CN102053636A - 一种电子产品老化房用多点测控温系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子产品老化房用多点测控温系统,包括分别布设在老化房内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路和通过控制电路对多个加热风机进行综合控制的主控机,多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路且所述智能温度采集及A/D转换电路与主控机相接,控制电路分别与主控机和多个加热风机相接。本发明布设方便、使用操作简便且使用效果好,能有效克服现有老化房内老化区域中的温度分布不均匀、单点测温不准确、生产成本高等实际问题。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子产品老化房用测控温系统,特别是涉及一种电子产品老化房用多点测控温系统。
背景技术
老化房,又叫烧机房,是针对高性能电子产品(如:计算机整机、显示器、终端机、车用电子产品、电源供应器、主机板、监视器和交换式充电器等)仿真出一种高温、恶劣测试环境的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备,该设备已广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
电子产品的高低温老化试验是排除电子产品早期失效,控制产品质量的必要手段。老化房内温度分布的均匀性是老化房的重要技术指标,将直接影响放置在不同老化房区域内电子产品的老化结果。目前,国内很多企业的电子产品老化房,其温度控制系统所检测的范围仅仅是老化房内某一点的温度,对于有效老化区域内其它点的温度分布情况及其随时间的变化情况,不能进行动态的检测记录,因而难以解决老化房内温度分布不均匀的实际问题,从而大大影响了电子产品高低温老化试验的试验效果。为了保证电子产品的老化结果,应该对老化房内有效老化区域中温度分布的整体动态情况进行检测记录,以便调整老化房的热供应分布,使有效老化区域的温度场变化控制在电子产品老化温度的工艺窗口内。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种电子产品老化房用多点测控温系统,其布设方便、使用操作简便且使用效果好,能有效克服现有老化房内老化区域中的温度分布不均匀、单点测温不准确、生产成本高等实际问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:包括分别布设在老化房内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行实时检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路和通过控制电路对所述多个加热风机进行综合控制的主控机,所述多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路且所述智能温度采集及A/D转换电路与主控机相接,所述控制电路分别与主控机和多个加热风机相接。
所述温度检测单元为温度传感器。
所述温度检测单元和加热风机的数量均为8个。
所述智能温度采集及A/D转换电路为设置有8个测量通道的数据采集及处理电路,控制电路为设置有8个控制信号输出通道的控制电路。
所述多个温度检测单元呈均匀布设。
本发明与现有技术相比具有以下优点:
1、设计合理、成本低且安装布设方便。
2、使用操作简便且实现方便,通过合理布置增加进气口、回气口以及室内测温点的数量,即可实现老化区域内温度均匀分布的目的,从而大大降低了施工难度和生产成本。
3、工作性能可靠且使用效果好,本发明通过设置多个测温点有效解决了老化房内温度分布不均的难题,实现了对老化区域中的多点同时进行测控温的目的,从而有效保证了老化房内温度分布的均匀性。实际使用过程中,老化区域内的多个温度传感器(即测温点)分别实时对各点的温度进行监测且将所测温度同时反馈给智能温度采集及A/D转换电路,随后温度采集及A/D转换电路将从温度传感器输出的模拟信号转换为温度数字信号,经过数据总线传递给计算机即主控机;计算机处理并显示该温度信号,同时计算机根据处理结果输出控制信号,通过控制电路相应分别对各加热风机进行驱动控制,最后由加热风机控制老化区域中相应温室内的温度进行调整。综上,分散安装在老化区域内的多个温度传感器和加热风机将实时监控各点的温度,及时掌握老化区域的温度分布情况,从而有效避免了单点测量造成的温度分布不均匀的弊端。
综上所述,本发明布设方便、使用操作简便且使用效果好,能有效克服现有老化房内老化区域中的温度分布不均匀、单点测温不准确、生产成本高等实际问题。本发明针对目前老化房室单点测控温系统的弊端,提出了室内测控温点数量的改进措施,克服了老化区域温度分布不均匀和单点测控温不准确的问题,其能同时测控老化区房内多点温度,有效实现了对老化区域温度分布均匀性进行控制的目的。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本发明的电路原理框图。
图2为本发明加热风机组和温度传感器组的布设位置结构示意图。
附图标记说明:
1-加热风机; 2-温度传感器; 3-老化房;
4-主控机; 5-智能温度采集及A/D 6-控制电路;
转换电路;
7-加热风机组;8-温度传感器组。
具体实施方式
如图1所示,本发明包括分别布设在老化房3内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行实时检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机1、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路5和通过控制电路6对所述多个加热风机1进行综合控制的主控机4。所述多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路5且所述智能温度采集及A/D转换电路5与主控机4相接,所述控制电路6分别与主控机4和多个加热风机1相接。
本实施例中,所述温度检测单元为温度传感器2。所述温度检测单元(即温度传感器2)和加热风机1的数量均为8个。所述8个加热风机1组成加热风机组7,且8个温度传感器2组成温度传感器组8。所述智能温度采集及A/D转换电路5为设置有8个测量通道的数据采集及处理电路,控制电路6为设置有8个控制信号输出通道的控制电路。结合图2,所述多个温度检测单元呈均匀布设。由于智能温度采集及A/D转换电路5设置有8个测量通道,因而其最多可接入8个温度传感器2,同时智能温度采集及A/D转换电路5内部还集成有一个系统校零或参比端补偿通道,并且通过模拟开关CD4052切换并分别选中各测量通道。每个测量通道的输入都有完善的保护和滤波电路,放大电路采用双高阻差动输入数据放大器,共模抑制比能够达到120dB,具有很好的抗共模干扰能力;并且采用数字校零方式消除系统的时漂和温漂。
本发明的工作过程是:首先,分散布置在老化区域内的多个温度传感器2(即测温点)将所测得的温度通过数据传输线同时送至智能温度采集及A/D转换电路5;然后,温度采集A/D及转换电路5将从各温度传感器2输出的模拟信号转换为温度数字信号后通过数据总线传递给主控机4即计算机;主控机4相应对所输入信号进行分析处理后,在显示器上进行同步显示,与此同时,主控机4根据分析处理结果向控制电路6输出控制信号,通过控制电路6对相应加热风机1进行驱动控制;最后,由加热风机1具体对老化区域相应温区的温度进行调整控制。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明作任何限制,凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化,均仍属于本发明技术方案的保护范围内。
Claims (5)
1.一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:包括分别布设在老化房(3)内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行实时检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机(1)、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路(5)和通过控制电路(6)对所述多个加热风机(1)进行综合控制的主控机(4),所述多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路(5)且所述智能温度采集及A/D转换电路(5)与主控机(4)相接,所述控制电路(6)分别与主控机(4)和多个加热风机(1)相接。
2.按照权利要求1所述的一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:所述温度检测单元为温度传感器(2)。
3.按照权利要求1或2所述的一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:所述温度检测单元和加热风机(1)的数量均为8个。
4.按照权利要求3所述的一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:所述智能温度采集及A/D转换电路(5)为设置有8个测量通道的数据采集及处理电路,控制电路(6)为设置有8个控制信号输出通道的控制电路。
5.按照权利要求1或2所述的一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:所述多个温度检测单元呈均匀布设。
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PB01 | Publication | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20110511 |