CN101900823A - 一种x射线偏移的校正方法和装置 - Google Patents

一种x射线偏移的校正方法和装置 Download PDF

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CN101900823A CN 200910143821 CN200910143821A CN101900823A CN 101900823 A CN101900823 A CN 101900823A CN 200910143821 CN200910143821 CN 200910143821 CN 200910143821 A CN200910143821 A CN 200910143821A CN 101900823 A CN101900823 A CN 101900823A
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Abstract

本发明公开了一种X射线偏移的校正方法,该方法包括以下步骤:A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并进行存储;B、在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量;C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。同时,本发明还公开了一种X射线偏移的校正装置,采用该方法和装置可提高X射线偏移的校正精度。

Description

一种X射线偏移的校正方法和装置
技术领域
本发明涉及计算机X射线断层成像(CT,Computed Tomograpgy)技术,特别涉及一种X射线偏移的校正方法和装置。
背景技术
随着医疗水平的进步,CT扫描仪得到了广泛的应用,图1为现有CT扫描仪的结构示意图,如图1所示,CT扫描仪包括:支架101、旋转机架102、球管103、探测器104和检查床105。其中,旋转机架102通常为环形结构,安装在支架101上,旋转机架102位于由水平轴X与竖直轴Y确定的平面内、且能够绕该旋转机架102的Z轴旋转;在旋转机架102上安装有球管103,用于在垂直于Z轴的方向上发射X射线;在旋转机架102上与球管相对的位置安装有探测器104,用于接收X射线;检查床105与Z轴平行,且能够沿Z轴方向穿过旋转机架102进行直线运动。
图2为现有准直器安装图。在实际应用中,通常在球管103上还安装有准直器201,用于在扫描前对X射线的方向进行调整。然而,在扫描过程中由于球管103焦点热漂移的影响,X射线在Z轴方向上会发生偏移。在现有技术中,通常使用位置监测器(PSD,Position Sensitive Device)对X射线的偏移进行监测,并将用于表示X射线偏移量的信号传递给CT控制系统,在扫描结束后,CT控制系统控制准直器201移动来补偿X射线的偏移。
可见,现有技术所提供的方法是在扫描结束后,对准直器进行调整,对于扫描时间很长的情况,无法实时对偏移的X射线进行调整,而且,在实际应用中,准直器移动的范围是有限的,因此对X射线偏移的补偿也是有限的,这样就降低了X射线偏移的校正精度。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种X射线偏移的校正方法,以实现X射线偏移的实时校正,且提高X射线偏移的校正精度。
本发明的另一目的在于提供一种X射线偏移的校正装置,以实现X射线偏移的实时校正,且提高X射线偏移的校正精度。
因此,本发明提供了一种X射线偏移的校正方法,该方法包括以下步骤:
A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并进行存储;
B、在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量;
C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
步骤A中计算校正因子包括:
A1、当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;
B1、准直器连续以一固定步长在Z轴方向移动,每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;
将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,得到多组X射线信号;
C1、对每组信号做归一化处理;
D1、对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
步骤B1中所述固定步长小于等于探测器通道在Z轴方向的采样间隔的1/6。
步骤C1中所述对每组信号做归一化处理包括:将组中的每个信号分别除以在准直器处于初始位置时采集的同一Z坐标处的X射线信号。
步骤D1中所述拟合包括:当探测器对X射线信号的响应方式为线性方式时,采用公式S=c1(ΔZ-c0)+1对信号进行线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c1和c0为常数;当探测器对X射线信号的响应方式为非线性方式时,采用公式S=c2(ΔZ-c0)2+c1(ΔZ-c0)+1对信号进行非线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c0、c1和c2为常数。
步骤C中所述对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正包括:根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,以及所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子;将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
本发明还提供了一种X射线偏移的校正装置,该装置包括:一个校正因子计算模块、一个位置监测器和一个图像重建系统,其中,
所述校正因子计算模块,用于计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于图像重建系统中;
所述位置监测器,用于在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将所采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给图像重建系统(803);
所述图像重建系统,用于根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
所述校正因子计算模块包括:一个采集单元、一个归一化单元和一个拟合单元,其中,
所述采集单元,用于当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;并当准直器连续以一固定步长在Z轴方向每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,得到多组X射线信号;
所述归一化单元,用于对每组信号做归一化处理;
所述拟合单元,用于对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
所述固定步长小于等于探测器通道在Z轴方向的采样间隔的1/6。
所述图像重建系统包括:一个查询单元和一个校正单元,其中,
所述查询单元,用于根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,以及所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子;
所述校正单元,用于将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
由上述技术方案可见,本发明所提供的X射线偏移的校正方法和装置首先计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于IRS中;在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给IRS;IRS根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。本发明所提供的X射线偏移的校正方法和装置可实现X射线偏移的实时校正,且提高X射线偏移的校正精度。
附图说明
图1为现有CT扫描仪的结构示意图。
图2为现有准直器安装图。
图3为本发明所提供的一种X射线偏移的校正方法的流程图。
图4为步骤301中计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子的方法的流程图。
图5为本发明所提供的X射线偏移的校正方法实施例的流程图。
图6为本发明方法实施例中校正因子的计算方法示意图。
图7为与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子的存储示意图。
图8为本发明所提供的X射线偏移的校正装置实施例的结构图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下参照附图并举实施例,对本发明进一步详细说明。
图3为本发明所提供的一种X射线偏移的校正方法的流程图,如图3所示,该方法包括以下步骤:
步骤301,计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于图像重建系统(IRS,Image Reconstruction System)中。
图4为步骤301中计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子的方法的流程图,如图4所示,该方法包括以下步骤:
步骤3011,当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号。
准直器处于初始位置时,X射线未发生偏移,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号,所述采集的方法与现有技术相同。
步骤3012,准直器连续以一固定步长在Z轴方向移动,每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号,获得多组X射线信号。
在实际应用中,每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;然后,将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,例如,将Z1坐标处的X射线信号定义为组1,将Z2坐标处的X射线信号定义为组2。其中,组1包含:{准直器移动一次后Z1坐标处的X射线信号、准直器移动两次后Z1坐标处的X射线信号、……、准直器移动N次后Z1坐标处的X射线信号};同理,组2包含:{准直器移动一次后Z2坐标处的X射线信号、准直器移动两次后Z2坐标处的X射线信号、……、准直器移动N次后Z2坐标处的X射线信号}。
步骤3013,对每组信号做归一化处理。
具体计算方法为,将组中的每个信号分别除以在准直器处于初始位置时采集的同一Z坐标处的X射线信号。例如,对组1的信号做归一化处理,归一化处理后,组1包含:{(准直器移动一次后Z1坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z1坐标处的X射线信号)、(准直器移动两次后Z1坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z1坐标处的X射线信号)、……、(准直器移动N次后Z1坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z1坐标处的X射线信号)};同理,对组2的信号做归一化处理,归一化处理后,组2包含:{(准直器移动一次后Z2坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z2坐标处的X射线信号)、(准直器移动两次后Z2坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z2坐标处的X射线信号)、……、(准直器移动N次后Z2坐标处的X射线信号)÷(初始位置时Z2坐标处的X射线信号)}。
步骤3014,对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
需要说明的是,根据不同种类的探测器对X射线信号响应方式的不同,对信号进行拟合的方法可分为两种。当探测器对X射线信号的响应方式为线性方式时,采用公式S=c1(ΔZ-c0)+1对信号进行线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c1和c0为常数;当探测器对X射线信号的响应方式为非线性方式时,采用公式S=c2(ΔZ-c0)2+c1(ΔZ-c0)+1对信号进行非线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c0、c1和c2为常数。在拟合时,ΔZ近似等于准直器的移动距离。
根据乃奎斯特采样定理,采样频率至少为原信号频率的2倍,而在本发明中,当对每组经归一化处理后的信号进行非线性最小二乘拟合时,要求每组至少包含三个信号点,因此,在实际应用中,要求步骤3012中准直器移动时所采用的固定步长最多为(即,小于等于)探测器通道在Z轴方向的采样间隔的1/6。
至此,对步骤301中计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子的方法介绍完毕。
步骤302,在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给IRS。
步骤303,IRS根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
IRS根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量、与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,可查询出与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,并依据查询出的与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。具体校正的方法为,将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
至此,对本发明所提供的一种X射线偏移的校正方法介绍完毕。
下面通过一个实施例详细说明本发明所提供的X射线偏移的校正方法,图5为本发明所提供的X射线偏移的校正方法实施例的流程图,如图5所示,该方法包括以下步骤:
步骤501,当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号。
图6为本发明方法实施例中校正因子的计算方法示意图,如图6所示,其中图A为步骤501中当准直器处于初始位置时所采集的信号,横坐标为Z轴方向的坐标Z,纵坐标为信号强度S0,以采集两个Z坐标Z1和Z2处的X射线信号为例,A0点的坐标为(0.09,90),B0点的坐标为(0.20,70)。
步骤502,准直器移动一次,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号,准直器移动的距离为0.08倍探测器通道在Z轴方向的采样间隔。
假设0.08倍探测器通道在Z轴方向的采样间隔为0.5mm,即相对于初始位置,准直器移动的距离为ΔZ1=0.5mm,如图6所示,其中图B为准直器移动ΔZ1后所采集的信号,横坐标为Z轴方向的坐标Z,纵坐标为信号强度S1,A1点的坐标为(0.09,80),B1点的坐标为(0.20,60)。
步骤503,准直器第二次移动,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号,此次准直器移动的距离依然为0.08倍探测器通道在Z轴方向的采样间隔。
相对于初始位置,准直器移动的距离为ΔZ2=1mm,如图6所示,其中图C为准直器移动ΔZ2后所采集的信号,横坐标为Z轴方向的坐标Z,纵坐标为信号强度S2,A2点的坐标为(0.09,70),B2点的坐标为(0.20,50)。
将Z1坐标处的信号定义为组1,组1中包含的信号为:{80,70};将Z2坐标处的信号定义为组2,组2中包含的信号为:{60,50}。
步骤504,对这两组信号做归一化处理。
计算方法为,首先,对组1中的信号做归一化处理,组1中的信号均除以初始位置时Z1坐标处采集的X射线信号,组1中包含的经归一化处理后的信号为:{8/9,7/9};对组2中的信号做归一化处理,组2中的信号均除以初始位置时Z2坐标处采集的X射线信号,组2中包含的经归一化处理后的信号为:{6/7,5/7}。
步骤505,分别对两组经归一化处理后的信号进行线性拟合,将拟合结果作为与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
如图6所示,图D为对组1中经归一化处理后的信号的线性最小二乘拟合结果,其中,直线上每一点的横坐标为沿Z轴方向的偏移量ΔZ,纵坐标为校正因子S′,A3点的坐标为(0.5,8/9),A4点的坐标为(1,7/9);图D为对组2中经归一化处理后的信号的线性最小二乘拟合结果,其中,直线上每一点的横坐标为沿Z轴方向的偏移量ΔZ,纵坐标为校正因子S′,B3点的坐标为(0.5,6/7),B4点的坐标为(1,5/7)。
可见,当沿Z轴方向的偏移量为0.08倍探测器通道在Z轴方向采样间隔时,Z坐标为0.09的信号点的校正因子为8/9,Z坐标为0.20的信号点的校正因子为6/7;当沿Z轴方向的偏移量为2×0.08倍探测器通道在Z轴方向采样间隔时,Z坐标为0.09的信号点的校正因子为7/9,Z坐标为0.20的信号点的校正因子为5/7。
如何进行最小二乘拟合为现有技术,不再赘述。
步骤506,将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于IRS中。
在实际应用中与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子通常以表格的形式存储于IRS中,图7为与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子的存储示意图,如图7所示,与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量对应一个校正因子,例如,与Z1坐标以及准直器器沿Z轴方向偏移量ΔZ1对应的校正因子为S11,与Z2坐标以及准直器沿Z轴方向偏移量ΔZ2对应的校正因子为S22。
步骤507,在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给IRS,IRS根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
基于上述X射线偏移的校正方法,下面对本发明所提供的一种X射线偏移的校正装置进行介绍,图8为本发明所提供的X射线偏移的校正装置实施例的结构图,如图8所示,该装置包括:一个校正因子计算模块801、一个PSD 802和一个IRS 803。
其中,校正因子计算模块801用于计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于图像重建系统803中。
校正因子计算模块801包括:一个采集单元8011、一个归一化单元8012和一个拟合单元8013。
采集单元8011用于当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;并当准直器连续以一固定步长在Z轴方向每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,得到多组X射线信号。
归一化单元8012用于对每组信号做归一化处理。
拟合单元8013用于对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量的校正因子。
其中,PSD 802用于在扫描过程中实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将所采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给IRS 803。
其中,IRS 803用于根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
IRS 803包括一个查询单元8031和一个校正单元8032。
查询单元8031用于根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,以及所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子。
校正单元8032用于计算校正后信号,将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
本发明所提供的一种X射线偏移的校正装置实施例的具体说明请参照图3所示方法的相应说明,此处不再赘述。
可见,基于本发明所提供的一种X射线偏移的校正方法和装置,可根据预先存储在IRS中的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行实时校正,提高了X射线偏移的校正精度。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换以及改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种X射线偏移的校正方法,该方法包括以下步骤:
A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并进行存储;
B、在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量;
C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤A中计算校正因子包括:
A1、当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;
B1、准直器连续以一固定步长在Z轴方向移动,每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;
将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,得到多组X射线信号;
C1、对每组信号做归一化处理;
D1、对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤B1中所述固定步长小于等于探测器通道在Z轴方向的采样间隔的1/6。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤C1中所述对每组信号做归一化处理包括:将组中的每个信号分别除以在准直器处于初始位置时采集的同一Z坐标处的X射线信号。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤D1中所述拟合包括:
当探测器对X射线信号的响应方式为线性方式时,采用公式S=c1(ΔZ-c0)+1对信号进行线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c1和c0为常数;
当探测器对X射线信号的响应方式为非线性方式时,采用公式S=c2(ΔZ-c0)2+c1(ΔZ-c0)+1对信号进行非线性最小二乘拟合,其中,S为经归一化处理后的信号,ΔZ为准直器沿Z轴方向的偏移量,c0、c1和c2为常数。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤C中所述对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正包括:根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,以及所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子;将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
7.一种X射线偏移的校正装置,该装置包括:一个校正因子计算模块(801)、一个位置监测器(802)和一个图像重建系统(803),其中,
所述校正因子计算模块(801),用于计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并将与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子存储于图像重建系统(803)中;
所述位置监测器(802),用于在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量,并将所采集的准直器沿Z轴方向的偏移量传送给图像重建系统(803);
所述图像重建系统(803),用于根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述校正因子计算模块(801)包括:一个采集单元(8011)、一个归一化单元(8012)和一个拟合单元(8013),其中,
所述采集单元(8011),用于当准直器处于初始位置时,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;并当准直器连续以一固定步长在Z轴方向每移动一次后,分别采集每一个Z坐标处的X射线信号;将每次移动后所采集的相同Z坐标处的X射线信号归到一组,得到多组X射线信号;
所述归一化单元(8012),用于对每组信号做归一化处理;
所述拟合单元(8013),用于对每组经归一化处理后的信号分别进行拟合,将拟合结果作为所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述固定步长小于等于探测器通道在Z轴方向的采样间隔的1/6。
10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述图像重建系统(803)包括:一个查询单元(8031)和一个校正单元(8032),其中,
所述查询单元(8031),用于根据实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,以及所述与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,查询出与每一Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子;
所述校正单元(8032),用于将每一Z坐标处的实时扫描信号除以与该Z坐标以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量相对应的校正因子,作为每一Z坐标处的校正后信号。
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