CN101907447A - 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法 - Google Patents

基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101907447A
CN101907447A CN 201010240751 CN201010240751A CN101907447A CN 101907447 A CN101907447 A CN 101907447A CN 201010240751 CN201010240751 CN 201010240751 CN 201010240751 A CN201010240751 A CN 201010240751A CN 101907447 A CN101907447 A CN 101907447A
Authority
CN
China
Prior art keywords
plain washer
digital image
diameter
optical microscope
data processor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN 201010240751
Other languages
English (en)
Inventor
胡众义
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN 201010240751 priority Critical patent/CN101907447A/zh
Publication of CN101907447A publication Critical patent/CN101907447A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法,本发明利用一台光学显微镜、数字图像采集器和一台数据处理器,利用程序处理功能自动测量平垫圈内径和外径(简称直径,下同)。该发明的特点是:利用光学显微镜放大平垫圈,获得较高精度的原始光学放大图像,然后由数字图像采集器将光学图像转换为数字图像,最后经过数据处理器中的程序自动处理,显示测量结果,并将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。由于本发明采用光学显微镜放大获得平垫圈的原始光学放大图像,生成的数字图像失真小,精度高;通过数据处理器程序自动处理,可通过循环测量方法,增加测量采样数量,提高测量精度。本发明方法实现简单,测量速度快,测量结果可靠、精度高。

Description

基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法
技术领域
本发明属于一种无损的平垫圈直径测量方法,无论被测量的平垫圈的生产材料是钢性,还是柔性的,或是易损的,特别适用于那些在受力情况下会发生形变或损坏平垫圈。
背景技术
平垫圈一般用在连接件中一个是软质地的,一个是硬质地较脆的,其主要作用是增大接触面积,分散压力,防止把质地软的压坏。平垫圈在被连接件与坚固之间的零件,一般为扁平形的金属环,用来保护被连接件的表面不受坚固件擦伤,分散坚固件对被连接件的压力,因此平垫圈的内径和外径(简称直径,下同)大小直接影响坚固件表面接触面积。
平垫圈传统直径测量,人们往往采用游标卡尺、千分尺等工具进行手工测量,这种测量方法由于平垫圈的生产材料原因、本身的毛刺原因或形状不均匀原因等影响测量结果,造成测量结果误差较大。
发明内容
本发明的目的是提供一种可以快速测量平垫圈直径的方法,且测量结果精度高,不会受平垫圈生产材料、本身的毛刺及形状不均匀等原因影响。
为了实现上述目的,本发明由一台光学显微镜、数字图像采集器和一台数据处理器组成,利用程序处理功能自动测量平垫圈内径和外径(简称直径,下同)。该发明的特点是:利用光学显微镜放大平垫圈,获得较高精度的原始光学放大图像,然后由数字图像采集器将光学图像转换为数字图像,最后经过数据处理器中的程序自动处理,显示测量结果,并将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。
上述具体的方法是:
1)根据平垫圈的尺寸范围,设定光学显微镜的放大倍数Z;
2)将平垫圈放到光学显微镜测量平台上;
3)启动数字图像采集器,设定分辨率为r,单位(像素/毫米);
4)打开数据处理器,输入所测量样品的编号、名称和其他必要的信息;
5)将获得的数字图像进行二值化处理,然后进行边缘检测,识别并提取平垫圈直径轮廓;
6)由数据处理器在平垫圈内径轮廓上任意取n个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 786526DEST_PATH_IMAGE001
Figure 703666DEST_PATH_IMAGE002
……
Figure 296453DEST_PATH_IMAGE003
……
Figure 753979DEST_PATH_IMAGE004
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为
Figure 381401DEST_PATH_IMAGE005
Figure 266180DEST_PATH_IMAGE006
                                                          (1)
其中
Figure 533213DEST_PATH_IMAGE005
为平垫圈的内径,n为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率。
7)由数据处理器在平垫圈外径轮廓上任意取m个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 539303DEST_PATH_IMAGE001
Figure 208182DEST_PATH_IMAGE002
…………
Figure 831241DEST_PATH_IMAGE008
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为
Figure 153955DEST_PATH_IMAGE010
                                                          (2)
其中
Figure 583800DEST_PATH_IMAGE009
为平垫圈的外径,m为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率。
8)将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。
附图说明
图1是平垫圈直径图示
图2是平垫圈轮廓图示
图3是本发明流程图
具体实施方式
下方结合说明书附图和实施步骤对本发明作进一步详细阐述,但以下叙述不能理解为对本发明的限制。
本发明根据平垫圈的大小以及测量精度要求,设定光学显微镜的放大倍数Z,然后将被测样品放置至光学显微镜测量平台上,启动数字图像采集器,并根据显微镜放大后光学图像大小设定数字图像采集器分辨率r,同时打开数据处理器,输入所测量样品的编号、名称和其他必要的信息即可,本发明的方法自动对样品进行测量并得出结果数据,经系统专家软件分析数字图像采集器所获得的数字图像,然后对数字图像进行二值化处理,边缘检测,识别并提取平垫圈直径轮廓,最后经过数据分析处理后自动生成测量记录报告,即测得如附图1所示平垫圈的内径
Figure 638475DEST_PATH_IMAGE005
和外径
Figure 975915DEST_PATH_IMAGE009
本发明的具体实施步骤如附图3所示,描述如下:
1)打开光学显微镜,若有必要可对光学显微镜进行自检;
2)根据被测量样品规格设定光学显微镜的放大倍数Z,该参数亦可在打开数据处理器后由其通过系统专家软件分析,提供放大倍数参考值进行设定;
3)将平垫圈放置于显微镜测量平台适当位置,具体位置以成像居中为宜,一般选择放在测量平台中央位置;
4)启动数字图像采集器;
5)设定数字图像采集器分辨率为r,r的值可根据Z的大小、被测量样品规格来设定,亦可在打开数据处理器后由其通过系统专家软件分析,提供分辨率参考值进行设定;
6)启动数据处理器;
7)输入测量样的编号、名称,系统专家软件自动检测手动设定光学显微镜放大倍数Z和数字图像采集器分辨率r是否合理,若不合理则提示并给出参考值;
8)采集样品数字图像;
9)数据处理器对步骤8)所获得数字图像进行二值化处理,该步骤首先实施滤波,以降低像素的噪声,如有必要,则再以线性化来改变像素的灰度值分布图,并加强明暗对比,然后设定一个灰度值,如果是数字图像某一点像素本身灰度大于它,则将该点像素设为白点,否则设为黑点,如此可得到一个黑白二元的数字图像;
10)数据处理器对步骤9)所获得黑白二元的数字图像进行边缘检测;
11)根据步骤10)边缘检测结果提取平垫圈轮廓图,如附图2所示;
12)由数据处理器在平垫圈内径轮廓上任意取n个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 619386DEST_PATH_IMAGE001
…………
Figure 637655DEST_PATH_IMAGE004
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为
Figure 948681DEST_PATH_IMAGE005
,计算公式为式(1)
Figure 782645DEST_PATH_IMAGE006
                                                           (1)
其中
Figure 546333DEST_PATH_IMAGE005
为平垫圈的内径,n为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率。由数据处理器在平垫圈外径轮廓上任意取m个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 428838DEST_PATH_IMAGE001
Figure 843639DEST_PATH_IMAGE002
……
Figure 599237DEST_PATH_IMAGE007
……
Figure 37171DEST_PATH_IMAGE008
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为,计算公式为式(2)
Figure 805724DEST_PATH_IMAGE010
                                                          (2)
其中
Figure 981490DEST_PATH_IMAGE009
为平垫圈的外径,m为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率;
13)将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告;
14)数据处理器提示检测人员是否继续测量其他平垫圈;
15)如果需要测量其他平垫圈直径,则重复(3)-(15)步骤或(2)-(15)步骤,否则结束测量。

Claims (2)

1.一种基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法,由一台光学显微镜、数字图像采集器和一台数据处理器组成,利用程序处理功能自动测量平垫圈内径和外径(简称直径,下同)。该发明的特点是:利用光学显微镜放大平垫圈,获得较高精度的原始光学放大图像,然后由数字图像采集器将光学图像转换为数字图像,最后经过数据处理器中的程序自动处理,显示测量结果,并将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。
2.如权利要求1所述,该发明具体实现的步骤如下:
1)根据平垫圈的尺寸范围,设定光学显微镜的放大倍数Z;
2)将平垫圈放到光学显微镜测量平台上;
3)启动数字图像采集器,设定分辨率为r,单位(像素/毫米); 
4)打开数据处理器,输入所测量样品的编号、名称和其他必要的信息;
5)将获得的数字图像进行二值化处理,然后进行边缘检测,识别并提取平垫圈直径轮廓;
6)由数据处理器在平垫圈内径轮廓上任意取n个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 122618DEST_PATH_IMAGE001
Figure 284609DEST_PATH_IMAGE002
……
Figure 283789DEST_PATH_IMAGE003
……
Figure 505823DEST_PATH_IMAGE004
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为
Figure 884032DEST_PATH_IMAGE006
                                                       (1)
其中
Figure 3297DEST_PATH_IMAGE005
为平垫圈的内径,n为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率。
7)由数据处理器在平垫圈外径轮廓上任意取m个测量点,计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为
Figure 192970DEST_PATH_IMAGE001
Figure 30476DEST_PATH_IMAGE002
…………
Figure 835938DEST_PATH_IMAGE008
,则自动测量平垫圈内径的尺寸为
Figure 134195DEST_PATH_IMAGE009
 
Figure 521314DEST_PATH_IMAGE010
                               (2)
其中
Figure 828799DEST_PATH_IMAGE009
为平垫圈的外径,m为测量次数,Z为光学显微镜放大倍数,r为数字图像采集器分辨率。
8)将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。
CN 201010240751 2010-07-30 2010-07-30 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法 Pending CN101907447A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201010240751 CN101907447A (zh) 2010-07-30 2010-07-30 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201010240751 CN101907447A (zh) 2010-07-30 2010-07-30 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101907447A true CN101907447A (zh) 2010-12-08

Family

ID=43262972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201010240751 Pending CN101907447A (zh) 2010-07-30 2010-07-30 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101907447A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102269571A (zh) * 2011-07-06 2011-12-07 福建农林大学 基于数字图像处理技术的竹筒直径测量方法及其装置
CN102359761A (zh) * 2011-09-05 2012-02-22 温州大学 一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法
CN102506783A (zh) * 2011-11-23 2012-06-20 人本集团有限公司 轴承密封圈尺寸测量方法
CN106091979A (zh) * 2016-06-03 2016-11-09 人本集团有限公司 一种密封轴承密封结构及其密封圈外形检测方法
CN109579715A (zh) * 2017-09-28 2019-04-05 宝山钢铁股份有限公司 一种提高扩孔率测量精度的数字化在线测量方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06174433A (ja) * 1992-12-04 1994-06-24 Tokyo Koku Keiki Kk 微小円筒形部品寸法測定システム
WO2004010380A2 (en) * 2002-07-18 2004-01-29 The University Of Nottingham Measuring 3d deformations of an object by comparing focusing conditions for sharp capturing of said object before and after deformation
CN101216293A (zh) * 2007-12-27 2008-07-09 中国计量学院 非接触式在线检测活塞销外径的装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06174433A (ja) * 1992-12-04 1994-06-24 Tokyo Koku Keiki Kk 微小円筒形部品寸法測定システム
WO2004010380A2 (en) * 2002-07-18 2004-01-29 The University Of Nottingham Measuring 3d deformations of an object by comparing focusing conditions for sharp capturing of said object before and after deformation
CN101216293A (zh) * 2007-12-27 2008-07-09 中国计量学院 非接触式在线检测活塞销外径的装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《光学仪器》 20020630 林小峰,石少莉 CCD摄影法在工件尺寸测量中的应用 2 第24卷, 第3期 2 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102269571A (zh) * 2011-07-06 2011-12-07 福建农林大学 基于数字图像处理技术的竹筒直径测量方法及其装置
CN102359761A (zh) * 2011-09-05 2012-02-22 温州大学 一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法
CN102359761B (zh) * 2011-09-05 2014-04-16 温州大学 一种电缆和光缆绝缘护套材料厚度测量方法
CN102506783A (zh) * 2011-11-23 2012-06-20 人本集团有限公司 轴承密封圈尺寸测量方法
CN106091979A (zh) * 2016-06-03 2016-11-09 人本集团有限公司 一种密封轴承密封结构及其密封圈外形检测方法
CN109579715A (zh) * 2017-09-28 2019-04-05 宝山钢铁股份有限公司 一种提高扩孔率测量精度的数字化在线测量方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101403610B (zh) 一种基于数字图像法测量皮革面积的系统及其方法
CN102506772B (zh) 一种基于手机的快速检测叶片面积的方法及装置
CN101566465B (zh) 一种物体变形的实时测量方法
CN103499303B (zh) 一种羊毛细度自动测量方法
CN101907447A (zh) 基于数字图像处理的平垫圈直径测量方法
CN102003945B (zh) 一种虚拟光学引伸计的测量方法
CN101561249B (zh) 手术刀片配合尺寸自动检测方法
CN110068388A (zh) 一种基于视觉和盲源分离的振动检测方法
CN104364636A (zh) 用于检测体液中的分析物的方法和器件
CN103149087B (zh) 一种基于随动视窗与数字图像的非接触式实时应变测量方法
CN103376065B (zh) 类条形码引伸计系统及其测量应力应变全曲线的方法
CN102226687A (zh) 一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法
EP0974831A3 (en) Apparatus and method for the integrated processing of defect images
CN104700395A (zh) 一种构造物外观裂缝检测方法及系统
CN107907064A (zh) 一种裂隙监测系统及方法
CN114596525A (zh) 一种基于计算机视觉的动态桥梁形态识别方法
CN100470578C (zh) 基于计算机视觉的科学仪器工作状态监测方法
CN112014407A (zh) 一种集成电路晶圆表面缺陷检测的方法
CN108335310B (zh) 一种便携式粒形粒度检测方法及系统
WO2019076265A1 (zh) 光纤束图像处理方法和装置
CN202267464U (zh) 一种基于手机的快速检测叶片面积的装置
CN105371769B (zh) 一种测量动态裂纹长度的方法及装置
JP2006180971A (ja) 肌評価方法及び肌評価装置
CN202204479U (zh) 虚拟光学引伸计
CN111815580B (zh) 一种图像边缘识别方法及小模数齿轮模数检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Open date: 20101208