CN102043111A - 一种微针治具及组合治具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种微针治具及组合治具,用于连接待测线路板至测试机。该微针治具包括微针盘,微针盘包括多个微探针,微探针与待测线路板的测点分别一一对应;微针治具还包括表面设有多个导电单元的转接线路板、以及将导电单元电连接至测试机的连接机构;导电单元与待测线路板的测点一一对应,并通过微探针一一电连接。通过将导电单元、微探针与待测线路板的测点一一对应,保证了微探针能够基本垂直的设置在导电单元和测点之间,从而提高了测试的准确性和可靠性。另外,可通过增加的海绵层来保持微探针,而不会导致掉落,其结构简单合理、成本低。还可以通过设置导引板来方便探针的导入,使得组装更加的方便、可靠。
Description
技术领域
本发明涉及线路板的测试治具,更具体地说,涉及一种用于连接测线路板至测试机的微针治具。
背景技术
线路板生产厂家在制作完成线路板后都要对线路板上的线路进行断路和短路测试。现有技术对线路板短路和断路的测试,通常是使用专用测试机、通用测试机。待测线路板通过测试治具导电连接到测试机上,由测试机对待测线路板的待测点进行短路和断路的测试。
随着线路板的集成度越来越高,焊点越来越小、密度越来越高,出现了一些微针测试治具来满足需求。该种微针治具由测试夹具和转接线路板组成。该测试夹具设有若干微针;而转接线路板上设有与微针对应的网状触点、以及与网状触点对应的网状引出点。其中,网状触点为密度很高的通用型布局,虽然,提高了产品的适应性,但是,这样会造成至少以下缺陷:1、由于网状触点是均布的,因此会造成微针的倾斜,从而造成微针的接触不良,而导致误测、错测等;2、网状触点的密度较高,对转接线路板的钻孔工艺要求较高,增加了加工成本。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术的微针治具的微针容易倾斜的缺陷,提供一种微针垂直度好、测试准确可靠的微针治具及组合治具。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种微针治具,用于连接待测线路板至测试机,包括微针盘,所述微针盘包括多个微探针,所述微探针与所述待测线路板的测点分别一一对应;所述微针治具还包括表面设有多个导电单元的转接线路板、以及将所述导电单元电连接至所述测试机的连接机构;
所述导电单元与所述待测线路板的测点一一对应,并通过所述微探针一一 电连接。
在本发明的微针治具中,所述微针盘包括相隔一定距离的顶板和底板;所述顶板和底板上开设有多个供所述微探针穿出的通孔;所述通孔的直径大于所述微探针的直径。
在本发明的微针治具中,所述底板和/或顶板上设有滞留层,保证所述微探针受力时上下活动而不会掉落。
在本发明的微针治具中,所述滞留层为贴设在所述底板和/或顶板上的海绵层。
在本发明的微针治具中,所述顶板和地板之间还设有导引板;所述导引板上设有多个供所述微探针通过的导引孔;所述导引孔的直径大于所述微探针的直径。
在本发明的微针治具中,所述通孔和导引孔分别与所述微探针一一对应;
所述导引板为活动导引板,并且在所述活动导引板与所述底板之间设有可移出的垫块。
在本发明的微针治具中,所述连接机构包括在所述转接线路板一侧设置的导电点、安装在所述导电点上的插座、连接所述插座和导电单元的内部线路、以及连接所述插座至所述测试机的排线。
在本发明的微针治具中,所述连接机构包括在所述转接线路板另一表面设置与所述导电单元一一对应的导电点、以及设置在所述导电点一侧的弹簧盘;
所述弹簧盘包括多个与所述导电点一一对应的弹簧、设置在一侧的插座、将所述弹簧与所述插座到电连接的导线、以及将所述插座连接至所述测试机的排线。
在本发明的微针治具中,所述微探针的直径小于0.15mm。
本发明还提供一种组合治具,用于连接待测线路板至测试机,包括微针治具以及针盘治具;
所述微针治具包括微针盘,所述微针盘包括多个微探针,所述微探针与所述待测线路板的测点分别一一对应;其特征在于,所述微针治具还包括表面设有多个导电单元的转接线路板、以及将所述导电单元电连接至所述测试机的连 接机构;
所述导电单元与所述待测线路板的测点一一对应,并通过所述微探针一一电连接;
所述针盘治具包括设有若干通孔的针盘、以及穿过所述针盘通孔的若干探针;所述探针与所述待测线路板的测点对应;
所述连接机构包括在所述转接线路板另一表面设置与所述导电单元一一对应的导电点、以及设置在所述导电点一侧的弹簧盘;
所述弹簧盘包括多个与所述导电点一一对应、与所述探针对应的弹簧,设置在一侧的插座,将所述弹簧与所述插座到电连接的导线、以及将所述插座连接至所述测试机的排线。
实施本发明具有以下有益效果:通过将导电单元、微探针与待测线路板的测点一一对应,保证了微探针能够基本垂直的设置在导电单元和测点之间,从而提高了测试的准确性和可靠性。另外,可通过增加的海绵层来保持微探针,而不会导致掉落,其结构简单合理、成本低。还可以通过设置导引板来方便探针的导入,使得组装更加的方便、可靠。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明微针治具的第一实施例示意图;
图2是本发明微针治具的第二实施例的示意图;
图3是本发明组合治具的实施例的示意图。
具体实施方式
如图1所示,是本发明的微针治具的第一实施例,用于连接待测线路板110至测试机,包括微针盘、转接线路板130以及连接机构等。该待测线路板110上有若干待测测点111,而测试机可以为专用测试机和泛用测试机。
该微针盘设置在待测线路板110与转接线路板130之间,将待测线路板110与转接线路板130进行导电连接。该微针盘包括相隔一定距离的顶板121和底板122、以及穿设在顶板121和底板122上的微探针123。可以理解的,该顶板121和底板122之间可以在角落位置通过连杆、支柱等各种方式固定连 接。该顶板121和底板122可以采用一层或多层的绝缘板才做成,而微探针123的直径小于0.15mm。
在该顶板121和底板122上开设有多个供微探针123穿出的通孔,每一通孔的直径稍大于微探针123的直径,从而使得微探针123可以上下活动。而通过顶板121和底板122相隔开,使得微探针123可以产生形变,而实现紧密的导电接触。
为了方便微探针123的定位以免掉落,在底板122上还可以设置有滞留层124,如海绵层等,保证所有微探针123能够从海绵层中穿过,并且使得微探针123可以在受力时上下活动,又不会从微针盘中掉落。当然,该滞留层124还可以设置在顶板121上或者同时在顶板121和底板122上设置。另外,微探针123的定位防掉落还可以通过其他方式实现,例如通过控制通孔的孔径与微探针123的外径的大小比例等。
在本实施例中,为了方便微探针123的插入,在顶板121和底板122之间还设有导引板125,该导引板125上设有多个供微探针123通过的导引孔,该导引孔的直径大于微探针123的直径。可以理解的,也可以在导引板125上设置滞留层124,或者通过控制导引孔的孔径来保证微探针123不会掉落。
在微探针123插入安装时,首先可以采用垫块126将导引板125升高到顶板121和底板122之间的中间位置,这样在组装和维修时,微探针123可以更容易的插入到微针盘里。在完成微探针123的插入后,可以将垫块126去掉,此时,导引板125可以在重力或推动力作用下落到底板122上方,而不会影响微探针123的弯曲形变。
该转接线路板130设置于微针盘远离待测线路板110的一侧,其一侧表面设有多个导电单元131。该导电单元131与待测线路板110的测点111一一对应,并通过微探针123与测点111一一对应电连接。由于导电单元131与待测线路板110的测点111、微探针123都是一一对应的,因此,可以保证微探针123基本垂直设置在导电单元131和测点111之间,从而避免了由于微探针123的倾斜造成的误测增多的缺陷,并且,无须制作高密度的导电触点,大大降低了转接线路板130和微针盘的制作难度,降低了成本。
在本实施例中,将导电单元131连接至测试机的连接机构包括在转接线路板130一侧设置的导电点、安装在导电点上的插座132、连接该插座132和导电单元131的内部线路133、以及连接插座132至测试机的排线。该插座132可以为牛角插座132,其PIN点的位置与导电点的位置相对应,通过设置的插座132可以更方便的利用排线于测试机进行信号的连接。
在使用时,根据待测线路板110的测点111,在微针盘的顶板121、底板122上设置对应的通孔,并在导引板125上设置对应的导引孔;并且,在转接线路板130的一侧表面设置与测点111对应的导电单元131。然后,将微探针123对应插入到微针盘的通孔内,使得微探针123的两端分别与测点111和导电单元131相接触,从而将测点111与导电单元131实现连接。导电单元131再通过连接机构连接至测试机,由测试机对待测线路板110进行短路、断路的测试。
上述实施例的治具适用于单面测点的待测线路板,可以理解的,当待测线路板为双面均有测点的线路板时,可以增加上模部分,即将上述实施例的治具反转,设置于待测线路板的另一侧即可。
如图2所示,是本发明微针治具的第二实施例,其与上一实施例的区别在于导电单元与测试机的连接机构不同,其它结构基本类似,故不赘述。在本实施例中,该连接机构包括在转接线路板230上设置的导电点234、设置在导电点234一侧的弹簧盘240。该导电点234与导电单元231一一对应,并且位于与导电单元231相背的另一侧表面。
该弹簧盘240包括多个与导电点234一一对应的弹簧241、设置在弹簧盘240一侧的插座242、将弹簧241与插座242到电连接的导线243、以及将插座242连接至测试机的排线。
通过导电点234与导电单元231一一对应连接,然后再通过弹簧241与导电点234连接,再通过牛角插座242、排线等连接至测试机,简化了转接线路板230的制作。
如图3所示,是本发明组合治具的实施例,该治具包括第二实施例的微针治具以及针盘治具。通常,待测线路板310的测点311分布是不均匀的,有一 些较密的区域,而也有一些较稀疏的区域,本实施例的治具,在较密区域设置微针治具,而在较稀疏的区域则采用针盘治具。该微针治具的结构如第二实施例所记载,故不赘述。
该针盘治具包括设有若干通孔的针盘350、以及穿过针盘350通孔的若干探针351。弹簧盘340上设有与探针351对应的弹簧341,并且每一弹簧341通过导线343与一侧设置的插座342连接。每一探针351的两端分别连接待测线路板上的测点311和弹簧盘340上的弹簧341,从而将测点311导电连接到对应的插座342上,再通过排线连接至测试机进行测试。
通过微针治具和针盘治具的同时设置,可以适应不同的待测线路板310,提高了产品应用的灵活性,降低了成本。
以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制;应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围;因此,凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰,均应属于本发明权利要求的涵盖范围。
Claims (10)
1.一种微针治具,用于连接待测线路板至测试机,包括微针盘,所述微针盘包括多个微探针,所述微探针与所述待测线路板的测点分别一一对应;其特征在于,所述微针治具还包括表面设有多个导电单元的转接线路板、以及将所述导电单元电连接至所述测试机的连接机构;
所述导电单元与所述待测线路板的测点一一对应,并通过所述微探针一一电连接。
2.根据权利要求1所述的微针治具,其特征在于,所述微针盘包括相隔一定距离的顶板和底板;所述顶板和底板上开设有多个供所述微探针穿出的通孔;所述通孔的直径大于所述微探针的直径。
3.根据权利要求2所述的微针治具,其特征在于,所述底板和/或顶板上设有滞留层,保证所述微探针受力时上下活动而不会掉落。
4.根据权利要求3所述的微针治具,其特征在于,所述滞留层为贴设在所述底板和/或顶板上的海绵层。
5.根据权利要求2所述的微针治具,其特征在于,所述顶板和地板之间还设有导引板;所述导引板上设有多个供所述微探针通过的导引孔;所述导引孔的直径大于所述微探针的直径。
6.根据权利要求5所述的微针治具,其特征在于,所述通孔和导引孔分别与所述微探针一一对应;
所述导引板为活动导引板,并且在所述活动导引板与所述底板之间设有可移出的垫块。
7.根据权利要求1所述的微针治具,其特征在于,所述连接机构包括在所述转接线路板一侧设置的导电点、安装在所述导电点上的插座、连接所述插座和导电单元的内部线路、以及连接所述插座至所述测试机的排线。
8.根据权利要求1所述的微针治具,其特征在于,所述连接机构包括在所述转接线路板另一表面设置与所述导电单元一一对应的导电点、以及设置在所述导电点一侧的弹簧盘;
所述弹簧盘包括多个与所述导电点一一对应的弹簧、设置在一侧的插座、将所述弹簧与所述插座到电连接的导线、以及将所述插座连接至所述测试机的排线。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的微针治具,其特征在于,所述微探针的直径小于0.15mm。
10.一种组合治具,用于连接待测线路板至测试机,其特征在于,包括微针治具以及针盘治具;
所述微针治具包括微针盘,所述微针盘包括多个微探针,所述微探针与所述待测线路板的测点分别一一对应;其特征在于,所述微针治具还包括表面设有多个导电单元的转接线路板、以及将所述导电单元电连接至所述测试机的连接机构;
所述导电单元与所述待测线路板的测点一一对应,并通过所述微探针一一电连接;
所述针盘治具包括设有若干通孔的针盘、以及穿过所述针盘通孔的若干探针;所述探针与所述待测线路板的测点对应;
所述连接机构包括在所述转接线路板另一表面设置与所述导电单元一一对应的导电点、以及设置在所述导电点一侧的弹簧盘;
所述弹簧盘包括多个与所述导电点一一对应、与所述探针对应的弹簧,设置在一侧的插座,将所述弹簧与所述插座到电连接的导线、以及将所述插座连接至所述测试机的排线。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201010545850 CN102043111B (zh) | 2010-11-16 | 2010-11-16 | 一种微针治具及组合治具 |
Applications Claiming Priority (1)
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CN102043111A true CN102043111A (zh) | 2011-05-04 |
CN102043111B CN102043111B (zh) | 2013-03-13 |
Family
ID=43909446
Family Applications (1)
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102419383A (zh) * | 2011-12-29 | 2012-04-18 | 珠海拓优电子有限公司 | 低阻无弹簧治具及其制造方法 |
CN103048498A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-04-17 | 上海金东唐精机科技有限公司 | 微针治具 |
CN103091516A (zh) * | 2011-11-07 | 2013-05-08 | 日本电产理德株式会社 | 基板检查夹具、夹具底座单元和基板检查装置 |
CN105424984A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-03-23 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 通用短针、微针夹具 |
CN106018890A (zh) * | 2016-08-10 | 2016-10-12 | 昆山兢美电子科技有限公司 | 一种飞针测试头后接板块 |
CN106371000A (zh) * | 2016-09-27 | 2017-02-01 | 昆山维嘉益材料科技有限公司 | 一种激光自动化电测设备 |
CN110205660A (zh) * | 2019-06-24 | 2019-09-06 | 东莞市连威电子有限公司 | 线针治具横切面手控电镀方法 |
TWI814779B (zh) * | 2018-02-20 | 2023-09-11 | 義大利商探針科技公司 | 探針頭的自動化組裝的設備及方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10185985A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-07-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板の端子間電気的特性測定治具と測定装置並びに測定方法 |
CN1912632A (zh) * | 2005-08-12 | 2007-02-14 | 吕坤茂 | 电路板测试装置 |
CN101680912A (zh) * | 2008-09-23 | 2010-03-24 | 陈涛 | 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具 |
-
2010
- 2010-11-16 CN CN 201010545850 patent/CN102043111B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10185985A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-07-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板の端子間電気的特性測定治具と測定装置並びに測定方法 |
CN1912632A (zh) * | 2005-08-12 | 2007-02-14 | 吕坤茂 | 电路板测试装置 |
CN101680912A (zh) * | 2008-09-23 | 2010-03-24 | 陈涛 | 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103091516A (zh) * | 2011-11-07 | 2013-05-08 | 日本电产理德株式会社 | 基板检查夹具、夹具底座单元和基板检查装置 |
CN102419383A (zh) * | 2011-12-29 | 2012-04-18 | 珠海拓优电子有限公司 | 低阻无弹簧治具及其制造方法 |
CN103048498A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-04-17 | 上海金东唐精机科技有限公司 | 微针治具 |
CN105424984A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-03-23 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 通用短针、微针夹具 |
CN106018890A (zh) * | 2016-08-10 | 2016-10-12 | 昆山兢美电子科技有限公司 | 一种飞针测试头后接板块 |
CN106371000A (zh) * | 2016-09-27 | 2017-02-01 | 昆山维嘉益材料科技有限公司 | 一种激光自动化电测设备 |
TWI814779B (zh) * | 2018-02-20 | 2023-09-11 | 義大利商探針科技公司 | 探針頭的自動化組裝的設備及方法 |
CN110205660A (zh) * | 2019-06-24 | 2019-09-06 | 东莞市连威电子有限公司 | 线针治具横切面手控电镀方法 |
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
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