CN102122062A - 平板移束超衍射分辨率显微镜 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种平板移束超衍射分辨率显微镜装置,包括依次位于同一光路上的准直物镜、横向移束平板、纵向移束平板、聚焦物镜和目镜。物点发出的光经准直物镜后成为平行光,该平行光经横向移束平板的多次反射和透射后,产生多束透射光,合成光束在横向扩束,再经纵向移束平板后,合成光束在纵向扩束,经扩束后的平行光透过聚焦物镜后,会形成更小的衍射斑,从而突破普通显微镜的衍射分辨率限制。
Description
技术领域
本发明属于光学成像技术领域,涉及一种显微镜装置,具体为一种平板移束超衍射分辨率显微镜。由于采用光学玻璃平板内部的多次反射和透射,使从物镜出射的光束平行移动多次,每次产生一束透射光,并与直接透射光束一起构成若干倍于入射光束宽度的出射光束,经聚焦镜后,可以形成更小的聚焦光斑,从而提高成像的分辨率。本发明可以用于所有透射和反射显微镜。
背景技术
普通显微镜是一种经典的光学仪器,它是由物镜和目镜组成。普通显微镜的分辨率由物镜的数值孔径决定,其理论依据是光的衍射:
图1的普通显微镜中,由于物体S0与物镜OL的距离(物距L1)很短,因此,即使物方孔径角u1很大,物镜OL的孔径也很小,而光线经物镜所形成的像点S2距离物镜的距离(像距L2)却很大,这就导致在像方聚焦后,光线的会聚角u2(像方孔径角)远小于物方孔径角u1,其所形成的衍射光斑因此较大,根据圆孔衍射的理论,衍射光斑半径为:
ρ=0.61λ/u2
将物镜的横向放大率β=u1/u2代入,在物方的分辨率为
这正是物镜在物方的衍射斑的尺寸。显然,传统显微镜分辨率的限制在于u2太小。
发明内容
本发明的目的是提供一种平板移束超衍射分辨率显微镜,该显微镜采用光学的方法增大显微物镜的像方会聚角u2,从而增大显微镜的分辨率。
本发明提供的一种平板移束超衍射分辨率显微镜,其特征在于,该显微镜包括依次位于同一光路上的准直物镜、横向移束平板、纵向移束平板、聚焦物镜和目镜;
设准直物镜的光轴为z轴(图2),则横向移束平板的表面与x轴平行,且其表面法线与z轴的夹角βx、厚度hx满足以下关系:
其中,n为横向移束平板的折射率,θx为光线在横向移束平板内的折射角,λ为光的波长,a为光束的宽度,hx为横向移束平板的厚度,βx为横向移束平板的倾斜角,kx为任意正整数;
纵向移束平板的表面与y轴平行,且其表面法线与z轴的夹角βy、厚度hy满足以下关系:
其中,n为纵向移束平板的折射率,θy为光线在纵向移束平板内的折射角,λ为光的波长,a为光束的宽度,hy为纵向移束平板的厚度,βy为纵向移束平板的倾斜角,ky为任意正整数。
本发明显微镜工作时,物点S0发出的光以孔径角u1进入准直物镜OL1,出射后成为平行光a1b1,a1b1随即进入横向移束平板px,一部分透射,成为b3c1,一部分反射,经两个表面的反射后,再透射成为b4c2,由于b3c1和b4c2平行,他们共同成为横向移束平板px的透射光,因此,光束a1b1在y方向增宽了;光束b3c1和b4c2随即进入纵向移束平板py,平板py的表面与y轴平行,与在平板px中类似,光束b3c1和b4c2分别直接透射一束光,经两次反射后各再透射一束光,成为4束光c3e1、c4e3、c7e2和c8e4,因此在x方向平移增宽了;因此,从准直物镜OL1出来的光束a1b1沿x和y两个方向都增宽了,并仍然保持平行光,且波阵面同相位,此光束再经聚焦物镜OL2后,所形成的衍射斑将比单独a1b1光束经聚焦物镜OL2后所形成的衍射斑小,根据衍射理论,如果a1b1增宽一倍,则衍射斑将缩小一倍,如果a1b1增宽N倍,则衍射斑将缩小N倍。因此,本发明显微镜将有超过传统显微镜衍射极限的更高的分辨率。
附图说明
图1是传统显微镜光路示意图;
图2是本发明装置的光路原理示意图;
图3是本发明装置的zoy视图;
图4是本发明装置的zox视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例为本发明作进一步详细的说明:
本发明提供的平板移束超衍射分辨率显微镜,其特征在于(图2):该装置包括准直物镜OL1、横向移束平板px、纵向移束平板py,聚焦物镜OL2,目镜EL。
本发明的基本原理如图2所示,其工作过程如下:
本发明显微镜工作时,物点S0发出的光以孔径角u1进入焦距为f1的准直物镜OL1,出射后成为平行光a1b1,其光束宽度a为
a=2f1×u1 (1)
a1b1随即进入横向移束平板px,平板px的表面与x轴平行;
图3为在zoy坐标平面内,光线在平板px内部的行进路径示意图,进入平板px的光束b1b3在b3点一部分透射,成为b3c1,一部分反射,成为b3b2,光束b3b2再经b2点的反射和b4点的透射后,成为b4c2。
选择px的厚度hx和倾斜角βx,使b4c2相对b3c1的光程差opd是波长λ的整数kx倍,即
opd=2n·hx·cosθx=kx·λ (2)
式中n是平板px的折射率,θx是光线在平板px内的折射角。满足式(2),b4c2和b3c1的波阵面的相位就是一致的!其中,kx为任意正整数;
同时,选择px的厚度hx和倾斜角βx,使b4c2相对b3c1的横向偏移量dx与光束的宽度近似相等
dx=b4t=2hxtanθxcosβx≈a (3)
其中,βx是平板px表面法线与光轴z的夹角,也就是光线在平板px表面的入射角,显然
sinβx=nsinθx (4)
在实施中,a、hx是已知量,故先由公式(3)和(4)算出平板px需要的大致转角βx,然后,由于波长λ相对于a、hx是非常小的量,只需对平板px作精细微调旋转,略微改变一点βx(从而改变θx),就可以满足(2)式,同时,也满足(3)式。
由于b3c1和b4c2平行,他们共同成为横向移束平板px的透射光,因此,光束a1b1在y方向增宽了;
光束b3c1和b4c2随即进入纵向移束平板py,平板py的表面与y轴平行,图4为在zox坐标平面内,光线在平板py内部的行进路径示意图,需说明的是,光束b4c2在b3c1的纸面下方,故被遮挡而不可见。
与在平板px内的情形相同,光束b3c1和b4c2分别直接透射一束光c3e1和c4e3,经两次反射后各再透射一束光c7e2和c8e4,成为4束光,使得光束b3c1和b4c2在x方向平移增宽,同时,通过平板py的厚度hy和倾斜角βy的设计和调节,确保c3e1和c7e2的光程差是波长λ的整数倍,c4e3和c8e4的光程差也是波长λ的整数倍ky,ky为任意正整数。
自此,从准直物镜OL1出来的光束a1b1变成了4束光束,即沿x和y两个方向都增宽了,并且不但保持平行光,且4束光束波阵面同相位,此光束再经聚焦物镜OL2后,所形成的衍射斑将比单独a1b1光束经聚焦物镜OL2后所形成的衍射斑小,根据衍射理论,如果e1e3的光束总宽度为2a,则衍射光斑半径为:
ρ′=0.61λ/(2a/f2)
将物镜的横向放大率β=f2/f1代入,在物方的分辨率为
对比前述传统显微镜的分辨率ε,显然,ε′只有ε的一半,即本发明显微镜的分辨率提高了一倍,它只是物镜在物方的衍射斑尺寸的一半。
同理,如果将光束a1b1的宽度增大N倍,则分辨率将提高N倍!
目镜EL用于由人眼观察物镜的像S1,也可以将S1成像到摄像机的传感面上,再在显示器上观察。
实施例:
图2中,准直物镜焦距f1=16mm,u1=0.15,则a=2f1×u1=4.8mm。
平板折射率n=1.5,厚度hx=hy=10mm。
根据(3)式,解出
平板倾斜角βx=βy≈22°
聚焦物镜焦距f1=110mm
以上所述为本发明的较佳实施例而已,但本发明不应该局限于该实施例和附图所公开的内容。所以凡是不脱离本发明所公开的精神下完成的等效或修改,都落入本发明保护的范围。
Claims (1)
1.一种平板移束超衍射分辨率显微镜,其特征在于,该显微镜包括依次位于同一光路上的准直物镜、横向移束平板、纵向移束平板、聚焦物镜和目镜;
设准直物镜的光轴为z轴,则横向移束平板的表面与x轴平行,且其表面法线与z轴的夹角βx、厚度hx满足以下关系:
n为横向移束平板的折射率,θx为光线在横向移束平板内的折射角,λ为光的波长,a为光束的宽度,hx为横向移束平板的厚度,βx为横向移束平板的倾斜角,kx为任意正整数;
纵向移束平板的表面与y轴平行,且其表面法线与z轴的夹角βy、厚度hy满足以下关系:
其中,n为纵向移束平板的折射率,θy为光线在纵向移束平板内的折射角,λ为光的波长,a为光束的宽度,hy为纵向移束平板的厚度,βy为纵向移束平板的倾斜角,ky为任意正整数。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995030927A1 (en) * | 1994-05-06 | 1995-11-16 | Philips Electronics N.V. | Beam-combining device and colour image projection apparatus provided with such a device |
CN1480758A (zh) * | 2003-07-18 | 2004-03-10 | 华中科技大学 | 远距高倍短筒显微镜 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995030927A1 (en) * | 1994-05-06 | 1995-11-16 | Philips Electronics N.V. | Beam-combining device and colour image projection apparatus provided with such a device |
CN1480758A (zh) * | 2003-07-18 | 2004-03-10 | 华中科技大学 | 远距高倍短筒显微镜 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
《仪器仪表学报》 19960229 邬敏贤,刘海松,金国藩等 《超衍射分辨率的微光学器件》 264-268 1 第17卷, 第1期 2 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117191199A (zh) * | 2023-11-07 | 2023-12-08 | 四川中久大光科技有限公司 | 光束指向监测系统和方法 |
CN117191199B (zh) * | 2023-11-07 | 2024-01-23 | 四川中久大光科技有限公司 | 光束指向监测系统和方法 |
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