CN101776673A - 一种参数检测方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种参数检测方法和装置，其中，所述方法包括：将获得的待检测参数的测量值与检测标准进行比较；当所述待检测参数的测量值不在所述检测标准范围内时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重新检测，并根据重新检测的检测值给出对当前待检测参数的判定结果，本发明实施例所提供的方法，通过质疑区间对位于检测标准边界的待检测参数进行至少一次的重新检测，并根据重新检测的测量值给出对当前待检测参数的判定结果，避免了因不稳定因素影响造成参数检测的不准确的问题，提高了参数检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及检测领域，尤其涉及一种参数检测方法和装置。
背景技术
在工业生产中，为了正确地指导生产操作，保证生产安全，保证产品质量和实现生产过程自动化，必须要准确而及时地检测出生产过程中各个有关参数。
生产过程参数的检测装置中检测环节直接对获取的被测量进行检测，或者将被测量转换成适于测量的信号对信号进行放大后再进行检测并给出检测结果或根据检测结果给出对某个参数的判决结果。
发明人通过对研究发现，实际应用中，参数的检测值很容易因环境等因素的影响而不准确，那么直接根据检测值获得的检测结果或者判决结果的准确性也会相应的受到影响。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种参数检测方法和装置，提高参数检测的准确性。
为实现上述目的，本发明实施例提供了如下技术方案：
一种参数检测方法，包括：
将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
当所述待检测参数的测量值不在所述第一检测标准范围内时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述第一检测标准确定；
对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
所述进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果包括：
对待检测参数进行至少一次重新测量；
将重新测量的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较，并根据比较结果给出对当前待检测参数的判定结果。
所述进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果包括：
确定第二检测标准；
将所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准进行比较，并根据比较结果给出对当前待检测参数的判定结果。
所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围。
所述质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
一种参数检测装置，包括：
第一比较单元，用于将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
判定单元，用于当所述待检测参数的测量值不在所述检测标准范围内时时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；
重检单元，用于对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
所述重检单元包括：
测量子单元，用于待检测参数进行至少一次重新测量；
第一比较子单元，用于将至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准进行比较；
第一判定子单元，用于根据至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
重检单元包括：
第二检测标准确定子单元，用于确定第二检测标准；
第二比较子单元，用于将所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准进行比较；
第二判定子单元，用于根据所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围。
所述质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
可见，在本发明实施例中，将获得的待检测参数的测量值与检测标准进行比较；当所述待检测参数的测量值不在所述检测标准范围内时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果，本发明实施例所提供的方法，提高了参数检测的准确性，提高了待检品的利用率。
附图说明
图1为本发明一实施例所提供的方法的流程图；
图2为本发明另一实施例所提供的方法的流程图；
图3为本发明一实施例所提供的装置的结构示意图；
图4为本发明一实施例所提供的一装置中一单元的结构示意图；
图5为本发明一实施例所提供的一装置中一单元的另一结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例公开了一种参数检测方法和装置，为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明作进一步详细说明。
参见图1，本发明一实施例所提供的方法包括：
S101，将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
上述检测标准可以是边界值为确定值的区间。例如当所述待检测参数为电压时，所述安全电压范围可能是10v-200v，当所述参数为压强时，所述安全压强范围可能是1帕-100帕。
可选地，上述检测标准的边界也可以是边界区间。仍然以电压为例，该检测标准的区间为A-B，其中，A为7v-13v，B为190v-210v。利用一个区间作为另一个区间的边界，可以将原来非常明确的边界模糊化，提高对位于边界附件的测量值的准确性。
S102，当所述待检测参数的测量值不在所述第一检测标准范围内时，判断所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；
可选地，所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围；或者，质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
仍然以上述电压为例，假设检测标准为10v-200v，假设第一阈值为检测标准的最大值上浮的20％，则质疑区间为200v-220v；相应的，假设第二阈值为检测标准的最小值下调20％，则质疑区间为8v-10v。
当然，在实际应用中可以同时根据检测标准在检测标准上下分别设置第一阈值范围和第二阈值范围。
S103，对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
从上面的分析可以知道，落入质疑区间的待检测参数的测量值与参数的标准值非常接近，如果直接根据现在的检测结果就给出该被检品不合格的结果则很可能会造成对合格品的误判，或者浪费了某些有用的被检品，而影响后续对被检品的判定或者使用。本发明实施例中，对落入质疑区间的待检测参数要进行至少一次重检。
本发明实施例中，重检包括对待检测参数进行至少一次重新测量；或者，结合第二检测标准对参数进行重新检测。
对待检测参数进行重新测量，具体进行几次重新测量可以根据实际情况具体设定，本发明对此不做限定，但是需要说明的是，需要根据重新测量的测量值给出对当前待检测参数的判定结果。
在本发明的一实施例中，可以预先为重新测量的待检测参数的合格率设置一个合格率阈值，例如重新测量了5次，将5个测量值分别与标准进行比较，获得这5个测量值的合格率，当5个判决值的合格率达到预设的合格率阈值(例如该合格率阈值为60％)时，认为该参数是合格的。
结合第二检测标准对参数进行重新检测，主要是判断待检测参数是否符合第二检测标准。该过程与检测该待检测参数是否符合第一检测标准的过程类似，两者的区别仅在于检测标准不同。
当待检测参数经第一检测标准检测进入质疑区间，则说明该待检测参数被检测的属性基本处于第一检测标准的边缘，那么结合该待检测参数的特点，为其提供一个第二检测标准，该第二检测标准可以根据第一检测标准确定，这样，相当于在第一检测标准的基础上对该待检测参数进行重复地检测，提高了检测流程的利用效率，提高了被检品的利用率。
本发明实施例所提供的方法，通过质疑区间对位于检测标准边界的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果，本发明实施例提供两种重检方法，分别为重新对待检测参数进行测量或者选择第二检测标准对待检测参数进行检测，避免测量误差，提高了测量的准确度，同时提高被检品利用率。
下面以化学工业中的钽粉分检测为例对本发明实施例所提供的方法进行进一步说明。
钽(Ta)是一种金属元素。可以用来制造蒸发器皿等，也可做电子管的电极、整流器、电解、电容。医疗上用来制成薄片或细线，缝补破坏的组织。可见，钽被广泛使用在各个领域中，是一种很重要的物质。
当钽用于不同的领域、不同的用途时，对其不同的参数会有不同的要求，因此，就需要能够根据钽粉的各个参数对钽粉进行准确的分类。一种应用场合中，钽粉的分类规则可以是品级+产地。例如，根据产品使用要求，钽粉可以分FTa-01、FTa-1、FTa-2、FTaNb-3等牌号，表1是一个钽粉的分类示例表。从表中可以看出，不同产地、不同等级的钽粉对应不同的标准名。
表1
| 品级 | 产地 | 标准名 |
| 一级 | 北京 | FTaNb-11 |
| 一级 | 上海 | FTaNb-12 |
| ....... | ....... | ....... |
| 二级 | 北京 | FTaNb-21 |
| 二级 | 上海 | FTaNb-22 |
| ....... | ....... | ....... |
表2
表2为本发明一实施例所提供的一种钽粉参数表，表的横向为钽粉的不同牌号，纵列表示每种钽粉中包含的杂质的种类，中间就是各个牌号的钽粉对各个杂质的指标，各个指标的单位为质量百分比。表2中给出了5个牌号的钽粉，每种牌号的钽粉对其中所包含的杂质的含量都有不同的指标，以钽粉中所包含的氧元素为例，牌号为FTa-01的钽粉，氧元素的含量为0.18(质量百分比)，牌号为FTa-1的钽粉，氧元素的含量为0.20(质量百分比)......，牌号为FTaNb-20的钽粉，氧元素的含量为0.30(质量百分比)。
检测钽粉时，如一批次钽粉从第一工序生产出来，将待检测参数的测量值与这批钽粉在第一工序的第一检测标准对比，若待检测参数的测量值在检测标准范围内，则判定这一批次被检测的钽粉为合格批次，可以进行第二工序加工生产。若待检测参数的测量值不在第一检测标准范围内，则进一步判断待检测参数是否落在了质疑区间，对落入了质疑区间的批次进行重检。
在钽工业领域，可以通过选择一个与第一检测标准同产地、同品级的第二检测标准对钽粉进行重新检测评判实现重检。若重新检测的结果符合第二检测标准范围的，则该批次判定为该第二检测标准下的合格批次否则，该批次钽粉被判定为不合格批次。
当然，实际应用中，针对第二检测标准，也可以设置质疑区间，如果该批次的钽粉经检测落入了第二检测标准的质疑区间，当然还可以根据实际需要利用第三检测标准对该批钽粉进行检测，具体与利用第一检测标准或者第二检测标准对该批钽粉进行进程的过程相同。实际上，本发明实施例通过设置第二或者第三检测检测标准对落入质疑区间的钽粉进行重检，是为了从更多层次上对该批钽粉进行利用，避免不必要的浪费。本发明实施例对重检的次数不做限定，可以根据实际情况进行控制。
进一步地，当某一批次的钽粉经过重新检测仍然为不合格的批次，进入不合格评审阶段，结合检测过程中的不合格项的提示，对该批次进行处理，包括可以作出让步放行、降级、转做其它用、转作废料或返工等。
参见图2，下面以检测钽粉的铌(Nb)参数的检测为例对本发明实施例所提供的方法进行详细的说明。
例如当前有一个批次的钽粉，产地为北京，品次为一级，检测标准大类为FTaNb，对应的第一检测标准即为FTaNb-3，下面利用本发明实施例所提供的检测方法对这批钽粉的Nb参数进行检测。该方法包括：
S201、检测这批钽粉的Nb参数的测量值，测量值为18(质量百分比)。
S202，将测量值18与FTaNb-3中Nb参数的标准范围(2.5-3.5)进行对比。
S203、对比发现18不在标准范围(2.5-3.5)的范围内。进一步判断测量值C是否落入Nb参数的质疑区间。
本发明实施例中，Nb参数的质疑区间为0-2.5或者3.5-无限大。
S204、确定测量值18进入Nb参数的质疑区间，将该测量值18与FTaNb-20中Nb参数的标准范围(17-23)进行对比。
S205、确定该测量值18符合FTaNb-20中Nb参数的标准。
本发明实施例中，以FTaNb-3中Nb参数的标准范围为第一检测标准，当该待检测参数落入FTaNb-3中Nb参数的质疑区间时，以FTaNb-20中Nb参数的标准范围作为第二检测标准对该待检测参数进行测量，确定该待检测参数符合FTaNb-20中Nb参数的标准。通过对落入质疑区间的待检品以第二检测标准进行重检，从更为广泛的范围考虑了待检品的应用可能，提高了待检品的利用率，有效地避免了对待检品的浪费。
参见图3，本发明实施例还提供一种参数检测装置，该装置包括：
第一比较单元301，用于将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
上述检测标准可以是边界值为确定值的区间；也可以是边界区间。
判定单元302，用于当所述待检测参数的测量值不在所述第一检测标准范围内时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；
可选地，所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围；或者，质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
当然，在实际应用中可以同时根据检测标准在检测标准上下分别设置第一阈值范围和第二阈值范围。
重检单元303，用于对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
进一步地，参见图4，所述重检单元303包括：
测量子单元401，用于待检测参数进行至少一次重新测量；
第一比较子单元402，用于将至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准进行比较；
第一判定子单元403，用于根据至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
或者，参见图5，所述重检单元303包括：
第二检测标准确定子单元501，用于确定第二检测标准；
第二比较子单元502，用于将所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准进行比较；
第二判定子单元503，用于根据所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
本发明实施例所提供的装置，通过质疑区间对位于检测标准边界的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果，避免了因不稳定因素影响造成参数检测的不准确的问题，同时还能够通过不同的检测标准对待检测参数进行考评，从而提高了参数检测的准确性和广泛性，提高了被检品的有效利用率。
本发明可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本发明，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种参数检测方法，其特征在于，包括：
将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
当所述待检测参数的测量值不在所述第一检测标准范围内时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述第一检测标准确定；
对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果包括：
对待检测参数进行至少一次重新测量；
将重新测量的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较，并根据比较结果给出对当前待检测参数的判定结果。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果包括：
确定第二检测标准；
将所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准进行比较，并根据比较结果给出对当前待检测参数的判定结果。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围。
5.根据权利要求所述方法，其特征在于，所述质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
6.一种参数检测装置，其特征在于，包括：
第一比较单元，用于将获得的待检测参数的测量值与第一检测标准进行比较；
判定单元，用于当所述待检测参数的测量值不在所述检测标准范围内时时，判定所述待检测参数的测量值是否落入质疑区间，所述质疑区间根据所述检测标准确定；
重检单元，用于对落入质疑区间的待检测参数进行至少一次的重检，并根据重检结果给出对当前待检测参数的判定结果。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述重检单元包括：
测量子单元，用于待检测参数进行至少一次重新测量；
第一比较子单元，用于将至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准进行比较；
第一判定子单元，用于根据至少一次重新测量的结果与所述第一检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，重检单元包括：
第二检测标准确定子单元，用于确定第二检测标准；
第二比较子单元，用于将所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准进行比较；
第二判定子单元，用于根据所述待检测参数的测量值与所述第二检测标准的比较结果给出所述待检测参数的判定结果。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述质疑区间根据所述检测标准的最大值上浮预设第一阈值范围。
10.根据权利要求所述装置，其特征在于，所述质疑区间为所述检测标准的最小值下调第二阈值范围。
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|---|---|---|---|---|
| CN103728419A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-16 | 北京雪迪龙科技股份有限公司 | 一种数据判断方法和装置 |
| CN107070742A (zh) * | 2017-03-14 | 2017-08-18 | 北京三快在线科技有限公司 | 业务服务器健康状态检查方法及系统 |
| CN108801935A (zh) * | 2018-04-19 | 2018-11-13 | 重庆国际复合材料股份有限公司 | 一种电子纱的检测方法、装置及介质 |
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2010
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| CN107070742B (zh) * | 2017-03-14 | 2020-05-08 | 北京三快在线科技有限公司 | 业务服务器健康状态检查方法及系统 |
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