CN102043110A - 一种漏电检测电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种漏电检测电路,包括一待检测电压的电源线LD、一用于比较采样电压的比较器IC1以及一用于漏电分析的模拟/数字接口A/D,所述比较器IC1的第一反相输入端连接对比电压;所述比较器IC1的第一同相输入端连接采样电压;所述比较器IC1的第一输出端连接一用于分析是否漏电的模拟/数字接口A/D上;本发明的漏电检测电源的结构简单,使用方便。
Description
技术领域
本发明涉及一种应用电路,具体的涉及一种漏电检测电路。
背景技术
现有的漏电检测电路形形色色种类繁多,但大多结构复杂,在一些应用要求比较低的情况下,往往也是使用复杂结构的漏电检测电路,这样一方面成本会有所提高,另外一方面,电路结构一旦复杂化后,其背后的不稳定因素也在增加,如此便在无形之中降低了产品合格率。
发明内容
为克服现有技术中的不足,本发明的目的在于提供一种结构简单的漏检检测电路。
为了解决上述技术问题,实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种漏电检测电路,包括一待检测电压的电源线LD、一用于比较采样电压的比较器IC1以及一用于漏电分析的模拟/数字接口A/D;
一分流电阻R1和电压采样电阻R2串联后,分流电阻R1端连接在电源上、电压采样电阻R2端接地,所述比较器IC1的第一反相输入端连接在所述分流电阻R1与电压采样电阻R2的连接端上;
一电压采样电阻R3一端连接在所述电源线LD上、另一端接地,所述比较器IC1的第一同相输入端连接在所述电压采样电阻R3与所述电源线LD的连接端上;
一电阻R4和电容C1串联后,电阻R4端接电源、电容C1端接地,所述比较器IC1的第一输出端连接在所述电阻R4与电容C1的连接端并引出一接头连接在所述模拟/数字接口A/D上;
所述比较器IC1的第一工作电源端连接在电源上,所述比较器IC1的第二输出端、第二同相输入端、第二反相输入端和第二工作电源端互联后接地。
进一步的,所述电源线LD上还连接有二极管D1、D2、电容C2、C3,所述二极管D1、D2、电容C2、C3与所述电压采样电阻R3的接地端连接。
进一步的,所述比较器IC1的第一反相输入端还通过一滤波电容C4接地。
进一步的,所述比较器IC1的第一工作电源端还通过一滤波电容C5接地。
本发明具有以下优点:
本发明的漏电检测电路结构简单,使用方便。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
图1为本发明的漏电检测电路的电路原理图。
图中标号说明:1、比较器IC1的第二输出端,2、比较器IC1的第二反相输入端,3、比较器IC1的第二同相输入端,4、比较器IC1的第二工作电源端,5、比较器IC1的第一同相输入端,6、比较器IC1的第一反相输入端,7、比较器IC1的第一输出端,8、比较器IC1的第一工作电源端。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明的技术实施过程做进一步说明。
参见图1所示,一种漏电检测电路,包括一待检测电压的电源线LD、一用于比较采样电压的比较器IC1以及一用于漏电分析的模拟/数字接口A/D;
一分流电阻R1和电压采样电阻R2串联后,分流电阻R1端连接在电源上、电压采样电阻R2端接地,所述比较器IC1的第一反相输入端6连接在所述分流电阻R1与电压采样电阻R2的连接端上;
一电压采样电阻R3一端连接在所述电源线LD上、另一端接地,所述比较器IC1的第一同相输入端5连接在所述电压采样电阻R3与所述电源线LD的连接端上;
一电阻R4和电容C1串联后,电阻R4端接电源、电容C1端接地,所述比较器IC1的第一输出端7连接在所述电阻R4与电容C1的连接端并引出一接头连接在所述模拟/数字接口A/D上;
所述比较器IC1的第一工作电源端8连接在电源上,所述比较器IC1的第二输出端1、第二同相输入端3、第二反相输入端2和第二工作电源端4互联后接地。
进一步的,所述电源线LD上还连接有二极管D1、D2、电容C2、C3,所述二极管D1、D2、电容C2、C3与所述电压采样电阻R3的接地端连接。
进一步的,所述比较器IC1的第一反相输入端6还通过一滤波电容C4接地。
进一步的,所述比较器IC1的第一工作电源端8还通过一滤波电容C5接地。
上述实施例只是为了说明本发明的技术构思及特点,其目的是在于让本领域内的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施,并不能以此限制本发明的保护范围。凡是根据本发明内容的实质所作出的等效的变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (4)
1.一种漏电检测电路,包括一待检测电压的电源线LD、一用于比较采样电压的比较器IC1以及一用于漏电分析的模拟/数字接口A/D,其特征在于:
一分流电阻R1和电压采样电阻R2串联后,分流电阻R1端连接在电源上、电压采样电阻R2端接地,所述比较器IC1的第一反相输入端(6)连接在所述分流电阻R1与电压采样电阻R2的连接端上;
一电压采样电阻R3一端连接在所述电源线LD上、另一端接地,所述比较器IC1的第一同相输入端(5)连接在所述电压采样电阻R3与所述电源线LD的连接端上;
一电阻R4和电容C1串联后,电阻R4端接电源、电容C1端接地,所述比较器IC1的第一输出端(7)连接在所述电阻R4与电容C1的连接端并引出一接头连接在所述模拟/数字接口A/D上;
所述比较器IC1的第一工作电源端(8)连接在电源上,所述比较器IC1的第二输出端(1)、第二同相输入端(3)、第二反相输入端(2)和第二工作电源端(4)互联后接地。
2.根据权利要求1所述的漏电检测电路,其特征在于:所述电源线LD上还连接有二极管D1、D2、电容C2、C3,所述二极管D1、D2、电容C2、C3与所述电压采样电阻R3的接地端连接。
3.根据权利要求1或2所述的漏电检测电路,其特征在于:所述比较器IC1的第一反相输入端(6)还通过一滤波电容C4接地。
4.根据权利要求1或2所述的漏电检测电路,其特征在于:所述比较器IC1的第一工作电源端(8)还通过一滤波电容C5接地。
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C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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