CN101706698A - 一种触摸感应扫描检测方法、系统及电容型触摸传感器 - Google Patents

一种触摸感应扫描检测方法、系统及电容型触摸传感器 Download PDF

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Abstract

本发明适用于触摸传感器领域，提供了一种触摸感应扫描检测方法、系统及电容型触摸传感器。在本发明中，首先检测出触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极，再通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对上述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的位置。这种检测方法不需要对电容型触摸传感器单元矩阵上的每个触摸传感器单元进行逐一检测，因此这种检测方法减少了采样数据，降低了运算工作量，达到了省时、省电的目的。

Description

一种触摸感应扫描检测方法、系统及电容型触摸传感器
技术领域
本发明属于触摸传感器领域，尤其涉及一种触摸感应扫描检测方法、系统及电容型触摸传感器。
背景技术
现有的基于行列矩阵式原理的触摸板和触摸屏技术已经广泛地用到了电容型触摸传感器。电容型触摸传感器包括设置在触摸板或触摸屏下表面的电容型触摸传感器单元矩阵，以及与电容型触摸传感器单元矩阵相连接的电极和控制装置。
在工作的过程中，控制装置对电容型触摸传感器单元矩阵的驱动电极进行驱动，再对电容型触摸传感器单元矩阵的感应电极进行检测扫描，检测电容型触摸传感器单元矩阵的反馈信号，当传感器的电容型触摸传感器单元矩阵未被触摸到时反馈信号基本不变，被触摸后反馈信号会发生变化，控制装置根据反馈信号的变化判断被触摸位置，继而发出相应的检测控制信号。
但是，现有的控制装置对电容型触摸传感器单元矩阵采取互耦方式检测时，以附图4的N×M电容型触摸传感器单元矩阵为例，控制装置需要对电容型触摸传感器单元矩阵上N×M个电容型触摸传感器单元进行逐一检测，这样每次检测的采样数据多，运算工作量大，而且也耗时、耗电。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种触摸感应扫描检测方法，旨在解决现在的互耦检测方法存在采样数据多、运算工作量大、耗时、耗电的问题。
本发明实施例是这样实现的，一种触摸感应扫描检测方法，所述方法包括如下步骤：
检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对所述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的具体位置。
本发明实施例的另一目的在于提供一种触摸感应扫描检测系统，所述系统包括：
感应电极检测单元，用于检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；以及
触摸位置检测单元，用于对驱动电极进行驱动，对所述触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描，确定触摸的具体位置。
本发明实施例的另一目的在于提供一种电容型触摸传感器，包括电容型触摸传感器单元矩阵、与所述电容型触摸传感器单元矩阵连接的控制装置，所述控制装置包括上述的触摸感应扫描检测系统。
在本发明实施例中，首先检测出触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极，再通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对上述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的位置.这种检测方法不需要对电容型触摸传感器单元矩阵上的每个电容型触摸传感器单元进行逐一检测，因此这种检测方法减少了采样数据，降低了运算工作量，达到了省时、省电的目的.
附图说明
图1是本发明实施例提供的触摸感应扫描检测方法的总流程图；
图2是本发明第一实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第二步骤的流程图；
图3是本发明第二实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第二步骤的流程图；
图4是本发明第二实施例提供的电容型触摸传感器单元矩阵的第一种结构图；
图5是本发明第二实施例提供的电容型触摸传感器单元矩阵的第二种结构图；
图6是本发明实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第三步骤的流程图；
图7是本发明实施例提供的触摸感应扫描检测系统的结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
图1示出了本发明实施例提供的实现触摸感应扫描检测方法，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
所述方法包括如下步骤：
在步骤S1中，通过扫描检测，确定电容型触摸传感器有被触摸；
确定电容型触摸传感器有被触摸才执行下面步骤，如果没有被触摸就直接结束检测。
在步骤S2中，检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
在步骤S3中，通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对上述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的具体位置。
图2是本发明第一实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第二步骤的具体流程，该步骤具体包括：
在步骤S201中，同时对m个驱动电极进行驱动，m为大于等于1，小于等于驱动电极个数的整数；
在步骤S202中，通过互耦检测，检测上述m个驱动电极所对应的感应电极上信号的变化；
在步骤S203中，判断是否已对所有驱动电极进行驱动，如果是，执行步骤S204；如果不是，则执行步骤S205；
在步骤S204中，检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
在步骤S205中，选择另外m个驱动电极，并执行步骤S201。
图3是本发明第二实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第二步骤的具体流程，该步骤具体包括：
在步骤S301中，对自耦检测驱动电极进行驱动；
在步骤S302中，通过自耦检测，检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
其中，步骤S301和步骤S302又可以分为两种情况：
图4是本发明第二实施例提供的电容型触摸传感器单元矩阵的第一种结构，下面结合图4对步骤S301和步骤S302的第一种情况进行说明：
第一种情况，将电容型触摸传感器单元矩阵的行(或列)线作为感应电极，既可以作为自耦检测的感应电极，又可以作为互耦检测的感应电极，并将与作为感应电极的行(或列)线对应的列(或行)线作为互耦的驱动电极，另外还有一个电极DX作为自耦检测的驱动电极。如图4所示，将电容型触摸传感器单元矩阵的列线S1-SM作为感应电极，行线D1-DN作为互耦的驱动电极，DX作为自耦检测的驱动电极。首先将行线D1-DN输出低，然后在DX端加驱动信号，通过自耦检测，检测出感应电极S1-SM中触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
图5是本发明第二实施例提供的电容型触摸传感器单元矩阵的第二种结构，下面结合图5对步骤S301和步骤S302的第二种情况进行说明：
第二种情况，将电容型触摸传感器单元矩阵的所有行线与列线作为感应电极，均既可以作为自耦检测的感应电极，又可以作为互耦检测的感应电极，电容型触摸传感器单元矩阵的所有行线或列线均又能作为互耦检测的驱动电极，另外还有一个电极DX作为自耦检测的驱动电极。如图5所示，将电容型触摸传感器单元矩阵的列线CS1-CSM作为感应电极，而将电容型触摸传感器单元矩阵的行线RS1-RSN既作为感应电极，又作为互耦驱动电极，首先在DX端加驱动信号，将行线RS1-RSN输出低，通过自耦检测，检测出感应电极CS1-CSM中被触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极，然后再将列线CS1-CSM输出低，通过自耦检测，检测出感应电极RS1-RSN中触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极。
通过上述处理，已经检测出行线RS1-RSN上触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极，所以在第三步处理时，互耦驱动电极不需要选择RS1-RSN上的所有电极，只需选择检测出的触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的那部分电极即可。
图6是本发明实施例提供的触摸感应扫描检测方法的第三步骤的具体流程，该步骤具体包括：
在步骤S401中，同时对n个驱动电极进行驱动，n为大于等于1，小于等于驱动电极个数的整数；
在步骤S402中，通过互耦方式，对触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描；
在步骤S403中，判断是否已对所有驱动电极进行驱动，如果是，执行步骤S404；如果不是，则执行步骤S405；
在步骤S404中，确定触摸的具体位置；
在步骤S405中，选择另外n个驱动电极，并执行步骤S401。
其中，n值越小，触摸位置的定位精度越高，当n值为1时，触摸位置的定位精度最高.
图7示出了本发明实施例提供的触摸感应扫描检测系统的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
触摸感应扫描检测系统包括感应电极检测单元51和触摸位置检测单元52。
感应电极检测单元51用于检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极。
触摸位置检测单元52用于对驱动电极进行驱动，对触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描，确定触摸的具体位置。
作为本发明一实施例，感应电极检测单元51包括：
驱动模块511，用于对驱动电极进行驱动；
检测模块512，用于检测出触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极。
触摸位置检测单元52包括：
驱动模块521，用于对驱动电极进行驱动；
检测模块522，用于对触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测，确定触摸的具体位置。
本发明实施例还提供一种电容型触摸传感器，包括电容型触摸传感器单元矩阵、与电容型触摸传感器单元矩阵电连接的控制装置，该控制装置包括上述的触摸感应扫描检测系统。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的步骤或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤，而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在本发明实施例中，首先检测出触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极，再通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对上述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的位置。这种检测方法不需要对电容型触摸传感器单元矩阵上的每个电容型触摸传感器单元进行逐一检测，因此这种检测方法减少了采样数据，降低了运算工作量，达到了省时、省电的目的。同时此发明实施例对应的检测方式为互耦或自耦与互耦的结合，所以它能够支持多指检测。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种触摸感应扫描检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；
通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对所述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的具体位置。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极的步骤之前还包括：
通过扫描检测，确定电容型触摸传感器有被触摸。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极的步骤具体为：
同时对m个驱动电极进行驱动，m为大于等于1，小于等于驱动电极个数的整数；
通过互耦检测，检测所述m个驱动电极所对应的感应电极上信号的变化；
判断是否已对所有驱动电极进行驱动，如果是，检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；如果不是，选择另外m个驱动电极，并同时对m个驱动电极进行驱动。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对所述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的具体位置的步骤具体为：
同时对n个驱动电极进行驱动，n为大于等于1，小于等于驱动电极个数的整数；
通过互耦方式，对所述触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描；
判断是否已对所有驱动电极进行驱动，如果是，确定触摸的具体位置；如果不是，选择另外n个驱动电极，并同时对n个驱动电极进行驱动。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极的步骤具体为：
对自耦检测驱动电极进行驱动；
通过自耦检测，检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过互耦方式，对驱动电极进行驱动，有针对性地对所述感应电极进行检测扫描，最后确定触摸的具体位置的步骤具体为：
同时对n个驱动电极进行驱动，n为大于等于1，小于等于驱动电极个数的整数；
通过互耦方式，对所述触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描；
判断是否已对所有驱动电极进行驱动，如果是，确定触摸的具体位置；如果不是，选择另外n个驱动电极，并同时对n个驱动电极进行驱动。
7.一种触摸感应扫描检测系统，其特征在于，所述系统包括：
感应电极检测单元，用于检测出所有触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极；以及
触摸位置检测单元，用于对驱动电极进行驱动，对所述触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测扫描，确定触摸的具体位置。
8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述感应电极检测单元包括：
驱动模块，用于对驱动电极进行驱动；以及
检测模块，用于检测出触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极。
9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述触摸位置检测单元包括：
驱动模块，用于对驱动电极进行驱动；以及
检测模块，用于对所述触摸位置所对应的电容型触摸传感器单元上的感应电极进行检测，确定触摸的具体位置。
10.一种电容型触摸传感器，包括电容型触摸传感器单元矩阵、与所述电容型触摸传感器单元矩阵电连接的控制装置，其特征在于，所述控制装置包括如权利要求7-9任一项所述的触摸感应扫描检测系统。
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Denomination of invention: A touch sensitive scanning detection method, system and capacitive touch sensor

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