CN101650681B - 多硬盘led灯测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种多硬盘LED灯测试方法包括步骤：获取正常连接到计算机上的硬盘数量；调用计算机操作系统中的API函数来创建一个主线程；通过该主线程的线程函数为每一个硬盘分别创建一个对应的子线程；通过每一个子线程与其对应的硬盘进行数据交互来驱动每一个硬盘上的LED灯；检测每一个硬盘上的LED灯状态；若硬盘上的LED灯处于点亮状态，则提示该硬盘上的LED灯符合标准；若硬盘上的LED灯处于熄灭状态，则警示该硬盘上的LED灯不符合标准；根据每一个硬盘上的LED灯的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告。实施本发明，能够快速地测试大批量硬盘LED灯的良好性，提高测试的覆盖面，节约测试时间及测试成本。

Description

多硬盘LED灯测试系统及方法
技术领域
本发明涉及测试硬盘指示灯的系统及方法，特别是关于一种测试多硬盘LED灯的系统及方法。
背景技术
硬盘活动指示灯(Hard Drive Activity LED，以下简称“硬盘LED”)是判断硬盘和操作系统进行数据交互与否的一个重要提示，因此，计算机生产厂商有必要在组装计算机系统之后需对硬盘LED进行测试。
目前，计算机生产厂商利用测试系统测试硬盘LED时，只能测试到当前操作系统所在的硬盘对应的LED灯。然而，在测试系统以外的其它硬盘有可能是没有进行分区的空硬盘，当操作系统启动后不会与空硬盘发生数据交换。因此，空硬盘的LED灯可能没有被测试到，从而会造成硬盘LED灯良好性测试的疏漏。若要对空硬盘进行数据交互，则需要先将硬盘进行格式化等动作。这种测试方案加重了整个测试流程的复杂性，并且增加了测试时间以及测试成本。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种多硬盘LED灯测试系统，能够快速简易地测试大批量硬盘LED灯的良好性，提高了测试的覆盖面，节约了测试时间以及测试成本。
此外，还有必要提供一种多硬盘LED灯测试方法，能够快速简易地测试大批量硬盘LED灯的良好性，提高了测试的覆盖面，节约了测试时间以及测试成本。
一种多硬盘LED灯测试系统，安装并运行于计算机的操作系统中，该计算机连接有多个硬盘。该系统包括：硬盘侦测模块，用于侦测每一个硬盘是否正常连接到计算机上，并获取连接到计算机上的硬盘数量；线程创建模块，用于通过调用操作系统中的API函数来创建一个主线程，并通过该主线程的线程函数为每一个正常连接到计算机上的硬盘分别创建一个对应的子线程；LED灯驱动模块，用于通过每一个子线程与其对应的硬盘进行数据交互来分别驱动每一个硬盘上的LED灯；LED灯状态检测模块，用于检测每个硬盘上的LED灯状态，根据该LED灯状态判断硬盘上的LED灯是否通过测试，并产生每一个硬盘上LED灯的测试结果。
一种多硬盘LED灯测试方法，用于测试连接到计算机上的多个硬盘LED的灯良好性。该方法包括如下步骤：获取正常连接到计算机上的硬盘数量；调用计算机的操作系统中的API函数来创建一个主线程；通过该主线程的线程函数为每一个正常连接到计算机上的硬盘分别创建一个对应的子线程；通过每一个子线程与其对应的硬盘进行数据交互来驱动每一个硬盘上的LED灯；检测每一个硬盘上的LED灯状态；若硬盘上的LED灯处于点亮状态，则提示该硬盘上的LED灯符合标准；若硬盘上的LED灯处于熄灭状态，则警示该硬盘上的LED灯不符合标准；根据每一个硬盘上的LED灯的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告，并将该多硬盘LED灯的测试报告输出并显示于计算机上。
所述的多硬盘LED灯测试系统及方法采用了直接与被测硬盘进行数据交换的方式点亮LED灯，无需附加硬件设备辅助就可以对大批量硬盘LED灯的良好性进行测试，提高了测试的覆盖面，节约了测试时间以及测试成本。
附图说明
图1是本发明多硬盘LED灯测试系统较佳实施例的应用环境图。
图2是图1中的多硬盘LED灯测试系统的功能模块图。
图3是本发明多硬盘LED灯测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明多硬盘LED灯测试系统10较佳实施例的应用环境图。在本实施例中，该多硬盘活动指示灯(Hard Drive Activity LED，以下简称“硬盘LED灯”)测试系统10安装并运行于计算机1的操作系统12中。该计算机1通过IO端口分别与多个硬盘2相连接，所述的IO端口可以为RS232、USB等一般通用性的端口，也可以为一种网路连接，例如LAN。每个硬盘2包括一个LED灯20，用于指示该硬盘2是否与操作系统12进行正常数据交互。例如，当硬盘2与操作系统12进行正常数据交互，则该硬盘2的LED灯20处于点亮状态；当硬盘2与操作系统12不能进行正常数据交互，则该硬盘2的LED灯20处于熄灭状态。每个硬盘2可以存储有测试数据，也可以是没有格式化的新硬盘2，例如在新硬盘2的前几个扇区存储有硬盘属性及分区信息，其可以与操作系统12进行数据交互。
参阅图2所示，是图1中的多硬盘LED灯测试系统10的功能模块图。该多硬盘LED灯测试系统10用于测试同时连接在计算机1上的多个硬盘2(例如50个硬盘)的LED灯20的良好性。在本实施例中，所述的多硬盘LED灯测试系统10包括硬盘侦测模块101、线程创建模块102、LED灯驱动模块103、LED灯状态检测模块104以及测试报告产生模块105。
硬盘侦测模块101用于侦测每一个硬盘2是否正常连接到计算机1上，并获取连接到计算机1上的硬盘2的数量。本实施例中，假如有50个硬盘2同时连接到计算机2上，那么硬盘侦测模块101获取到的硬盘2的数量为50个。
线程创建模块102用于通过调用操作系统12中的API函数(如CreateThread函数)来创建一个主线程，并通过该主线程的线程函数为每一个正常连接到计算机上的硬盘2分别创建一个对应的子线程。本实施例中，若有50个硬盘连接到计算机1上，则主线程总共创建50个子线程，所述的每个子线程用于与其对应的硬盘2进行数据交互。线程创建模块102创建主线程的语句可以示意性的表示为：HANDLE hMainThread＝CreateThread(NULL，0，MainThreadProc，(LPVOID)this，CREATE SUSPENDED，&dwThreadID)，其中MainThreadProc是自定义的一个主线程函数，创建主线程是在这条语句的第三个参数MainThreadProc函数里定义的。如果线程创建模块102需要为每个硬盘2创建一个对应的子线程，那么线程创建模块102只需要通过改变该函数的第三个参数值。
LED灯驱动模块103用于通过每一个子线程与其对应的硬盘2进行数据交互来驱动每个硬盘2上的LED灯20。本实施例中，某个子线程通过操作系统12中的API函数(如SetFilePointer函数)指向对应硬盘2的某一个扇区，读取该扇区的数据来驱动该硬盘2上的LED灯20。当该子线程读取该硬盘2的扇区的数据时，若该硬盘2上的LED灯20被驱动，则该LED灯20处于点亮状态；若硬盘2上的LED灯20没有被驱动，则该LED灯20处于熄灭状态。
LED灯状态检测模块104用于检测每个硬盘2上的LED灯20的状态，根据该LED灯状态判断对应的硬盘2上LED灯20是否通过测试，并产生每个硬盘2上的LED灯20良好性的测试结果。本实施例中，若硬盘2上的LED灯20处于点亮状态，则LED灯状态检测模块104提示该LED灯20通过测试，即表明该硬盘2上的LED灯20符合标准。若硬盘2上的LED灯20处于熄灭状态，则LED灯状态检测模块104警示该LED灯20没有通过测试，即表明该硬盘2上的LED灯20不符合标准。
测试报告产生模块105用于根据每个硬盘2上的LED灯20的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告，以及将该多硬盘LED灯的测试报告输出并显示于计算机1上，以便测试人员评估该批硬盘2上的LED灯20的良好性。
参阅图3所示，是本发明多硬盘LED灯测试方法较佳实施例的流程图。首先，测试人员将每一个硬盘2通过IO端口分别连接到计算机1上(步骤S300)。硬盘侦测模块101侦测每一个硬盘2是否正常连接到计算机1上(步骤S301)。若每一个硬盘2都正常连接到计算机1上，则硬盘侦测模块101获取连接到计算机1上的硬盘2的数量(步骤S302)；若有硬盘2没有正常连接到计算机1上，则流程转向步骤S300，即测试人员检查该硬盘2与计算机1的连接状况，并将该硬盘2通过IO端口与计算机1连接。
线程创建模块102通过调用操作系统12中的API函数(如CreateThread函数)来创建一个主线程(步骤S303)。而后，线程创建模块102通过该主线程的线程函数为每个硬盘2创建一个对应的子线程(步骤S304)。本实施例中，若有50个硬盘连接到计算机1上，则主线程总共创建50个子线程，每个子线程用于与其对应的硬盘2进行数据交互。
LED灯驱动模块103通过每一个子线程与其对应的硬盘2进行数据交互来驱动每个硬盘2上的LED灯20(步骤S305)。例如，当某一个子线程与其对应的硬盘2进行数据交互时，若该硬盘2上的LED灯20被驱动，则该LED灯20处于点亮状态；若硬盘2上的LED灯20没有被驱动，则该LED灯20处于熄灭状态。
LED灯状态检测模块104根据每个硬盘2上的LED灯20的状态判断该LED灯20是否被点亮(步骤S306)。若硬盘2上的LED灯20被点亮，则LED灯状态检测模块104提示该LED灯20通过测试，即表明该硬盘2上的LED灯20符合标准(步骤S307)。若硬盘2上的LED灯20处于熄灭状态，则LED灯状态检测模块104警示该LED灯20没有通过测试，即表明该硬盘2上的LED灯20不符合标准(步骤S308)。
测试报告产生模块105根据每个硬盘2上的LED灯20的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告，以及将该多硬盘LED灯的测试报告输出并显示于计算机1上，以便测试人员评估该批硬盘2上的LED灯20的良好性(步骤S309)。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种多硬盘LED灯测试系统，安装并运行于计算机的操作系统中，该计算机连接有多个硬盘，其特征在于，该系统包括：
硬盘侦测模块，用于侦测每一个硬盘是否正常连接到计算机上，并获取连接到计算机上的硬盘数量；
线程创建模块，用于通过调用操作系统中的第一API函数来创建一个主线程，并通过该主线程的线程函数为每一个正常连接到计算机上的硬盘分别创建一个对应的子线程；
LED灯驱动模块，用于通过每一个子线程与其对应的硬盘进行数据交互来分别驱动每一个硬盘上的LED灯，所述的数据交互是指每一个子线程通过操作系统中的第二API函数指向对应的硬盘中存储有数据信息的一个扇区，并读取该扇区的数据信息来驱动该硬盘上的LED灯，所述的数据信息为测试数据、硬盘属性信息或者硬盘分区信息；
LED灯状态检测模块，用于检测每个硬盘上的LED灯状态，根据该LED灯状态判断硬盘上的LED灯是否通过测试，并产生每一个硬盘上LED灯的测试结果。
2.如权利要求1所述的多硬盘LED灯测试系统，其特征在于，该系统还包括测试报告产生模块，用于根据每一个硬盘上LED灯的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告，以及将该多硬盘LED灯的测试报告输出并显示于计算机上。
3.如权利要求1所述的多硬盘LED灯测试系统，其特征在于，所述的LED灯状态检测模块还用于提示硬盘上的LED灯符合标准的测试结果，或者警示硬盘上的LED灯没有通过测试。
4.如权利要求1所述的多硬盘LED灯测试系统，其特征在于：当子线程与其对应的硬盘进行数据交互时，若该硬盘上的LED灯被驱动，则该LED灯处于点亮状态，若该硬盘上的LED灯没有被驱动，则该LED灯处于熄灭状态。
5.如权利要求1所述的多硬盘LED灯测试系统，其特征在于：所述的硬盘存储有测试数据，或者为没有格式化的新硬盘。
6.一种多硬盘LED灯测试方法，用于测试连接到计算机上的多个硬盘上的LED灯，其特征在于，该方法包括步骤：
获取正常连接到计算机上的硬盘数量；
调用计算机操作系统中的第一API函数来创建一个主线程；
通过该主线程的线程函数为每一个正常连接到计算机上的硬盘分别创建一个对应的子线程；
通过每一个子线程与其对应的硬盘进行数据交互来驱动每一个硬盘上的LED灯，所述的数据交互是由每一个子线程通过操作系统中的第二API函数指向对应的硬盘中存储有数据信息的一个扇区，并读取该扇区的数据信息来驱动该硬盘上的LED灯，所述的数据信息测试数据、硬盘属性信息或者硬盘分区信息；
检测每一个硬盘上的LED灯状态；
若硬盘上的LED灯处于点亮状态，则提示该硬盘上的LED灯符合标准；
若硬盘上的LED灯处于熄灭状态，则警示该硬盘上的LED灯不符合标准；
根据每一个硬盘上的LED灯的测试结果生成多硬盘LED灯的测试报告，并将该多硬盘LED灯的测试报告输出并显示于计算机上。
7.如权利要求6所述的多硬盘LED灯测试方法，其特征在于，所述的获取正常连接到计算机上的硬盘数量的步骤包括如下步骤：
侦测每一个硬盘是否正常连接到计算机上；
若每一个硬盘都正常连接到计算机上，则获取连接到计算机上的硬盘的数量；
若硬盘没有正常连接到计算机上，则检查该硬盘与计算机的连接状况，并将该硬盘通过IO端口与计算机连接。
8.如权利要求6所述的多硬盘LED灯测试方法，其特征在于，当子线程与其对应的硬盘进行数据交互时，若该硬盘上的LED灯被驱动，则该LED灯处于点亮状态，若该硬盘上的LED灯没有被驱动，则该LED灯处于熄灭状态。
9.如权利要求6所述的多硬盘LED灯测试方法，其特征在于，所述的第一API函数是操作系统中的CreateThread函数，所述的第二API函数是操作系统中的SetFilePointer函数。
10.如权利要求6所述的多硬盘LED灯测试方法，其特征在于：所述的硬盘存储有测试数据，或者为没有格式化的新硬盘。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102141949A (zh) * 2011-03-18 2011-08-03 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种快速检测sata硬盘坏扇区的方法
CN103902415A (zh) * 2012-12-26 2014-07-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘测试系统及方法
CN103970644A (zh) * 2013-02-04 2014-08-06 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 硬盘背板以及具有该硬盘背板的服务器系统
CN104408312B (zh) * 2014-11-27 2017-12-05 北京广利核系统工程有限公司 一种核电站系统误动率计算方法
CN104484131B (zh) * 2014-12-04 2017-11-14 珠海金山网络游戏科技有限公司 多磁盘服务器的数据处理装置及对应的处理方法
CN107480021A (zh) * 2017-08-18 2017-12-15 郑州云海信息技术有限公司 一种基于Linux系统下测试Expander背板硬盘指示灯的方法及系统
CN107783875A (zh) * 2017-10-23 2018-03-09 郑州云海信息技术有限公司 一种应用于UFEI shell下NVMe硬盘的VMD灯号测试方法和系统
CN108021481A (zh) * 2017-12-21 2018-05-11 曙光信息产业(北京)有限公司 一种硬盘背板的检测装置及其自动检测方法
CN108680872A (zh) * 2018-04-02 2018-10-19 郑州云海信息技术有限公司 一种适用于nvme硬盘背板状态灯的测试方法
CN111863116B (zh) * 2020-06-29 2022-06-17 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种多磁盘指示灯测试方法、系统及装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5898832A (en) * 1995-08-18 1999-04-27 International Business Machines Corporation Processing of multiple managed objects
US6188973B1 (en) * 1996-11-15 2001-02-13 Compaq Computer Corporation Automatic mapping, monitoring, and control of computer room components
US6574751B1 (en) * 1999-12-08 2003-06-03 Inventec Corp. Hard disk driver state detection method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5898832A (en) * 1995-08-18 1999-04-27 International Business Machines Corporation Processing of multiple managed objects
US6188973B1 (en) * 1996-11-15 2001-02-13 Compaq Computer Corporation Automatic mapping, monitoring, and control of computer room components
US6574751B1 (en) * 1999-12-08 2003-06-03 Inventec Corp. Hard disk driver state detection method

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