CN101769984B - 存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具 - Google Patents

存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具，其特征是对独立的存储装置所属的发光二极管进行发光测试。在本发明中包括有测试工具与存储装置。测试工具中还包括有连接接口、处理单元与存储单元。存储单元用以存储测试程序与测试数据。处理单元用以执行测试程序，并且根据测试程序进行发送测试数据至存储装置。存储装置中至少包括有连接接口与发光二极管。处理单元用以执行测试程序，用以选择存储装置的端口并对端口发送测试数据，通过对存储装置的端口的存取，使得存储装置驱动发光二极管。

Description

存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具
技术领域
本发明涉及一种发光二极管的测试方法及其测试工具，特别是涉及一种对存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具。 
背景技术
随着信息的快速且大量的成长，使得存储装置的容量也逐步的加大及加快。为了能让使用者明显的辨认存储装置是否在存取中，一般而言会在存储装置上会设置有一发光二极管。当存储装置有数据被写入/读取时，存储装置会驱动发光二极管。在数据的写入过程中，发光二极管会根据写入的频率/时间影响其发光的频率与时间。 
对于生产厂商而言，为了测试存储装置的发光二极管的运作状态。需要对存储装置进行大量的数据存取，使得发光二极管持续的运作，测试人员才能判断是否正常。这样一来，存储装置的寿命势必受到损耗。因此，测试人员还提出利用基本输入/输出系统(Basic Input/Output System，BIOS)所提供的中断方法来对发光二极管进行测试。但是，这种测试方法有下列缺点：1.发光二极管会出现闪烁的现象，而且在不同测试环境下闪烁的亮度也有所不同。2.存储装置存取数据的方法也会对发光二极管的发光亮度产生影响。这是因为存储装置中的缓冲区会对读写数据进行保存。所以当缓冲区中的数据量不足时，发光二极管的发光量亦会受到影响。3.如果采用BIOS的中断方式，会因为BIOS目前不支持存储装置(如硬盘)的状况较多。即使支持，它上面的发光二极管所发出亮度也达不到目标亮度的要求。 
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种存储装置的发光二极管的测试方法，用于对存储装置的发光二极管进行压力测试。 
为了实现上述目的，本发明提供了一种存储装置的发光二极管的测试方 法，其特征在于，对独立的存储装置所属的一发光二极管进行发光测试，该测试方法包括以下步骤： 
将该存储装置连接于一测试工具，其具有一测试程序与多笔测试数据； 
初始该存储装置； 
执行一测试程序，用以对该存储装置的端口发送该些测试数据； 
通过对该存储装置的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管；以及 
根据该发光二极管的亮度与发光频率，判断该发光二极管的运作状态。 
所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。 
所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，执行该测试程序还包括以下步骤： 
从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口； 
提供不同文件大小的多笔测试数据；以及 
分别对该存储装置中的各扇区逐次载入该些测试数据。 
所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，该些端口为1f0h或170h。 
所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，执行该测试程序还包括以下步骤： 
从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口； 
从该周边装置中调用该些测试数据； 
再经过一预设时间后，调整该些测试数据的调用频率；以及 
根据该些测试数据的调用频率，调整该些测试数据的发送频率。 
从本发明的另一观点，本发明提出一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装置所属的发光二极管。 
为了实现上述目的，本发明还提供了一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装置所属的一发光二极管，其特征在于，该测试工具包括有： 
一连接接口，其用以连接于一存储装置的相应的一连接接口； 
一存储单元，其用以存储一测试程序与多笔测试数据；以及 
一处理单元，其电性连接于该连接接口与该存储单元，该处理单元用以执行该测试程序，用以选择该存储装置的一端口并对该端口发送该些测试数据，通过对该存储装置的该端口的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管。 
所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其122    处理单元 
所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其中，该些端口为1f0h或170h。 
本发明提供一种对存储装置的发光二极管的测试方法。在本发明中通过访问存储装置的端口，用以驱动发光二极管的发光。使得测试人员不需通过读写文件的方式，也可以驱动存储装置与其发光二极管运作。如此一来，除了可以降低存储装置的存取次数，亦可以达成测试存储装置的发光二极管的目的。 
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。 
附图说明
图1为本发明的架构示意图； 
图2为本发明的流程示意图； 
图3为另一测试程序的流程示意图。 
其中，附图标记： 
110    测试工具 
120    存储装置 
121    连接接口 
122    处理单元 
123    存储单元 
124    测试程序 
125    测试数据 
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案作进一步更详细的描述。 
本发明提供一种对独立的存储装置所属的发光二极管进行亮度的测试。除了对存储数据的写入进行测试外，还可以对发光二极管提供亮度与相应的测试。请参考图1所示，其为本发明的架构示意图。在本发明中包括有：测试工具110与存储装置120。测试工具110中还包括有连接接口121、处理单元122与存储单元123。 
存储单元123用以存储测试程序124与测试数据125。处理单元122用以执行测试程序124，并且根据测试程序124进行发送测试数据125至存储装置120。在本发明中所述的存储装置120可以是软式磁碟机、硬式磁碟机、闪存或光学存储装置等。在存储装置120中至少包括有连接接口121与发光二极管。其中，连接接口121提供与测试工具110相应的硬件连接接口121。举例来说，连接接口121可以是集成设备电路(Integrated Development Electronics，IDE)接口、串行高技术配置(Serial Advanced Technology Attachment，SATA)接口或万用串行总线(Universal Serial Bus，USB)接口。测试工具110通过连接接口121与存储装置120相连接。 
请参考图2所示，其为本发明的流程示意图。本发明所述的对存储装置120的发光二极管的测试方法包括以下步骤： 
首先，将存储装置连接于测试工具(步骤S210)。 
接着，再初始化存储装置(步骤S220)。此一步骤用以启动存储装置，藉以开始进行测试程序124。 
再由测试工具执行测试程序(步骤S230)。 
通过对存储装置的存取，使得存储装置驱动用以发光二极管(步骤S240)。 
根据发光二极管的亮度与发光频率，用以判断发光二极管的运作状态(步骤S250)。 
在载入测试程序124中除了可以对存储装置120大量的存取测试数据外，还可以利用下述不同的方式进行。首先，请参考图3所示，其为另一测试程序的流程示意图。 
从周边装置接口设置空间(PCI configure space)中选择相应的端口(步骤S311)。 
提供不同文件大小的多笔存储数据(步骤S312)。 
分别对存储装置中的各扇区逐次载入存储数据(步骤S313)。一般而言，根 据周边装置接口设置空间所提供的端口为1f0h或170h。当测试工具110通过上述的连接接口121传输测试数据125给存储设备时，会同时的通过上述端口产生相应的驱动信号。根据该些驱动信号用以驱动存储装置120所属的发光二极管发光。举例来说，假设所找到的classcode是1h，subclasscode是1h，4h，6h的配置空间。并从中获取目前系统中可以访问存储装置的端口编号(portnumber)。接着，再得到存储装置对应的端口编号后，开始对存储装置进行访问。访问存储装置的方法按照扇区进行，将扇区分为high，middle，low三种数据分别送入对应的端口编号中。然后，向端口下命令访问对应的扇区。例如，向端口下70h且命令就是对其进行seek访问。正是不间断的访问方式达到led持续亮的状态。 
更进一步，本发明可以利用不同写入时间对发光二极管进行闪烁的测试。举例来说，测试程序124中可以分别设定不同时间点或不同大小的测试数据125来对存储装置120进行存取的动作。因为持续的写入/读取的动作会使得发光二极管持续的发亮。并无法有效的看出发光二极管的闪烁。 
本发明提供一种对存储装置120的发光二极管的测试方法。在本发明中通过访问存储装置120的端口，用以驱动发光二极管。使得测试人员不需通过读写文件的方式，也可以驱动存储装置120与其发光二极管运作。如此一来，除了可以降低存储装置120的存取次数，亦可以达成测试存储装置120的发光二极管的目的。 
当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。 

Claims (8)

1.一种存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，对独立的存储装置所属的一发光二极管进行发光测试，该测试方法包括以下步骤：
将该存储装置连接于一测试工具，其具有一测试程序与多笔测试数据；
初始该存储装置；
执行一测试程序，用以对该存储装置的端口发送该些测试数据；
通过对该存储装置的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管；以及
根据该发光二极管的亮度与发光频率，判断该发光二极管的运作状态。
2.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。
3.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，执行该测试程序还包括以下步骤：
从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口；
提供不同文件大小的多笔测试数据；以及
分别对该存储装置中的各扇区逐次载入该些测试数据。
4.根据权利要求3所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，该些端口为1f0h或170h。
5.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，执行该测试程序还包括以下步骤：
从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口；
从该周边装置中调用该些测试数据；
再经过一预设时间后，调整该些测试数据的调用频率；以及
根据该些测试数据的调用频率，调整该些测试数据的发送频率。
6.一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装置所属的一发光二极管，其特征在于，该测试工具包括有：
一连接接口，其用以连接于一存储装置的相应的一连接接口；
一存储单元，其用以存储一测试程序与多笔测试数据；以及
一处理单元，其电性连接于该连接接口与该存储单元，该处理单元用以执行该测试程序，用以选择该存储装置的一端口并对该端口发送该些测试数据，通过对该存储装置的该端口的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管。
7.根据权利要求6所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其特征在于，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。
8.根据权利要求6所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其特征在于，该些端口为1f0h或170h。
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