CN102028471A - 扁平足计算机测试仪 - Google Patents
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Abstract
扁平足计算机测试仪。是计算机技术在卫生学上的应用,目的是使扁平足的测试卫生,结果便于保存。该发明解决其技术问题所采用的技术方案是:6个74HC165的QH端分别与计算机并行接口(1)的引脚2至7对应相连;6个74HC165的CP端、端分别连接在一起并与引脚1、8对应相连;电阻的另一端均接地;10个74HC164的CP端、端分别连接在一起并与引脚14、16对应相连;74HC164(I)的DSA端与引脚9相连,74HC164(I)的Q7端与74HC164(II)的DSA端相连,其它74HC164的Q7端与另一个74HC164的DSA端相连;10个74HC164的Q0至Q6分别与二极管的正极相连,每个二极管的负极经过触摸开关K后与列线相连。该仪器适用于大、中院校的学生、运动员、征兵体检。
Description
技术领域 该仪器是利用计算机的并行接口作为开关信号的输入,用显示器显示足底的采样信号。
背景技术 现在扁平足的测试一般是将被测脚放入三氯化铁溶液中,再将脚踩在白纸上显示足底样图,从而判断是否为扁平足。用这种方法不卫生,样纸不便于保存。
发明内容 为了使扁平足的测试更加方便、卫生、环保,测试结果便于传输和保存,本发明的目的是提供一种扁平足计算机测试仪。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:74HC165(I)至74HC165(VI)的QH端分别与计算机并行接口(1)的引脚2、3、4、5、6、7对应相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚1相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚8相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端分别与电阻R相连,电阻R的另一端均与地相连;74HC164(I)至74HC164(X)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚14相连;74HC164(I)至74HC164(X)的MR端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚16相连;74HC164(I)的DSA端与计算机并行接口(1)的引脚9相连,74HC164(I)的Q7端与74HC164(II)的DSA端相连,除74HC164(X)的Q7以外,其它74HC164的Q7端与另一个74HC164的DSA端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的Q0、Q1、Q2、Q3、Q4、Q5、Q6分别与二极管的正极相连,每个二极管的负极经过触摸开关K后与74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的DSB端与+5V电源相连。
本发明的有益效果是:能够用计算机的显示器显示足底采样信息,从而可以判断是否为扁平足,采样数据可以保存、传输,该测试方法清洁、环保。
附图说明 附图是扁平足计算机测试仪的原理图。图中是计算机主机并行接口(1),触模开关K。
具体实施方式 1、在计算机的BIOS中设置并行接口的操作模式为PS/2或EPP或ECP。
2、74HC165(I)至74HC165(VI)的QH端分别与计算机并行接口(1)的引脚2、3、4、5、6、7对应相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚1相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚8相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端分别与电阻R相连,电阻R的另一端均与地相连;74HC164(I)至74HC164(X)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚14相连;74HC164(I)至74HC164(X)的端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚16相连;74HC164(I)的DSA端与计算机并行接口(1)的引脚9相连,74HC164(I)的Q7端与74HC164(II)的DSA端相连,除74HC164(X)的Q7以外,其它74HC164的Q7端与另一个74HC164的DSA端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的Q0、Q1、Q2、Q3、Q4、Q5、Q6分别与二极管的正极相连,每个二极管的负极经过触摸开关K后与74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的DSB端与+5V电源相连。
3、将6块74HC164的输出端A、B、C、D、E、F、G、H作为列信号线,将10块74HC164的输出端Q0至Q6作为行信号线。将8*6*6*10个触模开关均匀的排列在12*30厘米的垫板上,每行排8*6个,每列排6*10个。
4、用VB语言编写控制程序,下载TVicLPT并行接口专用软件,并将其作为Active X控件加入到VB工具栏中,用“TVicLPT1.Pin(16)=0”命令,使计算机并行端口(1)的引脚16置为低电平,强制所有的输出为低电平,用“TVicLPT1.Pin(9)=1”命令,使计算机并行端口(1)的引脚9置为高电平,用“TVicLPT1.Pin(14)=[value]”命令,使74HC164产生一个高低变化的时钟脉冲信号,时钟(CP)由低变高时,“1”由74HC164(I)的DSA端输入到74HC164(I)的Q0端,与之相连的二极管导通,当某个触摸开关被按下时,该列线呈高电平,没有被按下的触摸开关对应列呈低电平,用“TVicLPT1.Pin(8)=0”命令,使计算机并行端口(1)的引脚8置为低电平,74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端的并行数据被置入寄存器,用“TVicLPT1.Pin(1)=[value]”命令,产生8个高低变化的脉冲信号,通过计算机并行端口(1)的引脚2、3、4、5、6、7输入到计算机的6个不同的存储单元,如果数据为“0”,则不画点,如果数据为“1”,用PSet(X,Y)命令画点,通过循环不断读取不同的存储单元的数据,就可以画出一行的足底采样图。用“TVicLPT1.Pin(9)=0”命令,使计算机并行端口(1)的引脚9置为低电平,用“TVicLPT1.Pin(14)=[value]”命令,使74HC164产生一个高低变化的时钟脉冲信号,时钟(CP)由低变高时,“0”由74HC164(I)的DSA端输入到74HC164(I)的Q0端,与之相连的二极管截止,与Q1端相连的二极管导通,其它二极管均截止。用同样的方法将第二行的数据读入计算机并显示,其它以此类推。
5、测量时将一只脚踏在垫板上,执行控制程序,根据计算机显示器的图像即可判断是否为扁平足。
6、该控制程序在windows XP操作系统下运行。
Claims (1)
1.扁平足计算机测试仪,其特征是:74HC165(I)至74HC165(VI)的QH端分别与计算机并行接口(1)的引脚2、3、4、5、6、7对应相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚1相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚8相连;74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端分别与电阻R相连,电阻R的另一端均与地相连;74HC164(I)至74HC164(X)的CP端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚14相连;74HC164(I)至74HC164(X)的MR端连接在一起并与计算机并行接口(1)的引脚16相连;74HC164(I)的DSA端与计算机并行接口(1)的引脚9相连,74HC164(I)的Q7端与74HC164(II)的DSA端相连,除74HC164(X)的Q7以外,其它74HC164的Q7端与另一个74HC164的DSA端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的Q0、Q1、Q2、Q3、Q4、Q5、Q6分别与二极管的正极相连,每个二极管的负极经过触摸开关K后与74HC165(I)至74HC165(VI)的A、B、C、D、E、F、G、H端相连;74HC164(I)至74HC164(X)的DSB端与+5V电源相连。
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