CN101887332B - 触控面板的定位方法及定位装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种触控面板的定位方法及定位装置，其中触控面板具有多条扫描线。在定位方法中，首先依序地撷取上述扫描线所分别感测的多个电容值。接着，依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第一扫描线所感测的电容值是否为第一波峰。当第一扫描线所感测的电容值为第一波峰时，则重新依序地撷取各扫描线所分别感测的电容值。当撷取完电容值时，依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第一碰触位置，并且设定触控面板处于单指碰触状态。

Description

触控面板的定位方法及定位装置

技术领域

本发明涉及一种定位装置及定位方法，特别是涉及一种利用多指碰触之间的时间差来进行碰触位置定位的触控面板的定位方法及定位装置。

背景技术

随着技术的日新月异，大多电子装置，例如：笔记型电脑、手机或是可携式多媒体播放器等电子装置，通常配置有触控面板，以取代传统键盘作为新一代的输入介面。触控面板大致可区分为电阻式、电容式、红外线式及超音波式等，其中以电阻式触控面板与电容式触控面板为最常见的产品。电容式触控面板为经由手指或导体材质靠近或碰触触控面板，而使触控面板的电容值产生变化。当触控面板检测到电容值变化时，便可判断出手指或导体材质靠近或碰触的位置，并且执行碰触位置所对应的功能操作。电容式触控面板具有多指触控的特性，可提供人性化地操作，因而逐渐受到市场的青睐。

以自电容式(self capacitance，亦称absolute capacitance)的触控面板而言，其利用轴交错方式(Axis intersect，亦称Profile-based)于导电层上进行菱形状感测器的配置，且每个轴向需要一层导电层。图1A为传统触控面板在两指碰触情况下波峰位置示意图。请参照图1A，以水平及垂直两轴为例，触控面板在检测碰触位置时，会分别扫描对应水平轴及垂直轴的两导电层上的扫描线(如Stage0～Stage11)。以单指碰触(如碰触位置a)而言，触控面板上对应水平轴及垂直轴之两导电层各自有一个扫描线上的感测器因受碰触而产生电容耦合现象，经由检测两导电层所出现的波峰位置(如X1及Y1)，并且将对应不同轴向的波峰位置进行交会，即可定位出碰触位置。

在单指碰触位置的检测上，两轴型式的轴交错式技术能得到确切的碰触位置，且不用经过校准修正即能正确检测出碰触位置。以两指碰触(如碰触位置a及b)来说，碰触位置a及b会在垂直轴及水平轴各自产生两个波峰位置(例如：X1、X2、Y1及Y2)，将两个轴向的波峰位置进行交会则会产生4个交会点(例如：a、b、a’及b’)，其中非属真正碰触位置的两交会点(例如：a’及b’)称之为镜像点(Ghost point)。在此情况下，触控面板会检测出非真正的碰触位置，进而造成操作错误。

美国专利公告号第20080150906号提出一种多轴向碰触感测器的装置，其配置感测器于至少三层对应不同轴向的导电层上，以提高触控面板对碰触位置的辨识率以及消除镜像点。在此专利案中，多轴向碰触感测器装置在检测单指碰触位置时，会将对应不同轴向的三层导电层上所出现之三个波峰位置进行交会，以定位碰触位置。当检测双指碰触位置时，各导电层会检测到两个波峰位置。接着，将此六个波峰位置进行交会，则会出现两个三线交会的交会点，此三线交会的交会点即真正的碰触位置，藉此可检测出双指的碰触位置。然而，在触控面板上每增加对应一个轴向的导电层，便增加了触控面板厚度、重量与硬体成本，相对地也提高了系统运算的负担。

发明内容

本发明提供一种触控面板的定位方法及定位装置，其利用多指碰触之间通常具有时间差的特性，在定位前指所对应的碰触位置后，在前指未结束碰触前进行后指所对应的碰触位置的计算，藉以消除多指碰触时所产生的镜像点并且提高碰触位置定位的准确性。

本发明提出一种触控面板的定位方法，其中触控面板具有多条扫描线。首先，依序地撷取上述扫描线所分别感测的多个电容值。接着，依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测之电容值，判断第一扫描线所感测的电容值是否为第一波峰。当第一扫描线所感测的电容值为第一波峰时，则重新依序地撷取各扫描线所分别感测的电容值，且当撷取完电容值时，则依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第一碰触位置，并且设定触控面板处于单指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于单指碰触状态时，依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第二扫描线所感测的电容值是否为第二波峰。当第二扫描线所感测的电容值为第二波峰时，则重新依序地撷取各扫描线所分别感测的电容值，且当撷取完电容值时，则依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别检测的电容值，计算第二碰触位置，并且设定触控面板处于多指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于多指碰触状态时，则检测第一扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰且检测第二扫描线所感测的电容值是否仍为第二波峰。当第一扫描线或第二扫描线所感测的电容值不为第一波峰或第二波峰，则设定触控面板处于单指碰触状态。当第一扫描线及第二扫描线所感测的电容值分别不为第一波峰及第二波峰，则初始化触控面板处于无碰触状态。

本发明另提出一种触控面板的定位装置，其中触控面板具有多条扫描线。定位装置包括多工器及处理单元。多工器用以依序地撷取扫描线所分别感测的多个电容值。处理单元包括峰值检测器及定位运算单元。峰值检测器耦接多工器。峰值检测器依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第一扫描线所感测的电容值是否为第一波峰。当第一扫描线所感测的电容值为第一波峰时，峰值检测器产生第一波峰指示信号以控制多工器重新依序地撷取扫描线所分别感测的电容值，以及控制多工器于撷取完电容值时，产生扫描中断信号。定位运算单元耦接多工器及峰值检测器。定位运算单元在接收到第一波峰指示信号时，会设定触控面板处于单指碰触状态。而且，定位运算单元在接收到扫描中断信号时，会依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第一碰触位置。

上述的定位装置，在本发明的一实施例中当触控面板处于单指碰触状态时，峰值检测器依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第二扫描线所感测的电容值是否为第二波峰。当第二扫描线所感测的电容值为第二波峰时，峰值检测器产生第二波峰指示信号以控制多工器重新依序地撷取扫描线所分别感测的电容值，以及控制多工器在撷取完电容值时，产生扫描中断信号。定位运算单元在接收到第二波峰指示信号时，会设定触控面板处于多指碰触状态，且在接收到扫描中断信号时，依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第二碰触位置。

上述的定位装置，在本发明的一实施例中当触控面板处于多指碰触状态时，峰值检测器检测第一扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰且检测第二扫描线所感测的电容值是否仍为第二波峰。当第一扫描线或第二扫描线所感测的电容值不为第一波峰或第二波峰时，峰值检测器产生第一波峰指示信号以控制定位运算单元设定触控面板处于单指碰触状态。当第一扫描线及第二感测器所感测的电容值分别不为第一波峰及第二波峰时，峰值检测器产生初始指示信号以控制定位运算单元初始化触控面板处于无碰触状态。

本发明还提出一种触控面板的定位方法，其中触控面板具有多条扫描线。首先，依序地撷取此些扫描线所分别感测的多个电容值。接着，依据该些扫描线中第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第一扫描线所感测的电容值是否为第一波峰。当第一扫描线所感测的电容值为第一波峰时，则判断第一扫描线是否对应第一轴向。当第一扫描线对应第一轴向时，代表第一波峰对应第一轴向，则扫描对应第二轴向的扫描线，以取得对应第二轴向的第一波峰的电容值。当第一扫描线不对应第一轴向时，代表第一波峰对应第二轴向，则扫描对应第一轴向的扫描线，以取得对应第一轴向的第一波峰的电容值。最后，依据对应第一轴向及第二轴向的第一波峰的电容值，计算第一碰触位置，并且设定触控面板处于单指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于单指碰触状态时，依据该些扫描线中第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第二扫描线所感测的电容值是否为第二波峰。当第二扫描线所感测的电容值为第二波峰时，则判断第二扫描线是否对应第一轴向。当第二扫描线对应第一轴向时，代表第二波峰对应第一轴向，则扫描对应第二轴向的该些扫描线，以取得对应第二轴向的第二波峰的电容值。当第二扫描线不对应第一轴向时，代表第二波峰对应第二轴向，则扫描对应第一轴向的该些扫描线，以取得对应第一轴向的第二波峰的电容值。最后，依据对应第一轴向及第二轴向的第二波峰的电容值，计算第二碰触位置，并且设定触控面板处于多指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于多指碰触状态时，则检测第一扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰且检测第二扫描线所感测的电容值是否仍为第二波峰。当第一扫描线或第二扫描线所感测的电容值不为第一波峰或第二波峰，则设定触控面板处于单指碰触状态。当第一扫描线及第二扫描线所感测的电容值分别不为第一波峰及第二波峰，则初始化触控面板处于无碰触状态。

基于上述，本发明的定位装置及其定位方法经由检测及设定触控面板的碰触状态为单指或多指，可确保前指所对应的第一碰触位置定位完成后，才进行后指所对应的第二碰触位置的定位。藉此，利用多指碰触的间通常具有时间差的特性，可消除触控面板多指碰触时所产生的镜像点，以正确计算出第一及第二碰触位置。而且，藉由进行触控面板的碰触状态的设定以及定位装置内各元件间相互运作的控制，也可有效地降低进行定位的运算量。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1A为传统触控面板在两指碰触情况下波峰位置示意图；

图1B为本发明的一实施例的定位装置及触控面板的示意图；

图2为本发明的一实施例的触控面板的定位方法的流程图；

图3为本发明的另一实施例的触控面板的定位方法的流程图。

主要元件符号说明：

50：触控面板；        10、20：感测器；     100：定位装置；

110：多工器；         120：转换单元；      130：处理单元；

131：碰触检测器；     132：峰值检测器；    133：定位运算单元；

A、B、a、b：触碰位置；a’、b’：镜像点；   X1、X2、Y1、Y2：波峰位置；

201～210、301～316：本发明的一实施例的触控面板的定位方法的步骤。

具体实施方式

图1B为本发明的一实施例的定位装置及触控面板的示意图。请参照图1B，触控面板50例如为电容式触控面板，其在每个轴向(例如：X轴或Y轴)所对应的导电层上，以轴交错方式(Profile-Based)进行菱形状感测器的配置。在本实施例中，X轴所对应的导电层上扫描线CIN0～CIN7沿Y轴方向配置有感测器10，且Y轴所对应的导电层上扫描线CIN8～CIN15沿X轴方向配置有感测器20。

定位装置100包括多工器110、转换单元120以及处理单元130。由于多指分别碰触到触控面板50时通常会有时间差，所以定位装置100利用多指碰触间的时间差，在前指相应碰触位置定位完成后，在前指未结束碰触前再进行后指相应碰触位置的定位，以排除多指碰触时所产生的镜像点。另外，在本实施例中，透过设定触控面板50的状态，例如：单指碰触状态、多指碰触状态以及无碰触状态，来对定位装置100内各元件进行控制。以下逐一说明定位装置100中各元件的运作。

多工器110耦接触控面板50。当触控工具(例如：手指或电容笔)接触到触控面板50时，导电层与触控工具形成电容耦合而使各扫描线所感测的电容值产生变化。因此，当进行触控面板50的碰触检测时，多工器110便依据扫描顺序，依序地撷取各扫描线所感测的电容值。举例来说，扫描顺序依序地为扫描线CIN0→CIN1...→CIN7以及扫描线CIN8→CIN9...→CIN15。经由检测碰触位置位在各轴向所对应的导电层上的座标，便可以二维座标定位碰触位置。

转换单元120例如为电容数字转换器(capacitance to digitalconverter，CDC)，其耦接多工器110与处理单元130之间。转换单元120用以将模拟格式的电容值转换为数字格式的电容值，以便于处理单元130判读及处理。处理单元130例如为微控制器(micro-controller)，其耦接多工器110，且处理单元130包括碰触检测器131、峰值检测器132及定位运算单元133。

峰值检测器132耦接转换单元120及定位运算单元133。当触控工具碰触触控面板50时，这些扫描线所感测的电容值曲线会形成至少一波峰。由于波峰可指示出受到触控工具碰触的扫描线，且波峰的数目可指示出触控面板50受到触控工具碰触的位置数，因此峰值检测器132会检测波峰而产生对应的波峰指示信号PEAK_IND，以控制多工器110重新撷取扫描线所分别感测的电容值，以及控制多工器110在撷取完电容值时，产生扫描中断信号CONV_INT来控制定位运算单元133进行碰触位置的定位。

定位运算单元133耦接转换单元120。一般而言，对应波峰的扫描线位置会很接近碰触位置。受限于感测器的尺寸设计，触控装置显示的解析度通常高于感测器配置的解析度。感测器尺寸越大，相对地会降低检测出触碰位置的解析度。因此，定位运算单元133在接收到波峰指示信号时，便依据对应波峰的扫描线以及其相邻扫描线所感测的电容值，计算触控面板50受触控工具碰触的位置，以提高定位的准确性。

碰触检测器131耦接峰值检测器132且经转换单元120而耦接至多工器110。当扫描线所感测到的电容值大于碰触临界值时，碰触检测器131会产生接近中断信号STAGE_INT，以控制定位运算单元133就绪运作。藉此，可以避免触控面板50在未受触控工具碰触或者接近时，定位装置100会对电容值进行不必要的运算，藉以降低系统运算资源的消耗。

图2为本发明的一实施例的触控面板的定位方法的流程图。请参照图1B及图2，当触控面板50一开始未受碰触时，会初始化定位装置100(步骤201)，并且设定触控面板50处于无碰触状态(步骤202)。接着，多工器110依序切换扫描线，接着由转换单元120来感测各扫描线上的电容值，碰触检测器131将各扫描线上的电容值与碰触临界值进行比较，以判别触控面板50是否受触控工具接近或碰触。当触控面板50受到触控工具碰触单一位置(例如碰触位置A)时，部分对应X轴的扫描线CIN0～CIN7以及对应Y轴的扫描线CIN8～CIN15因受到触控工具碰触或接近而造成变化，以致所感测的电容值会大于碰触临界值。此时，碰触检测器131会产生接近中断信号STAGE_INT至定位运算单元133，以控制定位运算单元133就绪运作。

以对应X轴的扫描线CIN0～CIN7来说，在此期间峰值检测器132依据各扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断是否为对应X轴导电层的第一波峰(步骤203)。经由第一波峰的检测可得知触控面板50是否受到单指碰触。同样地，峰值检测器132亦会检测扫描线CIN8～CIN15上的电容值是否为对应Y轴导电层的第一波峰。

虽然经由第一波峰的检测可得知触控面板50是否受到单指碰触，但是扫描线所感测的电容值可能不是碰触稳定后的电容值。为了避免撷取到错误的电容值，致使所计算出的碰触位置不正确，因而当峰值检测器132检测对应X轴或Y轴的扫描线上所感测的电容值为第一波峰时，峰值检测器132便会产生第一波峰指示信号PEAK_IND1，以控制多工器110重新依序地撷取对应X轴及Y轴的扫描线上所分别感测的电容值，并且于撷取完各扫描线上所感测的电容值时，产生扫描中断信号CONV_INT。其中，扫描顺序例如为扫描线CIN0→CIN1...→CIN7→CIN8→CIN9...→CIN15，且多工器110在撷取完扫描线CIN15上感测器20所感测的电容值后产生扫描中断信号CONV_INT。

当定位运算单元133接收到扫描中断信号CONV_INT时，便会依据对应第一波峰的扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第一碰触位置(例如：碰触位置A)(步骤204)，且设定触控面板50处于单指碰触状态(步骤205)。在本实施例中，峰值检测器132所产生的第一波峰指示信号PEAK_IND1可控制碰触检测器131禁能(disable)产生接近中断信号STAGE_INT的运作，以避免定位装置100在第一碰触位置未定位的前，因触控面板50受到另一指碰触而操作失效。

在第一碰触位置的定位过程中，多工器110仍持续地且依序地撷取对应X轴及Y轴的扫描线上所感测的电容值。在触控面板50设定为单指碰触状态的情况下，峰值检测器132依据各扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断是否为第二波峰(步骤206)，藉以得知触控面板50是否受多指碰触。当各扫描线所感测的电容值不为第二波峰时，峰值检测器132则检测先前对应第一波峰的扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰(步骤207)。若先前对应第一波峰的感测器仍为第一波峰，则表示触控面板50的第一碰触位置仍受碰触，是故触控面板50仍处于单指碰触状态(步骤205)。此外，峰值检测器132亦可从波峰数由1变为0得知触控面板50未受碰触，因此峰值检测器132会产生初始指示信号以控制定位运算单元133初始化触控面板50处于无碰触状态(步骤201～202)。

当峰值检测器132检测对应X轴或Y轴的扫描线上所感测的电容值为第二波峰时，峰值检测器132便会产生第二波峰指示信号PEAK_IND2，以控制多工器110重新依序地撷取对应X轴及Y轴的扫描线上所分别感测的电容值(步骤208)，以及控制多工器110在撷取完电容值时，产生扫描中断信号CONV_INT。藉此，经由重新撷取扫描线所感测的电容值，可以确保所撷取的电容值的稳定性，以及提高后续确定碰触位置的准确性。此时，可以得知对应单一轴向(X轴或Y轴)的导电层具有两个波峰。

当定位运算单元133接收到扫描中断信号CONV_INT时，便会依据对应第二波峰的扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第二碰触位置(例如：碰触位置B)(步骤208)，并且设定触控面板50处于多指碰触状态(步骤209)。接着，在触控面板50处于多指碰触状态的情况下，峰值检测器132会检测先前对应第一波峰的扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰，以及检测先前对应第二波峰的扫描线所感测的电容值是否仍为第二波峰(步骤210)。当由上述扫描线所感测的电容值得知第一波峰或第二波峰不存在时，表示波峰数由2变为1，因此峰值检测器132产生第一波峰指示信号PEAK_IND1以控制定位运算单元133设定触控面板50处于单指碰触状态(步骤205)。当上述扫描线所感测的电容值得知第一波峰及第二波峰皆不存在时，表示波峰数由2变为0，因此峰值检测器132产生初始指示信号以控制定位运算单元133初始化触控面板50处于无碰触状态(步骤201～202)。

当触控面板50受到触控工具多指碰触(例如：碰触位置A及B)时，对应X轴及Y轴导电层分别有二个波峰的产生。一般来说，两指并非同时地碰触到触控面板50，而是存有前后碰触触控面板50的时间差(例如：50毫秒)。随着电子装置运算处理速度不断地提升，在此时间差内足以定位前指所对应的碰触位置。尔后，当后指接续地碰触到触控面板50时，则可经由排除前指所对应的碰触位置来消除镜像点(Ghost Point)，以正确地定位出后指所对应的碰触位置。

图3为本发明的另一实施例的触控面板的定位方法的流程图。请参照图1B及图3，首先在触控面板50未受碰触时，会设定触控面板50处于无碰触状态(步骤301)。接着，多工器110会依序地撷取对应X轴及Y轴的扫描线上所感测的电容值(步骤302)，并且碰触检测器131会依据所撷取的电容值判断触控面板50是否被碰触。当触控面板50被碰触时，峰值检测器132则接着判断所撷取电容值是否为第一波峰(步骤303)。当所撷取的电容值为第一波峰时，则判断正在撷取的扫描线是否为对应X轴(步骤304)；反之，触控面板50仍处于无碰触状态(步骤301)。

接着，当触控面板50正在撷取的扫描线为对应X轴时，代表对应X轴的第一波峰已取得，接着峰值检测器132会控制多工器110撷取对应Y轴的扫描线的电容值以取得对应Y轴的第一波峰(步骤305)；反之，代表对应Y轴的第一波峰已取得，接着峰值检测器132会控制多工器110撷取对应X轴的扫描线的电容值以取得对应X轴的第一波峰(步骤306)。在对应X轴及Y轴的第一波峰取得后，定位运算单元133会依据第一波峰的电容值计算出第一碰触位置(例如：碰触位置A)，并且设定触控面板50处于单指碰触状态(步骤307)。

接下来，多工器110同样再依序撷取触控面板50上各扫描线所感测到的电容值(步骤308)，并且峰值检测器132依据所撷取到的电容值判断第一波峰是否存在(步骤309)。当第一波峰仍存在时，峰值检测器132再依据所撷取到的电容值判断是否为第二波峰(步骤310)。当所撷取的电容值为第二波峰时，则峰值检测器132判断正在撷取的扫描线是否为对应X轴(步骤311)。当触控面板50正在被撷取的扫描线为对应X轴时，代表对应X轴的第二波峰已取得，接着峰值检测器132会控制多工器110撷取对应Y轴的扫描线的电容值以取得对应Y轴的第二波峰(步骤312)；反之，代表对应Y轴的第二波峰已取得，接着峰值检测器132会控制多工器110撷取对应X轴的扫描线的电容值以取得对应X轴的第二波峰(步骤313)。

在对应X轴及Y轴的第二波峰取得后，定位运算单元133依据第二波峰的电容值计算出第二碰触位置(例如：碰触位置B)，并且设定触控面板50处于多指碰触状态(步骤314)。接着，多工器110仍依序撷取触控面板50上各扫描线所感测到的电容值(步骤315)，并且峰值检测器132依据所撷取的电容值判断第一及第二波峰是否仍存在。当第一及第二波峰皆存在时，则峰值检测器132控制定位运算单元133设定触控面板50仍处于多指碰触状态(步骤314)。当第一及第二波峰皆不存在时，则峰值检测器132控制定位运算单元133设定触控面板50处于无碰触状态(步骤301)。当第一或第二波峰存在时，则峰值检测器132控制定位运算单元133设定触控面板50处于单指碰触状态(步骤307)。

此外，在步骤309中，当第一波峰不存在时，则峰值检测器132控制定位运算单元133设定触控面板50处于无碰触状态(步骤301)。在步骤310中，当所撷取的电容值不为第二波峰时，则峰值检测器132控制定位运算单元133设定触控面板50仍处于单指碰触状态。

值得一提的是，本实施例可以韧体方式来控制上述定位装置100内各元件的操作，并不局限于硬体的实施，而控制方式可参考实施例图2的流程。

综上所述，上述实施例提供一种触控面板的定位装置及其定位方法，其可经由波峰的检测来设定触控面板的状态，例如：无碰触、单指碰触以及多指碰触等状态，来控制定位装置内元件相互运作。而且，利用多指碰触的间通常具有时间差的特性，在前指所对应的第一碰触位置定位后且在前指未结束碰触的前，定位后指所对应的第二碰触位置，以排除多指碰触时所产生的镜像点。藉此，可以提高碰触位置的定位准确性。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (12)

1.一种触控面板的定位方法，其中所述触控面板具有多条扫描线，其特征在于，所述定位方法包括：

初始化所述触控面板为处于一无碰触状态；

依序地撷取所述多条扫描线所分别感测的多个电容值；

依据所述多条扫描线中一第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第一扫描线所感测的电容值是否为一第一波峰；

当所述第一扫描线所感测的电容值为所述第一波峰时，则包括下列步骤：

重新依序地撷取所述多条扫描线所分别感测的多个电容值；以及

当撷取完所述多个电容值时，则依据所述第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算一第一碰触位置，并且设定所述触控面板处于一单指碰触状态；

当所述触控面板处于所述单指碰触状态时，依据所述多条扫描线中一第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第二扫描线所感测的电容值是否为一第二波峰；以及

当该第二扫描线所感测的电容值为所述第二波峰时，则包括下列步骤：

重新依序地撷取所述多条扫描线所分别感测的多个电容值；以及

当撷取完所述多个电容值时，则依据所述第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算一第二碰触位置，并且设定所述触控面板处于一多指碰触状态。

2.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，还包括：

当所述触控面板处于所述多指碰触状态时，则检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰且检测所述第二扫描线所感测的电容值是否仍为所述第二波峰；

当所述第一扫描线或所述第二扫描线所感测的电容值不为所述第一波峰或所述第二波峰，则设定所述触控面板处于所述单指碰触状态；以及

当所述第一扫描线及所述第二扫描线所感测的电容值分别不为所述第一波峰及所述第二波峰，则初始化所述触控面板处于一无碰触状态。

3.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，还包括：

当所述第二扫描线所感测的电容值不为所述第二波峰时，则检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰；以及

当所述第一扫描线所感测的电容值不为所述第一波峰时，则初始化所述触控面板处于一无碰触状态。

4.一种触控面板的定位装置，其中所述触控面板具有多个扫描线，其特征在于，包括：

一多工器，用以依序地撷取所述多个扫描线所分别感测的多个电容值；以及

一处理单元，包括：

一峰值检测器，耦接所述多工器，用以依据所述多个扫描线中一第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第一扫描线所感测的电容值是否为一第一波峰，当所述第一扫描线所感测的电容值为所述第一波峰时，产生一第一波峰指示信号控制所述多工器重新依序地撷取所述多个扫描线所分别感测的电容值，以及控制所述多工器在撷取完所述多个电容值时，产生一扫描中断信号；

一定位运算单元，耦接所述多工器及所述峰值检测器，当接收到所述第一波峰指示信号时，设定所述触控面板处于一单指碰触状态，且当接收到所述扫描中断信号时，依据所述第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算一第一碰触位置；以及

一碰触检测器，耦接所述多工器及所述峰值检测器，当各电容值大于一碰触临界值时，产生一接近中断信号以控制所述定位运算单元就绪运作，并且在接收到所述第一波峰指示信号时，禁能产生所述接近中断信号的运作。

5.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，当所述触控面板处于所述单指碰触状态时，所述峰值检测器依据所述多个扫描线中一第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第二扫描线所感测的电容值是否为一第二波峰，当所述第二扫描线所感测的电容值为所述第二波峰时，所述峰值检测器产生一第二波峰指示信号以控制所述多工器重新依序地撷取所述多个扫描线所分别感测的多个电容值，以及控制所述多工器在撷取完所述多个电容值时，产生所述扫描中断信号。

6.根据权利要求5所述的定位装置，其特征在于，所述定位运算单元在接收到所述第二波峰指示信号时，设定所述触控面板处于一多指碰触状态，且在接收到所述扫描中断信号时，依据所述第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算一第二碰触位置。

7.根据权利要求6所述的定位装置，其特征在于，当所述触控面板处于所述多指碰触状态时，所述峰值检测器检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰且检测所述第二扫描线所感测的电容值是否仍为所述第二波峰，当所述第一扫描线或所述第二扫描线所感测的电容值不为所述第一波峰或所述第二波峰时，所述峰值检测器产生所述第一波峰指示信号以控制所述定位运算单元设定所述触控面板处于所述单指碰触状态，以及当所述第一扫描线及所述第二扫描线所感测的电容值分别不为所述第一波峰及所述第二波峰时，该峰值检测器产生一初始指示信号以控制所述定位运算单元初始化所述触控面板处于一无碰触状态。

8.根据权利要求5所述的定位装置，其特征在于，当所述第二扫描线所感测的电容值不为所述第二波峰时，所述峰值检测器检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰，当所述第一扫描线所感测的电容值不为所述第一波峰时，所述峰值检测器产生一初始指示信号以控制所述定位运算单元初始化所述触控面板处于一无碰触状态。

9.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，还包括：

一转换单元，耦接于所述多工器与所述处理单元之间，用以将具有一模拟格式的所述多个电容值转换为具有一数字格式的所述多个电容值。

10.一种触控面板的定位方法，其中所述触控面板具有多条扫描线，其特征在于，所述定位方法包括：

所述触控面板初始设定为处于一无碰触状态；

依序地撷取所述多条扫描线所分别感测的多个电容值；

依据所述多条扫描线中一第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第一扫描线所感测的电容值是否为一第一波峰；以及

当所述第一扫描线所感测的电容值为所述第一波峰时，则包括下列步骤：

判断所述第一扫描线是否对应一第一轴向；

当所述第一扫描线对应所述第一轴向时，代表所述第一波峰对应所述第一轴向，则扫描对应一第二轴向的扫描线，以取得对应所述第二轴向的第一波峰的电容值；

当所述第一扫描线不对应所述第一轴向时，代表所述第一波峰对应所述第二轴向，则扫描对应所述第一轴向的扫描线，以取得对应所述第一轴向的第一波峰的电容值；

依据对应所述第一轴向及所述第二轴向的第一波峰的电容值，计算一第一碰触位置，并且设定所述触控面板处于一单指碰触状态；

当所述触控面板处于所述单指碰触状态时，依据所述多条扫描线中一第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断所述第二扫描线所感测的电容值是否为一第二波峰；以及

当所述第二扫描线所感测的电容值为所述第二波峰时，则包括下列步骤：

判断所述第二扫描线是否对应所述第一轴向；

当所述第二扫描线对应所述第一轴向时，代表所述第二波峰对应所述第一轴向，则扫描对应所述第二轴向的扫描线，以取得对应所述第二轴向的第二波峰的电容值；

当所述第二扫描线不对应所述第一轴向时，代表所述第二波峰对应所述第二轴向，则扫描对应所述第一轴向的扫描线，以取得对应所述第一轴向的第二波峰的电容值；以及

依据对应所述第一轴向及所述第二轴向的第二波峰的电容值，计算一第二碰触位置，并且设定所述触控面板处于一多指碰触状态。

11.根据权利要求10所述的定位方法，其特征在于，还包括：

当所述触控面板处于所述多指碰触状态时，则检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰且检测所述第二扫描线所感测的电容值是否仍为所述第二波峰；

当所述第一扫描线或所述第二扫描线所感测的电容值为所述第一波峰或所述第二波峰，则设定所述触控面板处于所述单指碰触状态；以及

当所述第一扫描线及所述第二扫描线所感测的电容值分别不为所述第一波峰及所述第二波峰，则初始化所述触控面板处于一无碰触状态。

12.根据权利要求10所述的定位方法，其特征在于，还包括：

当所述触控面板处于所述单指碰触状态，则检测所述第一扫描线所感测的电容值是否仍为所述第一波峰；以及

当所述第一扫描线所感测的电容值不为所述第一波峰时，则设定所述触控面板处于一无碰触状态。

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