CN101980252B - 电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明为电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法。系统由标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪组成,其方法是通过分析高速运动状态下的待测电子标签产品在不同测试频带内的响应特性,得到运动状态待测电子标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过转盘切线方向瞬时速度来模拟直线方向速度实现待测电子标签的高速运动,模拟读写器读待测电子标签信号实现对运动状态标签频率响应性能基准测试,可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及射频识别技术领域,尤其涉及一种电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法。
背景技术
射频识别(Radio Frequency Identification,RFID),是一种利用射频技术实现的非接触式自动识别技术。RFID标签具有体积小、读写速度快、形状多样、使用寿命长、可重复使用、存储容量大、能穿透非导电性材料等特点,结合RFID读写器可以实现多目标识别和移动目标识别,进一步通过与互联网技术的结合还可以实现全球范围内物品的跟踪与信息的共享。RFID技术应用于物流、制造、公共信息服务等行业,可大幅提高管理与运作效率,降低成本。
作为物联网的核心技术,随着物联网的进一步推广,RFID技术飞速发展,相关产品的生产厂家逐渐增多,从手持式到固定式,RFID读写器和标签的品种也已经上升到数百种,并且还在不断推出新的产品。为了在众多的RFID读写器和标签中选择最能够满足使用者需求的产品,就需要对RFID产品的性能指标进行专门的测试,RFID标签响应频率即是RFID标签产品的重要性能指标之一。RFID标签响应频率是指在标签所处条件相同的情况下,以同种读写器读RFID标签的正常响应频域范围。该性能指标主要受到RFID标签天线设计和芯片功耗的影响,此外当RFID标签粘贴在商品包装,如金属物体或者瓦楞纸箱上的时候会出现工作频带漂移的现象。由于多普勒效应,RFID标签的高速运动也会产生工作频带漂移的现象。但是由于各国无线电频谱管理的规定,RFID系统的工作频带被严格限定在一定的范围之内,比如UHF频段的频率应用范围美国规定在902~928MHz范围之内,中国规定在840~845MHz以及920~925MHz两段范围之内。RFID标签的工作频带漂移会对RFID系统的工作产生什么样的影响就成为RFID应用中的一个挑战。通常人们对RFID标签响应频率的认识,特别是高速运动状态下的RFID标签响应频率的认识是经验性的,并没有一种科学的方法和工具能够进行科学、准确的测量。
基准测试的目的是通过设计合理的测试方法、测试流程和测试工具对一类测试对象的某项性能指标进行测试,并且保证测试取得的结果是可比较的、可重复的。使用基准测试方法对高速运动状态的电子标签响应频率进行测试,在保持相同条件的情况下,可以通过分析一款测电子标签产品在不同速度和不同测试频带内的响应特性,得到该款电子标签在特定速度下的正常响应读写器信号的频率范围。此外使用者还可以结合应用环境中电子标签所粘贴的介质材料的介电常数计算工作频带漂移量,再利用运动状态电子标签响应频率基准测试的结果,选择工作频带漂移后读取性能最好的电子标签替代现场实验进行选型,使用科学方法降低设备选型的复杂度,有助于结合应用需求为用户提供科学的选型指导。
发明内容
本发明的目的是提供一种简单、明确、有效的自动化测试工具和基准测试方法,用以在可重复条件下快速评价一款高速运动的电子标签处在相同的情况下正确响应读写器读电子标签信号的频率范围,从而为电子标签的设计和使用者设备选型提供决策参考,为此,本发明提供一种电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法。
为达成所述目的,本发明提供的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法,其原理是利用转速可控的驱动电机带动塑料圆盘,使安装在圆盘边缘的电子标签处于高速运动状态,用电子标签在切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度,在标准测试环境中通过信号源输出功率一定、频率可控的模拟读写器读电子标签信号,利用频谱分析仪显示的无线信号时域瞬时波形观测其中是否包含电子标签对读写器读电子标签信号的正确响应,从而对不同发射频点的电子标签信号的反向散射强度进行统计。
本发明第一方面,提供一种电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,包括标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪,其中信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台和驱动电机置于标准测试环境的内部,驱动电机控制器、控制计算机、信号源和频谱分析仪置于标准测试环境的外部,所述信号源是能够以预设频率和预设功率输出模拟RFID读写器读待测电子标签信号的仪器,并且该预设频率和预设功率通过控制计算机远程调整;
信号源发射天线置于信号源天线支架上,频谱分析仪接收天线置于防护罩上,待测电子标签安装于转盘上,频谱分析仪接收天线放置于信号源发射天线的辐射面几何中心和待测电子标签天线的辐射面几何中心的连线的中心位置,转盘固定在驱动电机上,防护罩套在转盘和待测电子标签外部,防护罩和驱动电机都置于支撑台上;信号源发射天线与信号源、频谱分析仪接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连,控制计算机通过数据线分别与信号源、频谱分析仪和驱动电机控制器相连,控制计算机向驱动电机控制器发送转速控制指令使待测电子标签以设定的速度运动,控制计算机向信号源发送控制指令,使信号源发射天线输出发射功率和频率可控的读写器读待测电子标签信号;频谱分析仪通过频谱分析仪接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号,分析电磁信号中是否包含待测电子标签对读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,统计后控制计算机再次发送控制指令至信号源,调整发射功率和频率后开始下一次测试。如果待测电子标签运动速度进行了调整,在控制计算机上设定运动速度开始下一次测试。
本发明第二方面,提供一种使用权利要求1电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试系统的电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试方法,包括以下步骤:
步骤1:对系统初始化,分别建立控制计算机与信号源、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接,设置好信号源和频谱分析仪的各项参数,使信号源和驱动电机控制器进入工作准备状态,频谱分析仪进入频谱分析仪的频域模板触发模式准备状态;
步骤2:在控制计算机上设定待测电子标签运动速度V的范围是[Vmin,Vmax],控制计算机向驱动电机控制器发送指令,使待测电子标签以设定速度V随转盘运动,V=2πRn/60,R为待测电子标签所在位置到转盘中心位置得距离,n为驱动电机每分钟的转速;
步骤3:通过控制计算机设定信号源的发射功率为所在地区规定读写器发射功率的最大值,设定信号源发射的模拟读写器读待测电子标签信号频率范围为[fmin,fmax],频率步进间隔为f0,打开信号源发射端口,使其发射功率为PSG、频率为fc=fmin的模拟读写器读待测电子标签信号;
步骤4:在控制计算机端设定频谱分析仪的频域模板触发功能对信号源的发射频点为fC的信号进行多次触发,每次触发后在频谱分析仪上分析其时域波形中是否包含待测电子标签对信号源模拟读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将此次触发记为有效触发,把待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,如没有响应信号则进入下一次触发,直到有效触发次数达到预设的触发总次数N;
步骤5:在控制计算机端统计N次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg,并记录在控制计算机上;
步骤6:在控制计算机端设定信号源的发射频率增加一个步进间隔f0,即fc=fc+f0,判断当前fc的值是否大于频率测试范围的上限fmax,如果fc>fmax则进入步骤7,如果fc≤fmax,则回到步骤3;
步骤7:在控制计算机端以信号源发射频率为横坐标,以N次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg为纵坐标绘制待测电子标签在速度为V时响应频率曲线;
步骤8:在控制计算机端判断是否对待测电子标签的运动速度进行了调整,如果没有对待测电子标签的运动速度进行调整,进入步骤9;如果对待测电子标签的运动速度进行调整,则回到步骤2;
步骤9:断开控制计算机与待测电子标签、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接,关闭所有测试设备,测试结束;
本发明的有益效果:
1)本发明采用电子标签在转动圆盘切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度,可以科学的、可重复的对电子标签在高速运动状态下的响应频率范围进行自动化测试,可以有效的在实验室内模拟电子标签处于高速运动状态的RFID应用场景。
2)本发明通过分析一款待测电子标签产品在不同速度和不同测试频带内的响应特性,得到该款待测电子标签在特定速度下的正常响应读写器信号的频率范围。此外使用者还可以结合应用环境中待测电子标签所粘贴的介质材料的介电常数计算工作频带漂移量,再利用运动状态待测电子标签响应频率基准测试的结果,选择工作频带漂移后读取性能最好的待测电子标签替代现场实验进行选型,使用科学方法降低设备选型的复杂度,有助于结合应用需求为用户提供科学的选型指导。
附图说明
图1为本发明提供的电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试系统示意图。
图2为本发明提供的电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
随着RFID技术的应用规模越来越大,RFID读写器和电子标签品种越来越多,为了在众多的RFID读写器和电子标签中选择最能够满足使用者需求的产品,就需要对RFID产品的性能指标进行专门的测试。RFID标签响应频率即是RFID标签产品的重要性能指标之一。在很多应用过程中,RFID读写器和电子标签之间是相对运动的,为了在实验室中测试高速运动状态的电子标签正确响应频率范围,本发明提出一种电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试系统及方法。为了节约空间,待测电子标签的高速运动是利用转盘切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度。
如图1所示为本发明提供的电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试系统示意图,其中包括标准测试环境1、信号源发射天线2、信号源天线支架3、频谱分析仪接收天线4、防护罩5、转盘6、待测电子标签7、支撑台8、驱动电机9、驱动电机控制器10、控制计算机11、信号源12、频谱分析仪13,其中:
信号源发射天线2、信号源天线支架3、频谱分析仪接收天线4、防护罩5、转盘6、待测电子标签7、支撑台8和驱动电机9置于标准测试环境1的内部;
驱动电机控制器10、控制计算机11、信号源12、频谱分析仪13置于标准测试环境1的外部;
信号源发射天线2置于信号源天线支架上3,频谱分析仪接收天线4置于防护罩5上,待测电子标签7安装于转盘6上,频谱分析仪接收天线4放置于信号源发射天线2和待测电子标签7的辐射面几何中心位置连线的中心位置,转盘6固定在驱动电机9上,防护罩5套在转盘6和待测电子标签7外部,防护罩5和驱动电机9都置于支撑台8上。信号源发射天线2与信号源12、频谱分析仪接收天线4与频谱分析仪13之间分别通过射频馈线相连,控制计算机11通过数据线与信号源12、频谱分析仪13和驱动电机控制器10分别相连,控制计算机11向驱动电机控制器10发送转速控制指令使待测电子标签7以设定的速度运动,控制计算机11向信号源12发送控制指令,使信号源发射天线2输出功率和频率可控的读写器读待测电子标签信号,频谱分析仪13通过频谱分析仪接收天线4捕获标准测试环境1中的电磁信号,分析其中是否包含待测电子标签对读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机11端记录,统计后控制计算机11再次发送控制指令至信号源12,调整发射功率和频率后开始下一次测试。如果待测电子标签7运动速度进行了调整,在控制计算机11上设定运动速度开始下一次测试。
所述信号源天线支架3和转盘6是采用介电常数小于1.5的材料制成,转盘6的边缘有安装电子标签的固件,所述固件的材料与转盘的材料相同。
所述信号源发射天线2是增益为10dBi及10dBi以上的标准增益天线,频谱分析仪接收天线4是增益为2dBi及2dBi以上的双偶极子天线,在测试带宽范围内,信号源发射天线2的增益基本保持不变。
所述信号源12是能够以预设频率和预设功率输出模拟RFID读写器读待测电子标签7信号的仪器,并且该预设频率和预设功率可通过控制计算机11远程调整。
所述驱动电机9是转速可以通过驱动电机控制器10进行实时精确控制的电机,并且电机转速可以通过控制计算机11远程调整,驱动电机9具有金属外壳,且在金属外壳外部贴了一层吸波材料。
所述待测电子标签7的高速运动是利用转盘6切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度,利用转速可控的驱动电机9带动转盘6,使安装在转盘6边缘的待测电子标签处于高速运动状态。
所述信号源12和频谱分析仪13的射频接口,驱动电机9的电源接口和驱动电机控制器10的接口发出的电磁辐射被标准测试环境隔离。
在本发明的一个实施例中,标准测试环境1建立在长6米,宽3米,高3米全电波暗室中,信号源12、频谱分析仪13、控制计算机11、驱动电机控制器10置于全电波暗室外,这些仪器的射频接口和电源接口通过位于全电波暗室墙上的光纤波导管与暗室内的设备相连,这样暗室外的设备接口发出的电磁辐射不会对全电波暗室内的电磁环境造成改变。信号源天线支架3高为2米,由聚苯乙烯材料制成,外裹吸波材料,支架上方固定增益为10dBi的标准增益天线作为信号源发射天线2,且信号源发射天线2在各个频点的天线增益指标都相同。以固定增益为2.3dBi的双偶极子天线作为频谱分析仪接收天线4,频谱分析仪接收天线4与信号源发射天线2之间的距离为0.7米,信号源12选择能够以预设频率和预设功率输出模拟RFID读写器读待测电子标签信号的矢量信号发生器ESG E4438C,其频率范围为0~3GHz,最小步进频率为1Hz,最小步进功率为0.02dBm;频谱分析仪接收天线4紧靠着读待测电子标签窗口,频谱分析仪13选用能够进行频域触发并显示无线信号瞬时波形的实时频谱分析仪RSA3308A,控制计算机11选择带有LAN接口的普通桌面PC机,与RSA3308A及信号源12通过1000Mbps以太网交换机进行连接,使用基于VXI总线的TCP/IP协议传输模式完成数据交换,驱动电机9采用日本松下MINAS-A4系列交流伺服系统,速度精度是转速的千分之一,最高转速为2000转/分钟,驱动电机9的外壳裹了吸波材料。转盘6采用塑料转盘。
如图2所示,图2为本发明提供的电子标签在高速运动状态下的响应频率基准测试方法流程图,包括以下步骤:
步骤201:对系统初始化,分别建立控制计算机11与信号源12、驱动电机控制器10、频谱分析仪13之间的通信连接,设置好信号源12和频谱分析仪13的各项参数,使信号源12和驱动电机控制器10进入工作准备状态,频谱分析仪13进入频域模板触发模式准备状态;
步骤202:在控制计算机11上设定待测电子标签7运动速度的范围是[10km/h,160km/h],待测电子标签7运动速度V=100km/h,控制计算机11向驱动电机控制器10发送指令,使待测电子标签7以设定速度V=100km/h随转盘6运动,V=2πRn/60,R为待测电子标签所在位置到转盘中心位置得距离,n为驱动电机每分钟的转速,其中驱动电机采用日本松下MINAS-A4系列交流伺服系统,速度精度是转速的千分之一,最高转速为2000转/分钟;
步骤203:通过控制计算机11设定信号源12的发射功率为所在地区规定读写器发射功率的最大值,如中国发射功率最大为2W ERP,设定信号源12发射的模拟读写器读待测电子标签信号频率范围为[fmin,fmax],中国的UHF使用的频段是840~845MHz和920~925MHz,那么我们在本实施例中把测试频率范围设为830~935MHz,频率步进间隔为f0,如本实施例中f0设为2MHz打开信号源12发射端口,使其发射功率为PSG=20dBm、频率为fc=fmin的模拟读写器读待测电子标签信号;
步骤204:在控制计算机11端设定频谱分析仪13的频域模板触发功能对信号源12的发射频点为fC=830MHz的信号进行多次触发,每次触发后在频谱分析仪13上分析其时域波形中是否包含待测电子标签7对信号源12模拟读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将此次触发记为有效触发,把待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机11端记录,如没有响应信号则进入下一次触发,直到有效触发次数达到预设的触发总次数N,本实施例中N=20;
步骤205:在控制计算机11端统计N=20次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg,并记录在控制计算机上;
步骤206:在控制计算机11端设定信号源12的发射频率增加一个步进间隔f0=2MHz,即fc=fc+f0,判断当前fc的值是否大于频率测试范围的上限fmax=935MHz,如果fc>fmax则进入步骤207,如果fc≤fmax,则回到步骤204;
步骤207:在控制计算机11端以信号源12发射频率为横坐标,以N=20次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg为纵坐标绘制待测电子标签在速度为V=100km/h时响应频率曲线;
步骤208:在控制计算机11端判断是否对待测电子标签7的运动速度进行了调整,如果没有对待测电子标签7的运动速度进行调整,进入步骤209;如果对待测电子标签7的运动速度进行调整,则回到步骤202;
步骤209:断开控制计算机11与信号源12、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接,关闭所有测试设备,测试结束;
所述分别建立控制计算机11与信号源12、驱动电机控制器10、频谱分析仪13之间的通信连接是通过以太网、串口或者GPIB总线来实现的,使控制计算机11能够发送和接收来自信号源12、驱动电机控制器10、频谱分析仪13的控制指令和查询结果。
所述在控制计算机11设定频谱分析仪13的频域模板触发是在一个很短的采样时间周期内,频域中出现满足设定的频率及功率条件的信号时触发相应的设备操作指令。
上面描述是用于实现本发明及其实施例,本发明的范围不应由该描述来限定,本领域的技术人员应该理解,在不脱离本发明的范围的任何修改或局部替换,均属于本发明权利要求来限定的范围。
Claims (9)
1.一种电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:包括标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪,其中:
信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台和驱动电机置于标准测试环境的内部;驱动电机控制器、控制计算机、信号源和频谱分析仪置于标准测试环境的外部;所述信号源是能够以预设频率和预设功率输出模拟RFID读写器读待测电子标签信号的仪器,并且该预设频率和预设功率通过控制计算机远程调整;
信号源发射天线置于信号源天线支架上,频谱分析仪接收天线置于防护罩上,待测电子标签安装于转盘上,频谱分析仪接收天线放置于信号源发射天线的辐射面几何中心和待测电子标签天线的辐射面几何中心的连线的中心位置,转盘固定在驱动电机上,防护罩套在转盘和待测电子标签外部,防护罩和驱动电机都置于支撑台上;信号源发射天线与信号源、频谱分析仪接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连,控制计算机通过数据线与信号源、频谱分析仪和驱动电机控制器分别相连,控制计算机向驱动电机控制器发送转速控制指令使待测电子标签以设定的速度运动,控制计算机向信号源发送控制指令,使信号源发射天线输出发射功率和频率可控的读写器读待测电子标签信号,频谱分析仪通过频谱分析仪接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号,分析电磁信号中是否包含待测电子标签对读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,统计后控制计算机再次发送控制指令至信号源,调整发射功率和频率后开始下一次测试;如果待测电子标签运动速度进行了调整,在控制计算机上设定运动速度开始下一次测试。
2.根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:所述信号源天线支架和转盘是采用介电常数小于1.5的材料制成,转盘的边缘有安装电子标签的固件,所述固件的材料与转盘的材料相同。
3.根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:所述信号源发射天线是增益为10dBi及10dBi以上的标准增益天线,频谱分析仪接收天线是增益为2dBi及2dBi以上的双偶极子天线,在测试带宽范围内,信号源发射天线的增益基本保持不变。
4.根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:所述驱动电机是转速可以通过驱动电机控制器进行实时精确控制的电机,并且电机转速可以通过控制计算机远程调整,驱动电机具有金属外壳,且在金属外壳外部贴了一层吸波材料。
5.根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:待测电子标签的高速运动是利用转盘切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度,利用转速可控的驱动电机带动转盘,使安装在转盘边缘的待测电子标签处于高速运动状态。
6.根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:所述信号源和频谱分析仪的射频接口,驱动电机电源接口和驱动电机控制器接口发出的电磁辐射被标准测试环境隔离。
7.一种使用根据权利要求1所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:对系统初始化,分别建立控制计算机与信号源、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接,设置好信号源和频谱分析仪的各项参数,使信号源和驱动电机控制器进入工作准备状态,频谱分析仪进入频谱分析仪的频域模板触发模式准备状态;
步骤2:在控制计算机上设定待测电子标签运动速度的范围是[Vmin,Vmax],待测电子标签运动速度V,控制计算机向驱动电机控制器发送指令,使待测电子标签以设定速度V随转盘运动,V=2πRn/60,R为待测电子标签所在位置到转盘中心位置得距离,n为驱动电机每分钟的转速;
步骤3:通过控制计算机设定信号源的发射功率为所在地区规定读写器发射功率的最大值,设定信号源发射的模拟读写器读待测电子标签信号频率范围为[fmin,fmax],频率步进间隔为f0,打开信号源发射端口,使其发射功率为PSG、频率为fc=fmin的模拟读写器读待测电子标签信号;
步骤4:在控制计算机端设定频谱分析仪的频域模板触发功能对信号源的发射频点为fC的信号进行多次触发,每次触发后在频谱分析仪上分析其时域波形中是否包含待测电子标签对信号源模拟读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将此次触发记为有效触发,把待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,如没有响应信号则进入下一次触发,直到有效触发次数达到预设的触发总次数N;
步骤5:在控制计算机端统计N次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg,并记录在控制计算机上;
步骤6:在控制计算机端设定信号源的发射频率增加一个步进间隔f0,即fc=fc+f0,判断当前fc的值是否大于频率测试范围的上限fmax,如果fc>fmax则进入步骤7,如果fc≤fmax,则回到步骤3;
步骤7:在控制计算机端以信号源发射频率为横坐标,以N次有效触发中待测电子标签信号的反向散射强度的平均值Pavg为纵坐标绘制待测电子标签在速度为V时响应频率曲线;
步骤8:在控制计算机端判断是否对待测电子标签的运动速度进行了调整,如果没有对待测电子标签的运动速度进行调整,进入步骤9;否则回到步骤2;
步骤9:断开控制计算机与待测电子标签、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接,关闭所有测试设备,测试结束。
8.根据权利要求7所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试方法,其特征在于:所述分别建立控制计算机与信号源、驱动电机控制器、频谱分析仪之间的通信连接是通过以太网、串口或者GPIB总线来实现的,使控制计算机能够发送和接收来自信号源、驱动电机控制器、频谱分析仪的控制指令和查询结果。
9.根据权利要求7所述的电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试方法,其特征在于:所述在控制计算机端设定频谱分析仪的频域模板触发是在一个很短的采样时间周期内,频域中出现满足设定的频率及功率条件的信号时触发相应的设备操作指令。
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