1)

1.一种打印机零件平面度的测量方法，其特征在于，包括：
(1).将四个等高的圆柱铁块垂直且均匀地放在大理石平台上；
(2).把打印机零件骨位面的四角在自然状况下轻放在四个等高圆柱铁块上；
(3).在打印机零件外观面平行且均匀地取十四个点作为测量位置；
(4).将高度规探头放在打印机零件外观面右上角测量位置，使其刻度为“0”；
(5).用高度规确认打印机零件外观面的左上角、左下角、右下角的三处测量位置与右上角测量位置必须在同一面上，并进行测量；
(6).再用高度规分别测量打印机零件外观面的其它十处测量位置的值；
(7).把所测数据标在测点分布图上，找出最大、最小偏差值，再计算出平面度：Δ＝最大偏差值-最小偏差值。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20110727