CN101694507A - 一种专用媒体接口的测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明适用于网络设备生产测试技术领域，提供了一种专用媒体接口的测试方法及系统。其中方法包括：控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号；判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值；判断转换后的阻抗值是否大于第一预设值，如果是，输出开路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现开路，由于当专用媒体接口出现虚焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致开路发生，因而，当测试过程中输出开路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

Description

一种专用媒体接口的测试方法及系统

技术领域

本发明属于网络设备生产测试技术领域，尤其涉及一种专用媒体接口的测试方法及系统。

背景技术

目前带有专用媒体接口(Medium-dependant Interface，MDI)的交换机路由器等网络设备出厂前，需要对专用媒体接口中电路的焊接情况进行批量检测，以确保网络设备成品中专用媒体接口的性能。

现有技术可以通过激光测试方法实现对专用媒体接口中电路的焊接情况的检测。然而该种方法仅能检测到焊接表面可见的焊接不良，如漏焊等，其检测范围有限，不能检测到诸如虚焊、材料不良、器件损坏等其它不良。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种专用媒体接口的测试方法，旨在解决现有技术通过激光测试方法实现对专用媒体接口中电路的焊接情况的检测，不能检测到专用媒体接口的电路诸如虚焊、材料不良、器件损坏等其它不良的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种专用媒体接口的测试方法，所述方法包括以下步骤：

控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号；

判断是否接收到所述相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的所述反射信号转换成相应的阻抗值；

判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值，如果是，则输出开路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

在上述测试方法中，所述方法在判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值的步骤之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的所述阻抗值是否小于第二预设值，如果是，则输出短路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现短路；所述第二预设值小于第一预设值。

由于专用媒体接口出现连焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致短路的发生，因而，当测试过程中输出短路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

在上述测试方法中，所述方法在判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值的步骤之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的所述阻抗值是否在预存的阻抗值范围内，如果不是，则输出阻抗失配提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配。

由于专用媒体接口出现材料不良、生产工艺等问题时，可导致阻抗失配问题的发生，因而，当测试过程中输出阻抗失配提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

在上述测试方法中，当所述待测专用媒体接口有多个，且所述多个待测专用媒体接口均分别具有四个线对时，所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤具体为：控制向所述多个待测专用媒体接口中每一待测专用媒体接口的四个线对分别发送一个+1V的测试信号。

在上述测试方法中，所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤之前，所述方法还包括以下步骤：

接收测试启动信号；

所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤具体为：根据接收到的所述测试启动信号，控制向所述一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。

本发明实施例的另一目的在于提供一种专用媒体接口的测试系统，所述系统包括测试单元、测试控制单元、提示单元及用于存储第一预设值的存储单元，

所述测试单元用于向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号，并判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值；

所述测试控制单元用于控制所述测试单元向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号，并判断所述测试单元转换后的所述阻抗值是否大于所述存储单元存储的第一预设值；

所述提示单元用于当所述测试控制单元判断转换后的所述阻抗值大于所述存储单元存储的第一预设值时，输出开路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

在上述测试系统中，所述测试控制单元具体包括：

测试控制模块，用于控制所述测试单元向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号；

第一判断模块，用于判断所述测试单元转换后的所述阻抗值是否大于所述存储单元存储的第一预设值；

所述提示单元用于当所述第一判断单元判断所述阻抗值大于所述存储单元存储的第一预设值时，输出开路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

在上述测试系统中，所述存储单元还用于存储第二预设值，所述第二预设值小于第一预设值，所述测试控制单元还包括：

第二判断模块，用于判断所述测试单元转换后的阻抗值是否小于所述存储单元存储的第二预设值，如果是，则由所述提示单元输出短路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现短路。

由于专用媒体接口出现连焊或材料不良等问题时，均可导致短路的发生，因而，当测试过程中提示单元输出短路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

在上述测试系统中，所述存储单元还用于预存阻抗值范围，所述测试控制单元还包括：

第三判断单元，用于判断所述测试单元转换后的阻抗值是否在所述存储单元预存的阻抗值范围内，如果不是，则由所述提示单元输出阻抗失配提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配。

由于专用媒体接口出现材料不良等问题时，可导致阻抗失配问题的发生，因而，当测试过程中提示单元输出阻抗失配提示信号时，即提示专用媒体接口出现材料不良等问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

在上述测试系统中，所述测试单元为一时域反射计芯片。

本发明实施例通过向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发送测试信号，并在接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号后，将反射信号转换成相应的阻抗值，当判断该阻抗值大于第一预设值时，输出开路提示信号，由于当专用媒体接口出现虚焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致开路发生，因而，当测试过程中输出开路提示信号时，即提示专用媒体接口出现不良的问题，扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

附图说明

图1是本发明实施例提供的专用媒体接口的测试方法的步骤流程图；

图2是本发明实施例提供的专用媒体接口的测试系统的结构原理图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例通过向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发送测试信号，并在接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号后，将反射信号转换成相应的阻抗值，当判断该阻抗值大于第一预设值时，输出开路提示信号。

图1示出了本发明实施例提供的专用媒体接口的测试方法的步骤流程。

在步骤S101中，控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。

本发明实施例中，待测专用媒体接口有多个，且该多个待测专用媒体接口均分别具有四个线对，此时步骤S101具体为：控制向多个待测专用媒体接口中每一待测专用媒体接口的四个线对分别发送一个+1V的测试信号，实现了对专用媒体接口的批量测试。

在步骤S101之前还可以包括以下步骤：接收测试启动信号。则此时，步骤S101具体为：根据接收到的测试启动信号，控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。其中的测试启动信号在具体实现时，可以是由用户通过手动开关输入的信号或待测专用媒体接口与测试设备连接时的自动连接信号。即是说，既可以在接收到用户输入的信号后开始发出测试信号，也可以在专用媒体接口与测试设备连接后发出测试信号。

在步骤S102中，判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，是则将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值，否则不动作。其中，将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值的步骤具体为：根据接收到的反射信号的不同电压值，将该反射信号转换成与不同电压值分别相应的阻抗值。

在步骤S103中，判断转换后的阻抗值是否大于第一预设值，是则输出开路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现开路，否则输出提示没有出现开路的信号或者不动作。

由于当专用媒体接口出现虚焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致开路发生，因而，当测试过程中输出开路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

本发明实施例中，在步骤S103之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的阻抗值是否小于第二预设值，是则输出短路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现短路，否则输出提示没有出现短路的信号或者不动作。其中的第二预设值小于第一预设值。

由于专用媒体接口出现连焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致短路的发生，因而，当测试过程中输出短路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

本发明实施例中，在步骤S103之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的阻抗值是否在预存的阻抗值范围内，否则输出阻抗失配提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配，是则输出提示没有出现阻抗失配的信号或者不动作。

由于专用媒体接口出现材料不良、生产工艺等问题时，可导致阻抗失配问题的发生，因而，当测试过程中输出阻抗失配提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

另外，在输出各种测试结果信号的同时，还可以输出测试过程中所得到或调用的各种数据，如阻抗值，第一预设值、第二预设值或预设的阻抗值范围等，以提供测试人员更详尽的测试数据。

图2示出了本发明实施例提供的专用媒体接口的测试系统的结构原理，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

存储单元14用于存储第一预设值。测试控制单元12用于控制测试单元13向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号，测试单元13判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值，如果不是，则不动作。具体的，测试单元13是根据接收到的反射信号的不同电压值，将该反射信号转换成与不同电压值分别相应的阻抗值。测试控制单元12判断测试单元13转换后的阻抗值是否大于存储单元存储的第一预设值，当测试控制单元12判断测试单元13转换后的阻抗值大于存储单元14存储的第一预设值时，由提示单元15输出开路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

具体地，测试控制单元12中的测试控制模块121用于控制测试单元13向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。本发明实施例中，待测专用媒体接口有多个，且该多个待测专用媒体接口均分别具有四个线对，测试控制模块121具体地用于控制测试单元13向多个待测专用媒体接口中每一待测专用媒体接口的四个线对分别发送一个+1V的测试信号，实现了对专用媒体接口的批量测试。

另外，本发明实施例提供的专用媒体接口的测试系统还可以包括信号接收单元11，用于接收测试启动信号，测试控制模块121具体是根据信号接收单元11接收到的测试启动信号，控制测试单元13向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。其中，信号接收单元11接收到的测试启动信号可以是由用户通过手动开关输入的信号或待测专用媒体接口与测试单元13连接时的自动连接信号。当信号接收单元11接收到的测试启动信号是待测专用媒体接口与测试单元13连接时的自动连接信号时，信号接收单元11具体是检测待测专用媒体接口与测试单元13的连接状态，当有待测专用媒体接口与测试单元13连接时，向测试控制模块121发出测试启动信号。

测试控制单元12中的第一判断模块122用于判断测试单元13转换后的阻抗值是否大于存储单元14存储的第一预设值，如果是，则由提示单元15输出开路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现开路，否则输出提示没有出现开路的信号或者不动作。

由于当专用媒体接口出现虚焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致开路发生，因而，当测试过程中提示单元15输出开路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

存储单元14还用于存储第二预设值，测试控制单元12中的第二判断单元123用于判断测试单元13转换后的阻抗值是否小于存储单元14存储的第二预设值，是则由提示单元15输出短路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现短路，否则由提示单元15输出提示没有出现短路的信号或者不动作，其中的第二预设值小于第一预设值。

由于专用媒体接口出现连焊或材料不良等问题时，均可导致短路的发生，因而，当测试过程中提示单元15输出短路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

存储单元14还用于存储预存的阻抗值范围，测试控制单元12中的第三判断单元124还用于判断测试单元13转换后的阻抗值是否在存储单元14存储的预存的阻抗值范围内，否则由提示单元15输出阻抗失配提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配，是则由提示单元15输出提示没有出现阻抗失配的信号或者不动作。

由于专用媒体接口出现材料不良等问题时，可导致阻抗失配问题的发生，因而，当测试过程中提示单元15输出阻抗失配提示信号时，即提示专用媒体接口出现材料不良等问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

提示单元15还可以在输出各种测试结果信号的同时，输出测试过程中所得到或调用的各种数据，如阻抗值，第一预设值、第二预设值或预设的阻抗值范围等，以提供测试人员更详尽的测试数据，且提示单元15具体可以为一输出单元。

在具体实现时，测试控制模块121、第一判断模块122、第二判断单元123以及第三判断单元124可以是内置于一CPU中的硬件单元、软件单元或软硬件结合单元，测试单元13可以采用一时域反射计(Time Domain Reflectometer，TDR)芯片，该时域反射计芯片是通过RJ45接口与一个或多个待测专用媒体接口实现连接。

另外，当该时域反射计芯片通过RJ45接口与一个或多个待测专用媒体接口实现连接时，由于现有的RJ45接口公头和母座之间具有MDI和MDIX(MediaDependent Interface-x Mode)两种接线模式，因此，本发明实施例中，信号接收单元11还用于接收测试模式选择信号，测试控制模块121还用于根据信号接收单元11接收到的测试模式选择信号，控制时域反射计芯片通过与时域反射计芯片连接的RJ45接口引脚，向与测试模式选择信号相应的与待测专用媒体接口连接的RJ45引脚发出测试信号。

本发明实施例通过向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发送测试信号，并在接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号后，将反射信号转换成相应的阻抗值，当判断该阻抗值大于第一预设值时，输出开路提示信号，由于当专用媒体接口出现虚焊、材料不良、器件损坏等问题时，均可导致开路发生，因而，当测试过程中输出开路提示信号时，即提示专用媒体接口出现问题，扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围；再有，当判断该阻抗值小于第二预设值时，输出短路提示信号，即提示专用媒体接口出现的问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围；再有，当判断该阻抗值不在预存的阻抗值范围内时，输出阻抗失配提示信号，即提示专用媒体接口出现问题，进一步扩大了对专用媒体接口缺陷的测试范围。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来控制相关的硬件完成，所述的程序可以在存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘、光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种专用媒体接口的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号；

判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的所述反射信号转换成相应的阻抗值；

判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值，如果是，则输出开路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述方法在判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值的步骤之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的所述阻抗值是否小于第二预设值，如果是，则输出短路提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现短路；所述第二预设值小于第一预设值。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述方法在判断转换后的所述阻抗值是否大于第一预设值的步骤之前、之后或同时还可以包括以下步骤：判断转换后的所述阻抗值是否在预存的阻抗值范围内，如果不是，则输出阻抗失配提示信号，以提示相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配。

4.如权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，当所述待测专用媒体接口有多个，且所述多个待测专用媒体接口均分别具有四个线对时，所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤具体为：控制向所述多个待测专用媒体接口中每一待测专用媒体接口的四个线对分别发送一个+1V的测试信号。

5.如权利要求1、2或3所述的测试方法，其特征在于，所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤之前，所述方法还包括以下步骤：

接收测试启动信号；

所述控制向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号的步骤具体为：根据接收到的所述测试启动信号，控制向所述一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号。

6.一种专用媒体接口的测试系统，其特征在于，所述系统包括测试单元、测试控制单元、提示单元及用于存储第一预设值的存储单元，

所述测试单元用于向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号，并判断是否接收到相应的待测专用媒体接口的反射信号，如果是，则将接收到的反射信号转换成相应的阻抗值；

所述测试控制单元用于控制所述测试单元向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号，并判断所述测试单元转换后的所述阻抗值是否大于所述存储单元存储的第一预设值；

所述提示单元用于当所述测试控制单元判断转换后的所述阻抗值大于所述存储单元存储的第一预设值时，输出开路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试控制单元具体包括：

测试控制模块，用于控制所述测试单元向一个或多个待测专用媒体接口的至少一个线对发出测试信号；

第一判断模块，用于判断所述测试单元转换后的所述阻抗值是否大于所述存储单元存储的第一预设值；

所述提示单元用于当所述第一判断单元判断所述阻抗值大于所述存储单元存储的第一预设值时，输出开路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现开路。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述存储单元还用于存储第二预设值，所述第二预设值小于第一预设值，所述测试控制单元还包括：

第二判断模块，用于判断所述测试单元转换后的阻抗值是否小于所述存储单元存储的第二预设值，如果是，则由所述提示单元输出短路提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现短路。

9.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述存储单元还用于预存阻抗值范围，所述测试控制单元还包括：

第三判断单元，用于判断所述测试单元转换后的阻抗值是否在所述存储单元预存的阻抗值范围内，如果不是，则由所述提示单元输出阻抗失配提示信号，以提示所述相应的待测专用媒体接口的电路出现阻抗失配。

10.如权利要求6至9任一项所述的测试系统，其特征在于，所述测试单元为一时域反射计芯片。

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