CN101685415A - 测试装置及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测试装置及测试方法，其中，测试装置设于待测机台内以获得待测机台的开机状况，且所述测试装置包括侦测模块、存储模块、计数模块及控制模块。所述测试方法通过所述测试装置达成并包括以下步骤：侦测模块侦测所述待测机台是否进入WINDOWS工作状态；当侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，存储模块存储当前时刻，且计数模块在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；侦测模块侦测所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；当侦测模块侦测到待测机台进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块执行自动关闭待测机台的操作。本发明可将开机成功的时刻记录下来，以方便测试人员检查测试结果。

Description

测试装置及测试方法
【技术领域】
本发明是一种测试装置及测试方法，特别是一种方便检查测试结果的测试装置及测试方法。
【背景技术】
电子产品(如电脑)的测试项目中常包括Power Cycling/Looping测试，现有Power Cycling测试通过以下方式实现。将待测电子产品与自动供电设备、及外存储器(如U盘、光盘等装置，其内设有计数器)相连接，其中，自动供电设备用以对待测电子产品进行反复多次供断电；而外存储器内的计数器用以对待测电子产品在反复供断电过程中，实现成功开机的情况进行累计计数。
具体方式如下：自动供电设备对待测电子产品进行供电，待测电子产品接通电力后便执行开机操作，并启动到DOS工作状态下，成功启动一次，计数器便计数一次，一段时间后，自动供电设备对待测电子产品进行断电，便完成一次测试，然后，重复以上过程若干次，以完成测试要求，测试人员可根据计数器的计数结果判断待测电子产品的开机功能。举例来讲，若自动供电设备对待测电子产品进行1000次的供断电操作，计数器的最终结果为850，则表明在1000次开机测试中，共有150次开机失败。
由于计数器所提供的计数结果为累计结果，测试人员无法从计数器的测试结果中检查出现开机失败的测试(即无法得知是第几次的测试中出现的开机失败)。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种方便检查测试结果的测试装置及测试方法。
为达上述目的，本发明提供一种测试装置，其设于待测机台内以获得所述待测机台的开机状况，其中所述待测机台连接自动供电设备，所述自动供电设备对待测机台进行反复供断电，且所述待测机台在接受电力后执行自动开机操作；且所述测试装置包括侦测模块，所述侦测模块用以侦测所述待测机台是否进入WINDOWS工作状态及侦测所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；所述侦测模块连接存储模块、计数模块及控制模块，且在侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，所述存储模块存储当前时刻，而所述计数模块在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；且在侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块执行自动关闭待测机台的操作。
本发明还提供一种测试方法，其通过测试装置所达成，所述测试装置设于待测机台内以获得所述待测机台的开机状况，其中所述待测机台连接自动供电设备，所述自动供电设备对待测机台进行反复供断电，且所述待测机台在接受电力后执行自动开机操作，且所述测试装置包括侦测模块、存储模块、计数模块及控制模块；且所述测试方法包括以下步骤：侦测模块侦测所述待测机台是否进入WINDOWS工作状态；当侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，所述存储模块存储当前时刻，且所述计数模块在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；侦测模块侦测所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；当侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块执行自动关闭待测机台的操作。
与现有技术相比较，本发明可将开机成功(进入WINDOWS工作状态)的时刻记录下来，测试人员可根据缺失的记录以检查并判断开机失败的具体情况(即开机失败出现在第几个供断电过程中)。
【附图说明】
图1为本发明测试装置的原理方框图。
图2为本发明测试方法的流程图。
【具体实施方式】
请参阅1所示，本发明测试装置30设于待测机台10内以获得所述待测机台10的开机状况，其中所述待测机台10连接自动供电设备20，所述自动供电设备20对待测机台10进行反复供断电，即……供电(时间10:00)->断电(时间10:03)-＞供电(时间10:06)-＞断电(时间10:09)……，相邻的供电及断电之间构成一个供断电区间(如10:00～10:03，10:06～10:09)，且所述待测机台10在接受电力后执行自动开机操作；且所述测试装置30包括侦测模块31，所述侦测模块31用以侦测所述待测机台10是否进入WINDOWS工作状态及侦测所述待测机台10进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；所述侦测模块31连接存储模块32、计数模块33及控制模块34，且在侦测模块31侦测到所述待测机台10进入WINDOWS工作状态后，所述存储模块32存储当前时刻，而所述计数模块33在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；且在侦测模块31侦测到所述待测机台10进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块34执行自动关闭待测机台10的操作。
请结合参阅图1及图2所示，本发明测试方法通过图1的测试装置所达成，且所述测试方法包括以下步骤：
步骤201：侦测模块31侦测所述待测机台10是否进入WINDOWS工作状态；若是，则执行步骤202；反之，则继续执行步骤201；
步骤202：所述存储模块32存储当前时刻，且所述计数模块33在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；
步骤203：侦测模块31侦测所述待测机台10进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；若是，则执行步骤204；若否，则继续执行步骤203；
步骤204：所述控制模块34执行自动关闭待测机台10的操作；
步骤205：侦测模块31侦测待测机台10的测试是否达到预定测试次数，若是，则结束流程；若否，则返回步骤201。
例如，若自动供电设备20对待测机台10进行1000次供断电操作，计数模块33的计数结果为1000，则表明待测机台10的开机性能良好。若自动供电设备20对待测机台10进行1000次供断电操作，计数模块33的计数结果为960，并在所有供断电过程中，有40个供断电区间(如10:06～10:09等)内，存储模块32内无记录，则表明在这40次供断电测试过程中，待测机台10的开机失败。本发明可将开机成功(进入WINDOWS工作状态)的时刻记录下来，测试人员可根据缺失的记录并结合自动供电设备20的供断电区间，便可检查并判断开机失败的具体情况(即开机失败出现在第几个供断电区间中)。

Claims (2)

1.一种测试装置，应用于待测机台内以获得所述待测机台的开机状况，其中所述待测机台连接自动供电设备，所述自动供电设备对待测机台进行反复供断电，且所述待测机台在接受电力后执行自动开机操作；其特征在于所述测试装置设于所述待测机台内并包括：
侦测模块，其用以侦测所述待测机台是否进入WINDOWS工作状态及侦测所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；
存储模块，其连接所述侦测模块，且在侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，所述存储模块存储当前时刻；
计数模块，其连接侦测模块，且在侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，所述计数模块在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；
控制模块，其连接所述侦测模块，且在侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块执行自动关闭待测机台的操作。
2.一种测试方法，其通过测试装置所达成，所述测试装置应用于待测机台内以获得所述待测机台的开机状况，其中所述待测机台连接自动供电设备，所述自动供电设备对待测机台进行反复供断电，且所述待测机台在接受电力后执行自动开机操作，且所述测试装置设于待测机台内并包括侦测模块、存储模块、计数模块及控制模块；其特征在于所述测试方法包括以下步骤：
侦测模块侦测所述待测机台是否进入WINDOWS工作状态；
当侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态后，所述存储模块存储当前时刻，且所述计数模块在原计数结果的基础上累加1，以取得当前计数结果；
侦测模块侦测所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间是否达到预定时间；
当侦测模块侦测到所述待测机台进入WINDOWS工作状态的时间达到预定时间后，所述控制模块执行自动关闭待测机台的操作。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103106128A (zh) * 2011-11-14 2013-05-15 英业达科技有限公司 冷启动开关机测试方法及冷启动开关机测试系统
CN104834578A (zh) * 2015-04-29 2015-08-12 深圳市立尔讯科技有限公司 来电开机功能的测试方法及系统
CN104881341A (zh) * 2015-06-16 2015-09-02 深圳市金泰克半导体有限公司 一种服务器、计算机硬盘的测试方法及其测试系统
CN106292557A (zh) * 2015-05-22 2017-01-04 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种控制机台自动测机的时间间隔约束方法
CN108132074A (zh) * 2017-11-10 2018-06-08 长沙格力暖通制冷设备有限公司 一种熵检测试计时装置、方法、存储介质及熵检测试台站

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1241118C (zh) * 2002-09-20 2006-02-08 联想(北京)有限公司 实现自动开关机测试的系统及方法
CN1315052C (zh) * 2002-12-30 2007-05-09 神达电脑股份有限公司 一种计算机的开关机测试方法
CN1834939A (zh) * 2005-03-14 2006-09-20 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 存取产品测试记录文件的操作系统
CN1916863A (zh) * 2005-08-19 2007-02-21 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 测试装置及方法
CN1979438A (zh) * 2005-12-09 2007-06-13 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 计算机主板开关机测试系统及方法
CN201107362Y (zh) * 2007-09-28 2008-08-27 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 自动控制开关机测试装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103106128A (zh) * 2011-11-14 2013-05-15 英业达科技有限公司 冷启动开关机测试方法及冷启动开关机测试系统
CN104834578A (zh) * 2015-04-29 2015-08-12 深圳市立尔讯科技有限公司 来电开机功能的测试方法及系统
CN106292557A (zh) * 2015-05-22 2017-01-04 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种控制机台自动测机的时间间隔约束方法
CN106292557B (zh) * 2015-05-22 2018-10-19 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种控制机台自动测机的时间间隔约束方法
CN104881341A (zh) * 2015-06-16 2015-09-02 深圳市金泰克半导体有限公司 一种服务器、计算机硬盘的测试方法及其测试系统
CN104881341B (zh) * 2015-06-16 2019-03-05 深圳市金泰克半导体有限公司 一种服务器、计算机硬盘的测试方法及其测试系统
CN108132074A (zh) * 2017-11-10 2018-06-08 长沙格力暖通制冷设备有限公司 一种熵检测试计时装置、方法、存储介质及熵检测试台站

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