CN101826361B - 介质记录再现装置以及介质记录再现方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种介质记录再现装置以及介质记录再现方法，在于解决由于DFL登记数达到极限而产生的光盘无法记录的问题和记录数据再现时的存取性能低下的问题。校验中的缺陷簇所夹的正常再现簇也作为缺陷簇进行处理并向替换区域记录，与前后的缺陷簇合并而扩大能够进行CRD登记的范围。由此，抑制DFL数从而解决光盘无法记录的问题，通过抑制搜索次数，能够防止再现时的存取性能低下。

Description

介质记录再现装置以及介质记录再现方法
优先权主张
本发明主张2009年3月6日提交的日本在先申请2009-52820号的优先权，并引入其全部内容以作参照。
技术领域
本发明涉及介质记录再现装置以及介质记录再现方法，尤其涉及使用介质的替换处理数据记录用区域进行记录再现的装置中的缺陷管理列表(DFL)的操作规定。
背景技术
现在，存在对以CD-R/RW(CD Recordable/Rewritable)、DVD±R/RW(DVD±Recordable/Rerecordable Disc)、DVD-RAM(DVD-Re-writable)、Blu-ray Disc(以下记为BD)等为代表的光学式盘状记录介质使用半导体激光器照射激光进行数据记录的记录再现装置。可擦写型或者追记型光光盘介质中，由于媒介的部分破损引起的损伤、指纹、污点、记录膜恶化等，产生媒介上的缺陷(Defect)部分，在其缺陷部分上进行记录的话，很有可能无法读出数据。
作为避免这样的盘面缺陷以延长光盘寿命的一个方法，有不在其缺陷部分进行数据的记录而在同一光盘上设有的替换区域(代替记录区域)进行记录的、称为线性代替(Linear Replacement)的缺陷管理方法。它可以对DVD-RAM适用，该方法记载在非专利文献1的29～31页中。该技术对BD也适用，以簇为单位在用户数据区域中进行记录时，将记录失败的簇或者记录成功但是校验失败的簇记录在设于光盘内的替换区域。另外，簇相当于本发明中的最小记录扇区单位。将检测出的缺陷簇的地址信息和被记录于替换区域的簇的地址信息，在设于光盘内的管理区域内作为缺陷列表(DFL)登记。另外，该DFL的类别也有多种定义，作为其中一例，在缺陷区域仅为1簇时，作为重新分配缺陷(RAD：Re-Allocated Defect)类型进行登记，在缺陷区域为连续的2簇以上时，作为连续重新分配缺陷(CRD：Contiguous Re-allocated Defect)类型进行登记。例如，在存在10簇连续的缺陷时，RAD登记需要登记10个DFL，但是通过利用CRD只需2个DFL，能够抑制管理区域内的DFL登记数。这些在专利文献1中有记载。再现时，通过读出该DFL，能够使读出的不是从上级接受的记录指令的簇的位置，而是进行了替换记录的簇。
专利文献1：日本特表2008-510263
非专利文献1：TRICEPS企划部编辑《DVD-RAM技术》株式会社TRICEPS发行2000年
发明内容
考虑在用户数据区域内的连续的地址A～Z中存在多个缺陷簇的情况。这里假定1个拉丁字母相当于1个簇，E、K、P、V为能正常记录在用户区域中的簇，剩余的簇全部为记录在替换区域的缺陷簇。此时，使用上述DFL表示A～Z间的DFL，则为CRD：A～D、F～J、L～O、Q～U、W～Z。
对于CRD，由于必须表明连续簇的开始地址和结束地址，因此需要两个列表，一共需要10个列表。存在如下问题：由于能够登记DFL的范围有限，因此当达到DFL登记数的极限数时，无论替换容量是否还有空余都无法进行替换处理，导致无法进行需要替换处理的记录。
另外，在考虑连续再现A～Z时的存取性能的情况下，频繁发生用户数据区域和替换区域的搜索。具体的说，在D→E→F、J→K→L、O→P→Q、U→V→W的箭头部分发生搜索。由此，产生DFL登记数的增加导致记录再现装置的性能下降这一问题。因此，本发明中以这些问题点为课题，着眼于DFL的登记方法，目的在于减少DFL的登记数。
如上所述，本发明通过权利要求书中所述的发明实现。
本发明提供一种具有缺陷管理功能的记录再现装置，使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：在缺陷管理处理中，在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为RAD进行DFL登记，在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为CRD进行DFL登记，所述记录再现装置包括：进行校验处理的校验单元，在所述校验处理中，对所记录的数据进行再现并对再现结果进行判断；DFL登记决定单元，根据来自所述校验单元的结果决定DFL登记的种类；管理信息储存单元，根据所述DFL登记决定单元的结果向所述管理信息储存区域储存含有DFL信息的管理信息；和替换数据记录单元，根据所述DFL登记决定单元的结果向所述替换区域记录替换数据，所述DFL登记决定单元，将所述用户数据区域内的以RAD或者CRD登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区进行处理，与前后的RAD或者CRD合并而作为CRD的一部分进行登记。
本发明提供的一种具有缺陷管理功能的记录再现装置中的记录方法，所述记录再现装置使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：在缺陷管理处理中，在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为RAD进行DFL登记，在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为CRD进行DFL登记，将所述用户数据区域内的以RAD或者CRD登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的RAD或者CRD合并而作为CRD的一部分进行登记。
本发明提供的一种具有缺陷管理功能的记录再现装置中的记录方法，所述记录再现装置使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：根据所述记录再现装置的自判断、或者来自与所述记录再现装置连接的上级装置的命令，将所述用户数据区域内的以RAD或者CRD登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的RAD或者CRD合并而作为CRD的一部分登记在所述管理信息储存区域，将与再构筑后的DFL合并的替换数据记录在所述替换区域。
本发明提供的一种具有缺陷管理功能的记录再现装置，使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：包括进行校验处理的校验单元，在所述校验处理中，对所记录的数据进行再现并对再现结果进行判断；和替换数据记录单元，根据校验结果向所述替换区域记录替换数据，所述替换数据记录单元，将被判断为记录再现正常的扇区的记录扇区向所述替换区域记录。
本发明提供的一种具有缺陷管理功能的记录再现装置中的记录方法，所述记录再现装置使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：在缺陷管理处理中，将被判断为记录再现正常的扇区的记录扇区向所述替换区域记录。
本发明提供的一种再现方法，其特征在于：按照DFL对以本发明提供的记录方法记录的介质进行再现。
本发明中，将缺陷簇所夹的正常簇作为缺陷簇处理，通过扩大能CRD登记的范围来减少DFL登记数。通过避免DFL登记达到极限值导致的光盘无法写入，来延长光盘擦写次数寿命，进一步抑制再现时光盘存取性能降低。
本发明的这些和其它的特征、目的以及优点将从以下结合附图所做的描述得到进一步明确。
附图说明
图1是表示本发明的第1实施例的记录再现装置的结构的框图。
图2是表示BD-RE SL(Single Layer)的光盘整体构造的图。
图3是对BD-RE SL的缺陷处理方法进行说明用的图。
图4是对光盘再现时存取性能低下进行说明的图。
图5是对本发明的课题解决方法进行说明用的图。
图6是对考虑了实际的记录再现装置中的记录再现动作的例子进行说明的图之1。
图7是对考虑了实际的记录再现装置中的记录再现动作的例子进行说明的图之2。
图8是表示本发明的第2实施例的记录再现装置的结构的框图。
图9是对替换数据的再构筑动作进行说明的图。
符号说明
101 用户数据记录用区域
102 拾取器
103 数据记录再现单元
104 主机
105 微机
106 校验单元
107 DFL登记决定单元
108 管理信息储存单元
109 替换数据记录单元
201 DDS
202 DFL
203 DFL的第1位置(1st position ofDFL)
204 DFL的第7位置(7th position ofDFL)
205 状态1区域
206 缺陷簇第1 PSN(Defective Cluster first PSN)
207 状态2区域
208 替换簇第1 PSN(Replacement Cluster first PSN)
301 格式化后的光盘结构图
302 缺陷簇
303 记录于用户数据区域的簇的缺陷簇配置状况
304 记录于替换区域的替换簇配置状况
305 DFL登记状态
306 307的状态1
307 替换源簇的起始地址
308 309的状态1
309 替换源簇的最终地址
310 312的状态2
311 313的状态1
312 替换目的簇的起始地址
313 连续的替换目的簇的最终地址
401 数据再现范围以及方向
501 与301相同的光盘状态
502 记录于用户数据区域的区域
503 通过校验判断为正常的簇
504 在502中记录有被判断为缺陷簇的簇的区域
505 将正常再现簇作为缺陷簇处理时的DFL登记状态
506 501中503的正常再现的簇不是1簇的例子
601 以4簇为单位进行反复记录和再现的校验处理的情况
602 校验处理单位
603 校验中的记录
604 校验中的再现
605 校验中的缺陷簇
606 某种校验结果的一个例子
607 第N次校验处理
608 第N+1次校验处理
609 607结束时刻的DFL登记状况
610 直至608结束时的DFL登记状况
611 某种校验结果的一个例子
612 将正常再现簇作为缺陷簇处理的簇
613 上次校验的连续缺陷簇
614 进行RAD登记的簇
615 记录614的簇的替换区域
616 611的DFL登记状态
701 某种校验结果的一个例子
702 701的DFL登记状态
703 将正常再现簇作为缺陷簇处理的簇
704 某种校验结果的一个例子
705 704的DFL登记状态
706 某种校验结果的一个例子
801 DFL剩余量确认单元
802 替换区域剩余量确认单元
803 DFL及替换数据再构筑判断单元
804 DFL及替换数据再构筑单元
901 进行DFL、替换数据的再构筑的光盘状态的一个例子
902 901的DFL登记状况
903 替换数据再构筑步骤的一个例子
904 903的DFL登记状况
具体实施方式
下面，使用附图对本发明的实施例进行说明。
(实施例1)
下面，使用附图对本发明的实施例1进行说明。
图1是表示本发明实施例的记录再现装置的结构的框图。下面使用附图进行说明。
图中101是具有用户数据记录用区域、光盘管理信息记录用区域、替换处理数据记录用区域的能对数据进行记录再现的光盘，102是从光盘101读出记录信号的拾取器，103是数据记录再现单元，虽然图中没有表示，但是数据记录再现单元103包括对拾取器102进行控制的伺服控制单元、进行数据的调制解调的单元、进行错误订正的单元、对数据进行临时存储的临时存储单元、对该临时存储单元进行控制的临时存储单元控制单元、以ATAPI(AT Attachment Packet Interface)为代表的按照协议与主机104进行存取的主机I/F单元等所有将从拾取器读出的数据向作为外部装置的主机104输出或者将来自主机104的数据记录在光盘上所需的单元。105是对该数据记录再现单元进行控制的微机。106是进行校验处理的校验单元，其中，校验处理对向光盘101记录的数据进行再现并对再现结果进行判断，107是由来自校验单元106的结果决定DFL登记的种类的DFL登记决定单元，108是根据DFL登记决定单元107的结果向101内的管理信息储存区域储存包括DFL信息的管理信息的管理信息储存单元，109是根据DFL登记决定单元107的结果向光盘101具有的替换区域记录替换数据的替换数据记录单元。
图2是表示BD-RE SL(Single Layer)的光盘整体构造的图。它大体上由导入(Lead-in)区域、数据(Data Zone)区域、导出(Lead-out)区域这三个区域，并且Data Zone区域由内周的替换处理数据记录用区域即ISA0(Inner Spare Area 0)区域、用户数据(User Data Area)区域、外周的替换处理数据记录用区域即OSA0(Outer Spare Area 0)区域构成。对记录状态的管理信息进行记录的DMA(Disc Management Area)存在于导入区域、导出区域内。BD-RE SL中从DMA1至4进行定义，但是本例中为了简化说明仅记载了DMA1。DMA区域由DMS(DiscManagement Structure)构成，DMS由DDS(Disc Definition Structure)201和DFL(Temporary Defect List)202构成。DDS含有DFL的配置信息以及ISA0、OSA0的容量这样的光盘管理信息。另外，DFL主要作为管理光盘上的缺陷区域的替换区域的列表使用。
这里对DFL作进一步说明。BD-RE SL的DFL由203所示的DFL的第1位置至204所示的DFL的第7位置构成，其中，实际有效的仅为一个位置。记录开始之初从203开始使用，当多次盖写时对该扇区的记录不能顺利进行并不能通过校验而再现时，其有效的位置移至DFL的第2位置。因此，当DFL的第7位置都已用尽时不能继续进行DFL登记，不能随着替换记录进行记录。但是，存在即使没有用到DFL的第7位置也不能进行DFL登记、不能随着替换记录进行记录的情况。以下，对这种情况进行说明。如图中所示，一个位置由4个簇构成，使用1～4的簇进行DFL登记。
DFL以被缺陷列表表头(Defect List Header)和缺陷列表终端(Defect List Terminator)夹着的形式进行储存，进行DFL登记的格式，由表示替换源的登记状态的状态1区域205和表示其替换源地址206的缺陷簇PSN、表示替换目的的登记状态的状态2区域207和表示其替换目的地址207的替换簇第1PSN构成。状态区域中，替换源扇区为1簇的时候和为连续的多个簇的时候其登记值是不同的。进行1簇的替换时，状态1以及状态2的值为0000b(2进制表示)，表示RAD。而表示连续的多个簇的替换时与RAD不同，以2行表示1个CRD信息。第1行的205的值为0001b，206表示连续的替换源簇的起始地址，207的值为0010b，208表示连续的替换目的簇的起始地址。第2行的205的值为0001b，206表示连续的替换源簇的最终地址，207的值为0010b，208表示连续的替换目的簇的最终地址。即，当CRD登记适用于RAD连续3个以上的情况时，有利于DFL登记的削减。
接着，使用图3对BD-RE SL的缺陷处理方法进行说明。
301是在确保具有ISA0、OSA0的替换区域的状态下进行了格式化的光盘结构图。如图2所述，由导入区域、数据区域、导出区域构成，在数据区域的光盘内周侧确保ISA0、在光盘外周侧确保OSA0。该区域被用作在数据记录中发现了缺陷的替换区域等。
接着，考虑将该BD-R采用的CRD也应用于BD-RE的扩大了适用范围的情况，对记录中发现缺陷时的替换处理方法进行说明。
在进行光盘格式化时事先通过来自主机装置的指示(准确的为应用程序的指示)确保BD-RE的替换区域ISA0、OSA0。在进行记录直到如图中白箭头所示的地址的记录中发现如图中302所示的缺陷簇时，向ISA0的替换区域进行替换，图中黑箭头表示通过校验等被判断为缺陷的替换区域与作为其替换记录目的的替换目的区域的对应关系。并且，记录该缺陷替换区域以及替换区域的位置信息的DMA由导入区域以及导出区域确保。(参照图2)
这里在记录中有以302表示的缺陷，如黑箭头所示进行替换处理。303中A～Z表示分别连续的1簇的数据。A～Z簇的校验处理结果，仅E、L、P、V为能正常再现的簇，而剩下的A～D、F～J、L～O、Q～U、W～Z簇不能再现。此时，对不能再现的簇分别以CRD登记在ISA0进行替换处理(当然也可以是OSA0)。ISA0中的簇a～簇v也表示分别连续的1簇的数据，作为替换源数据的A～D、F～J、L～O、Q～U、W～Z簇分别储存于作为替换目的数据的a～d、e～i、j～m、n～r、s～v簇。305表示此时的DFL登记状态。306、307表示连续的替换源簇的起始地址，308、309表示连续至替换源簇的最终地址。另外，以与替换源信息对应的方式以310、312表示连续的替换目的簇的起始地址，以311、313表示连续的替换目的簇的最终地址。以下与此相同地进行DFL登记。
由此，考虑如图2中所说明的能登记的DFL数有限的情况、以及如图3中所说明的通过替换处理继续进行DFL登记的情况时，存在以下可能性：根据替换处理的结果，替换区域仍有空余但DFL登记数先达到极限值，从而无法随着替换记录进行记录处理。
此外，使用图4对光盘再现时的存取性能低下进行说明。图4为进行了与图3中说明的相同的替换处理的光盘。如401所示的箭头进行数据再现时，必须以以下方式进行，在用户数据区域记录的E、K、P、V的数据从用户数据区域读出，作为缺陷簇的A～D、F～J、L～O、Q～U、W～Z分别读出作为替换目的数据的a～d、e～i、j～m、n～r、s～v，因此，必须以如图中箭头所示的顺序进行数据再现。由于必须在用户数据区域和替换区域间随着搜索动作进行频繁的移动，显然与连续读出用户数据区域的A～Z的数据时相比，此时的存取性能低下。对解决这些随着DFL登记数增加而无法记录的问题、和再现中存取性能低下的手段使用图3、图5进行说明。
图5的501状态，为进行了与用图3的301说明的处理相同的替换处理的状态。这里的替换处理中，考虑不需要在替换区域记录数据的、以503表示的簇的处理。通常，记录后的再现没有问题的簇不需要进行向替换区域的数据记录，但是，这里将这些以503表示的簇作为缺陷簇进行处理。即、以A～Z表示的全部簇作为缺陷簇进行处理，因此，在502的区域如箭头所示进行数据记录之后，要记录在替换区域的数据以A～Z的全部簇为对象，以502表示的簇全部被记录在替换区域内的504区域。此时的DFL登记状态如505所示，以1个CRD登记完成，与图3中的305所示的DFL登记状态相比，能够大幅减少DFL的登记数。506表示501中的503的正常再现的簇不是1簇时的例子。可知，无论2簇还是3簇都同样进行正常簇处理，由此形成与505相同的DFL登记状态，与进行正常簇处理的簇数无关。
另外，即使考虑再现中的存取性能低下，在进行502区域的再现时，也可以按顺序进行504的顺序再现，因此不发生如图3的例子所示的在用户数据区域和替换区域间的频繁的搜索动作。另外，即使将再现正常的簇作为缺陷簇进行处理，也仅是将主机侧所请求的数据从用户数据区域读出还是从替换区域读出的差别，因此从主机的角度来看，根据读出命令返回的数据相同，完全没有问题。
使用图6、图7，进一步对考虑了记录再现装置的实际记录再现动作的例子进行说明。在记录再现装置进行校验动作时，通常将多个簇作为1个校验处理单位进行。图6的601表示以4个簇为单位进行反复记录和再现的校验处理的情况。602所示的粗框为校验处理单位(此图中为4个簇)。在603所示的记录处理之后，与604所示的再现处理合并成1个校验处理。另外，在其校验处理结果中出现如605所示的缺陷簇时，能够即时进行向替换区域(Spare Area)的记录。以下，以校验处理单位顺序进行记录再现处理。根据以上结果考虑如606所示情况的处理。用户数据区域内的具有图案的簇，表示校验结果中无法再现的簇，以空白表示的簇为校验结果正常的缺陷簇。另外，替换区域内的标有图案的簇表示用户数据区域内的缺陷簇的替换数据，空白的簇表示未记录的簇。607所示的校验处理结束时刻的DFL登记状况如609所示。全部RAD消耗3行来进行登记(后2行也可以为CRD登记，但消耗的DFL登记数仍然为3行)。接着进行608的校验，结果DFL登记状况如610所示变化。C～E的簇可以进行CRD登记，因此DFL登记需要2行，而使用RAD则需要3行。
这里，考虑将611中612的簇F作为缺陷簇进行处理。通过将通常作为正常再现簇而不向替换区域记录的簇，作为缺陷簇进行处理，能对与上一校验结果的613合并为C～H的簇614进行CRD登记。
另外，与该614相对应的替换区域为615。DFL登记状况如616所示，与610相比，可以减少2行的数据容量。图7的701、704是将用户数据区域内的F、G的正常再现簇703作为缺陷簇进行处理的情况。与611的例子不同，将2簇连续的正常再现簇作为缺陷簇进行处理。在本例中，DFL登记状况分别如702和705所示，可以减少1行的数据容量。这样，将再现正常的簇作为缺陷簇进行处理的簇数不是1簇也没有问题，也能进行处理。
这样，将再现正常的簇作为缺陷簇进行处理的簇数，根据记录再现装置的实施校验的簇数、替换区域的剩余量、能进行DFL登记的剩余量而不同，因此，记录再现装置的设计者能自由地设定其值。
但是，在706的例子中需要注意。与704的不同之处在于，缺陷簇的位置不是簇D的位置，而是簇C的位置。此时，在707的校验处理中发现的缺陷簇C记录在替换区域的簇a中。通过708的校验处理簇E为缺陷簇，因此考虑将簇D作为缺陷簇进行处理，这种情况下，上回的校验处理中读出的D必须再次重新读出。即使簇D的数据在内部保留，也必须对过去的校验结果707中没有记录的簇D进行记录，要进行2次操作。校验处理708的缺陷簇E和H还没有在替换区域中进行记录，因此完全不会发生浪费的再现动作以及记录动作。因此，如706的含有上回的校验处理单位的最终记录簇(此时为簇D)的簇为正常再现簇时，进行在校验处理708中结束的DFL登记。此时，如图所示簇E和簇H是分别进行RAD登记、还是从簇E到簇H捆绑进行CRD登记，视记录再现装置的设计者而定。并且，本例中二者所消耗的DFL登记行数都为2行。
(实施例2)
接着，使用图8、图9对本发明的第2实施例进行说明。与第1实施例的结构基本相同，但是，取代106、107，具有DFL剩余量确认单元801、替换区域剩余量确认单元802、DFL及替换数据再构筑判定单元803、DFL及替换数据再构筑单元804。DFL剩余量确认单元801是对光盘内的管理区域内具有的DFL登记数进行确认的单元，替换区域剩余量确认单元802是对光盘内的替换区域内的剩余量进行确认的单元。根据801和802的剩余量结果，记录再现装置通过DFL及替换数据再构筑判定单元803对是否进行DFL及替换数据的再构筑进行判断。是否进行再构筑的判断契机，可以是记录再现装置设计者规定的任意时机。例如，可以像DVD+RW的后台格式化那样，在记录再现装置未进行记录和再现的时间经过一定时间后进行，也可以在DFL剩余量确认单元801判断为DFL可登记数接近极限值或者已经达到极限值并由DFL及替换数据再构筑判定单元803判断为需要进行再构筑的时候进行。
但是，在任何时候，只有在通过替换区域剩余量确认单元802确认具有光盘所确保的整个替换区域的一半以上的容量时才可以进行再构筑处理。使用图9对其理由进行说明。考虑表示如901的状态的用户数据区域和替换区域及此时的DFL登记状态的902。在通过再构筑将正常再现簇D作为缺陷簇进行处理的再构筑处理中，首先，Step1为开始前的状态，Step2中，在替换区域的未使用区域s～z中，将簇a向簇s复制、将簇b～e向簇u～x复制，将簇D向簇t复制。这里的未使用区域是指逻辑上没有被使用的区域，在已经使用过数次的光盘中即使过去进行过物理性使用也称为未使用区域。
Step3中将其复制后的簇s～簇x写回簇a～簇f。此时的DFL登记状态如904所示，与902的状态相比，DFL登记行数减少了1行。如本例可知，为了进行已经登记完毕的替换数据的再构筑，需要一次就使全部替换数据退避的场所，写回时也需要一次就全部记录。因此，如果不具有整个替换区域的一半以上的空余容量，则无法进行整个替换区域的复制从而无法进行再构筑处理。
这里记载的是“仅能在具有整个替换区域的一半以上的容量时进行再构筑处理”，但是，在记录再现装置侧具有能将进行再构筑的对象的全部数据一次储存的临时存储单元时，则不受这种限制，能够与替换区域的剩余量无关地进行再构筑。另外，记载了“记录再现装置的设计者规定的任意时机”，但是，根据来自与记录再现装置相连接的上级装置的主机的、以ATAPI等为代表的I/F规格所决定的指令在接受命令后进行也可以得到相同的效果。另外，实施这些再构筑处理的过程中，不能同时进行通常的记录再现处理，所以在再构筑处理中收到来自主机的通常的记录再现处理命令时，可以考虑到以下两种选择：立即将其中止，或者以错误应答进行反应并在主机侧等待记录再现的实施直至处理结束。
最后，在BD-RE中，作为表示用户数据区域的缺陷的DFL除了RAD和CRD外，还存在PBA(Possibly Bad Area)和NRD(Non-Re-allocatable Defect)。进行了PBA登记的簇，是因以前未进行缺陷处理等理由而在光盘上产生缺陷的可能性高的簇，进行了NRD登记的簇也表示因无法再现等理由而产生缺陷的可能性高、其数据没有在替换区域记录的簇。通常，在进行带校验的记录动作时记录失败的簇基本不作为PBA或NRD进行DFL登记，这些是在再现中或者格式化中进行登记的。因此，本实施例中，考虑带校验的记录动作中的动作时没有必要考虑PBA和NRD。但是，考虑在多次使用后的光盘中在用户数据区域中存在PBA和NRD登记的数据的情况。是否对PBA和NRD登记的簇进行记录，取决于记录再现装置的规范，只要是尝试对PBA和NRD登记的簇进行记录、结果在替换区域中记录替换数据的规范，由于PBA和NRD仅是作为RAD和CRD重新登记，所以对本实施例中说明的动作没有影响。但是，如果是不尝试向PBA和NRD记录的规范，则由于仍留有PBA和NRD，在CRD的起始地址和最终地址之间含有PBA和NRD的CRD登记无法进行。
以上，本发明中，将通过校验而正常再现的用户数据区域内的簇作为缺陷簇进行处理，通过扩大可进行CRD登记的范围来减少DFL登记数，避免了由于DFL登记达到极限值导致的光盘无法写入的问题。另外，抑制了降低再现时的存取性能低下，解决了本发明的课题。
另外，本实施例中以BD-RE SL为例对光盘进行说明。但是，不言而喻，无论单层、多层，都能得到相同的效果。
另外，在本实施例的第1实施例中，以可擦写型介质为例进行了说明，但是，追记型与可擦写型介质的差异仅在于对各种数据进行追记还是盖写，因此本发明也能在追记型介质中获得相同的效果。
另外，不言而喻，不受本实施例中说明的光盘的限制，只要是具有替换处理数据记录用区域、管理信息储存区域这一概念的记录介质，本发明都能使用，能够获得相同的效果。
以上，对本发明的几个实施方式进行了列举和说明，但是需要理解的是，对上述实施方式进行允许的变更和改进将不会脱离本发明的范围。因此，本发明并不局限于上述实施方式，所有落入所附权利要求书的范围内的变更和改进均将被本发明所覆盖。

Claims (21)

1.一种具有缺陷管理功能的记录再现装置，使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：
在缺陷管理处理中，
在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为连续重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
所述记录再现装置包括：
进行校验处理的校验单元，在所述校验处理中，对所记录的数据进行再现并对再现结果进行判断；
缺陷列表登记决定单元，根据来自所述校验单元的结果决定缺陷列表登记的种类；
管理信息储存单元，根据所述缺陷列表登记决定单元的结果向所述管理信息储存区域储存含有缺陷列表信息的管理信息；和
替换数据记录单元，根据所述缺陷列表登记决定单元的结果向所述替换区域记录替换数据，
所述缺陷列表登记决定单元，将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区进行处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分进行登记。
2.如权利要求1所述的记录再现装置，其特征在于：
在所述校验单元以规定的扇区数为单位进行校验处理的情况下，在第N次的校验处理和第N+1次的校验处理连续进行时，在第N次的校验处理单位中的含有最终记录扇区的2个以上的扇区连续被记录在所述替换区域的情况下，所述缺陷列表登记决定单元，将第N次的校验处理单位中的含有最终记录扇区的1个以上的不可再现扇区到第N+1次的校验处理单位中的至任意位置为止的不可再现扇区，作为1个不可再现扇区进行处理，将从第N次的校验处理单位中的已进行缺陷列表登记的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷扇区到第N+1次的校验处理单位中的不可再现扇区作为连续重新分配缺陷扇区进行登记，其中，N为自然数。
3.如权利要求2所述的记录再现装置，其特征在于：
所述缺陷列表登记决定单元，将第N+1次的校验处理单位中的再现正常的扇区的一部分或者全部作为缺陷扇区处理，进行缺陷列表登记。
4.一种具有缺陷管理功能的记录再现装置中的记录方法，所述记录再现装置使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：
在缺陷管理处理中，
在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为重新分配缺陷进行缺陷列表登记，在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为连续重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分进行登记。
5.如权利要求4所述的记录方法，其特征在于：
在以规定的扇区数为单位进行校验处理的情况下，在第N次的校验处理和第N+1次的校验处理连续进行时，在第N次的校验处理单位中的含有最终记录扇区的2个以上的扇区连续被记录在所述替换区域的情况下，将第N次的校验处理单位中的含有最终记录扇区的1个以上的不可再现扇区到第N+1次的校验处理单位中的至任意位置为止的不可再现扇区，作为1个不可再现扇区处理，将从第N次的校验处理单位中的已进行缺陷列表登记的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷扇区到第N+1次的校验处理单位中的不可再现扇区，作为连续重新分配缺陷扇区进行登记，其中，N为自然数。
6.如权利要求5所述的记录方法，其特征在于：
将所述第N+1次的校验处理单位中的再现正常的扇区的一部分或者全部作为缺陷扇区处理，进行缺陷列表登记。
7.一种具有缺陷管理功能的记录再现装置，使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：
在缺陷管理处理中，
在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为连续重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
所述记录再现装置包括：
缺陷列表及替换数据再构筑判定单元；
缺陷列表及替换数据再构筑单元；
管理信息储存单元，根据所述缺陷列表及替换数据再构筑单元的结果向所述管理信息储存区域储存含有缺陷列表信息的管理信息；和
替换数据记录单元，根据所述缺陷列表及替换数据再构筑单元的结果向所述替换区域记录替换数据，
根据所述缺陷列表及替换数据再构筑判定单元的判定结果、或者来自与所述记录再现装置连接的上级装置的命令，所述缺陷列表及替换数据再构筑单元，将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分登记在所述管理信息储存区域，将与再构筑后的缺陷列表合并的替换数据记录在所述替换区域。
8.如权利要求7所述的记录再现装置，其特征在于：
还包括对管理信息储存区域内具有的缺陷列表登记数进行确认的缺陷列表剩余量确认单元，和
对替换区域内能进行数据记录的剩余量进行确认的替换区域剩余量确认单元，
所述缺陷列表及替换数据再构筑单元，在所述缺陷列表剩余量确认单元判断为能进行登记的缺陷列表数达到极限数时、或者判断为能进行登记的缺陷列表数超过事先设定的一定登记数时，在所述替换区域剩余量确认单元能够判断为具有所述介质具有的替换区域的一半以上的空余容量的情况下，将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分登记在所述管理信息储存区域，将与再构筑后的缺陷列表合并的替换数据记录在所述替换区域。
9.如权利要求7所述的记录再现装置，其特征在于：
所述缺陷列表及替换数据再构筑单元，在进行与再构筑后的缺陷列表对应的替换数据的再构筑时，将所述替换区域的逻辑上未使用的区域作为临时保存所述替换数据用的工作区域使用。
10.如权利要求7所述的记录再现装置，其特征在于：
所述缺陷列表及替换数据再构筑单元，在所述记录再现装置的记录再现动作在一定时间内没有进行的情况下，将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分登记在所述管理信息储存区域，将与再构筑后的缺陷列表合并的替换数据记录在所述替换区域。
11.一种具有缺陷管理功能的记录再现装置中的记录方法，所述记录再现装置使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质，以规定的记录扇区为单位进行记录再现，其特征在于：
在替换源扇区为1个所述记录扇区时，作为重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
在替换源扇区为连续的所述记录扇区时，作为连续重新分配缺陷进行缺陷列表登记，
根据所述记录再现装置的自判断、或者来自与所述记录再现装置连接的上级装置的命令，将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区处理，与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分登记在所述管理信息储存区域，将与再构筑后的缺陷列表合并的替换数据记录在所述替换区域。
12.如权利要求11所述的记录方法，其特征在于：
所述记录再现装置的自判断基准为，在判断为能进行登记的缺陷列表数达到极限数时、或者判断为能进行登记的缺陷列表数超过事先设定的一定登记数时，能判断为具有所述介质具有的替换区域的一半以上的空余容量的情况。
13.如权利要求11所述的记录方法，其特征在于：
在进行与再构筑后的缺陷列表对应的替换数据的再构筑时，将所述替换领域的逻辑上未使用的区域作为临时保存所述替换数据用的工作区域使用。
14.如权利要求11所述的记录方法，其特征在于：
所述记录再现装置的自判断基准为，所述记录再现装置的记录再现动作在一定时间内没有进行的情况。
15.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求4所述的记录方法记录的介质进行再现。
16.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求5所述的记录方法记录的介质进行再现。
17.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求6所述的记录方法记录的介质进行再现。
18.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求11所述的记录方法记录的介质进行再现。
19.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求12所述的记录方法记录的介质进行再现。
20.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求13所述的记录方法记录的介质进行再现。
21.一种再现方法，其特征在于：
按照缺陷列表对以权利要求14所述的记录方法记录的介质进行再现。
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