CN101963620B - 一种采用x射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统 - Google Patents

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Abstract

一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。

Description

一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统
技术领域
本发明涉及一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统。
背景技术
所述系统例如用于自动连续测试铸造，所述系统连至制造商的生产线(在线测试)。借助已知的该类系统将X射线源和探测器设置在多轴操纵器上，其中通过简单的射线成像记录和评估测试对象的X射线图像。但是，将测试元件实体投影到X射线图像上仅能部分了解到所述元件的内部结构。
为获得关于元件三维内部结构的精确信息，已知通过高分辨率微层析X射线成像系统实验室测试单独的元件。X射线管和探测器设置在固定支架上以可围绕多条平移轴调节，而所述元件通过旋转台围绕垂直轴旋转。这样的系统不适合于自动连续在线测试元件，特别是因为操控以及高分辨率检验元件所需要的长时间与生产线的循环次数不一致。
发明内容
本发明的目标在于提供适合于在线测试元件的系统，借助该系统可获得关于元件内部结构的信息。
本发明借助独立权利要求中的部件实现所述目标。X射线信号的计算机层析X射线成像评估使得可能以本身已知的方式获得关于元件三维内部结构的信息，例如铸件中空气杂质的精确位置和形状。在连续旋转的转子上设置X射线装置使得可能在测试期间通过所述转子连续传送元件；而不需要附加的操纵器例如转台。通过这种方法可在短时间内完成元件的自动连续检验，所述短时间与生产线上的循环次数一致。
本发明与评估必须设置得非常宽以覆盖任何期望的行李内容的行李测试系统不同。相反，根据本发明的检验多个基本相同元件的系统可合适地调整至待测试的元件类型或者有限数量的元件类型的混合。因此这些系统完全不同地配置，特别是关于X射线参数和评估算法。根据本发明的测试/测量系统被便利地设置以自动识别材料缺陷例如基本均匀的材料中的气体杂质、多孔性或者较高密度的材料杂质。但是根据本发明的系统可另外或者可选择地用于材料测试以测量内部和外部元件结构(计量学)。然后可选地可能省去分离的坐标测量机。
优选，所述系统被设置为获得小于或者等于1mm的X射线图像体分辨率。还通过这一点，本发明与通常以几mm的分辨率运行的测试行李的系统不同。
为获得亚mm分辨率，所述传送装置优选在环形单元区域包括行进速度基本上恒定的传送部件。基本上恒定优选意味着前进速度的波动最多达到10％，优选最多5％。
关于制造环境中常见的粗糙状况例如铸造车间，优选以基本气密的方式将保护舱密封以和周围环境隔离从而阻止尘埃和湿气渗入所述保护舱以及安装在其中的测试/测量装置。为阻止尘埃和灰尘穿过用于传送元件进出的开口，所述系统优选包括连接所述两个开口的管道，所述管道延伸通过转子并限定封闭的传送管道，所述传送管道优选地以气密方式连至保护舱。另外，优选提供冷却单元以冷却保护舱内部。最后，所述系统优选包括相对于周围环境对保护舱加压的部件。优选地，所述保护舱被设置为特别是通过例如含铅的X射线吸收层屏蔽周围环境不受X射线的影响。
优选，所述传送装置包括被无间断引导通过所述测试/测量装置以及对射线非常透明的传送带，从而简单地避免了和传送装置中的测量间隙相关的问题。
优选，所述传送装置在所述测试/测量装置的区域中高度可调以适合于不同尺寸的元件，从而所述元件可经过高度非常集中的测试/测量装置。
附图说明
下面通过参考附图的有利实施例示出本发明，其中：
图1：示出了用于测试生产线中元件的系统；以及
图2：示出了用于测试元件的装置的另一个实施例。
具体实施方式
系统10包括测试/测量装置11、向所述测试/测量装置11连续传送多个待测试的基本相同的元件12或者从所述测试/测量装置11传送走元件12的传送装置13、控制/评估单元14、以及围绕所述测试/测量装置11的保护舱15。测试/测量装置在这里应当被理解为是指测试和/或测量装置。所述测试/测量系统10适合于连至例如金属铸件12的铸造厂生产线上。
所述测试/测量装置11包括在测试期间固定的支架17和环形转子18。支架17包括固定至底板23的基座19和设置在所述基座上在这里为八边形板的环形支撑元件22。环形支撑元件22形成转子18的环形旋转轴承20。旋转轴承20、转子18和可选地支撑元件22形成环形单元16，环形单元16包括经环形单元16传输元件12的中央环形开口26。参见根据图1和2的实施例，为能够水平取向，如附图所示，环形单元16可通过水平旋转轴承21相对于基座19倾斜例如+-30°的范围。优选以轴向平行方式即平行于转子轴通过转子18传送元件12。
X射线管24和X射线探测器25相互相对地固定在转子18上。优选为旋转阳极管形式的X射线管24优选为扇形或者锥形束类型。X射线管24方便地设置为照射整个探测器25，并且为此目的其优选在一个方向上具有至少40°优选至少60°的波束角。为获得亚mm图像分辨率，X射线束的焦点尺寸优选低于1mm、更优选低于0.7mm。管24优选以至少80kV、更优选至少100kV、更优选至少120kV例如大约140kV的能量运行。如果需要高穿透能力，则直到450kV的更高的X射线能量是合理的。为缩短测试和/或测量持续时间，X射线管24优选以至少1kW的连续输出运行。为避免过量热生成所引起的问题，所述连续输出优选小于10kW。
在没有示出的实施例中，仅仅管24可固定至转子18，而固定探测器25形成360°环。
X射线探测器25优选为数字探测器，其直接将入射X射线转换为电计数；优选地其为具有多条优选为至少16条平行线的线扫描探测器。探测器25优选地包括足以探测管24所发出X射线的最大可能角度范围的长度。其优选被弯曲为香蕉形状从而灵敏区域尽可能在各处距离X射线管24的源点为基本恒定的距离。为获得亚mm图像分辨率，探测器25的像素尺寸最大1mm，优选最大0.7mm。
调节在控制/评估单元14中方便进行的用于补偿束硬化效应的校正，以检验常规材料例如金属、合金、复合材料、铝、铁等等。
在元件12的X射线测试期间，转子18通过固定至支撑元件22的旋转驱动器(未示出)围绕环形单元16的中心纵轴连续旋转，其中对每个元件12进行转子18的多次全360°旋转。通过设置在转子18和支撑元件22之间的滑动环形装置27向随着转子18旋转的X射线管24和X射线探测器25输电。转子18的旋转轴或者环形单元16的纵轴基本上平行于经测试/测量装置11传送元件的方向，优选基本上水平。
和根据图1的示例性实施例一样，传送装置13优选为输送线即平移输送机。为连至元件12的生产线，输送线包括装载部分28和卸载部分29。输送线13的装载在根据图1的示例实施例中通过自动装置30进行，而手动进行卸载。显然，装载和卸载还可以以其它方式进行。
在根据图1的示例性实施例中，传送装置13包括：用于容纳一个元件12的传送车架31和至少一条导轨32，沿着所述导轨32可移动地引导所述传送车架31。但是传送装置13还可不同地构造，特别是采用传送带。
传送装置13优选被设置为以基本恒定的前进速度即前进速度的波动小于10％优选小于5％传送元件12经过所述测试/测量装置11。为此所述传送装置13在测试/测量装置11的区域中优选包括分离的驱动器34，其优选具有伺服电动机，以获得要求的恒定前进速度。因此，用于传送通过测试/测量装置11的驱动器34合适地显示出比其他用于传送至测试/测量装置11和从测试测量装置11传送出的驱动器(未示出)更加恒定的速度。
在根据图2的优选实施例中，提供具有连续、不间断传送部件34特别是传送带的不同传送装置33以将元件12传送通过测试/测量装置11。传送部件34便利地对X射线基本透明。所述连续、不间断、非常射线透明的传送部件34具有传送部件34不必包括任何允许X射线通过的间隙。
另一方面，在根据图1的实施例中，传送装置13从两侧进入测试/测量装置11从而仍然保留最小可能的间隙35以供X射线无障碍通过。在这种情况下，在测试/测量装置11区域中具有导轨32和传送车架31的传送装置13是有利的，这是因为传送车架31可以以位置和前进速度都精确的方式桥接间隙。
如上所述，传送装置13在装载部分28和卸载部分29之间的整个传送距离上为平移构造。因此可省去用于从输送线13向测试/测量装置11传送进/出元件12的复杂的行李传送带状的旋转传送装置。可省去元件12的其它操作，例如元件12在X射线检验期间围绕垂直轴旋转。
待测试元件12在测试期间经测试/测量装置11平行于转子18转轴的平移传送以及X射线系统24、25围绕待测试元件12的同时连续旋转使得X射线系统24、25围绕待测试元件12总体螺旋运动。控制/评估单元14包括用于将所记录的X射线数据从螺旋几何形状转换为体或者体素表示的快速CT重构算法。控制/评估单元14还包括根据期望应用分析体图像的算法。其可特别包括采用原则上已知因此不需要更详细解释的预定测试参数自动识别元件12的内部缺陷或者异常，例如空气杂质。每个元件可可选地划分为“符合的”或者“不符合的”，并且可选地因此光学标记或者自动拒绝。最后，控制/评估单元14可包括具有外部单元的用于数据传输的通信单元，例如制造厂的中央控制单元。
此外或者作为螺旋扫描模式的替换，控制/评估单元14还可进行轴向扫描和/或元件12的仅仅一部分例如单独薄片或者在特殊位置的扫描。
可选地或者另外，为识别元件12的内部缺陷或者异常，控制/评估单元14还可设置为从X射线数据确定元件12的三维几何尺寸即内部和外部元件结构。然后可选地可能省去单独的坐标测量装置。
为屏蔽周围环境不受X射线管24的X射线辐射的影响，系统10包括围绕测试/测量装置11的辐射保护舱15。辐射保护舱15包括可例如由金属管或者棒组成的框架36，和在图2中仅仅对顶壁37a示出的板型壁元件37a、37b、37c、37d等等，侧壁37b远离观察者、通过其将元件12传送至保护舱15的前壁37c正对观察者、而通过其将元件12传送离开保护舱15的后壁37d远离观察者。壁元件37包括足够厚的X射线吸收层特别是含铅层。
入口39和相应的出口40设置在壁元件37c、37d中以传送元件12通过保护舱15。每个通道口39、40在每种情况下都具有和其连的通道闸41、42，通道闸分别包括用于关闭通道闸41、42的入口的滑片41a、42a和用于关闭通道闸41、42的出口的滑片41b、42b。通道闸41、42和滑片41a、41b、42a、42b同样设置为基本完全吸收X射线辐射。操作时一直关闭通道闸41、42的一个滑片41a、41b或者42a、42b从而一直保证辐射保护。
为防止尘埃和湿气进入保护舱15，以气密方式例如借助壁元件37、框架36和底板23之间的密封元件38封闭保护舱。为获得测试/测量装置11的基本完全的密封内部，即避开任何空气调节开口，提供了方便的基本射线透明的管道43，该管道43从一个通道开口39延伸通过保护舱15至另一个通道开口40并经过环形单元16中的环形开口26。传送装置13经过测试/测量装置11区域中的管道43，所述管道限定传送通道46或者传送隧道。管道43优选在管道壁上没有开口从而随传送装置13或者设置在其上的元件12输送的尘埃颗粒不能进入测试/测量装置11。在其端部所述管道优选以气密方式在限定通道开口39、40的边沿与壁元件37c、37d连接，特别是借助相应的密封元件44、45。管道43的直径方便地适合于环形单元16的内径以可测试最大可能的元件12。如上所述，测试/测量装置11基本上完全封闭在保护舱15内。
为消散测试/测量装置11运行时产生的热并保持保护舱15内部即使在非常温暖的环境例如铸造厂中也保持在非常低的工作温度，对保护舱15安装至少一个温度控制特别是电动冷却单元46，例如空气调节系统。
为使尘埃/湿气在任何泄漏的情况下不能进入保护舱15以及通过任何功能开口例如空气调节系统46的排气口，优选提供对舱15加压的装置。其例如可为压缩空气连接47，所述连接47可经压缩空气管道48连至外部压缩空气源。还可通过冷却单元46加压。
由于还保护环形单元16不受到位置不正的元件12的破坏的保护舱15和管道43，环形单元16不需要单独的罩。省去环形单元16的罩又简化了从环形单元16去除热。
传送装置13可在所述测试/测量装置11的区域高度可调以适合于不同尺寸的元件12，从而所述元件12可经过高度非常集中的环形单元16。
系统10可可选地包括连接在所述测试/测量装置11上游以例如借助光学照相机和图形识别算法识别元件类型的装置50。根据识别结果，所述测试/测量装置11的参数可调节至相应的元件类型，和/或X射线的检验结果可与单独元件12例如通过序列号相关。可选地，还可通过相应的识别算法从三维X射线图像识别元件类型。

Claims (9)

1.一种通过X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入和从所述测试/测量装置(11)连续传送出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其中所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和安装在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)并且被设置为在所述测试/测量装置(11)区域中以基本恒定的前进速度传送所述元件(12)，从而在所述测试/测量装置(11)区域中提供分离的驱动器，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于自动识别在所述元件(12)中的材料缺陷，用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号以及用于获得小于或者等于1mm的X射线图像分辨率，其中以至少80kV的电压运行所述X射线源(24)，并且所述保护舱(15)以基本气密的方式密封而与周围环境隔开，并且所述系统包括管道(43)，其延伸通过所述转子(18)并限定传送通道(46)，所述传送通道(46)具有入口(39)和相应的出口(40)，元件通过所述入口(39)和所述出口(40)传送通过所述保护舱(15)，从而所述管道(43)以气密方式连至所述保护舱(15)。
2.根据权利要求1的系统，包括用于冷却所述保护舱(15)的内部的冷却单元(46)。
3.根据权利要求1的系统，包括用于对所述保护舱(15)加压的部件(47，48)。
4.根据权利要求1的系统，其中所述保护舱(15)被设置为屏蔽周围环境不受X射线辐射的影响。
5.根据权利要求1的系统，其中所述控制/评估单元(14)被设置为根据待测试或者测量的元件(12)的类型单独调节所述系统(10)的运行参数。
6.根据权利要求1的系统，其中所述控制/评估单元(14)被设置为自动识别材料缺陷，所述缺陷例如为在基本均匀的材料中的气体杂质、多孔性或者较高密度的材料杂质。
7.根据权利要求1的系统，其中所述传送装置(13)包括被无间断地引导通过所述测试/测量装置(11)的传送带(34)。
8.根据权利要求1的系统，其中所述传送装置(13)在所述测试/测量装置(11)区域可调节高度。
9.根据权利要求1的系统，其中以至少1kW的连续功率运行所述X射线源(24)。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2480352A1 (en) * 2009-09-22 2012-08-01 Laitram, LLC Checkpoint system with wheeled bins
GB2493735B (en) 2011-08-17 2014-07-23 Rolls Royce Plc Method for locating artefacts in a material
CN102507617A (zh) * 2011-11-23 2012-06-20 兰州瑞奇戈德测控技术有限公司 一种管排焊缝x射线数字成像检测装置
KR101894585B1 (ko) * 2012-02-13 2018-09-04 엘지전자 주식회사 태양전지
DE102012215634A1 (de) 2012-09-04 2013-07-25 Siemens Aktiengesellschaft Prüfeinrichtung und Verfahren zur automatisierten Prüfung von Produkten
EP2746753B1 (de) * 2012-12-24 2015-02-25 GE Sensing & Inspection Technologies GmbH Anlage und Verfahren zur automatisierten Prüfung und/oder Vermessung einer Vielzahl im Wesentlichen identischer Bauteile mittels Röntgenstrahlung
US9275769B2 (en) 2013-03-14 2016-03-01 Pcc Structurals, Inc. Marking template for radiography
DE202014105831U1 (de) 2014-06-03 2015-06-16 Otto-Von-Guericke-Universität Magdeburg Vorrichtung zur Ermittlung und Beurteilung der Festigkeit von Bauteilen anhand der Porosität in einem statisch und/oder zyklisch belasteten Gussbauteil
CN105372269B (zh) * 2014-09-02 2019-01-15 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量自动检测装置
WO2016049408A1 (en) * 2014-09-26 2016-03-31 Monsanto Technology Llc High throughput methods of analyzing seed cotton using x-ray imaging
CN108283010B (zh) * 2015-06-16 2022-03-01 戴洛歌意大利股份有限公司 一种无损x射线检测机器，用于这种机器的装置及操作方法
CN114923935A (zh) * 2022-04-02 2022-08-19 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 在线3d扫描系统及在线3d扫描方法
CN115963127B (zh) * 2023-03-16 2023-06-23 苏州六晶医疗科技有限公司 一种x射线防护装置的防护效果智能评估的方法及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1955937A1 (de) * 1968-11-06 1970-07-02 Wentcroft Engs Ltd Verfahren und Vorrichtung zum Sortieren und Verpacken von Artikeln in einen Behaelter
CN1273636A (zh) * 1997-10-10 2000-11-15 模拟技术有限公司 计算机x射线断层摄影扫描仪的闭环空气调节系统
CN1305610A (zh) * 1998-02-11 2001-07-25 模拟技术公司 用于分选目的物的计算机层析x射线照相术的装置和方法

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5299249A (en) * 1992-11-27 1994-03-29 Picker International, Inc. Heat transfer techniques for moving thermal energy from high power X-ray tubes on rotating CT gantries to a remote location
US5982844A (en) * 1997-10-10 1999-11-09 Analogic Corporation Computed tomography scanner drive system and bearing
US6035014A (en) * 1998-02-11 2000-03-07 Analogic Corporation Multiple-stage apparatus and method for detecting objects in computed tomography data
US6236709B1 (en) * 1998-05-04 2001-05-22 Ensco, Inc. Continuous high speed tomographic imaging system and method
ATE372513T1 (de) * 1998-11-30 2007-09-15 Invision Technologies Inc Eindringungsfreies untersuchungssystem
US6345113B1 (en) * 1999-01-12 2002-02-05 Analogic Corporation Apparatus and method for processing object data in computed tomography data using object projections
DE19955937B4 (de) * 1999-11-20 2016-09-15 Volkswagen Ag Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Material- und Fertigungsprüfung von Fahrzeugteilen
FR2820822B1 (fr) * 2001-02-14 2003-09-05 Peugeot Citroen Automobiles Sa Dispositif et procede de manipulation d'un produit et de traitement d'images radiocospiques du produit pour obtenir des coupes tomographiques et utilisations
DE10108635A1 (de) * 2001-02-22 2002-09-19 Siemens Ag Lagerungseinrichtung für eine bildgebende medizinische Untersuchungseinrichtung
US6859518B2 (en) * 2002-11-19 2005-02-22 Invision Technologies, Inc. X-ray technique-based nonintrusive inspection apparatus
JP2004177138A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Hitachi Ltd 危険物探知装置および危険物探知方法
US7072434B1 (en) * 2003-01-16 2006-07-04 Analogic Corporation Carry-on baggage tomography scanning system
US7492855B2 (en) * 2003-08-07 2009-02-17 General Electric Company System and method for detecting an object
US7356116B2 (en) * 2004-12-03 2008-04-08 Eg&G Middle East Container inspection system
US7261466B2 (en) * 2005-06-01 2007-08-28 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Imaging inspection apparatus with directional cooling
JP2006349406A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Hitachi Ltd コンピュータ断層撮影装置およびエージング方法
DE102005041538B4 (de) * 2005-08-31 2009-04-30 Siemens Ag Gantry eines Computertomographen
US7415094B2 (en) * 2005-12-09 2008-08-19 Ge Security, Inc. Security scanner with bin return device
US7384194B2 (en) * 2005-12-09 2008-06-10 Ge Security, Inc. Apparatus and method for providing a shielding means for an X-ray detection system
US7492860B2 (en) * 2006-04-04 2009-02-17 Ge Security, Inc. Apparatus and method for controlling start and stop operations of a computed tomography imaging system
WO2007131038A2 (en) * 2006-05-02 2007-11-15 Multi-Dimensional Imaging, Inc. Scanner and method for transmission and scatter imaging
JP2008039442A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
US7667215B2 (en) * 2006-12-21 2010-02-23 Morpho Detection, Inc. Method and apparatus for providing radiation shielding for non-invasive inspection systems
US7869566B2 (en) * 2007-06-29 2011-01-11 Morpho Detection, Inc. Integrated multi-sensor systems for and methods of explosives detection
JP5348940B2 (ja) * 2008-05-09 2013-11-20 株式会社東芝 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1955937A1 (de) * 1968-11-06 1970-07-02 Wentcroft Engs Ltd Verfahren und Vorrichtung zum Sortieren und Verpacken von Artikeln in einen Behaelter
CN1273636A (zh) * 1997-10-10 2000-11-15 模拟技术有限公司 计算机x射线断层摄影扫描仪的闭环空气调节系统
CN1305610A (zh) * 1998-02-11 2001-07-25 模拟技术公司 用于分选目的物的计算机层析x射线照相术的装置和方法

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