CN101769942B - 电子元件翻转测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电子元件翻转测试装置及其测试方法。此电子元件翻转测试装置包含机座、枢接于此机座的载台、第一翻转机构、承载机构、以及第二翻转机构。第一翻转机构固接于上述机座，并连接至上述载台，用以提供上述载台进行第一旋向的运动，第二翻转机构则固接于上述载台，且连接至上述承载机构，用以提供上述承载机构相对于上述载台进行第二旋向的运动。此外本发明可设定不同的翻转角度与翻转速度，以进行电子元件的测试。

Description

电子元件翻转测试装置及测试方法

技术领域

本发明是关于一种电子元件测试装置及其测试方法，尤其指可以将电子元件翻转到不同角度以进行测试的测试装置及其测试方法。

背景技术

为了确保电子元件在使用时的品质、速率、稳定性及兼容性等相关问题，通常会于电子元件制造过程中及制造完成出厂之前，进行相关的电性测试。近几年来电子元件的使用场合逐渐从静态的设备扩展到动态使用的装置与设备，例如Wii、陀螺仪、平衡器、加速计等，但电子元件的现有测试设备，却仍停留在传统的静态电性测试，并未能仿真电子元件实际使用时的情境而进行电子元件的电性测试。由于电子元件在水平置放时、垂直置放、倾斜置放、静态或动态使用时的电性都可能有某种程度的差异，现有测试设备并未能针对此状况提供不同的测试，使得出厂的电子元件，在使用时常有不可预期的电性不良现象。

中国台湾新型专利第409949号揭露一种可将芯片翻转的机构，由一芯片翻面单元以将芯片翻面，进而将芯片主动面贴附在导线架或基板上的若干封装结构中。然而上述先前技术是用在芯片封装工艺，并非用在芯片封装完毕的后段测试设备中，亦无法设定芯片的翻转速度与角度，以仿真芯片实际使用情境，因此并无法提供将电子元件翻转到不同角度以进行测试的功能。

发明内容

因此，本发明的主要目的在于提供一种电子元件翻转测试装置，可针对电子元件设定不同的位置与角度，据此对电子元件进行相关测试。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件翻转测试装置，可以仿真电子元件在实际使用的动态情境，对电子元件进行电性测试。

为了解决上述先前技术不尽理想之处，本发明提供一种电子元件翻转测试装置，包含有机座、枢接于机座的载台、第一翻转机构、承载机构以及第二翻转机构。第一翻转机构固接于机座并连接至载台，用以提供载台进行第一旋向的运动。承载装置枢接于载台，具有测试承座与盖体，测试承座用以承载一电子元件，盖体则是固持承载的电子元件；测试承座同时具有测试接点或测试探针，用以测试电子元件的电性。第二翻转机构固接于载台且连接至承载机构，用以提供承载机构相对于载台进行第二旋向的运动。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件翻转测试方法，可针对电子元件设定不同的位置与角度，据此对电子元件进行相关测试。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件翻转测试方法，可以仿真电子元件在实际使用时的动态情境，对电子元件进行电性测试。

本发明进一步提供一种电子元件的翻转测试方法，包含以下步骤：

(1)提供一电子元件翻转测试装置，包含有机座、枢接于机座的载台、第一翻转机构、承载机构以及第二翻转机构。第一翻转机构固接于机座并连接至载台，用以提供载台进行第一旋向的运动。承载装置枢接于载台，具有测试承座与盖体，测试承座用以承载一电子元件，盖体则是固持承载的电子元件。第二翻转机构固接于载台且连接至承载机构，用以提供承载机构相对于载台进行第二旋向的运动；

(2)提供一电子元件，并将之固持于的测试承座，测试承座具有测试接点或测试探针，用以测试电子元件的电性；

(3)操作第一翻转机构，使此电子元件沿第一旋向被翻转至第一翻转角度；并操作第二翻转机构，使此电子元件沿第二旋向被翻转至第二翻转角度，其中，第一翻转角度与第二翻转角度是构成此电子元件的预设位置；以及

(4)进行此电子元件的测试。

附图说明

由于本发明是揭露一种电子元件的测试装置，其中所利用的电子元件测试原理，属于该领域具有专业知识的人士所能轻易理解的，故不再赘述。而下文中所对照的附图，是表达与本发明特征有关的结构示意，并未亦不需要依据实际尺寸完整绘制，其中：

图1A为一示意图，是根据本发明的第一较佳实施例，为一种电子元件翻转测试装置的结构。

图1B为一示意图，是根据本发明的第一较佳实施例，为第一翻转机构翻转至第一位置的结构。

图1C为一示意图，是根据本发明的第一较佳实施例，为第二翻转机构翻转至第二位置的结构。

图2为一流程图，是根据本发明的第二较佳实施例，为一种电子元件翻转测试方法的步骤。

图3为一流程图，是根据本发明的第三较佳实施例，为另一种电子元件翻转测试方法的步骤。

图4为一流程图，是根据本发明的第四较佳实施例，为另一种电子元件翻转测试方法的步骤。

具体实施方式

请参考图1A，是根据本发明第一较佳实施例，为一种电子元件翻转测试装置的示意图。此电子元件翻转测试装置包含有：机座12、枢接于此机座12的载台13、第一翻转机构14、承载机构15以及第二翻转机构17。其中第一翻转机构14是固接于机座12，并连接至载台13，用以提供载台13进行第一旋向A1的运动。承载机构15枢接于载台13，具有测试承座151与盖体152，其中，测试承座151是用以承载电子元件16，盖体152则用以固持已承载的电子元件16。而此电子元件16可以是半导体工艺、微机电工艺所制作的集成电路元件(IC)，亦可以是以传统的电阻、电感、电容等皆可。测试承座151包含有测试探针或测试接点(未图标)，用以接触电子元件16的电性接点，以进行电性测试。第二翻转机构17是固接于载台13，且连接至承载机构15，用以提供承载机构15相对于载台13进行第二旋向A2的运动。当操作电子元件翻转测试装置时，盖体152需覆盖在电子元件16的上，将电子元件16稳定固持，以进行后续的电子元件16的翻转与测试。电子元件翻转测试装置可进一步包含控制装置(图中未示)，可根据使用者输入的测试条件以控制第一翻转机构14与第二翻转机构17的作动，进而施行电子元件16的测试。上述实施例中，第一翻转机构14的第一旋向A1与第二翻转机构17的第二旋向A2的运动方向为不相同，且以两者的轴线X、Y互相垂直为较佳，因此，可由设定第一翻转机构14与第二翻转机构17翻转的角度，而使电子元件16翻转至不同的倾斜位置，例如，图1B所示，当第一翻转机构14沿第三旋向A3将承载机构15翻转至第一位置(轴线Z上)；接下来，图1C所示，第二翻转机构17可将承载机构15翻转至第二位置(轴线Z上进行第四旋向A4的运动方向)，电子元件16便可据此做三维空间的翻转。电子元件翻转测试装置并可进一步由控制装置(图中未示)以设定第一翻转机构14依第一翻转速度运动、第二翻转机构17依第二翻转速度运动。在较佳的实施状态中，第一翻转机构14与第二翻转机构17可各自包含伺服马达(serve motor)或步进马达(step motor)，以精确控制第一翻转机构14或第二翻转机构17的翻转角度与翻转速度。同时，第一翻转机构14与第二翻转机构17可以依序翻转，亦可以由控制装置的设定而同时翻转。

本发明进一步提供第二较佳实施例，请参考图2，为一种电子元件翻转测试方法，且为一种将电子元件翻转到特定角度与方位后进行静态测试的测试方法。其中所使用的电子元件翻转测试装置的元件编号如前述第一较佳实施例所述。此电子元件翻转测试方法包含以下步骤：

步骤21：提供一种电子元件翻转测试装置，其主要特征如前述第一实施例的电子元件翻转测试装置所述。

步骤22：提供一电子元件，固持于电子元件翻转测试装置的测试承座151，并将盖体152盖上，使待测电子元件16的电性接点与测试承座151的测试探针或测试接点能作电性接触。

步骤23：操作第一翻转机构14，使电子元件沿第一旋向A1被翻转至第一翻转角度；并操作第二翻转机构，使电子元件沿第二旋向A2被翻转至第二翻转角度。第一翻转角度与第二翻转角度构成具有特定角度与方位的第一预设位置，待测电子元件16是被翻转至此第一预设位置。

步骤24：在此第一预设位置进行电子元件的第一测试。

此实施例中，可进一步操作第一翻转机构14与第二翻转机构17，将电子元件16翻转至另一个特定角度与方位的第二预设位置，以进行电子元件16的第二测试。

本发明进一步提供第三较佳实施例，请参考图3为一流程图，是根据本发明的第三较佳实施例，为另一种电子元件翻转测试方法的步骤，且为一种将电子元件以特定轴向翻转并同时进行电性测试的动态测试方法。其中所使用的电子元件翻转测试装置的元件编号如前述第一较佳实施例所述。电子元件翻转测试方法包含以下步骤：

步骤31：提供一种电子元件翻转测试装置，其主要特征如前述第一较佳实施例的电子元件翻转测试装置所述。

步骤32：提供一电子元件，固持于电子元件翻转测试装置的测试承座151，并将盖体152盖上，使待测电子元件16的电性接点与测试承座151的测试探针或测试接点能作电性接触。

步骤33：以第一翻转速度操作第一翻转机构14沿第一旋向A1翻转，同时进行电子元件16的第一测试。

步骤34：以第二翻转速度操作第二翻转机构17沿第二旋向A2翻转，同时进行电子元件16的第二测试。

此实施例中，可进一步以第三翻转速度操作第一翻转机构14同时进行电子元件的第三测试、或以第四翻转速度操作第二翻转机构17同时进行电子元件的第四测试。

本发明进一步提供第四较佳实施例，请参考图4为一流程图，是根据本发明的第三较佳实施例，为另一种电子元件翻转测试方法的步骤，且为一种将电子元件以特定轴向翻转并同时进行电性测试的动态测试方法。其中所使用的电子元件翻转测试装置的元件编号如前述第一较佳实施例所述。电子元件翻转测试方法包含以下步骤：

步骤41：提供一种电子元件翻转测试装置，其主要特征如前述第一较佳实施例的电子元件翻转测试装置所述。

步骤42：提供一电子元件，固持于电子元件翻转测试装置的测试承座151，并将盖体152盖上，使待测电子元件16的电性接点与测试承座151的测试探针或测试接点能作电性接触。

步骤43：以第一翻转速度操作第一翻转机构14沿第一旋向A1翻转，同时以第二翻转速度操作第二翻转机构17沿第二旋向A2翻转，并同时进行电子元件16的测试。

以上，本发明已由各个较佳实施例及其相关图式而清楚载明。然而，熟习该项技术者当了解的是，本发明的各个实施例在此仅为例示性而非为限制性，亦即，在不脱离本发明实质精神及范围之内，上述所述及的各元件的变化例及修正例均为本发明所涵盖。缘此，本发明是由权利要求范围所加以界定。

Claims (10)

1.一种电子元件翻转测试装置，主要包含：

一机座；

一载台，枢接于该机座；

一承载机构，枢接于该载台，具有一测试承座与一盖体，该测试承座用以承载一电子元件，该盖体，用以固持已承载的电子元件；

其特征在于：

该电子元件翻转测试装置进一步包含一第一翻转机构以及一第二翻转机构，其中，该第一翻转机构固接于该机座，且连接至该载台，用以提供该载台进行第一旋向的运动，而该第二翻转机构固接于该载台，且连接至该承载机构，用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动。

2.依据权利要求1所述的电子元件翻转测试装置，其特征在于进一步包含一控制装置，用以控制该第一翻转机构与该第二翻转机构的作动，并操控电子元件的测试。

3.依据权利要求2所述的电子元件翻转测试装置，其特征在于，该第一旋向与该第二旋向的轴线是互相垂直，故该测试承座可由第一翻转机构与第二翻转机构进行三维空间的运动。

4.依据权利要求1所述的电子元件翻转测试装置，其特征在于，该第一翻转机构可沿第一旋向提供可操控与设定的第一翻转角度与第一翻转速度，且该第二翻转机构可沿第二旋向提供可操控与设定的第二翻转角度与第二翻转速度。

5.一种电子元件翻转测试方法，其特征在于包含以下步骤：

提供一电子元件翻转测试装置，包含有：

一机座；

一载台，枢接于该机座；

一第一翻转机构，固接于该机座，且连接至该载台，用以提供该载台进行第一旋向的运动；

一承载机构，枢接于该载台，具有一测试承座与一盖体，该测试承座用以承载一电子元件，该盖体，用以固持已承载的电子元件；以及

一第二翻转机构，固接于该载台，且连接至该承载机构，用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动，其中该第二旋向垂直于该第一旋向；

提供一电子元件，固持于该翻转测试装置的测试承座；

操作该第一翻转机构与第二翻转机构，使该电子元件被翻转至第一预设位置；以及

进行该电子元件的第一测试。

6.依据权利要求5所述的电子元件翻转测试方法，其特征在于，该第一预设位置由该第一翻转机构沿第一旋向提供的第一翻转角度与该第二翻转机构沿第二旋向提供的第二翻转角度所构成。

7.依据权利要求5所述的电子元件翻转测试方法，其特征在于进一步包含继续操作该第一翻转机构与第二翻转机构，使该电子元件被翻转至第二预设位置；以及

进行该电子元件的第二测试。

8.一种电子元件翻转测试方法，其特征在于包含以下步骤：

提供一电子元件翻转测试装置，包含有：

一机座；

一载台，枢接于该机座；

一第一翻转机构，固接于该机座，且连接至该载台，用以提供该载台进行第一旋向的运动；

一承载机构，枢接于该载台，具有一测试承座与一盖体，该测试承座用以承载一电子元件，该盖体，用以固持已承载的电子元件；以及

一第二翻转机构，固接于该载台，且连接至该承载机构，用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动，其中该第二旋向垂直于该第一旋向；

提供一电子元件，固持于该翻转测试装置的测试承座；

以第一翻转速度操作该第一翻转机构，同时进行该电子元件的第一测试；以及

以第二翻转速度操作该第二翻转机构，同时进行该电子元件的第二测试。

9.依据权利要求8所述的电子元件翻转测试方法，其特征在于进一步包含继续以第三翻转速度操作该第一翻转机构，同时进行该电子元件的第三测试。

10.一种电子元件翻转测试方法，其特征在于包含以下步骤：

提供一电子元件翻转测试装置，包含有：

一机座；

一载台，枢接于该机座；

一第一翻转机构，固接于该机座，且连接至该载台，用以提供该载台进行第一旋向的运动；

一承载机构，枢接于该载台，具有一测试承座与一盖体，该测试承座用以承载一电子元件，该盖体，用以固持已承载的电子元件；以及

一第二翻转机构，固接于该载台，且连接至该承载机构，用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动，其中该第二旋向垂直于该第一旋向；

提供一电子元件，固持于该翻转测试装置的测试承座；以及

以第一翻转速度操作该第一翻转机构，同时以第二翻转速度操作该第二翻转机构，并同时进行该电子元件的测试。

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