CN101930023A - Cpu电压测试系统及其方法 - Google Patents

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Abstract

一种CPU电压测试系统包括：一电压侦测单元，用于侦测一CPU的输入电压并输出至少一侦测电压值；一数据处理单元，用于接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压范围之内及用于输出一VID Code控制信号；及一VID Code编码单元，用于接收所述VID Code控制信号以输出一VID Code信号给一PWM控制器以调整所述CPU的输入电压。本发明还提供一种CPU电压测试方法。通过本发明CPU电压测试系统及其方法，可自动完成对所述CPU的输入电压的测试，提高了测试效率，且可避免由人为的因素导致错误的测试结果。

Description

CPU电压测试系统及其方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统及其方法，特别涉及一种CPU电压测试系统及其方法。
背景技术
现在CPU的输入电压一般采用自适应电压调节技术，就是在CPU上增加了若干个VID(Voltage Identification，电压识别)引脚，所述VID引脚用于传送VID Code(电压识别码)给控制CPU的输入电压供电电路中的PWM(Pulse Width Modulation，脉宽调制)控制器。开机后CPU通过所述VID引脚将VID Code信号发送给PWM控制器以控制PWM控制器输出脉冲信号，迫使VRM(Voltage Regulation Module，电压调节器)输出额定的CPU的输入电压。
在电脑主板的开发阶段，其上的硬件电路设计有待完善，为了确保CPU能正常工作，需要对CPU的输入电压的供电电路输出的CPU电压进行测试并作出评估。现有的测试方法是手动一次设定一个VID Code并传递给PWM控制器，所述PWM控制器控制所述VRM输出额定的CPU的输入电压，再利用三用电表测量并手动记录所述CPU的输入电压。但这种测量方式需耗费大量的人力及时间，且不可避免由人为的因素导致的错误。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可自动完成对CPU的输入电压进行测试的CPU电压测试系统及其方法。
一种CPU电压测试系统包括：一电压侦测单元，用于侦测一CPU的输入电压并输出至少一侦测电压值；一数据处理单元，用于接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压范围之内及用于输出一VID Code控制信号；及一VID Code编码单元，用于接收所述VID Code控制信号以输出一VID Code信号给一PWM控制器以调整所述CPU的输入电压。
一种CPU电压测试方法，包括以下步骤：
a：传送一VID Code控制信号给一VID Code编码单元；
b：所述VID Code编码单元根据接收的VID Code控制信号产生一VID Code信号并将其传送给一PWM控制器以调整一CPU的输入电压；
c：对所述CPU的输入电压进行侦测并输出至少一侦测电压值；
d：接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压值范围之内，若每一侦测电压值处于所述允许电压值范围之内则判断所述VID Code控制信号是否为与若干预设的VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个；及
e：若所述VID Code控制信号不是与所述VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个，则传送下一个VID Code控制信号给所述VID Code编码单元并返回步骤b。
本发明CPU电压测试系统及其方法通过所述数据处理单元输出一VID Code控制信号以控制所述VID Code编码单元传送一VID Code信号给PWM控制器以调整所述CPU的输入电压，然后由所述电压侦测单元侦测所述CPU的输入电压并输出一侦测电压值，所述数据处理单元接收所述侦测电压值，并根据所述侦测电压值是否处于所述允许电压值范围之内及判断所述VIDCode控制信号是否为与所述VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个决定是否传送下一个VID Code控制信号给所述VID Code编码单元，从而自动完成对所述CPU的输入电压的测试，不但提高了测试效率，还能避免由于人为因素所导致的错误的测试结果。
附图说明
下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
图1是本发明CPU电压测试系统的较佳实施方式的框图。
图2及3是本发明CPU电压测试方法的较佳实施方式的流程图。
具体实施方式
请参照图1，本发明CPU电压测试系统10的较佳实施方式包括一电压侦测单元12、一数据处理单元14及一VID Code编码单元16。
所述数据处理单元14设于一电脑系统(未示出)中，所述数据处理单元14与电压侦测单元12之间及所述数据处理单元14与VID Code编码单元16之间通过USB数据线或RS232数据线连接，所述电压侦测单元12、VID Code编码单元16及数据处理单元14的操作可通过所述电脑系统的一显示器上所显示的一操作界面(未示出)进行。
所述数据处理单元14用于输出若干VID Code控制信号给所述VID Code编码单元16，读取所述VID Code编码单元16输出的一VID Code信号，接收所述电压侦测单元12输出的多个侦测电压值及对所述侦测电压值进行分析处理并输出一测试结果。
所述VID Code编码单元16用于接收所述VID Code控制信号并对应产生所述VID Code信号，且将所述VID Code信号传送给一PWM控制器20，所述PWM控制器20根据所述VID Code信号输出一脉冲信号给一电压转换电路30，所述电压转换电路30根据所述脉冲信号为一CPU40提供一输入电压。
所述电压侦测单元12用于侦测所述CPU40的输入电压并输出所述侦测电压值给所述数据处理单元14。
所述测试结果包括所述VID Code、参考电压值、允许电压值范围、每一VID Code控制信号对应的侦测电压值的最大值及最小值、每一VID Code控制信号对应的CPU40的输入电压的状态如“PASS”、“Code Failed”及“Down failed”，分别代表所述CPU40的输入电压正常、所述VID Code信号输出异常及所述CPU40的供电电路异常。
如图2及图3所示，应用上述CPU电压测试系统10对CPU40的电压进行测试的方法包括以下步骤：
a1：在所述数据处理单元14中设定测试参数，所述测试参数包括多个连续的VID Code的起始值及结束值如00000010及10110010、与所述VID Code的起始值及结束值对应的参考电压值的起始值及结束值、每两个相邻的参考电压值之间的间隔值如0.00625V、允许误差范围如(0，-0.03)V及连续测试两VID Code对应的所述CPU40的输入电压的时间间隔如5秒。
根据所述参考电压的起始值或结束值及间隔值可确定每一VID Code对应的参考电压值，如已知所述VID Code为00000010，其对应的参考电压值为1.60000V，且所述间隔值为-0.00625V，则值为00000011的VID Code对应的参考电压值为(1.60000-0.00625)V，即1.59375V；所述允许误差范围与所述参考电压值叠加即得到与每一VID Code对应的允许电压值范围，如所述VID Code为00000010，允许误差范围为(0，-0.03)V，参考电压值为1.60000V，则允许电压范围为(1.60000，1.570000)；若时间间隔为5秒即数据处理单元14读取连续的两VID Code的时间间隔为5秒。
a2：所述数据处理单元14传送一个VID Code控制信号给VID Code编码单元16，所述VIDCode控制信号是由所述数据处理单元14依次自动读取所述VID Code并对应生成的。
a3：所述VID Code编码单元16根据接收到的VID Code控制信号产生一个VID Code信号并传送给所述PWM控制器20，所述PWM控制器20根据所述VID Code信号输出一脉冲信号给一电压转换电路30，所述电压转换电路30根据所述脉冲信号为一CPU40提供一输入电压。
a4：所述电压侦测单元12对所述CPU40的输入电压进行侦测并输出一组共十个侦测电压值，所述侦测电压值为所述CPU40的输入电压在所述时间间隔内的十个时刻的电压值，该组侦测电压值的数量也可根据需要作相应的修改，但必须使该组侦测电压值全部于所述时间间隔内传输完毕，或将该组侦测电压值的数量与所述时间间隔一起作相应的修改以使该组侦测电压值全部于所述时间间隔内传输完毕。
a5：所述数据处理单元14接收所述侦测电压值并判断是否每一侦测电压值处于所述允许电压值范围之内。
a6：若每一侦测电压值处于所述允许电压值范围之内，则继续判断所述VID Code控制信号是否为最后一个VID Code控制信号。
a7：若所述VID Code控制信号不是最后一个VID Code控制信号，则所述数据处理单元14传送下一个VID Code控制信号给所述VID Code编码单元16，并返回步骤a3。
a8：若所述VID Code控制信号为最后一个VID Code控制信号，则所述数据处理单元14以excel表格的形式输出所述测试结果，所述测试结果可通过所述电脑系统的显示器显示出来，所述测试结果包括所述VID Code、参考电压值、允许电压值范围、每一VID Code控制信号对应的侦测电压值的最大值及最小值、每一VID Code控制信号对应的CPU的输入电压的状态如“PASS”。
a9：若至少有一个侦测电压值处于所述允许电压值范围之外，则所述数据处理单元14读取所述VID Code编码单元16的VID Code信号。
a10：所述数据处理单元14将所述VID Code信号与所述VID Code控制信号所对应的VIDCode进行比较以判断两者是否相同。
a11：若所述VID Code信号与所述VID Code相同，则所述数据处理单元14记录电压转换电路异常并进入步骤a13。
a12：若所述VID Code信号与所述VID Code不相同，则所述数据处理单元14记录VIDCode信号异常，即表示所述USB数据线传输有误。
a13：所述数据处理单元14停止输出所述VID Code控制信号及接收所述侦测电压值。
a14：以excel表格的形式输出所述测试结果并可通过所述电脑系统的显示器显示出来；当电压转换电路异常，则所述测试结果中的CPU的输入电压的状态以“Down Failed”表示；当VID Code信号异常时，则所述测试结果中的CPU的输入电压的状态以“Code Failed”表示。
为方便理解，下面举一例子说明测试结果，所述测试结果中的VID Code、参考电压值、允许电压值范围、侦测电压值的最大值及最小值及所述CPU的输入电压的状态的对应关系如下表所示：
Figure B2009103034441D0000041
通过上述各参数的对应关系表，测试人员可从“CPU的输入电压的状态”栏快速看出所述CPU40的输入电压是否正常。如上表所示，当所述VID Code为00000010时，对应的参考电压值为1.60000V，由于预设允许误差范围为(0，-0.03)，则将所述参考电压值与所述允许误差范围叠加得到与所述VID Code对应的允许电压值范围(1.60000，1.57000)V，且所述侦测电压值的最大值及最小值分别为1.5950V及1.5826V，从而得出所述CPU的输入电压的输入状态为“PASS”，若所述侦测电压值的最大值及最小值中的任一个超出所述允许电压值范围，则再根据所述VID Code信号是否与与其所对应的VID Code相同以决定所述CPU的输入电压的输入状态，若所述VID Code信号与与其所对应的VID Code相同，则所述CPU的输入电压的输入状态为“Down Failed”，若所述VID Code信号与与其所对应的VID Code不相同，则所述CPU的输入电压的输入状态为“Code Failed”。
所述数据处理单元14也可以为其它电路模块，只要满足所述数据处理单元14输出所述VID Code控制信号给所述VID Code编码单元16以产生并发送所述VID Code信号给PWM控制器以调整所述CPU40的输入电压，所述数据处理单元14接收所述电压侦测单元12输出的所述侦测电压值即可，不限于本实施方式所述的电脑系统。
本发明CPU电压测试系统及其方法通过所述数据处理单元14输出一VID Code控制信号以控制所述VID Code编码单元16传送一VID Code信号给PWM控制器以调整所述CPU的输入电压，然后由所述电压侦测单元12侦测所述CPU的输入电压并输出一侦测电压值，所述数据处理单元14接收所述侦测电压值并根据所述侦测电压值是否处于所述允许电压值范围之内决定是否传送下一个VID Code控制信号给所述VID Code编码单元，从而自动完成对所述CPU的输入电压的测试，不但提高了测试效率，还能避免由于人为因素所导致的错误测试结果。

Claims (10)

1.一种CPU电压测试系统，包括：
一电压侦测单元，用于侦测一CPU的输入电压并输出至少一侦测电压值；
一数据处理单元，用于接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压范围之内及用于输出一VID Code控制信号；及
一VID Code编码单元，用于接收所述VID Code控制信号以输出一VID Code信号给一PWM控制器以调整所述CPU的输入电压。
2.如权利要求1所述的CPU电压测试系统，其特征在于：所述VIDCode控制信号是根据一预设的VID Code生成的。
3.如权利要求2所述的CPU电压测试系统，其特征在于：所述数据处理单元还用于在所述侦测电压值处于所述允许电压范围之外时读取所述VID Code信号并判断所述VID Code信号是否与所述VID Code控制信号所对应的VID Code相同。
4.如权利要求2所述的CPU电压测试系统，其特征在于：所述数据处理单元还用于输出一测试结果，所述测试结果包括所述VID Code控制信号对应的侦测电压值的最大值及最小值及所述VID Code对应的CPU的输入电压的状态。
5.如权利要求1所述的CPU电压测试系统，其特征在于：所述电压侦测单元、VID Code编码单元及数据处理单元通过USB数据线或RS232数据线进行连接。
6.一种CPU电压测试方法，包括以下步骤：
a：传送一VID Code控制信号给一VID Code编码单元；
b：所述VID Code编码单元根据接收的VID Code控制信号产生一VID Code信号并将其传送给一PWM控制器以调整一CPU的输入电压；
c：对所述CPU的输入电压进行侦测并输出至少一侦测电压值；
d：接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压值范围之内，若所述侦测电压值处于所述允许电压值范围之内则判断所述VID Code控制信号是否为与若干预设的VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个；及
e：若所述VID Code控制信号不是与所述VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个，则传送下一个VID Code控制信号给所述VID Code编码单元并返回步骤b。
7.如权利要求6所述的CPU电压测试方法，其特征在于：在“步骤d”中，若所述侦测电压值处于所述允许电压值范围之外，则读取所述VID Code信号，并将其与所述VID Code控制信号所对应的VID Code进行比较以判断两者是否相同，若相同则记录电压转换电路异常，若所述VID Code信号与所述VID Code不相同，则记录VID Code信号异常。
8.如权利要求7所述的CPU电压测试方法，其特征在于：在读取所述VID Code信号之后且在将其与所述VID Code进行比较之前，停止传送所述VID Code控制信号给所述VID Code编码单元及接收所述侦测电压值，并输出一测试结果。
9.如权利要求6所述的CPU电压测试方法，其特征在于：所述CPU电压测试方法还包括步骤：若所述VID Code控制信号是与所述VID Code对应的VID Code控制信号的最后一个，则输出一测试结果。
10.如权利要求8或9所述的CPU电压测试方法，其特征在于：所述测试结果包括所述VID Code控制信号对应的侦测电压值的最大值及最小值、所述VID Code控制信号对应的CPU的输入电压的状态。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102739611A (zh) * 2011-04-11 2012-10-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 协议解析装置及方法
CN102789299A (zh) * 2011-05-18 2012-11-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Cpu电压保护电路
CN108983856A (zh) * 2018-08-16 2018-12-11 郑州云海信息技术有限公司 一种gpu同步压力测试的电压预补偿装置及其系统

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102735941A (zh) * 2011-04-13 2012-10-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 偏置电阻测试装置及偏置电阻测试装置的使用方法
CN103969491A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 处理器电压的检测装置及方法
CN104050063A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Cpu电压检测装置和方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040054936A1 (en) * 2002-09-12 2004-03-18 Dwyer Thomas J. Method and apparatus for setting core voltage for a central processing unit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102739611A (zh) * 2011-04-11 2012-10-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 协议解析装置及方法
CN102789299A (zh) * 2011-05-18 2012-11-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Cpu电压保护电路
CN102789299B (zh) * 2011-05-18 2015-03-25 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Cpu电压保护电路
CN108983856A (zh) * 2018-08-16 2018-12-11 郑州云海信息技术有限公司 一种gpu同步压力测试的电压预补偿装置及其系统

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