CN101976570A - 用于光驱的发光装置校正系统与方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供用于光驱的发光装置校正系统和方法。发光装置校正系统包含：作为待校正的发光装置的激光二极管；第一微处理器，用来在校正模式中通过改变输入发光装置的驱动信号的信号值以控制发光装置的功率、接收与发光装置的输出光线相对应的功率指针、以及依据所述的驱动信号的数个信号值所对应的每个功率指针来判断驱动信号的信号值与发光装置的功率间的功率关系；光检测器，用来侦测发光装置的输出光线以产生与输出光线的强度成正比的模拟信号；具有预设参考电压的信号校正电路，用以产生与模拟信号具有反向关系的功率指针，以使当模拟信号表示没有光线从发光装置输出的状态时，功率指针达到预设最大值，其中预设最大值为预设参考电压的函数。

Description

用于光驱的发光装置校正系统与方法
本申请是申请号为200510108089.4、申请日为2005年9月29日、发明名称为“发光装置校正系统与相关方法”的分案申请。
技术领域
本发明涉及发光装置校正系统与相关方法，尤指用于光驱的发光装置校正系统与相关方法。
背景技术
随着高容量储存媒体市场需求不断地成长，光盘片(CD)所扮演的角色变得更为重要。在数据刻录的过程中，光驱的光学读写单元(OPU)会发射光束在盘片的染料层上来烧录坑洞(pits)，以将数据记录于盘片上。当光束停止时，该染料层上变会形成所谓的平坦区(lands)。坑洞区的反射能力较平坦区差，故可分别利用坑洞区与平坦区来代表0与1的数据。
然而，不同光驱所输出的激光功率并不一致，故所烧录出来的坑洞形状常会有所不同，因而造成在读回光盘片上的数据时的困难。这样的问题是由于光学读写单元制造过程中的偏差以及感光二极管的特性不一致所造成。因此，在光驱出厂前必须经过激光功率调校的程序，以使其光学读写单元能输出适当功率的激光束。
图1所绘示为已公开的美国专利申请案U.S.Patent application No.2003/0208332A1中所揭露的一功率校正系统100的示意图。功率校正系统100是用来校正设置在一光驱104中的一激光二极管102。光驱104中会包含有可进出光驱104的一CD托盘106。在功率校正的过程中，公知技术会在激光二极管102的上设置一第一模块108，用以接收激光二极管102所输出的激光束。此外，还会将一第二模块110电连接于第一模块108与一计算机112间，并将计算机112电连接于第一模块108与光驱104。
尽管在图中并未显示，但除了计算机112所需进行的控制程序之外，公知的功率校正系统100在运作时还需要使用一标准的感光二极管。如此一来，将会大幅增加制造的成本。此外，为了控制光驱104中的激光二极管102逐渐地提升其输出光束的功率，光驱104上必须装设特定的数字连接端口，才能自计算机112接收所需的指令。对搭配计算机运作的外围装置而言，通常是利用ATAPI接口来作为前述的数字连接端口。然而，一般单机式的消费性DVD光驱由于在正常运作时不需使用到ATAPI接口，故不会装设ATAPI接口以降低光驱的成本。由前述可知，如何更有效地调校DVD光驱的激光二极管及其它具有发光装置的产品实系有待解决的问题。
发明内容
本发明的目的之一在于提供不必使用额外计算机的用于光驱的发光装置校正系统与方法。
本发明揭露了一种用于光驱的发光装置校正系统，其包含有：一激光二极管，安装在该光驱内并作为待校正的发光装置；一第一微处理器，电连接于该发光装置，用来在一校正模式中通过改变输入该发光装置的一驱动信号的信号值以控制该发光装置的功率、接收与该发光装置的输出光线相对应的一功率指针、以及依据该驱动信号的数个信号值个别的功率指针来判断该驱动信号的信号值与该发光装置的功率间的一功率关系；一光检测器，电连接于该待测装置，用来侦测该发光装置的输出光线以产生对应于该输出光线的功率指针；一具有一预设参考电压的信号校正电路，电连接于该第一微处理器与该光检测器之间，该信号校正电路用以产生与该模拟信号具有反向关系的该功率指针，以使当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到一预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的函数；以及一非易失性内存，用来储存第一微处理器于校正模式中所检测到的功率关系，其中，该第一微处理器于正常运作中是利用该功率关系，依据发光装置的目标功率来控制驱动信号的信号值。。
本发明另揭露一种用于光驱的发光装置校正方法，其包含有：提供提供安装在该光驱内的一发光二极管及一第一微处理器，该发光二极管作为待校正的发光装置；利用该第一微处理器通过改变输入该发光装置的驱动信号值来控制该发光装置的功率；提供一光检测器，电连接于所述的待测装置，并利用该光检测器侦测发光装置的输出光线以产生与该输出光线的强度成正比的一模拟信号；提供一具有一预设参考电压的信号校正电路，电连接于该第一微处理器与该光检测器之间，利用该信号校正电路产生与该模拟信号具有反向关系的该功率指针，以使当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到一预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的函数；利用该第一微处理器接收该功率指针；利用该第一微处理器依据该驱动信号的数个信号值个别的功率指针，来判断该驱动信号的信号值与该发光装置的功率间的一功率关系；以及储存第一微处理器于校正模式中所检测到的功率关系至一非易失性内存中，其中，该第一微处理器于正常运作中是利用该功率关系，依据发光装置的目标功率来控制驱动信号的信号值。
本发明所揭露的发光装置校正系统与校正方法，并不限定应用在标准的激光二极管上，亦不需要由一额外的计算机装置所控制的GPIB卡，故可使制造成本大幅地降低。此外，由于功率校正程序是由设置在该待测装置中的一微处理器来控制，故可简化并使功率校正程序能自动进行。由于本发明的发光装置校正系统可利用微处理器中的模拟至数字转换器，因此无需在单机式的消费性DVD光驱中设置不必要的数据接口。至于该微处理器中的模拟至数字转换器的参考电压不确定性，则可通过信号校正电路所产生与功率量测器输出的模拟信号成反向关系的功率指针来消除。
附图说明
图1为公知的一功率校正系统的示意图。
图2为本发明的功率校正系统的一第一实施例的方块图。
图3为图2中的信号校正电路的一实施例的示意图。
图4为图2中的微处理器于校正模式中所检测出对应于待测装置的功率关系的一示意例。
图5为本发明的功率校正系统的一第二实施例的方块图。
图6为本发明的功率校正系统的一第三实施例的方块图。
图7为描述本发明校正发光装置的方法的一实施例流程图。
100、200、500、600    功率校正系统
102、211              激光二极管
104                   光驱
106                   CD托盘
108、110              模块
202、502、602         待测装置
204、504              功率量测器
206、506、606、616    微处理器
208                   非易失性内存
210                   读写头
212                   模拟输出电路
214                   感光组件
216                   信号校正电路
218                   模拟至数字转换器
302                   运算放大器
304、306              电阻
400、402              功率关系
512                   数字输出电路
518                   数据接口
具体实施方式
图2所绘示为本发明第一实施例的一功率校正系统200的方块图。功率校正系统200包含有一待测装置202；一功率量测器(power meter)204，电连接于待测装置202，用来作为一光传感器；以及一信号校正电路216。在本实施例中，待测装置202包含一微处理器206、一非易失性内存208、以及一读写头210。其中，读写头210是用来控制一发光装置(lightemitting device，如图2所示的一激光二极管211)。实际操作上，微处理器206可为待测装置202中的一中央处理单元(CPU)，而非易失性内存208则可用一电可擦洗可编程只读存储器(EEPROM)来实现。在本例中，功率量测器204包含有一感光组件(photo sensor)214以及一模拟输出电路212。
以下将说明利用功率校正系统200来校正激光二极管211的激光功率的运作方式。首先，将待测装置202的电源接通，以便使微处理器206进入一校正模式。举例而言，可将待测装置202中的一跳线开关(jumper)短路，以控制微处理器206进入校正模式，或是将对应该校正模式的程序代码暂时加载非易失性内存208中，让微处理器206于开机后执行等等。当进入校正模式后，微处理器206会通过改变输入读写头210的驱动信号值的方式，来控制激光二极管211的输出功率。微处理器206会输出不同信号值的数个驱动信号DS。读写头210会依据该驱动信号DS的信号值，将激光二极管211的输出功率驱动到一相对应的水平。功率量测器204中的感光组件214会接收激光二极管211所输出的光线，并输出与接收到的光线强度相对应的一电气信号S至模拟输出电路212。在本实施例中，功率量测器204中的模拟输出电路212会产生与感光组件214所接收到的光线强度成正比的一模拟信号VA。换言之，该模拟信号VA亦会与激光二极管211的输出功率成正比。例如，本实施例中的模拟信号VA为一可变电压信号。信号校正电路216会接收该模拟信号VA，并输出与该模拟信号VA成反比关系的一功率指针信号(power indication signal)VPI。因此，该功率指针信号VPI也会和激光二极管211的输出功率成反比。微处理器206会经由与其内部的一模拟至数字转换器218相连接的一模拟输入接脚接收功率指针VPI。接着，微处理器206会依据驱动信号DS的数个信号值个别的功率指针VPI，来判断该驱动信号DS的信号值与激光二极管211的输出功率间的一功率关系。
图3为本发明的信号校正电路216的一实施例的示意图。信号校正电路216包含一运算放大器302、一参考电压源VREF、一第一电阻304、以及一第二电阻306。运算放大器302具有一反相端(-)、一非反相端(+)、以及一输出端Out。其中，该输出端Out是用来输出该功率指针VPI。该参考电压源VREF是为一预设电压值，并电连接于运算放大器302的非反相端(+)。第一电阻304的第一端电连接于功率量测器204所输出的模拟信号VA，而其第二端则是电连接于运算放大器302的反相端(-)。第二电阻306的第一端电连接于运算放大器302的反相端(-)，而其第二端则是电连接于输出端Out(亦即该功率指针信号VPI)。
熟知此项技术者应可理解，倘若第一电阻304与第二电阻306具有相同的电阻值，则信号校正电路216所输出的功率指针信号VPI便会满足下式：
VPI＝2·VREF-VA            (式1)
如此一来，信号校正电路216所输出的功率指针VPI便会与模拟信号VA成反比例的关系。由于参考电压源VREF具有一预设的电压值，故当激光二极管211停止运作不发出任何光线时，模拟信号VA会是零伏特，而功率指针信号VPI的电压值将会是参考电压源VREF的电压值的两倍。因此，微处理器206可输出一个不会使激光二极管211发出任何光线的驱动信号值(例如零伏特)，并对接收到的功率指针VPI进行取样，以检测功率校正系统200的一电压增益GAIN。该电压增益GAIN是由于微处理器206的模拟至数字转换器218的一第二参考电压源VREF2的不确定性所导致。该电压增益GAIN的大小可用下式表示：
GAIN＝(2·VREF)/(VCPU)，        (式2)
其中VCPU为微处理器206的模拟至数字转换器218对该功率指针信号VPI进行取样所得到的值。
在功率校正的过程中，微处理器206会利用此一增益值来修正模拟至数字转换器218量测所接收到不同驱动信号值的功率指针所得到的值。如此一来，即使不同微处理器206的第二参考电压源VREF2有所不同，功率校正系统200仍可精确地检测出该驱动信号DS的信号值与激光二极管211的输出功率间的关系。
更进一步而言，激光二极管211在一特定驱动信号值下的实际输出功率会满足下式：
输出功率＝(2·VREF)-(GAIN·VCPU)         (式3)
图4所绘示为微处理器206在校正模式中所检测到待测装置202所对应的功率关系的一实施例示意图。当驱动信号DS的信号值较低时，激光二极管211不会发出光线，如图4的一第一部份400所示。前述的偏移量(offset)是基于激光二极管211的发光特性所使然。当驱动信号的信号值提升到DS1时，激光二极管211会开始发光。在图4中所示的一第二部分402的阶段，激光二极管211的输出功率会随着驱动信号DS的信号值增加而提升。在本实施例中，微处理器206是逐渐地增加驱动信号DS的信号值，但在实际应用上并不局限于此。举例而言，倘若将功率曲线的第二部分402的斜率假设为线性，则仅需利用两个驱动信号值(如DS2和DS3)的结果便能以外插(extrapolating)方式求得第二部分402与零功率线的交叉点，并据以对激光二极管211进行功率校正。当检测出该交叉点时，微处理器206会将该功率关系储存于非易失性内存208中，以供待测装置202于正常运作时使用。因此，在正常运作时，微处理器206便能利用不同的驱动信号值来精确地控制激光二极管211输出适当的激光功率。
图5为本发明第二实施例的一功率校正系统500的方块图。如图5所示，功率校正系统500包含有一待测装置502；一功率量测器504，电连接于待测装置502，用来作为一光传感器；以及如前所述的信号校正电路216。在图5的实施例中，待测装置502包含一微处理器506(如一中央处理单元)、非易失性内存208、以及用来控制激光二极管211的读写头210。请注意，微处理器506中包含如前述模拟至数字转换器218的一模拟至数字转换电路。然而，不同于图2的实施例，图5中的微处理器506另包含有一数字接口518。在本实施例中，因功率量测器504包含有一数字输出电路512，故可直接利用数字输出电路512产生一准确的功率指针值VPI2，并传送至数字接口518。通过这样的方式，微处理器506所接收到的功率指针值VPI2便不会是具有不确定性的模拟信号。请注意，本实施例中的功率指针VPI2是符合一传输标准，例如RS-232标准或是USB标准，而功率量测器504的数字输出电路512以及微处理器506的数字接口518两者亦皆会符合该传输标准。换言之，数字输出电路512及数字接口518可以用RS-232接口或是USB接口来实现。微处理器506可依据数个信号值不相同的驱动信号与其个别所对应的功率指针VPI2间的关系，直接检测出驱动信号值与激光二极管211的输出功率间的功率关系，并据以校正待测装置502。
在前述实施例中的非易失性内存208是用一电可擦洗可编程只读存储器(EEPROM)来实现，但此仅为一实施例而非限定本发明的实际应用。实际操作上，非易失性内存208也可利用其它类型的非易失性内存来实现，例如一闪存(FLASH)等等。此外，虽然前述实施例中的模拟至数字转换器218是整合于微处理器206及506中，但本发明的实际应用并不局限于此。例如，在另一实施例中，模拟至数字转换器218是设置在微处理器206及506之外。实际操作上，甚至可将模拟至数字转换器218设置在待测装置202或502之外。
图6所绘示为本发明第三实施例的一功率校正系统600的方块图。如图6所示，功率校正系统600包含有一待测装置602、一光传感器(如图中所示电连接于待测装置602的一功率量测器204)、一信号校正电路(如前所述的信号校正电路216)、以及一第二微处理器616。在图6的实施例中，待测装置602包含一第一微处理器606(如一中央处理单元)、非易失性内存208、以及用来控制激光二极管211的读写头210。请注意，第一微处理器606中包含有如前述数据接口518的一数据接口。此外，第一微处理器606还包含如前述模拟至数字转换器218的一模拟至数字转换电路。在本实施例中，模拟至数字转换器218会将功率指针信号VPI转换为一相对应的数字值VPI-D(未显示)，而第二微处理器616会将该数字值VPI-D转换为一相对应的数字功率指针信号VD。换言之，该数字功率指针信号VD会对应于该功率指针信号VPI。在本实施例中，该数字功率指针信号VD是符合一特定传输标准，例如RS-232标准或是USB标准，而数据接口518也会符合该传输标准。换言之，数据接口518可以用RS-232接口或是USB接口来实现。
相较于图2的功率校正系统200中的微处理器206，图6中的功率校正系统600是利用第二微处理器616与第一微处理器606的搭配运作来实现前述微处理器206的功能。在功率校正系统600的另一实施例中，第二微处理器616至少会用来执行微处理器206所负责的功能中的功率校正程序。
图7为描述本发明校正发光装置的方法的一实施例流程图。其所包含的步骤分述如下：
步骤700：提供具有待校正的一发光装置及一微处理器的一待测装置。
步骤702：提供可检测该发光装置所射出的光线的一光检测器。
步骤704：利用微处理器通过改变输入发光装置的一驱动信号值的方式来控制发光装置。
步骤706：利用光检测器检测发光装置所射出的光线以产生一相对应的功率指针。
步骤708：利用微处理器接收功率指针。
步骤710：利用微处理器依据数个驱动信号值来检测发光装置的输出功率与驱动信号值的信号值间的功率关系。
请注意，本发明的应用范围并不局限于前述的实施例。例如，对某些光驱而言，读写头210可能会同时包含有一DVD激光二极管与一CD激光二极管。在此情况下，可应用前揭的发光装置校正方法来分别校正该DVD激光二极管与该CD激光二极管。在另一实施例中，则可先利用前揭的方法来检测该DVD激光二极管的输出功率与其所输入的驱动信号值间的功率关系。之后，再将所测得的该功率关系，依照该DVD激光二极管与该CD激光二极管两者的输出功率间的对应比率，乘上一预定常数(例如1.2)，以换算出该CD激光二极管的输出功率与其所输入的驱动信号值间的功率关系。或者，也可先检测出该CD激光二极管的输出功率与其所输入的驱动信号值间的功率关系，再除以预定常数来换算出该DVD激光二极管的功率关系。此外，本发明并不限定于使用标准的功率量测器(power meter)。任何能接收该发光装置的输出光线，并据以产生一相对应的功率指针信号的光传感器或感光组件，均可应用于前述的功率校正系统中。
由前述说明可知，本发明所揭露的发光装置校正系统与相关的校正方法，并不限定应用在标准的激光二极管上，也不需要由一额外的计算机装置所控制的GPIB卡，故可使制造成本大幅地降低。此外，由于前揭的功率校正程序是由设置在待测装置中的一微处理器来控制，故可简化并使功率校正程序能自动进行。由于本发明的发光装置校正系统可利用微处理器中的模拟至数字转换器，因此无需在单机式的消费性DVD光驱中设置不必要的数据接口。至于该微处理器中的模拟至数字转换器的参考电压不确定性，则可通过信号校正电路所产生与功率量测器输出的模拟信号成反向关系的功率指针来消除。
上述具体实施方式仅用以说明本发明，而非用以限定本发明。

Claims (24)

1.一种用于光驱的发光装置校正系统，其特征在于，该发光装置校正系统包含有：
一激光二极管，安装在该光驱内并作为待校正的发光装置；
一第一微处理器，电连接于所述的发光装置，用来在一校正模式中通过改变输入该发光装置的一驱动信号的信号值以控制该发光装置的功率、接收与该发光装置的输出光线相对应的一功率指针、以及依据所述的驱动信号的数个信号值所对应的每个功率指针来判断该驱动信号的信号值与发光装置的功率间的一功率关系；
一光检测器，电连接于所述的待测装置，用来侦测发光装置的输出光线以产生与该输出光线的强度成正比的一模拟信号；
一具有一预设参考电压的信号校正电路，电连接于该第一微处理器与该光检测器之间，该信号校正电路用以产生与该模拟信号具有反向关系的该功率指针，以使当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到一预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的函数；以及
一非易失性内存，用来储存第一微处理器于校正模式中所检测到的功率关系，其中，该第一微处理器于正常运作中是利用该功率关系，依据发光装置的目标功率来控制驱动信号的信号值。
2.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的非易失性内存为一电可擦洗可编程只读存储器或一闪存。
3.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的光检测器为一具有用来接收该发光装置的输出光线的一感光组件的功率量测器，而该功率量测器会输出该模拟信号。
4.如权利要求3所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的第一微处理器包含用来将该信号校正电路所输出的功率指针转换为一相对应的数字值的一模拟至数字转换器。
5.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的信号校正电路包含有：
一运算放大器，具有一反相端、一非反相端以及一输出端，其中该输出端是用来输出功率指针；
一预设电压值的参考电压源，电连接于所述的非反相端；
一第一电阻，其第一端电连接于光检测器所输出的模拟信号，而其第二端电连接于所述的反相端；以及
一第二电阻，其第一端电连接于所述的反相端，而其第二端电连接于所述的输出端。
6.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的第一微处理器具有符合一传输标准的一数字接口，所述的发光装置校正系统另包含有：
一第二微处理器，电连接于该第一微处理器与该信号校正电路之间，其中该第二微处理器包含用来将该信号校正电路所输出的功率指针转换为一相对应的数字值的一模拟至数字转换器，并会输出对应该数字值且符合传输标准的功率指针。
7.如权利要求6所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的传输标准为RS-232标准或USB标准。
8.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的功率指针是符合一传输标准，而第一微处理器包含有符合该传输标准的一数字接口。
9.如权利要求8所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述的传输标准为RS-232标准或USB标准。
10.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，所述光检测器用来直接侦测发光装置的输出光线以产生该模拟信号。
11.如权利要求1所述的发光装置校正系统，其特征在于，在校正模式中，该第一微处理器调整该驱动信号的值以控制该发光装置不输出任何光线，并通过量测由该第一微处理器所侦测的该功率指针的一采样最大值，来计算该发光装置校正系统的增益，并依据获得的增益来校正所述的驱动信号的数个信号值所对应的每个功率指针，其中，该采样最大值对应于该预设最大值。
12.如权利要求11所述的发光装置校正系统，其特征在于，在校正模式中，当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到该预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的两倍。
13.如权利要求12所述的发光装置校正系统，其特征在于，在校正模式中，该增益由该第一微处理器所计算而得，且该增益等于该预设参考电压的两倍除以由该第一微处理器所侦测的该功率指针的该采样最大值。
14.如权利要求12所述的发光装置校正系统，其特征在于，在校正模式中，该第一微处理器进一步用来校正由该第一微处理器所侦测的采样功率指针值，一校正后的功率指针值等于该预设参考电压的两倍减去该采样的功率指针值与该增益的积。
15.一种用于光驱的发光装置校正方法，其特征在于，该发光装置校正方法包含有：
提供安装在该光驱内的一发光二极管及一第一微处理器，该发光二极管作为待校正的发光装置；
利用第一微处理器在一校正模式中通过改变输入发光装置的驱动信号值来控制该发光装置的功率；
提供一光检测器，电连接于所述的待测装置，并利用该光检测器侦测发光装置的输出光线以产生与该输出光线的强度成正比的一模拟信号；
提供一具有一预设参考电压的信号校正电路，电连接于该第一微处理器与该光检测器之间，利用该信号校正电路产生与该模拟信号具有反向关系的该功率指针，以使当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到一预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的函数；
利用第一微处理器接收该功率指针；
利用第一微处理器依据驱动信号的数个信号值所对应的每个功率指针，来判断该驱动信号的信号值与发光装置的功率间的一功率关系；以及
储存第一微处理器于校正模式中所检测到的功率关系至一非易失性内存中，其中，该第一微处理器于正常运作中是利用该功率关系，依据发光装置的目标功率来控制驱动信号的信号值。
16.如权利要求15所述的发光装置校正方法，其特征在于，光检测器为一具有用来接收所述的发光装置的输出光线的一感光组件的功率量测器，而该校正方法另包含有自功率量测器输出该模拟信号。
17.如权利要求16所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有于第一微处理器中进行一模拟至数字转换处理，以将将该信号校正电路所输出的功率指针转换为相对应的一数字值。
18.如权利要求15所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：
通过下列步骤以提供信号校正电路：
提供具有一反相端、一非反相端以及一输出端的一运算放大器；
提供电连接于所述非反相端的一参考电压源；
提供一第一电阻，将其第一端电连接于功率量测器所输出的模拟信号，并将其第二端电连接于所述反相端；以及
提供一第二电阻，将其第一端电连接于所述反相端，并将其第二端电连接于所述输出端；以及
自运算放大器的输出端输出该功率指针。
19.如权利要求15所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：
将一第二微处理器电连接于该第一微处理器与该信号校正电路之间，并在该第二微处理器中进行一模拟至数字转换运作，以将该信号校正电路所输出的功率指针转换为一相对应的数字值，以及自该第二微处理器输出对应该数字值的功率指针至第一微处理器。
20.如权利要求15所述的发光装置校正方法，其特征在于，利用该光检测器侦测发光装置的输出光线的步骤包括利用该光检测器直接侦测发光装置的输出光线以产生该模拟信号。
21.如权利要求15所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：在校正模式中，该第一微处理器调整该驱动信号的值以控制该发光装置不输出任何光线，并通过量测由该第一微处理器所侦测的该功率指针的一采样最大值，来计算该发光装置校正系统的增益，并依据获得的增益来校正所述的驱动信号的数个信号值所对应的每个功率指针，其中，该采样最大值对应于该预设最大值。
22.如权利要求21所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：在校正模式中，当该模拟信号表示没有光线从该发光装置输出的状态时，该功率指针达到该预设最大值，其中该预设最大值为该预设参考电压的两倍。
23.如权利要求22所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：在校正模式中，该增益由该第一微处理器所计算而得，且该增益等于该预设参考电压的两倍除以由该第一微处理器所侦测的该功率指针的该采样最大值。
24.如权利要求22所述的发光装置校正方法，其特征在于，另包含有：在校正模式中，进一步利用该第一微处理器来校正由该第一微处理器所侦测的采样功率指针值，一校正后的功率指针值等于该预设参考电压的两倍减去该采样的功率指针值与该增益的积。
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