CN101969350B - 一种时钟裕量测试系统、方法及相应的装置 - Google Patents

一种时钟裕量测试系统、方法及相应的装置 Download PDF

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Abstract

本发明披露了一种时钟裕量测试系统、方法及相应的装置，其中装置包括相互连接的时钟裕量调整模块和时钟输出单元；时钟裕量调整模块接收输入的时钟信号，并对输入的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整后输出；时钟输出单元对时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行对接匹配处理，并输出经对接匹配处理的时钟信号。本发明实现了为适应测试系统对不同产品的功能和性能测试而修改其时钟系统相应的驱动时钟幅度，获得该时钟系统的工作时钟幅度裕量的具体值，由此实现对被测产品功能和性能测试。

Description

一种时钟裕量测试系统、方法及相应的装置
技术领域
本发明涉及产品测试技术，尤其涉及用于产品测试的时钟裕量测试系统、方法及相应的装置。
背景技术
随着对电路硬件测试工作的不断深入，人们不仅要通过测试工作来保证所设计的产品功能正确实现和性能的优良，还要做些裕量测试来获得产品的具体性能指标，这样才能尽可能对所设计产品有个全面的认识。同时，裕量测试工作对产品的材料选型、产品维护和故障复现排查等方面也有很大的帮助。在市场激烈竞争的现状下，产品开发商不单要关心产品的功能，更多是在相同的产品功能下比拼产品的性能，这样产品的极限测试就显出其重要性了。
很多产品的功能都需要靠时钟系统中各同步时钟的驱动实现的。因此，对各类产品性能的测试，其测试系统离不开对同步时钟裕量的测试和调整，因为产品的驱动时钟若超出该裕量可能直接导致产品的某种功能实现不了，或导致产品的性能变劣。
目前，在对时钟裕量的测试和调整方面能够看到有关时钟相位裕量测试技术的披露，但在时钟幅度裕量测试和调整方面尚未见有相关技术报道。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种时钟裕量测试系统、方法及相应的装置，能够获知用于测试产品所必要的时钟裕量。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于产品测试的时钟裕量调整装置，包括相互连接的时钟裕量调整模块和时钟输出单元，其中：
时钟裕量调整模块，用于接收输入的时钟信号，并对输入的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整后输出；
时钟输出单元，用于对时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行对接匹配处理，并输出经对接匹配处理的时钟信号。
进一步地，时钟裕量调整模块包括相互连接的时钟基准电平调整单元和时钟幅度调整单元，其中：
时钟基准电平调整单元，用于对输入的时钟信号进行基准电平偏移量的调整，并输出经基准电平偏移量调整的时钟信号；或者直接将输入的时钟信号输出；
时钟幅度调整单元，用于对时钟基准电平调整单元输出的时钟信号进行幅度的调整，并输出经幅度的调整的时钟信号；或者直接将时钟基准电平调整单元输出的时钟信号输出。
进一步地，
时钟输出单元对时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行的对接匹配处理，包括对时钟信号与被测产品的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种时钟裕量测试系统，包括依次连接的时钟裕量调整装置、被测产品系统以及产品性能参数监测装置，其中：
时钟裕量调整装置，用于接收被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号，对该接收的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整，将经调整的时钟信号处理成与被测产品系统对接匹配的时钟信号后输出；
被测产品系统，用于将本产品系统驱动时钟源输出的时钟信号输入到时钟裕量调整装置，接收该时钟裕量调整装置输出的时钟信号并作为驱动时钟提供给本产品系统需要驱动时钟的部分；
产品性能参数监测装置，用于在被测产品系统需要驱动时钟的部分在驱动时钟的驱动下，监测被测产品的性能参数。
进一步地，时钟裕量调整装置包括依次连接的时钟裕量调整模块和时钟输出单元，其中：
时钟裕量调整模块，用于输入来自被测产品系统的时钟信号，对输入的时钟信号进行基准电平的偏移量和/或幅度的调整后输出；
时钟输出单元，用于对时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行对接匹配处理，并输出经对接匹配处理的时钟信号。
进一步地，时钟裕量调整模块包括相互连接的时钟基准电平调整单元和时钟幅度调整单元，其中：
时钟基准电平调整单元，用于对输入的时钟信号进行基准电平偏移量的调整，并输出经基准电平偏移量调整的时钟信号；或者直接将输入的时钟信号输出；
时钟幅度调整单元，用于对时钟基准电平调整单元输出的时钟信号进行幅度的调整，并输出经幅度的调整的时钟信号；或者直接将时钟基准电平调整单元输出的时钟信号输出。
进一步地，
时钟输出单元对所述时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行的对接匹配处理，包括对时钟信号与被测产品的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
进一步地，时钟裕量调整装置敷贴在被测产品系统上。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种时钟裕量测试方法，包括：
接收被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号，对接收的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整后进行对接匹配处理，作为驱动时钟提供给被测产品系统需要驱动时钟的部分；
当被测产品系统需要驱动时钟的部分在驱动时钟的驱动下工作时，监测被测产品系统的性能参数，在性能参数不变或变化在允许范围内，将调整基准电平的偏移量范围作为时钟的基准裕量记录，和/或将调整幅度范围作为时钟的幅度裕量记录。
进一步地，
对接匹配处理包括对经调整的时钟信号与被测产品系统的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
本发明通过时钟裕量调整装置，实现了为适应测试系统对不同产品的功能和性能测试而修改其时钟系统相应的驱动时钟幅度的功能。通过该时钟裕量调整装置可以获得该时钟系统的工作时钟幅度裕量的具体值，由此实现对被测产品功能和性能测试。本发明的时钟裕量调整装置可以敷贴在被测产品系统且只需占很小的空间，这样可以使本发明装置的时钟输出和被测产品的时钟输入之间距离很短，避免了时钟信号在长距离传输过程中受干扰的风险。另外该装置中的各单元工作是相互独立的，可以根据测试需求任选其中的单元进行调整，且各单元的调整次序也可以任选。
附图说明
图1是本发明的用于产品测试的时钟裕量调整装置实施例结构示意图；
图2是本发明的时钟裕量测试系统实施例的结构示意图；
图3是本发明的时钟裕量测试方法实施例流程图。
具体实施方式
下面结合附图和优选实施例对本发明的技术方案进行详细地描述。以下例举的实施例仅仅用于说明和解释本发明，而不构成对本发明技术方案的限制。
如图1所示，是本发明提供的用于产品测试的时钟裕量调整装置实施例的结构，该装置100包括依次连接的时钟基准电平调整单元110、时钟幅度调整单元120以及时钟输出单元130，其中：
时钟基准电平调整单元110，用于调整输入的时钟信号的基准电平的偏移量，并输出经基准电平调整的时钟信号；或者，直接将输入的时钟信号输出；
例如，被测产品驱动时钟的基准电平是零电平，时钟基准电平调整单元110根据对被测产品的测试需求，调整驱动时钟输入信号零电平的偏移量从0至2.5V。
时钟幅度调整单元120，用于调整输入的时钟信号的幅度，并输出经幅度调整的时钟信号；或者，直接将输入的时钟信号输出；
例如，被测产品驱动时钟的幅度是3V，时钟幅度调整单元120根据对该被测产品的测试需求，将输入的时钟信号的幅度在小于3V(譬如幅度下限为1V)和大于3V(譬如幅度上限为5V)之间调整。
时钟输出单元130，用于对输入的时钟信号进行处理，输出与被测产品对接匹配的时钟信号。
时钟输出单元130对输入的时钟信号进行的处理，包括但不限于对该时钟信号与被测产品的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理等，从而输出与被测产品对接匹配的驱动时钟信号。
在以上实施例中，时钟基准电平调整单元110、时钟幅度调整单元120作为两个分离的单元；该两个单元也可以合并在一个时钟裕量调整模块中，或者该时钟裕量调整模块包含两个单元中的任意一个单元。该时钟裕量调整模块根据被测产品的测试需求，调整输入的时钟信号的基准电平偏移量和/或幅度，并将经调整的时钟信号输出给时钟输出单元130进行处理。
图2表示了本发明的时钟裕量测试系统实施例的结构，该系统200包括图1中所示的时钟裕量调整装置100、被测产品系统210以及产品性能参数监测装置220，其中：
时钟裕量调整装置100，用于通过时钟信号输入端输入来自被测产品系统210的时钟信号，对该输入的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整，将调整后的时钟信号处理成与被测产品系统210对接匹配的时钟信号，通过时钟信号输出端输出；
被测产品系统210，用于本产品系统驱动时钟源输出的时钟信号输入到时钟裕量调整装置100，接收时钟裕量调整装置100输出的时钟信号并作为驱动时钟提供给本产品系统需要驱动时钟的部分；
产品性能参数监测装置220，用于当被测产品系统210需要驱动时钟的部分在驱动时钟的驱动下工作时，监测被测产品的性能参数。
本发明的时钟裕量调整装置100可以由一个或多个很小的芯片(IC电路)组成，将这些芯片敷贴在被测产品上只需占很小的空间，这样可以使时钟裕量调整装置100的时钟输出单元130与被测系统需要驱动时钟部分的驱动时钟输入端口之间距离很短，避免了时钟信号在长距离传输过程中受干扰的风险。譬如通过粘贴的方式，测试时将芯片粘贴在被测装置上，测试完毕再从被测装置上取下芯片。
图3表示出本发明的时钟裕量测试方法实施例的流程，包括如下步骤：
310：接收被测产品系统的驱动时钟源输出的时钟信号；
320：对接收的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整，并进行匹配处理，作为驱动时钟提供给被测产品系统；
330：被测产品系统在该驱动时钟的驱动下工作时，监测被测产品性能参数；
340：在监测的性能参数不变或变化在允许范围内，将调整的基准电平的偏移量范围和或幅度范围作为时钟裕量记录。
根据记录的时钟裕量便可对同类产品进行测试。
本发明通过将被测产品系统中原有驱动时钟源和被测产品系统断开，接入本发明的时钟幅度调整装置的时钟输入端，通过该装置改变该时钟信号的基准电平和幅度，并在对被测产品的一标准样本性能参数的监测下来获取到被测产品系统驱动时钟源能够正常工作的裕量，从而便于对同类产品进行相应的性能测试。

Claims (9)

1.一种用于产品测试的时钟裕量调整装置，其特征在于，包括相互连接的时钟裕量调整模块和时钟输出单元，其中：
所述时钟裕量调整模块，用于接收输入的时钟信号，并对输入的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整后输出；
所述时钟输出单元，用于对所述时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行
对接匹配处理，并输出经所述对接匹配处理的时钟信号；
所述时钟裕量调整模块包括相互连接的时钟基准电平调整单元和时钟
幅度调整单元，其中：
所述时钟基准电平调整单元，用于对所述输入的时钟信号进行基准电平偏移量的调整，并输出经基准电平偏移量调整的时钟信号；或者直接将所述输入的时钟信号输出；
所述时钟幅度调整单元，用于对所述时钟基准电平调整单元输出的时钟信号进行幅度的调整，并输出经所述幅度的调整的时钟信号；或者直接将所述时钟基准电平调整单元输出的时钟信号输出。
2.按照权利要求1所述的装置，其特征在于，
所述时钟输出单元对所述时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行的对接匹配处理，包括对所述时钟信号与被测产品的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
3.一种时钟裕量测试系统，其特征在于，包括依次连接的时钟裕量调
整装置、被测产品系统以及产品性能参数监测装置，其中：
所述时钟裕量调整装置，用于接收所述被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号，对该接收的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整，将经所述调整的时钟信号处理成与所述被测产品系统对接匹配的时钟信号后输出；
所述被测产品系统，用于将本产品系统驱动时钟源输出的时钟信号输入到所述时钟裕量调整装置，接收所述时钟裕量调整装置输出的时钟信号并作为驱动时钟提供给本产品系统需要驱动时钟的部分；
所述产品性能参数监测装置，用于在所述被测产品系统需要驱动时钟的部分在所述驱动时钟的驱动下，监测被测产品的性能参数。
4.按照权利要求3所述的系统，其特征在于，所述时钟裕量调整装置
包括依次连接的时钟裕量调整模块和时钟输出单元，其中：
所述时钟裕量调整模块，用于输入来自所述被测产品系统的时钟信号，对输入的时钟信号进行所述基准电平的偏移量和/或幅度的调整后输出；
所述时钟输出单元，用于对所述时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行所述对接匹配处理，并输出经所述对接匹配处理的所述时钟信号。
5.按照权利要求4所述的系统，其特征在于，所述时钟裕量调整模块
包括相互连接的时钟基准电平调整单元和时钟幅度调整单元，其中：
所述时钟基准电平调整单元，用于对输入的所述时钟信号进行基准电平偏移量的调整，并输出经基准电平偏移量调整的时钟信号；或者直接将所述输入的时钟信号输出；
所述时钟幅度调整单元，用于对所述时钟基准电平调整单元输出的时钟信号进行幅度的调整，并输出经所述幅度的调整的时钟信号；或者直接将所述时钟基准电平调整单元输出的时钟信号输出。
6.按照权利要求3至5任一项所述的系统，其特征在于，
所述时钟输出单元对所述时钟裕量调整模块输出的时钟信号进行的对接匹配处理，包括对所述时钟信号与被测产品的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
7.按照权利要求3至5任一项所述的系统，其特征在于，所述时钟裕
量调整装置敷贴在所述被测产品系统上。
8.一种时钟裕量测试方法，其特征在于，包括：
接收被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号，对接收的时钟信号进行基准电平和/或幅度的调整后进行对接匹配处理，作为驱动时钟提供给所述被测产品系统需要驱动时钟的部分；
当所述被测产品系统需要驱动时钟的部分在所述驱动时钟的驱动下工作时，监测所述被测产品系统的性能参数，在所述性能参数不变或变化在允许范围内，将调整所述基准电平的偏移量范围作为所述被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号的基准裕量记录，和/或将调整所述幅度范围作为所述被测产品系统驱动时钟源输出的时钟信号的幅度裕量记录。
9.按照权利要求8所述的方法，其特征在于，
所述对接匹配处理包括对经所述调整的时钟信号与所述被测产品系统的阻抗匹配处理、杂波干扰消除处理中的一种或多种。
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