CN101871821A - 一种电解质初晶温度测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电解质初晶温度测量方法，能够对电解质试料样品初晶点温度进行快速检测，准确地测定电解质的初晶温度值，通过对冷却过程中熔融电解质进行测量，并进行数据采集和分析，测得电解质的初晶温度和测绘相应曲线，不仅达到了提高生产效率，降低能耗，稳定生产操作，将降低生产成本的目的，而且操控简单，更容易设置、使用和调整，测量准确，自动化程度高，大大减轻了系统维护，提高了生产工艺控制。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种电解质温度测量装置，尤其涉及一种电解质初晶温度自动测量机。
【背景技术】
目前，对物质初晶温度的测量，广泛采用热分析方法，由于取样、冷却、结晶、重熔会使熔体的成分发生变化，容易造成测量结果的偶然误差，造成分析结果对实际生产没有多大的指导意义，而在生产过程中，电解质液相线温度，或称电解质初晶温度，特别在铝电解体系中，是一个重要参数，它直接影响铝电解工艺流程的操作温度，准确测量初晶温度，控制电解温度，调节过热度达到最佳状态，是电解铝行业节能降耗的首要目的，传统的测量初晶温度的方式，自动化程度低，保温效果差，防护措施差，不仅容易产生腐蚀性的气体，极大的腐蚀测试设备，污染工作环境，测量方法也过于简单，容易误伤操作人员，操作起来极不安全。
【发明内容】
本发明克服了现有电解质测温方法的不足，提供了一种便于检测生产过程中的电解质初晶温度，方便测试，方便记录、方便维护，提高生产效率的电解质初晶温度测量方法。
为了解决上述存在的技术问题，本实用新型采用下述技术方案：
一种电解质初晶温度测量方法，所述的测量方法包括如下步骤：
1)设备上电，启动电炉开启按钮，系统自动升温至设定温度T；
2)输入参数样品编号；
3)判断是否启动系统按钮；
4)当没有启动系统按钮时，系统处于等待状态，然后判断启动时间是否超过N秒？当超过N秒时，打开炉膛40的防护罩，下降炉盖41；
5)当启动系统按钮时，自动提升炉盖41；
6)然后，防护罩50自动封闭炉炉膛口；
7)打开检测舱2的舱门20并计时；
8)操作人员在炉盖41接头处放置装填了电解质的电解质容器8；
9)M秒钟后，热电偶70自动插入电解质容器8内，关闭检测舱2的舱门20；
10)接着，系统自动打开炉膛40的隔热防护罩50，热电偶70、电解质容器8随同炉盖41一并下降，封闭炉膛40；
11)加热炉膛4，电解质容器8升温K分钟；
12)时间到，热电偶70、电解质容器8、炉盖41自动上升至上位极限点；
13)然后，自动关闭隔热防护罩50，封闭炉膛口40，检测舱2的风扇21开始抽风降温；
14)操控中心3绘制降温曲线，自动扑捉锁定初晶温度，并将数据存入数据库；
15)接着，自动提升热电偶70，打开检测舱2的舱门20；
16)然后，操作人员用专用工具取走电解质容器8；
17)进入下一次的测试等待状态。
如上所述的一种电解质初晶温度测量方法，其特征在于：所述的步骤14)还包括：采集热电偶的A/D数据，然后形成步冷曲线程序，根据存储的的步冷曲线，接着扑捉锁定曲线结晶的初始拐点温度值，经过程序处理后，将样本相关数据存入数据库，以样本编号形成文件，最后，返回初始状态。
本发明与现有技术相比具有如下的优点：
本发明主要用于对电解质试料样品初晶点温度进行快速检测，能够准确地测定电解质的初晶温度值，该方法将装有电解质的容器放入高温炉膛中，电解质快速熔化后，再将装有液态电解质的容器冷却，同时对冷却过程进行测量，通过数据采集和分析，测得电解质的初晶温度和相应曲线，不仅达到了提高生产效率，监控电解铝生产过程，降低能耗，稳定生产操作，将降低生产成本的目的，而且操控简单，更容易设置、使用和调整，测量准确，自动化程度高，大大减轻了系统维护，提高了生产工艺控制。
【附图说明】
图1是本发明的流程示意图；
图2是本发明的设备结构示意图；
图3是图2的侧视图。
【具体实施方式】
下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述：
一种电解质初晶温度测量方法，如图1所示，所述的测量方法包括如下步骤：
1)设备上电，启动电炉开启按钮，系统自动升温至设定温度T；
2)输入参数样品编号；
3)判断是否启动系统按钮；
4)当没有启动系统按钮时，系统处于等待状态，然后判断等待时间是否超过N秒？当超过N秒时，打开炉膛口40的防护罩，下降炉盖41；
5)当启动系统按钮时，自动提升炉盖41；
6)然后，防护罩50自动封闭炉炉膛口；
7)打开检测舱2的舱门20并计时；
8)操作人员在炉盖41接头处放置装填了电解质的电解质容器8；
9)M秒钟后，热电偶70自动插入电解质容器8内，关闭检测舱2的舱门20；
10)接着，系统自动打开炉膛口40的隔热防护罩50、电解质容器8随同炉盖41一并自动下降，封闭炉膛口40；
11)加热炉膛4，电解质容器8升温K分钟；
12)时间到，热电偶70、电解质容器8、炉盖41自动上升至上位极限点；
13)然后，自动关闭隔热防护罩50，封闭炉膛二40，检测舱2的风扇21开始抽风降温；
14)操控中心3绘制降温曲线，自动扑捉锁定初晶温度，并将数据存入数据库；
15)接着，自动提升热电偶70，打开检测舱2的舱门20；
16)然后，操作人员，用专用工具取走电解质容器8；
17)进入下一次的测试等待状态。
所述的步骤14)还包括：采集热电偶的A/D数据，然后形成步冷曲线程序，根据存储的的步冷曲线，以样本编号形成文件，接着扑捉锁定曲线结晶的初始拐点温度值，经过程序处理后，将样本相关数据存入数据库，以样本编号形成文件，最后，返回初始状态。
该测量方法和电解质初晶温度测量设备一起配套使用，工作时，首先给设备上电，按照测量方法的操作步骤，当打开初晶温度检测舱2的舱门20，然后取适量的电解质样品，再将研磨好的电解质装入专用的电解质容器8中，并把电解质容器8固定在电解质容器升降部6的炉盖41下端接头上，通过操控中心3自动控制热电偶升降部7的热电偶70下降并插入炉盖41下端的电解质容器8内，关闭初晶温度检测舱2的舱门20，然后控制防护罩开合部5的防护罩50打开，并控制电解质容器升降部6下降到炉盖41封闭炉膛加热部4的炉膛口40时，在炉膛加热部4加热升温，待电解质容器8内的电解质溶化后，自动控制电解质容器升降部6升起，然后防护罩开合部5的防护罩50关闭炉膛加热部4的炉膛口40，电解质容器8内的电解质在初晶温度检测舱2开始冷却，操控中心3通过热电偶升降部7的热电偶70，绘制降温曲线，自动扑捉锁定初晶温度，完成对电解质容器8中电解质初晶温度的自动测量。
以上对本发明所提供的电解质初晶温度测量方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (2)
1.一种电解质初晶温度测量方法，其特征在于：所述的测量方法包括如下步骤：
1)设备上电，启动电炉开启按钮，系统自动升温至设定温度T；
2)输入参数样品编号；
3)判断是否启动系统按钮；
4)当没有启动系统按钮时，系统处于等待状态，然后判断启动时间是否超过N秒？当超过N秒时，打开炉膛口(40)的防护罩，下降炉盖(41)；
5)当启动系统按钮时，自动提升炉盖(41)；
6)然后，防护罩(50)自动封闭炉炉膛口；
7)打开检测舱(2)的舱门(20)并计时；
8)操作人员在炉盖(41)接头处放置装填了电解质的电解质容器(8)；
9)M秒钟后，热电偶(70)自动插入电解质容器(8)内，关闭检测舱(2)的舱门(20)；
10)接着，系统自动打开炉膛口(40)的隔热防护罩(50)，热电偶(70)、电解质容器(8)随同炉盖(41)一并下降，封闭炉膛口(40)；
11)加热炉膛(4)，电解质容器(8)升温K分钟；
12)时间到，热电偶(70)、电解质容器(8)、炉盖(41)自动上升至上位极限点；
13)然后，自动关闭隔热防护罩(50)，封闭炉膛口(40)，检测舱(2)的风扇(21)开始抽风降温；
14)操控中心(3)绘制降温曲线，自动扑捉锁定初晶温度，并将数据存入数据库；
15)接着，自动提升热电偶(70)，打开检测舱(2)的舱门(20)；
16)然后，操作人员用专用工具取走电解质容器(8)；
17)进入下一次的测试等待状态。
2.根据权利要求1所述的一种电解质初晶温度测量方法，其特征在于：所述的步骤14)还包括：采集热电偶的A/D数据，然后形成步冷曲线程序，根据存储的的步冷曲线，接着扑捉锁定曲线结晶的初始拐点温度值，经过程序处理后，将样本相关数据存入数据库，以样本编号形成文件，最后，返回初始状态。
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